Интерференционная микроскопия

Рассмотрим принцип действия голографического интерференционного микроскопа (рис., М). Луч света от [c.86]

Голографические интерференционные микроскопы нашли применение для исследования самых разнообразных объектов — оптических волокон, оптических линзовых растров, искусственных кристаллов для оптики, пятен масла, биомедицинских объектов, а также для изучения процессов деления клеток, роста кристаллов и т. п. [c.86]

Первым прибором такого типа, выпуск которого был налажен отечественной промышленностью, является голографический интерференционный микроскоп МГИ-1. Прибор предназначен для измерений методом реального времени или методом двух экспозиций, а также для получения голограмм прозрачных подвижных микрообъектов и наблюдения восстановленных изображений. Он может работать с лазером — как с импульсным, так и непрерывного действия. [c.86]

Голографические интерференционные микроскопы МГИ-1 и МГИ-.т являются достаточно универсальными приборами и могут широко применяться для различных целей. [c.87]

С помощью косого освещения и интерференционного микроскопа исследованы двойные границы зерен различных сталей, которые появляются в шлифе преимущественно у чистых ферритных сталей [45]. Двойные границы обусловлены выявлением при травлении наклонных плоскостей различных форм. Теоретические разработки Энгеля [9] об образовании границ зерен в зависимости от ориентации соседних зерен позволяют объяснить природу наклонных плоскостей. [c.33]

Рис. 2. Микрофотографии деформированных кристаллов а — X 50 б — X 500(интерференционная микроскопия), в — X 2000 (кристалл после травления).

Микроструктурные особенности деформационного старения образцов при различных временах изотермической выдержки в полуциклах растяжения и сжатия исследовали методами световой, электронной и интерференционной микроскопии, а также измерением микротвердости. При каждом режиме испытания образцы подвергали 1 3 5 7 и 10 циклам нагружения (продолжительность каждого цикла составляла 7 мин). [c.216]

Микроинтерферометр применяется для контроля. микрогеометрии очень чисто обработанных блестящих поверхностей (притирка, полирование). Более совершенным интерференционным прибором является интерференционный микроскоп МИИ-1 (фиг. 95). [c.293]

Двойной микроскоп МИС-11 и интерференционный микроскоп МИИ-1 широко применяются для измерения технических образцов. Исследованиями этих приборов занимались П. Е. Дьяченко,. [c.238]

На рис. 47 приведена оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. От источника белого света световой пучок, пройдя конденсор 4, попадает на зеркало 3, от которого через диафрагму 6 и объектив 7 направляется на разделяющую призму //, склеенную из двух [c.117]

Рис, 47. Оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. [c.117]

К количественным относятся 1) профилометр 2) профилограф 3) двойной микроскоп 4) интерференционный микроскоп, — эти приборы определяют неровности в сечении 5) пневматический прибор—для оценки микронеровностей участка поверхности интегральным методом. [c.715]

Интерференционный микроскоп конструкции Линника мод. МИИ-1, МИИ-4 а) Измерение д б) Фотографирование интерференционной картины 9-14 [c.152]

Интерференционный микроскоп МИИ-1 также выпускается серийно и имеет широкое распространение в промышленности. Прибор основан на принципе интерференции, возникающей при наложении когерентных световых лучей, идущих от одного источника света. [c.155]

Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина — ряд полос равной ширины. [c.155]

Интерференционные микроскопы (микроинтерферометры) предназначены для визуальной оценки, измерения и фотографирования высоты неровностей до 1 мкм. Схема серийно выпускаемого микроинтерферометра модели МИИ-4, выпускаемого по ТУ 3-3.1145—81, приведена на рис. 12.4, а. [c.349]

Интерференционный микроскоп МИИ-4 предназначен для лабораторных измерений шероховатости поверхностей 10—14-го классов. [c.515]

При образовании мартенсита на гладкой (до превращения) поверхности стального образца формируется характерный рельеф, прекрасно различимый при увеличении (рис. 131, а). На рис. 131,6 показаны те же неровности поверхностного рельефа, сфотографированные с помощью специального метода интерференционной микроскопии. Принцип этого метода мы объяснять не будем, но фотография, думаем, скажет сама за себя. [c.224]

На рис. 20, б показано значительное межзеренное смещение (снимок на интерференционном микроскопе) образца стали [c.42]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Указанные величины определяют с помощью интерференционного микроскопа. Получаемое при этом относительное удлинение в процентах характеризует величину пластической деформации. [c.101]

Интерференционная микроскопия может осуществляться несколькими способами. В некоторых случаях две голограммы накладываются друг на друга, и с них одновременно восстанавливаются изображения. Интерференцию, обусловленную изменениями в поле объекта, можно увидеть, если первая из голограмм является голограммой незанятого объектом положения. Интерференционные полосы, обусловленные ростом некоторых объектов, [c.630]

Интерференционная микроскопия 630, 631 Интерференция 40, 43, 48—50, 401 Интерферометры голографические 22, 321, 322, 504 — 508 [c.731]

Точность при измерении разности хода в интерференционной микроскопии. Связь с разрешающей силой микроскопа [c.227]

Когда хотят измерить оптическую толщину маленького прозрачного объекта интерференционным микроскопом, то стараются шире раскрыть диафрагму конденсора для лучшего обнаружения объекта и для облегчения измерений. Препарат тогда освещают бесконечным числом 15 [c.227]

Эта та самая разность хода Д [равенство (11.2)], которую мы предполагаем измерить на интерференционном микроскопе. Если отверстие диафрагмы конденсора очень мало (практически точечный источник), то измерения, несомненно, дают величину А, но если отверстие конденсора значительно, то разность хода не является одной и той же для всех лучей, пересекающих объект [равенство (П.З)]. Измеренная разность хода не равна ни А, ни А и, следовательно, нужно проинтегрировать выражение (11.3). [c.228]

В этом методе необходимо проводить дополнительные измерения толщины снимаемого слоя Л. Их проводят с помощью интерференционного микроскопа МИИ-4 для непрозрачных покрытий и методом злипсометрии для прозрачных покрытий. [c.118]

Прерывистый характер процесса ползучести при макросдвиге дает основание предполагать, что процесс макродвижения по границам зерен осуществляется вследствие двух процессов сдвига по островкам хорошего соответствия и самодиффузии, упорядочивающей области больших нарушений. Межзеренное проскальзывание можно наблюдать по рельефу на поверхности шлифа деформированного металла. По границам зерна образуются каемки, свидетельствующие о наличии выступов и впадин. Происходящее вертикальное смещение (перемещение зерна) по отношению к поверхности шлифа позволяет с помощью интерференционного микроскопа определять величину пластической деформации, вызванной межзеренным смещением. Результаты измерений (рис. 100) дают основание считать, что доля скольжения по границам зерен мала и составляет приблизительно 10% от полной деформации (егр/е л 0,1). Эта величина зависит от угла разориентации 0, температуры, скорости деформации, приложенного напряжения, величины зерна. Например, величина смещения, а следовательно, и erp/8j увеличивается с уменьшением величины зерна и возрастанием напряжения при данной температуре (рис. 101,а). С повышением температуры отношение 8rp/ej благодаря диффузионным процессам возрастает до 0,3 (рис. 101,6). Д, Мак Лин теоретически доказал, что вклад в общую деформацию от межзеренных смещений не может быть выше 33% от общей деформации. Только в том случае, если процесс деформирования сопровождается миграцией границ, доля зернограничной [c.173]

Межзеренное проскальзывание. Анализ процесса межзерен-ного проскальзывания в условиях испытания на термическую усталость с помощью интерференционного микроскопа позволил установить следующее. [c.48]

Для предотвращения окисления поверхности при сварке предварительно полированные пластины проплавлялись в среде аргона. Определение межзеренного проскальзывания на образцах, вырезованных из сварных соединений, производилось на высокотемпературной установке типа ИМАШ-5С-65 и с использованием интерференционной микроскопии. Исследовались сварные соединения стали 1Х18Н9Т, сплава ЭИ 893 и технического никеля Н2. [c.98]

Интерференционный микроскоп МИИ-4 В. П. Линника предназначен для лабораторного контроля тонкообработанных поверхностей. Определяемый показатель шероховатости поверхности R . [c.719]

Мод. МИИ-4 (фиг. 64) представляет собой усовершенствованную конструкцию аналогичного интерференционного микроскопа. [c.156]

Контроль шероховатости поверхности. Для количественной оценки шероховатости применяют ш уповые приборы (профилометры, профилографы) и оптические приборы (двойной микроскоп и интерференционный микроскоп), а для качественной — образцы шероховатости и сравнительный микроскоп. [c.514]

При количественном методе оценки высоту неровностей определяют непосредственно в RaH гприпомощи приборов. Для количественной оценки наиболее широко применяются щуповые и оптические приборы профило-метр КВ-7, двойной микроскоп МИС-11, интерференционный микроскоп МИСС-1 и профилограф ИЗП-17. [c.141]

Оценка средней толщины пленки проводилась как на интерференционном микроскопе ( МИИ-4), так и по проводимости пленки при из-Be Trfoft ее геометрии. Мы пользовались формулой Фуша для металлических слоев, проверенной опытными данными [c.509]

После основополагающих исследований Цернике были разработаны более сложные методы, которые в целом можно назвать интерференционной микроскопией. Они обьино предусматривают наличие какого-либо делителя пучка и управляемое введение фазового сдвига в один из пучков перед сведением. Дифференциально-интерференционный микроскоп Номарски особенно распространен в настоящее время и хорошо описан в [45]. [c.116]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

Отсечка шага , как упоминалось выше, составляет для профилометров примененных типов приблизительно 0,3 мм с мотоприводом и 0,75—0,8 мм при перемещении датчика с соответствующей скоростью от руки. Шаг наибольших неровностей для оптических приборов прежде всего определяется величиной линейного поля зрения. Он также может несколько измениться в зависимости от методики последующей обработки профилограмм. Наконец следует иметь в виду, что расхождение в данных, получаемых с помощью профилометров и оптических приборов, может увеличиваться в силу систематических погрешностей, присущих некоторым двойным и интерференционным микроскопам и приводящих к завышенной оценке шероховатости исследуемых поверхностей. [c.116]

На аналогичный путь при разработке мер для поверки щуповых приборов стали и метрологические организации за рубежом. Набор английских мер Национальной физической лаборатории для проверки профилометров состоит из двух стеклянных образцов с глубинами неровностей 2,5 и 0,25 мк. Расстояние между рисками равно 0,25 мм. На фиг, 95 представлена интерферограмма поверхности образца с Н = 0,25 мк, полученная на интерференционном микроскопе с цилиндрической накладной пластинкой. На фиг. 96 приведены профили немецких стеклянных образцов первых выпусков. При приблизительно одинаковой глубине неровностей (0,38—0,40 и 0,30 мк) образцы различаются шириной рисок. Расстояние между рисками одинаково и равно 0,01 мм. В последнее время, согласно рекомендации Германского физико-техниче-ско г о института для поверки щуповых приборов, изготовляется набор из 7 стеклянных образцов с неровностями синусоидальной формы. Номинальные значения глубины неровностей составляют 0,04 0,1 0,25 0,4 1 2,5 и 4 мк. Наибольшее отклонение действительного значения Р от номинального не превышает 5%. Рабочая поверхность образцов составляет 20 X 20 мм. К каждому образцу прилагается аттестат, в котором приводятся действительные значения и /< . [c.134]

Схема формирования изображения в интерференционном микроскопе Номарского приведена на рис. 6.4. Образец освещается двумя пучками монохроматического света, поляризованными в двух взаимно перпендикулярных плоскостях. Пучки получаются в результате прохождения света от источника 7 через узкополосный фильтр, поляризатор 6 и видоизмененную призму Волластона 3. Если на призму падает свет, плоскость поляризации которого составляет угол 45° с оптическими осями клиньев призмы, то из нее выходят два пучка с одинаковой фазой и интенсивностью, поляризованные под углом 90° друг к другу. Оба поляризованных пучка отражаются от поверхности образца 1, проходят через объектив 2 и еще раз через призму Волластона и выходят из нее, причем расходятся на угол е, зависящий от угла между кварцевыми клиньями призмы. Пройдя через поляризатор 4, установленный под углом 135° к оптическим осям клиньев, пучки интерферируют в плоскости изображения 5. [c.234]

Рис, в.4, Формирование изображения в интерференционном микроскопе Номарского [c.234]

После рассмотрения различных методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностей возникает вопрос о том, какой же метод следует предпочесть для оценки качества поверхности рентгеновских зеркал. Каждый из рассмотренных методов и приборов имеет свои недостатки и достоинства. Совокупность таких требований, как предельная чувствительность, простота реализации, возможность неразрушающего контроля, минимизация времени измерения и т. п., оказывается противоречивой. Понятно, что самую полную информацию о поверхности рентгеновского зеркала дает метод измерения индикатрисы рассеяния той энергии, где предполагается использование зеркала. Однако отсутствие выпускаемых промышленностью приборов такого типа и их достаточно высокая сложность практически исключают возможность использования их как средства контроля технологии изготовления зеркальной рентгеновской оптики. Проведенный обзор и анализ методов показывает, что в качестве приборов для контроля готовых образцов рентгеновских зеркал можно рекомендовать щуповой профилометр, прибор для измерения TIS и метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии. Вторая группа приборов, имеющих самостоятельное значение, — приборы для контроля качества рентгеновской оптики в процессе ее изготовления. Наиболее удобен для этой цели дифференциальный интерференционный микроскоп Номарского при условии его достаточной калибровки (в некоторых случаях можно использовать щуповой профилометр). [c.244]

Франсон М., Фазово-контрастный и интерференционный микроскопы, перевод с французского, Госфизматиздат, 1960. [c.245]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...