Обычное освещение микроскопов

Обычное освещение микроскопов [c.138]

Изображение это можно сфотографировать (если электроны попадают на фотопластинку) или наблюдать непосредственно глазом (если электроны падают на флуоресцирующий экран, светящийся под действием их ударов). На этом принципе построены многочисленные электронно-оптические системы, играющие важную роль в современной технике. Одной из таких систем является электронный микроскоп, схематически изображенный на рис. 15.6. Как мы видим, электронный микроскоп состоит из элементов, вполне эквивалентных элементам, составляющим обычный оптический микроскоп. Объект может быть самосветящимся — сам служить источником электронов (накаленный катод или освещаемый фотокатод), или освещенным , представляя собой препарат, на который падает поток электронов (обычно от накаленного катода) конечно, препарат должен быть достаточно тонким, а электроны достаточно быстрыми, чтобы они проходили сквозь препарат и проникали в оптическую систему. Впрочем, подобное же требование прозрачности мы предъявляем и к препаратам, рассматриваемым в обычном оптическом микроскопе. [c.359]

При наблюдении в световом микроскопе объект обычно освещен под разными углами, а [c.66]

Для освещения исследуемой поверхности и нанесенных отпечатков в тубус микроскопа встроен осветитель, у которого источником света является электрическая лампочка, питаемая током 3,5 в. Этот осветитель позволяет рассматривать исследуемую поверхность в светлом поле, как в обычном металлографическом микроскопе. [c.189]

В обычном просвечивающем электронном микроскопе, в котором используются электромагнитные линзы, электронная пушка дает пучок электронов с энергией приблизительно от 20 кэВ до нескольких мегаэлектронвольт. Наиболее часто используется напряжение в 100 кэВ. Обычно освещение образца регулируется с помощью двух конденсорных линз. Эффективный размер источника порядка нескольких микрометров. Расходимость пучка на образце можно уменьшить вплоть до 10 рад, однако для освещения большой интенсивности, которое необходимо для больших увеличений, расходимость может достигать 10" рад, особенно если образец вводится в поле объективной линзы так, что переднее поле объектива действует как короткофокусный конденсор. [c.287]

Продолжительность освещения фотопластинки устанавливают в зависимости от степени освещенности структуры, интенсивности освещения, увеличения объектива, чувствительности фотопластинок и т. д. Обычно для микроскопа каждого типа время выдержки определяют опытным путем [c.65]

В первой модели делается акцент на общий характер дифракции (рассеяние) света от объекта, когда условия по крайней мере частично когерентны, и на способ сведения света для формирования изображения. Аспекты анализа Фурье, относящиеся к первой части этого вопроса, уже знакомы нам по гл. 3 и 4. В разд. 5.3 мы рассматриваем их снова на этот раз с учетом второго этапа формирования изображения. Эта модель первоначально была сформулирована (в основном качественно) в 1873 г. Э. Аббе [1], который занимался проблемами наблюдений периодических объектов под микроскопом. Как можно сказать, пользуясь современной терминологией, он выяснил, что при способах освещения, используемых обычно в оптической микроскопии, формирование изображения вовсе не является полностью некогерентным процессом, как иногда полагают в действительности в некоторых современных системах он может быть почти когерентным. [c.85]

Конденсор изображает выходной зрачок коллектора на плоскость объекта и апертурную диафрагму в бесконечность. Так как коллектор расположен обычно довольно далеко от конденсора, последний по своему оптическому действию похож на перевернутый объектив микроскопа, но требования к качеству изображения значительно ниже, так как от конденсора требуется только равномерное освещение объекта. [c.415]

Осветительную систему микроскопа проверяют обычным способом (см. фиг. 67). Если направление луча от зеркала 15 (фиг. 103,а) не совпадет с оптической осью микроскопа, необходимо отвернуть винт 16, повернуть оправу с зеркалом, следя за освещением поверхности плитки, и после этого закрепить зеркало. [c.223]

В этом случае, хотя никаких подробностей увидеть невозможно, однако возможно обнаружить наличие этих деталей по дифракционной картине, так как каждая из них в виде, например, отдельных коллоидных частиц яв.ляется центром дифракционных колец. Последние сравнительно легко могут различаться только на темном фоне поля зрения микроскопа. Для темнопольных наблюдений конструируются специальные конденсоры, так как простое диафрагмирование обычного конденсора Аббе сильно ослабляет освещенность препарата. [c.64]

В обычной микроскопии, использующей для освещения препарата белый свет, стремятся теми или иными способами получить контрастную картину, которая позволяет обнаружить малейшие своеобразные детали исследуемого образца. Этот контраст может [c.576]

Это простое описание не часто отвечает экспериментальным условиям. Если изменение фазы не является малым, как это имеет место во многих важных случаях в оптике и электронной микроскопии, теория усложняется. Кроме того, невозможно изменить фазу дельта-функции только центрального пучка. Фазовая пластинка обладает конечными размерами и, таким образом, изменяет фазу лишь части дифракционной картины. Далее, мы исходили из предположения плоской падающей волны. Для обычных условий электронной микроскопии такое приближение правдоподобно. Иначе обстоит дело в оптической микроскопии, поскольку для плоской волны интенсивность изображения недостаточна. Вместо этого вблизи задней фокальной плоскости используется полый конус освещения с кольцевой фазовой пластинкой. [c.75]

Благодаря увеличению яркости изображения электронным путем телевизионный микроскоп может успешно заменить обычные микро-проекционные устройства, в которых для получения хорошей освещенности на экране необходимо подвергать препарат интенсивному освещению, что часто является нежелательным и гибельным для препарата. Высокая яркость экрана телевизора позволяет фотографировать изображения с малыми экспозициями, что особенно важно для киносъемки движущихся объектов. При этом кинокамера должна быть синхронизирована с разверткой изображения на экране. [c.78]

При съемке через микроскоп, где к качеству освещения предъявляются более высокие требования, чем при обычной работе с микроскопом, необходим такой конденсор, который можно было бы использовать в сочетании с различными объективами путем изменения его фокусного расстояния. [c.70]

При обычной работе с микроскопом часто пренебрегают фокусировкой конденсора и не используют диафрагму коллектора. Размер освещенного поля регулируют передвижением конденсора. Это приводит к тому, что обе диафрагмы перестают действовать по своему назначению. При передвижении конденсора одновременно изменяется и диаметр освещенного поля и апертура микроскопа. С увеличением диаметра освещенного поля происходит вынужденное уменьшение апертуры. Такие приемы работы не применимы в микрофотографии. [c.142]

Как известно, разрешающая сила обычного микроскопа очень ограничена и дает возможность получать увеличение не более 1500—2000 раз. При применении в качестве источника освещения ультрафиолетового света можно достигнуть увеличения в 3000— 3500 раз. Однако на практике применяют редко увеличение больше, чем в 1000 раз, так как большие увеличения не дают никаких-, новых деталей изображения. [c.76]

Мы нашли выражение для разрешающей силы микроскопа, исходя из предположения, что точки объекта посылают некогерентные волны (объект самосветящийся), так что ди()зракционные картины просто накладываются одна на другую. Однако обычно в микроскоп рассматривают объекты освещенные, а не самосветящиеся. Это значит, что отдельные точки объекта рассеивают падающие на них волны, исходящие из одной и той же точки источника, и, следовательно, свет, идущий из разных точек объекта, оказывается когерентным. К такому случаю, гораздо более распространенному, наш вывод разрешающей силы микроскопа непосредственно неприложим (см. упражнение 120). Аббе указал весьма интересный прием определения разрешающей силы для случая освещенных объектов и нашел, что и в данном случае разрешающая сила также определяется числовой апертурой объектива. Метод рассмотрения Аббе состоит в следующем. [c.350]

Из изложенного ясно, что для получения правильного изображения надо, чтобы через объектив микроскопа и далее проникали дифракционные пучки всех направлений. Обычно внутри микроскопа не ставится препятствий, так что опасность представляет лишь входной зрачок, которым служит оправа объектива, ограничизаю-ищя его рабочее отверстие ). Чем меньше предмет или его деталь d, тем большие углы дифракции он обусловливает и тем шире должно быть отверстие объектива. Отверстие объектива определяется углом 2и между крайними лучами, идущими от объекта (расположенного у фокуса) к краям объектива. Половина этого угла носит название апертуры. Если апертура меньше pi — угла дифракции, соответствующего спектрам первого порядка, т. е. sin и < sin tpi = = Ao/d, то в микроскоп проникнут только лучи от центрального максимума и мы не увидим изображения, соответствующего деталям, определяемым величиной d, т. е. в случае нашей решетки будем иметь равномерное освещение. Таким образом, условр езш и У - XJd есть условие, необходимое для разрешения деталей d. В крайнем случае (sin и = %old) мы жертвуем максимумами высших порядков, т. е. как сказано, несколько ухудшаем качество изображения. Чем больше sin и по сравнению с kjd, тем больше спектров высших порядков участвует в построении изображения, т. е. тем точнее передается наблюдаемый объект. [c.353]

УЛЬТРАМИКРОСК(ЗП—оптич. прибор для обнаружения мельчайших (коллоидных) частиц, размеры к-рых меньше предела разрешения (см. Разрешающая способность оптических приборов) обычных световых микроскопов. Возможность обнаружения таких частиц с помощью У. обусловлена дифракцией света на них. При сильном боковом освещении каждая частица в У. отмечается наблюдателем как яркая точка (светящееся дифракц. пятно) на тёмном фоне. Вследствие дифракции на мельчайших частицах рассеивается очень мало света, поэтому в У. применяют, как правило, сильные источники света. В зависимости от интенсивности освещения, длины световой волны, разности показателей преломления частицы и среды можно обнаружить частицы размерами от 20—50 нм до 1—5 мкм. По дифракц. пятнам нельзя определить истинные размеры, форму и структуру частиц У. не даёт оптич. изображений исследуемых объектов. Однако, используя У., можно установить наличие и численную концентрацию частиц, изучать их движение, а также рассчитать ср. размер частиц, если известны их весовая концентрация и плотность. [c.218]

Новый, голографический принцип может быть применен во всех случаях, когда имеется достаточно интенсивный источник когерентного монохроматического излучения, позволяющий получить расходящуюся дифракционную картину при относительно сильном когерентном фоне. В то время как его применение в электронной микроскопии, по-видимому, позволит достичь разрешения, не доступного для обычных электронных микроскопов, вероятно, все же более заманчивы перспективы применения нового метода в области световой оптики, где открывается возможность регистрации на одной фотографии информации о трехмерных объектах. В процессе восстановления можно сфокусировать последовательно одну плоскость за другой так, как будто сам предмет расположен в исходном положении, хотя искажения, обусловленные влиянием различных частей предмета, не лежащих в резко фокусируемой плоскости, при когерентном освещении больще, чем при некогерентном. Вполне возможно, что в световой оптике, где допустимо расщепление пучков, будут найдены такие методы использования когерентного фона, которые позволят улучшить разделение предмета по глубине, а также подавить влияние сопряженной волны более эффективно, нежели это было сделано в исследованных здесь простейших схемах. [c.269]

Продолжительность освещения фотопластинки устанавливают в зависимости от степени освещенности структуры (светлая или темная структура), интенсивности освещения, определяемой мощностью источника света, увеличения обпьектива, чувствительности фотопластинок и т. д. Обычно для микроскопа каждого типа время выдержки устанавливается опытным путем. [c.86]

Прямое наблюдение, фотографирование и киносъемку изменений структуры при нагреве, охлаждении и соответствующей выдержке можно проводить на установках высокотемпературной металлографии. Некоторые фирмы американская Unitron, японская Union и австрийская Reixert выпускают их в виде вакуумных камер с нагревателем. Камера устанавливается на обычный металлографический микроскоп со специальным длиннофокусным объективом. Отечественные установки снабжены микроскопом и устройством для растяжения образцов. Практическое увеличение до 500 возможно наблюдение в светлом и темном полях, при косом освещении и фазовом контрасте. [c.34]

Итак, условия освещения объекта определяются раскрытием 201 объектива осветителя, а разрешение зависит от угла раскрытия 202 объектива микроскопа. Обычно для этих углов справедливо соотношение 2 i < 202, и, если исследование ведется вблизи предела разрешения, можно считать, что любой несамосветя-щийся объект освещен когерентно. [c.340]

Микроскопические методы обычно применимы для исследования состояния поверхности металла. С этой целью используется бинокулярный микроскоп, воспроизводящий объемную картину поверхности. При этом применяются светло-, темно- и косопольное освещение, фазовый контраст, а также поляризованный свет и ультрафиолетовые лучи. [c.223]

Для контроля микроструктуры используют переносные микроскопы, укрепленные непосредственно на паропроводе. Микрошлиф подготовляют путем обработки переносными наждачными кругами и шкуркой, после чего полируют войлочными кругами с пастой ГОИ. Накоплен также некоторый опыт исследования микроструктуры с помощью оттисков [Л. 99]. На подготовленный непосредственно на паропроводе микрошлиф (травление должно быть несколько более глубоким) накладывается пленка нз пластичного материала. Перед наложением пленки на нее наносят две-три капли ацетона так, чтобы он растекся по площади, несколько превышающей площадь шлифа. Затем размягченную пленку прижимают при помощи пресса к шлифу. Через 20—30 мин ацетон испаряется и пленка аккуратно снимается пинцетом. Оттиск рассматривается на обычном металлографическом микпоскопе при косом освещении. [c.280]

МИКРОСКОП оптический (от греч. mikroa — малый и skopeo — смотрю) — оптич. приб для получения сильно увеличенных изображений объектов (или деталей их структуры), не видимых невооружённым глазом. Разл. типы М. предназначаются для рассматривания, изучения и измерения микроструктуры орга-нич. клеток, бактерий, срезов тканей, микрокристаллов, волокон, минералов, микросхем и др. объектов, размеры к-рых меньше мин. разрешения глаза (см. Разрешающая способность), равного 0,1 мм. М. даёт возможность различать структуры с расстоянием между элементами до 0,2 мкм. Обычно М. имеет двухступенчатую систему увеличения, образованную объективом и окуляром а обеспечивающую увеличение до 1500 краг, В оптич. схему М. входят также элементы, необходимые для освещения объекта. [c.141]

Метод исследования был основан на том факте, что мельчайшие частицы, присутствующие обычно в большинстве жидкостей и невидимые при простом освещении даже под сильным мнркоскопом, становятся заметными при интенсивном освещении, если они рассматриваются на черном фоне. Техника наблюдения в упомянутой работе впоследствии была модифицирована, однако без существенных изменений в ее основе, и использована при изучении других задач, связанных с движением жидкости. В некоторых случаях для облегчения наблюдений в жидкость вводились мельчайшие частицы. Некоторые из этих исследований, в частности те, которые имеют отношение к пограничному слою, описаны в общих чертах в настоящей статье. Все исследования были проведены не с воздухом, а с водой, поскольку в воде при тех же самых числах Рейнольдса благодаря более медленному движению частиц облегчается наблюдение этих частиц, а также потому, что в случае воды легче подобрать подходящие частицы, чем для воздуха. Ранее для наблюдения за движением частиц использовались ультрамикроскопы, которые позже были переименованы в гидродинамические микроскопы. Строго говоря, ультрамикроскоп представляет собой прибор или, точнее, специальную осветительную систему с микроскопом для изучения Броуновского движения в жидкости. Принцип работы прибора основан на том факте, что частицы, имеющие размер меньше длины волны света, при прохождении через очень яркий пучок света рассеивают свет и их движение становится видимым под микроскопом. Установка, применяемая в данной работе, сходна с ультрамикроскопом, поскольку и в этом случае под микроскопом наблюдается движение частиц, пересекающих луч света. Однако наблюдаемые частицы имеют размер, больший, чем длина волны света, и скорость их движения, исключая область вблизи твердой [c.119]

Для четкого наблюдения микроструктуры важно создать определенные условия освещения шлифа. Контрастность изображения возрастает с увеличением интенсивности освещения. Поэтому с учетом сложного пути луча в микроскопе и значительных потерь света применяемые источники света должны обладать достаточной мощностью при сравнительно малых габаритах. Для этих целей в современных металломикроскопах обычно используют кварцевые лампы с йодным циклом (галогенные лампы), а для получения наибольшей интенсивности — ксеноновые лампы высокого давления. Для уменьшения потерь интенсивности падающего света а некоторых микроскопах вместо полупрозрачной пластинки в ход лучей вводят призму. [c.26]

При работе с искусственными источниками света обычно применяют лампы накаливания, которые имеют небольшое по размеру неравномерно светящееся тело, состоящее из отдельных витков. Проектировать такой источник в поле зрения микроскопа нельзя, так как оно будет неравномерно освещено, что совершенно недопустимо. Поэтому искусственным путем добиваются правильного освещения препарата (так называемого освещения по Кёлеру), которое состоит в следующем (см. фиг. 1). Источник света Л проектируется коллектором Кл в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы Да конденсора К и, следовательно, в выходной зрачок аа объектива. Ирисовая диафрагма Дп осветителя, называемая полевой, проектируется конденсором К в плоскость препарата АВ. Апертурная диафрагма Да должна быть открыта приблизительно до двух третей диаметра выходного зрачка. (Хотя такое неполное открытие апертурной диафрагмы и снижает до некоторой степени разрешающую способность микроскопа, однако практически оно оказалось [c.11]

Конденсор ОИ-Ю — универсальный конденсор с увеличенным рабочим расстоянием, предназначенный для освещения препаратов как по методу светлого поля, так и по методу темного поля. Однако, он рассчитан для работы с объективами, апертура которых не больше 0,7. Конденсор применяется при работе, главным образом, с рабочими биологическими микроскопами. Расстояние от конденсора до препарата равно 10 мм, благодаря чему можно вести не только наблюдения, но и препарировальные работы с живыми объектами, находящимися в камерах и микрокюветах. Конденсор ОИ-10 устанавливается на микроскопе вместо обычного конденсора. [c.168]

Рассмотренная схема восстановления волнового фронта с помощью линейно смещенных полос интерференционной решетки применима, конечно, и к трехмерным предметам. Недавно это было успешно подтверждено в ряде лабораторий ). Автор и его сотрудники расценивают такую схему как практическую основу объемной рентгеновской микроскопии [Ш, 26]. Вопреки утверждениям, которые иногда делались в связи с разделением изображений при помощи двухлучевой голографии, автору и его сотрудникам [42] недавно удалось экспериментально подтвердить возможность полного разделения изображений при помощи обычной габоровской схемы, когда оба пучка (опорный и модулированный) идут параллельно. При этом восстановление достигалось как при освещении точечным источником, так и при диффузном освещении. [c.27]

Это означает, что если фазовый предмет такого типа перекрывает все поле, то он создает очень серьезные искажения, так как 1эфф = 0,28. Этот результат показывает, что неравномерно прозрачная подложка, на которой находится предмет, даже если она невидима в обычный микроскоп, сделает самые контрастные или регулярно повторяющиеся детали предмета почти невидимыми. Поскольку кажется сомнительным, что в электронной микроскопии Можно будет найти либо оптически плоскую , либо по крайней мере приемлемую поддерживающую мембрану периодической структуры, то желательно применять такие мембраны, которые занимают лишь малую часть освещенного поля, либо обходиться вообще без них. [c.242]

Это простейшая форма, в которой может быть выражено точное решение ). Она дает значение амплитуды как в сфокусированном, так и в расфокусированном изображении, получаемом в любом микроскопе (обычном или электронном) с гауссовой апертурой с точностью вплоть до погрешностей третьего порядка в случае стигматического, когерентного освещения предмета, расположенного на расстоянии L от источника. [c.282]

Объективы микроскопа собираются обычно в коротких оправах и скорректированы для образцов без покровного стекла, однако короткие оправы, очевидно, не нужны при соответствующим образом сконструированной системе освещения употребление длинных оправ для объективов большего увеличения означает, что объективы могут быть сделаны парфокальпыми (образец остается в фокусе при смене объектива). [c.357]

В тех случаях, когда исследуемый препарат не желают подвергать излишнему освещению неразложенный светом источника, носледний способ сочленения монохроматора с микроскопом более выгодный. Действительно, в этом случае через препарат будут проходить только монохроматические пучки, выделенные (юнохроматором. Эти пучки к тому же уже будут ослаблены в результате обычных потерь в оптической системе монохроматора и предшествующей части системы микроскопа. [c.400]

В рассмотренном случае возможны два приема возбу кдения люминесценции препарата освещение снизу и освещение сверху. В обоих случаях необходима лишь кварцевая или зеркальная осветительная онтика. Микроскоп для наблюдения люминесценции в простейших случаях мо кет быть использован обычный. Схемы таких установок изображены на рис. 443. Препарат осве- [c.579]

Для замера диаметра отпечатка на стенке цилиндра л ожно использовать микроскоп (рис. 27), в схему которого внесены некоторые изменения, связанные с замером отпечатка на вертикальной стенке цилиндра. К обычному микроскоп добавляется насадок с наклонным (под углом 45°) металлическим зеркалом 7 и двумя электролампочками 8 от карманного фонаря для освещения отпечатка. [c.90]

При микрофотографировании масштаб изображения на фотопластинке обычно не превышает увеличения микроскопа в случае визуального наблюдения. При проекции на экран (для демонстраций) масштаб изображения бывает значительно больше увеличения микроскопа вследствие большого расстояния от окуляра до экрана. Поэтому для достижения достаточной освещенности требуется повышать яркость источника света. Это устанавливает предел возможностям микропроекции. [c.26]

Обычный кинескоп, хотя и является трубкой с бегущим пятном, не пригоден для освещения препарата под микроскопом из-за большого размера пятна, малой яркости и длительного послесвечения. При 625 строках развертки и скорости 25 кадров в секунду число элементов растра, пробегаемых световым пятном в секунДу, имеет порядок 625x625x25 10 поэтому длительность послесвечения должна быть не более 10 сек. В противном случае на фотоумножитель будет попадать свет не только от той точки растра, где в данный момент находится бегущее пятно, но и от предыдущей, что, естественно, приведет к искажению изображения на экране телевизора. [c.77]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...