Микроскопия высокотемпературная

Микроскоп высокотемпературный. Условия работы микроскопов высокотемпературных установок определяют особенности конструкций их оптических схем и накладывают ряд ограничений на оптические характеристики [34]. [c.380]

Изучение внешнего вида отпечатка на алюминии под микроскопом показало, что индентор без повреждений и отпечаток имеет правильную форму. Аналогичные испытания, проведенные на силициде тантала, имеющем микротвердость 15 000 МН/м, указывают на то, что в результате повреждения индентора величина микротвердости по сравнению с контрольными замерами алмазной пирамидой отличалась на 5—10% с увеличением количества уколов. Исходя из полученных данных, можно считать, что сапфировый четырехгранный индентор может быть использован для испытания материала с твердостью в 2,5 2,7 раза меньшей, чем твердость сапфира. Указанное соотношение, очевидно, можно использовать при высокотемпературных испытаниях, причем температурный предел испытания будет определяться прежде всего этим условием. [c.54]

Для поддержания и контроля требуемых параметров испытания в установке применяется стандартное оборудование (оптическое и вакуумное), смонтированное в общем пульте управления высокотемпературный микроскоп МВТ, вакуумный агрегат ВА-01-1, форвакуумный насос, автотрансформатор и силовой трансформатор ОСУ-20/6. [c.70]

Рис. 28. Схема высокотемпературного микроскопа.

Основные расчетные параметры высокотемпературного металлографического микроскопа представлены в табл. 7. [c.86]

Образцы, нагретые до высоких температур, начинают излучать свет. В этом излучении не удается отличить одни элементы структуры от других. Поэтому в высокотемпературных металлографических микроскопах применяются источники света с более высокой цветовой температурой, чем нагретый образец. Это дает возможность увидеть отдельные элементы структуры. Такими источниками являются, в частности, ртутные и ксеноновые лампы сверхвысокого давления. [c.86]

Применение высокотемпературного микроскопа в испытательных установках позволяет проводить интересные исследования на металлах и сплавах, нагретых до температуры 3300 К, а также изучать и фиксировать процессы деформирования и разрушения, происходящие в материалах при различных видах нагружения. [c.87]

Корпус микромашины 1, который одновременно служит испытательной камерой, изготовлен из поковки и имеет коробчатую форму, обеспечивая высокую ее жесткость. Образец 2 закреплен в зажимном устройстве 5 [183], которое устанавливается в охлаждаемых активном и пассивном захватах 4 w 5. Для наблюдения за кинетикой деформирования образца в процессе испытания предусмотрена возможность установки высокотемпературного металлографического микроскопа на съемную крышку 6, снабженную водоохлаждаемым стаканом 7, в который помещается объектив микроскопа. Вмонтированное в стакан кварцевое стекло 8 защищено от нагревателя поворотной шторкой 9. [c.142]

Прямое наблюдение зерен аустенита проводят с помощью высокотемпературной и электронной микроскопии. [c.90]

При высокотемпературной микроскопии образцы не подвергают предварительному травлению. При нагреве в высоком вакууме 90 [c.90]

Металлографическим исследованием разрушенного диска установлено, что микроструктура диска представляет собой сорбит отпуска как игольчатой ориентации, так и бесструктурной, т.е. имеет структуру, обычную для исходного состояния диска. При электронно-микроскопическом исследовании выявлена начальная стадия процессов возврата и рекристаллизации с появлением зародышей рекристаллизации, образовавшихся в результате коалесценции субзерен внутри бейнитных пластин и миграции субграниц. Таким образом, наблюдение структуры стали в просвечивающий электронный микроскоп показывает, что в металле протекали процессы, характерные для высокотемпературной ползучести. [c.46]

В сборнике показаны уровень и результаты исследований в области создания и совершенствования методов и средств тепловой микроскопии и изучения строения и свойств металлов и сплавов при механическом нагружении и тепловом воздействии. Приведены сведения о новой аппаратуре для низко- и высокотемпературного деформирования при статическом и циклическом нагружении, обладающей расширенными экспериментальными возможностями. [c.2]

Развитие основных отраслей современного машиностроения в значительной мере определяется созданием новых конструкционных материалов, повышением свойств существующих металлов и сплавов, а также усовершенствованием процессов их производства и упрочнения. Это, в свою очередь, требует глубокого изучения строения и свойств материалов, как применяемых в машиностроении в настоящее время, так и новых. Поэтому в практике металловедческих исследований все большее внимание уделяется разработке, созданию и применению прогрессивных способов изучения металлических материалов в широком температурном диапазоне, к которым прежде всего следует отнести методы низко- и высокотемпературной металлографии, объединяемые под общим термином тепловая микроскопия . [c.3]

Физические методы исследования, включая тепловую микроскопию, помогают раскрыть реальный смысл указанных структурных параметров и уточнить кинетические зфавнения, определяющие их изменение. Наряду с микроструктурным изучением процессов пластической деформации и разрушения конструкционных металлических и других материалов в условиях высокотемпературного нагрева или охлаждения до криогенных температур тепловая микроскопия вносит большой вклад в разработку физи- [c.3]

Весьма важным обстоятельством для успешного внедрения тепловой микроскопии в практику металловедческих исследований явилась организация в 1963 г. на Фрунзенском заводе контрольноизмерительных приборов (КИП) серийного производства ряда разработанных в Институте машиноведения установок для высокотемпературной металлографии. Это дало возможность оснастить лаборатории многих научно-исследовательских и учебных институтов, а также промышленных предприятий установками различных типов (ИМАШ-5С-65, ИМАШ-9-66, ИМАШ-10-68, ИМАШ-5С-69 Киргизстан ), что несомненно способствует широкому развитию исследований, проводимых в данном направлении. [c.4]

Методы тепловой микроскопии, например, высокотемпературная вакуумная металлография [ 1 ], позволяющая установить связь между свойствами зерен, их границ и поликристаллического агрегата в целом, первоначально основывались на эффекте термического травления , а также на всех явлениях, связанных с объемными изменениями, приводящими к соответствующему изменению геометрического профиля поверхности исследуемого образца. К таким явлениям относятся диффузия и фазовые превращения и любые другие процессы расслоения структуры при нагреве ИЛИ охлаждении фаз с различными коэффициентами термического расширения. [c.5]

При дальнейшем развитии методов и средств высокотемпературной металлографии было показано, что поскольку интегральные свойства реальных поликристаллов определяются свойствами отдельных зерен и их границ, между которыми существуют отклонения, то неравномерность протекания деформационных процессов в различных элементах структуры также приводит к изменению рельефности поверхности образца. Благодаря этому создается контраст изображения в световом микроскопе и появляется источник информации об особенностях поведения поликристаллического агрегата в условиях теплового воздействия и механического нагружения [2]. [c.5]

Таким образом, результативность и достоверность методов тепловой микроскопии и, в частности, высокотемпературной металлографии, в значительной мере определяется факторами, оказывающими влияние на формирование геометрического профиля поверхности исследуемого образца во-первых, средой и условиями испытания, обусловливающими ту или иную степень полноты отображения процессов, характерных не только для поверхностных слоев, но и для внутренних объемов исследуемых материалов и, во-вторых, исходной рельефностью микрошлифа, зависящей от способа его приготовления и выявления структуры образца. [c.5]

Основной особенностью существующих технических средств тепловой микроскопии является их доступность, заключающаяся в простоте принципов низко- и высокотемпературного металлографических анализов и несложности конструктивного выполнения специализированных установок для осуществления этих методов. [c.6]

Современные достижения в области физических исследований металлов свидетельствуют о перспективности использования не только световой, но и электронной тепловой микроскопии, когда контраст изображения обусловлен не геометрическим профилем поверхности образца, а определенными характеристиками исследуемого материала, например, работой выхода электрона при термоэлектронной или фотоэмиссии кроме того, в качестве такой характеристики может быть использован коэффициент вторичной электронной эмиссии при бомбардировке первичными электронами. Эти характеристики существенно зависят от состава, фазового состояния, ориентации и температуры изучаемого объекта, поэтому, например, эмиссионная высокотемпературная микроскопия вследствие более высокой разрешающей способности обеспечивает получение большего объема информации по сравнению со световой тепловой микроскопией. При микроструктурном изучении процессов деформирования и разрушения принципиально новые результаты могут быть получены при использовании эффекта экзоэлектронной эмиссии, позволяющего количественно характеризовать определенное энергетическое состояние локальных участков исследуемого образца, что является весьма ценным дополнением к наблюдаемым в металлографический микроскоп качественным структурным изменениям, связанным с накоплением дефектов в поверхностных слоях материала. [c.6]

При всем многообразии перспективных направлений развития тепловой микроскопии традиционные методы и средства низко- и высокотемпературной металлографии не утратили своего значения и широко применяются в практике заводских и исследовательских лабораторий. Однако все возрастающие требования технического прогресса ставят задачу коренного совершенствования существующих средств тепловой микроскопии, прежде всего, в направлении увеличения производительности и информационной мощности установок. Известно [3], что информационная мощность любой исследовательской установки может быть определена по формуле [c.7]

Последовательное осуществление опытно-конструкторских работ в области автоматизации средств тепловой микроскопии несомненно будет способствовать повышению эффективности научных исследований, выполняемых методами низко- и высокотемпературной металлографии. [c.10]

Исследование микроструктурных особенностей строения биметалла Ст. 3+медь, полученного методом сварки взрывом [1], проводилось методами высокотемпературной металлографии на модернизированной установке ИМАШ-20-69, а также на сканирую-ш ем электронном микроскопе. Степень наклепа составляюш их биметалл Ст. 3+медь после сварки взрывом оценивалась методом измерения микротвердости на приборе ПМТ-3 при нагрузке 20 гс. [c.86]

Феррит (Ф) — твердый раствор углерода и других примесей в а-железе. Различают низкотемпературный а-феррит с растворимостью углерода до 0,02 % и высокотемпературный S феррит с предельной растворимостью углерода 0,1 %. Атом углерода располагается в решетке феррита в центре грани куба, где помещается сфера радиусом 0,29 атомного радиуса железа, а также в вакансиях, на дислокациях и т. д. Под микроскопом феррнт выявляется в виде однородных полиэдрических зерен (рис. 74, а). [c.118]

Плавкостные характеристики золы определяются по ГОСТ 2057-82 с визуальным наблюдением образцов золы. Используются образцы золы в виде трехгранных пирамидок или цилиндриков (в случае применения высокотемпературного микроскопа). Плавкостные характеристики золы определяются температурой спекания ts, при которой изменяются первоначальные размеры образца без изменения геометрической формы (определяется только при применении высокотемпературного микроскопа) температурой начала деформации котррая устанавливается по изменению поверхности образца, закручиванию кромок, вспучиванию или наклону вершины температурой плавления или полусферы ta, при которой образец оплавляется, принимая форму полусферы температурой жидкоплавкого состояния t , при которой образец растекается и его высота становится менее половины высоты полусферы при температуре в- [c.16]

В работе исследованы продукты высокотемпературной обработки органосиликатных материалов с различными наполнителями — слоистыми силикатами — мусковитом, асбестом и тальком. Изучение фазового состава полученных образцов проводилось кристалдооптическим и рентгенографическими методами анализов. Микроструктура образцов изучалась при помощи световой и электронной микроскопии Результаты исследований показали, [c.348]

На рис. 3 приведены данные по уплотнению стеклопорошкового слоя толщиной 0.4—0.6 мм при нагревании между двумя поликоро-выми пластинами, полученные дилатометрическим методом, на рис. 4 — аналогичные данные при формировании покрытия на поверхности пластины, нагреваемой в высокотемпературном микроскопе. [c.30]

Для более полного использования возможностей объектива МИМ-13С0 был разработан модернизированный высокотемпературный микроскоп [172], которым комплектовались машина Микро-1 и последующие наши установки [c.86]

Термическое травление в газовой атмосфере или высоком вакууме непосредственно связано с высокотемпературной микроскопией. Чтобы избежать изменений химического состава стали, происходящих при использовании диффузионных методов, Обер-хоффер и Хегер [46] и позднее Дэй и Остин [47] разработали способ термического травления. Тщательно отполированный образец нагревают в вакууме или атмосфере защитного газа (например, осушенного и очищенного водорода) и затем сразу же, не допуская его контакта с внешней средой, закаливают в ртутной ванне. Шеки [48] для выявления границ зерен аустенита использовал содержащую кислород струю азота. [c.91]

Из предыдущего раздела следует, что исходные усы необходимо соответствующим образом очистить перед тем, как использовать в качестве высокотемпературного упрочнргтеля. Теперь нужно рассмотреть еще два вопроса во-первых, совместимость очищенных усов с матрицей, например никелевой, и, во-вторых, эффективность связи между усами и матрицей. Эти вопросы можно изучать на усах с тонким слоем напыленного никеля (толщиной примерно 0,05 мкм). Когда усы с никелевым покрытием отжигают при температурах выше 1073 К, сплошной слой никеля разбивается на ряд сферических частиц, что позволяет непосредственно исследовать поверхность раздела никель — сапфир в электронном микроскопе. Этот способ эффективен в отношении проверки совместимости и исследования процесса образования связи ои будет подробнее рассмотрен в последующих разделах. [c.411]

Микрофрактографическое исследование при увеличениях оптического и электронного микроскопов показывает, что в фокусе высокотемпературного излома, если очаг имеет форму глазка, строение нетипично для усталостного разрушения. Это, как правило, ямочный рельеф с наличием очень нечетких усталостных полосок на перемычках и гладкие площадки со следами множественных сдвигов (рис. 122). [c.152]

Исследование окисленных поверхностей на оптическом микроскопе представляет еще большие затруднения, чем на электронном. Наличие тонкой просвечивающей окисной пленки, в ряде случаев не искажающей рельеф, но преломляющей лучи света, иногда приводит к тому, что невозможно одновременно сфокусировать систему на основание и вершину неровности даже при небольшой шероховатости. Поэтому на окисленных высокотемпературных усталостных изломах характерные усталостные полоски и складки часто различимы лишь при расфокусированном положении. В связи с этим такие поверхности лучше всего изучать с помощью реплик. [c.188]

Наиболее широкие перспективы применения разработанной методики открываются при использовании телевизионных анализаторов изображения в сочетании с высокотемпературными установками, позволяющими визуально наблюдать за поверхностью образцов в процессе их испытания. С этой целью в Лаборатории высокотемпературной металлографии в содружестве с Проблемной лабораторией металловедения Уральского политехнического института разработан телевизионный анализатор изображения, который может быть использован совместно с любыми металлографическими микроскопами, снабженными фотонасадкой типа МФН-12. В этом приборе световое поле анализируемого объекта преобразуется видиконом в последовательность электрических импульсов, амплитуда которых пропорциональна оптической плотности, а длительность — протяженности частицы, считываемой электронным лучом. Усиленные камерой видеоимпульсы совместно с сигналами частоты строк и полей подаются на дискриминатор, представляющий собой регулируемый фиксатор уровня видеосигнала. Путем регулирования уровня фиксации можно выделить из общей металлографической картины ту часть изображения, которая должна подвергаться анализу. Степень дискриминации воспроизводится видеоконтрольным устройством (монитором). [c.11]

Сравнивая полученные в настоящей работе экспериментальные данные с основными закономерностями развития повреждений в условиях статического и циклического видов нагружения, природу развития несплошностей в условиях испытаний на термическую усталость можно представить следующим образом. В процессе испытания на термическую усталость, а также во время изотермической выдержки при верхней температуре цикла развивается межзеренное проскальзывание. Следует полагать, что при накоплении определенного числа циклов величина смещения зерен относительно друг друга достигает критического значения, при котором образуются субмикроскопические несплош-ности на межзеренных границах. Если такое состояние границы возникает в условиях высокотемпературного растяжения, то приложенные нормальные растягивающие напряжения обеспечивают их быстрое раскрытие в клиновидные трещины, наб.людаемые в оптический микроскоп. Однако в условиях термоциклирования металл в диапазоне температур Тщах испытывает снижающие напряжения, что стабилизирует указанную структуру границ зерен, несмотря на продолжающийся процесс межзеренного про- [c.49]

Для предотвращения окисления поверхности при сварке предварительно полированные пластины проплавлялись в среде аргона. Определение межзеренного проскальзывания на образцах, вырезованных из сварных соединений, производилось на высокотемпературной установке типа ИМАШ-5С-65 и с использованием интерференционной микроскопии. Исследовались сварные соединения стали 1Х18Н9Т, сплава ЭИ 893 и технического никеля Н2. [c.98]

Нагрев образцов осуществлялся в камере Вакутерм высокотемпературного микроскопа фирмы Рейхерт в атмосфере аргона с защитными эхгранами — геттерами. Деформированный металл подвергался изотермической выдержке при температурах 900, 1100 II 1200° С. Как показано и в ранее проведенных работах [2], в стали при достижении температуры 900° С образуется мелкозернистая структура аустенита. Уже в самом начале изотермической выдержки в структуре образуются проталины — места с нечеткими размытыми границами зерен. С увеличением выдержки площадь проталин увеличивается. После 1 — 2 ч выдержки определяются границы прота.лин и в структуре наблюдаются крупные зерна (№ 2—1) на фоне мелких Лт 8—9 (рис, 1). [c.150]

Таки.м образом, нсслсдование роста зерна в конструкционной стали с помощью высокотемпературного микроскопа пока.зало, что в горячедеформироваином металле при относительно невысоких тепературах нагрева образуется разнозернистая структура и [c.151]

Именно поэтому в практике металловедческих исследований в последние годы все большее внимание уделяется разработке, созданию и применению прогрессивных способов и средств изучения материалов в широком температурном диапазоне, к которым прежде дсего следует отнести методы низко- и высокотемпературной металлографии, объединяемые общим термином тепловая микроскопия. [c.5]

Физические методы исследования, включая тепловую микроскопию, полюгают раскрыть реальный смысл указанных структурных параметров и уточнить кинетические уравнения, описывающие их изменение. Кроме того, тепловая микроскопия наряду с микроструктурным изучением процессов пластической деформации и разрушения конструкционных металлических и других материалов в условиях высокотемпературного нагрева или охлаждения до криогенных температур вносит большой вклад в разработку физических основ термической и других видов упрочняющей обработки металлов и сплавов. Вполне понятно, что для осуществления таких изысканий экспериментатор должен обладать достаточным арсеналом методов и средств непосредственного изучения строения и свойств металлических материалов в условиях высокотемпературного нагрева или глубокого охлаждения. [c.6]

Около 75 лет прошло с того времени, когда стали изучать строение металлов и сплавов в нагретом состоянии. Однако систематическое развитие высокотемпературной металлографии в нашей стране было начато в 1947— 1950 гг. работами, выполненными автором в Институте металлургии имени А. А. Байкова АН СССР под руководством акад. Н. Т. Гудцова. В дальнейшем эти работы были продолжены в Институте машиноведения (ИМАШ), где создание новой аппаратуры и разработка методик экспериментирования осуществлялись под руководством член-кор. АН СССР И. А. Одинга в тесном контакте с промышленностью. В 1952 г. на Ленинградском оптико-меха-ническом заводе автором совместно с И. А. Андиным была разработана первая модель и освоен серийный выпуск микроскопа типа МВТ-, предназначенного для исследований методами высокотемпературной металлографии. 1 . Начиная с 1952 г. в Институте машиноведения был создан ряд установок, в которых использовался микроскоп МВТ. Эти установки имели рабочую [c.6]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...