Теория оптической системы микроскопа

ТЕОРИЯ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ МИКРОСКОПА [c.322]

Оптико-геометрические правила построения оптического изображения, о которых говорилось выше, не дают исчерпывающего ответа на вопросы, относящиеся к формированию изображения. Одним из них является вопрос об ограничении разрешающей способности изображения в идеальной оптической системе. Одним из первых решением этой проблемы занялся немецкий физик Е. Аббе, создавший теорию изображения в микроскопе. Согласно теории Аббе, на структуре предмета происходит дифракция света, вследствие чего в фокальной плоскости объектива микроскопа появляется дифракционная картина. Дифрагированные волны [c.16]

Таким образом, в новом методе уже не нужно исправлять сферическую аберрацию электронных линз. Размер отверстия может быть намного больше величины предельно допустимой в обычной электронной микроскопии. Для достижения некоторого определенного разрешения необходимо только воспроизвести аберрации с той же самой точностью, с которой они должны быть исправлены. Таким образом, трудности переносятся из области электронной оптики в область световой, где могут быть изготовлены преломляющие поверхности любой формы без ограничений, накладываемых в электронной оптике теорией электромагнитного поля. От электроннооптической части схемы мы требуем лишь определенной умеренной стабильности в работе, достаточной для того, чтобы избежать слишком частой юстировки оптической системы. [c.222]

В учебном пособии изложены основные представления, понятия и законы геометрической оптики, необходимые для обоснования получения изображений. Обосновано устройство ряда оптических деталей, составляющих оптические системы. Рассмотрена теория основных видов оптических систем (телескопических, микроскопа, фотографических объективов и проекционных систем), а также некоторых специальных оптических систем (осветительных, телевизионных, фотоэлектрических и анаморфотных). [c.2]

Наиболее удобным объектом для изучения мартенситного превращения является превращение в монокристалле, происходящее путем движения плоской границы раздела от одного конца кристалла к другому. В этом случае отсутствуют осложнения, обусловленные аккомодационными напряжениями, и возникают условия, благоприятные для проведения сравнения с точными предсказаниями кристаллографических теорий. Такого рода превращения легко наблюдать в сплавах золото — кадмий и индий — таллий превращения в обеих системах характеризуются довольно малым изменением формы. В обоих случаях конечная фаза представляет собой пакет тонких двойников, которые видны в оптический микроскоп несколько позади границы раздела и не видны в непосредственной близости от нее. По-видимому, на поверхности раздела образуются в соответствии с предсказаниями кристаллографической теории очень тонкие двойники, которые сливаются затем [c.325]

Рентгеновские методы являются одними из основных в изучении тонкой структуры деформированных материалов, так как дают достаточно подробные дополнительные данные к прямым методам исследования, использующим, например, электронную и оптическую микроскопию. Преимущество этих методов в том, что материалы и изделия можно исследовать без разрушения и непосредственного контакта, не останавливая производства, а это обеспечивает создание системы неразрушающего контроля дефектной структуры кристаллических твердых тел, находящихся в рабочем состоянии. Для использования интерпретации экспериментальных результатов требуются детальные выражения, описывающие зависимость особенностей распределения интенсивности на дифрактограммах от параметров дислокационной структуры. Часть этих данных содержится в весьма обширной литературе по кинематическому приближению статистической теории рассеяния рентгеновских лучей деформированными кристаллами [3—58]. В настоящей главе в ряде случаев с необходимой подробностью приведены функциональные зависимости и численные значения коэффициентов, определяющих связь экспериментальных данных с параметрами дефектной структуры кристалла. Кроме того, приведены новые результаты по теории рассеяния рентгеновских лучей сильно искаженными приповерхностными слоями и предсказаны рентгенодифракционные эффекты в кристаллах, которые содержат структуры, характерные для развитой пластической деформации материала. [c.226]

Практическая электронная оптпка начала бурно развиваться с 1928 г. В это время аналогия Гамильтона была уже широко известна и ее использование позволило изобрести целый ряд электроннооптических приборов (таких, как электронный микроскоп), являющихся аналогами оптических. Хотя математическая аналогия посит общий характер, оптическая и электронная техники различаются между собой. Такие электроннооптические приборы, как электроннолучевые трубки и системы с искривлеппой оптической осью, не имеют аналогов в обычной оптике. Мы будем рассматривать только такие проблемы электронной оптики, оптические аналоги которых подробно обсуждались в предыдущих главах книги, и поэтому получающиеся результаты после небольшой модификации почти полностью переходят в уже известные. Отметим, что это относится, в часпюсти, к наиболее трудной для понимания главе электронной оптики, а именно к волновой теории аберраций линз. [c.679]

В основе ранних теорий о строении мыльных смазок были представления о смазках как эмульсионных системах, содержащих воду в качестве стабилизатора структуры. Д. С. Великовский, исследуя структуру кальциевых и натриевых смазок оптическими методами, установил ошибочность такой точки зрения и впервые показал, что смазки являются типичными коллоидными системами. Однако оптический микроскоп, используемый в ранних исследованиях, мог дать только грубую оценку структуры смазок, поскольку размеры частиц загустителей ниже предела его разрешающей способности. Показатель внешней структуры (текстуры) был положен в основу оценочных показателей смазок и в настоящее время как показатель внешний вид фиксируется в большинстве ГОСТ и ТУ. [c.13]

Рассмотрим коррекционные возможности такой оптической схемы. Из теории аберраций 3-го порядка следует, что один тонкий компонент обладает тремя основными параметрами Р, Х и С (параметр я практически постоянен и равен 0,7). Таким образом, у системы из двух тонких компонентов имеется шесть параметров, то есть можно в принципе исправить четыре монохроматические аберрации и две хроматические. В большинстве случаев при расчете объективов микроскопа требуется исправление двух хроматических аберраций (положения и увеличения) и трех монохроматических сферической, комы и астигматизма. Если требуется более тщательное исправление кривизны поверхности, то ее можно исправить путем выбора соответствующего типа фронтальной части с нужным значением коэффициента Петцваля. [c.85]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...