Микроскоп отражательный

Наиболее четко карбиды могут быть выявлены с помощью электронного микроскопа отражательного типа, пользуясь которым можно избежать неопределенностей, связанных с методикой изготовления реплик, необходимых в случае применения микроскопа, использующего проходящие лучи Сайкс считает, что данные электронной микроскопии подтверждают точку зрения, связывающую межкристаллитную коррозию с обеднением границ зерен хромом [12]. [c.609]

Фиг. 12. Оптическая схема микрофотометра /—лампочка 12й, 25б/я 2 — сферическое зеркало-рефлектор 3 — двойная линза конденсора 4 —отражательные прямоугольные призмы 5 — объективы микроскопа X 0,30 и X Ю 6 — фокусирующая двойная линза 7 — экран с раздвижной шелью (точность установки и отсчёта щели 0,01 мм, за экраном находится селеновый фотоэлемент диаметром 45 мм) < —фотопластинка Р — щель 10,11, 12 — система вспомогательного освещения 10 — отражательная призма 11 — конден-сорная линза 72 — поворотная призма).

Аналогично отражательному металл-микроскопу в отражательном ЭМ используются отраженные от объекта электроны при этом хорошо выявляются неоднородности и неровности поверхности, но возникает искажение масштаба. [c.599]

Отражательные электронные микроскопы работают по принципу сканирования ( ощупывания ) исследуемой поверхности электронным лучом, имеющим развертку по двум взаимно перпендикулярным направлениям (растровые электронные микроскопы — РЭМ). Изображение в РЭМе получается на экране электронно-лучевой трубки и может быть сфотографировано. Диаметр электронного пучка не превышает 10 м (100 А), что позволяет исследовать малые участки поверхности. [c.112]

И все-таки, как правило, перед тем как поместить металлический образец под микроскоп, его обрабатывают химическими реактивами — травяТ. Обычно для этого пользуются растворами кислот, протирая ими поверхность шлифа или просто помещая шлиф в емкость с едкой жидкостью. Она растворяет металл и на гладкой поверхности шлифа формируются неровности-рельеф. Другим результатом травления может стать образование пленок продуктов реакции кислоты с металлом. А далее опять сказывается различие свойств отдельных фаз. На каждой из них рельеф имеет свой характер, и соответственно отражательная способность фаз становится различной. Нлп одни фазы оказываются покрытыми продуктами травления, а другие—нет. И снова между разными фазами возникает контраст, который и наблюдается через микроскоп. [c.54]

Отражательный электронный микроскоп (рис. 1,419). Применение объектов с [c.159]

Рис. 1.428. Ход лучей в отражательном микроскопе /

Способы освещения в отражательном микроскопе и их применение. [c.177]

При приготовлении образцов для растровой электронной микроскопии можно использовать металлографические методы, применяемые при подготовке микрошлифов для наблюдения с помощью СМ. Наибольшие различия при этом заключаются в способах травления микрошлифов. В световой металлография структура выявляется за счет разности скоростей коррозии отдельных структурных составляющих и за счет различия продуктов химического взаимодействия травителя с образцом, осаждающихся на определенных элементах структуры. Реактивы, образующие на отдельных структурных составляющих тонкие пленки, изменяющие отражательную способность образца, непригодны для РЭМ. Для образцов РЭМ используют только реактивы, образующие рельеф на поверхности микрошлифов. [c.68]

Приготовленные микрошлифы промывают и подвергают исследованию в нетравленом виде для оценки загрязненности неметаллическими включениями, обнаружения микроскопических пор, трещин и т. п. После изучения шлифа в нетравленом виде производится его травление для выявления микроструктуры. Для котельных материалов обычно применяется травление, представляющее собой избирательное растворение границ зерен и фаз вследствие их различных физико-химических свойств. В результате травления образуется рельеф, и при наблюдении под микроскопом сильно растворившиеся участки из-за тени или пониженной отражательной способности представляются более темными, а нерастворившиеся — более светлыми. Травящее действие реактива зависит от концентрации трави-теля и его химической активности, длительности травления и температуры реактива. Для химического травления шлифы погружают полированной поверхностью в раствор травителя либо на поверхность наносится травитель в виде капли. Продолжительность травления устанавливается экспериментально (см. табл. 2.18). [c.56]

Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [c.41]

Конструктивно микроскоп (фиг. 36) выполнен в виде настольного прибора. На основании 1 смонтирован осветитель 2 и корпус 3 с фотокамерой 4. На корпусе укреплены узел апертурной диафрагмы 5 и коробка 6 с тубусом 7 для визуального наблюдения. Кроме того, на коробке 6 находится вертикальный иллюминатор 8 с полевой диафрагмой, отражательной пластинкой и фотозатвором 9. Рукоятка 10 служит для включения заслонки [c.79]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 53. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 — в плоскость объекта 4. После поляризатора (поляризационной призмы) 6 лучи попадают на полупрозрачную отражательную пластинку 7, направляющую свет в объектив 5, который работает и как часть осветительной системы, и как объектив, дающий изображение объекта. Отражательная пластинка 7 может быть заменена призмой 8, которая несколько увеличивает освещенность объекта и создает эффект косого освещения, выявляющего рельеф поверхности образца. Отраженные от объекта лучи после объектива идут в анализатор 9 (поляризационный фильтр) и изображение объекта наблюдается через окуляр 10. [c.107]

В этом методе используется электронная техника для увеличения возможностей стандартного микроскопа метод описан Робертсом и Янгом [79]. Свет, прошедший через объект, проецируется на трубку фотоумножителя возникшее при этом напряжение усиливается и используется для управления яркостью вторичной катодно-лучевой трубки, которую сканируют синхронно с первой. Эта вторая трубка, таким образом, дает нормальное изображение объекта. Аналогичные устройства используются и для отражательной световой микроскопии. [c.374]

Такой прибор имеет два преимущества перед обычным микроскопом. Во-первых, любые различия в отражательной способности преобразуются в изменения напряжения, так что благодаря [c.374]

Отражательная (или дифракционная) рентгеновская микроскопия, для которой фокусировка рентгеновских лучей достигается с помощью изогнутых зеркал из диэлектрика или металла. [c.385]

Призмы, коллективы, первые линзы широкоугольных окуляров и другие детали, расположенные вблизи от плоскостей действительного изображения оптической системы. Линзы микрообъективов с увеличением 10 и меньше Линзы окуляров телескопических приборов. Окулярные призмы. Отражательные пластинки и зеркала коллиматор-ных приборов. Линзы окуляров микроскопов и лабораторных приборов. Выравнивающие стекла фотокамер. Линзы объективов, работающих в инфракрасной области в условиях солнечной засветки [c.308]

Для проведения металлографических исследований нагретых образцов необходимы объективы, обладающие большим рабочим расстоянием (по сравнению с используемыми для осуществления исследований при комнатной температуре). Это требование обосновано тем, что должно быть предотвращено интенсивное тепловое воздействие и разогрев корпуса объектива. Отечественной оптической промышленностью освоено изготовление объективов с рабочим расстоянием 13,5—60 мм, обеспечивающих получение увеличения изучаемых образцов в 250—400 раз и используемых в отражательных микроскопах типа МВТ. [c.6]

Анализ и исследование микроструктуры, полученной на репликах, производятся в лабораторных условиях на стационарных металлографических микроскопах (МИМ-7, МИМ-8, МИМ-9, Neofot и др. при любом увеличении до 500-1000-кратного), настроенных, на косое освещение с помощью призмы (а не отражательной пластины). Экспозицию при фотографировании микроструктуры с оттисков необходимо [c.326]

Применение ультрафиолетовых лучей, требующее изготовления оптики микроскопа из соответствующих материалов (кварц, флюорит) или использования отражательной оптики, ограничено длинами волн 250—200 нм, ибо большинство объектов, подлежаш,их наблюдению, сильно поглощает короткий ультрафиолет. Таким обра.зом, на этом пути возможно увеличение разрешающей силы примерно в два раза, что и осуществлено в современных ультрафиолетовых микроскопах, причем, конечно, необходимо применять фотографический метод наблюдения. [c.357]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах. [c.86]

По способу формирования изображения различают проекционный, контактный, отражательный и дифракционный Р. м. по принципу регистрации Р. м. может быть изображающим, образующим действительное или теневое изображение объекта, или сканирующим (растровым), к-рый регистрирует излучение от одного элемента объекта, находящегося на оптич. оси микроскопа, а полное изображение (растр) создаётся при пос-ледоват. перемещении объекта относительно оси микроскопа с помощью прецизионного механизма. Преимущества последнего способа регистрации — независимость разрешения от полевых аберраций оптич. системы и, следовательно, отсутствие ограничений на величину поля зрения, а также меньшая радиац, нагрузка на объект исследования. [c.366]

Отражательный рентгеновский микроскоп моя ет быть и изображающим, п сканирующим, с оптикой скользящего падения или нормального падения с многослойным покрытием (см. Рентгеновская оптика). Р, м. этого типа работают в области < < 4 кэВ, рассматривается возможность осуществить эту схему Р. м. для более жёсткого излучения (в области 10 кэВ). Классич. тип отражательного Р. м. скользящего падения — микроскоп Киркпатрика — Баэза, состоящий из пары скрещенных сферич. или цилиндрич, зеркал (рис. 2). В этой схеме источник О и зеркала А и Б расположены таким образом, что меридиональное 0 и сагиттальное О" астигматические промежуточные изображения источника (см. Изображение оптическое), -создаваемые зеркалом А, были бы соответственно сагиттальным и меридиональным изображениями для зеркала Б, к-рое благодаря обратимости объекта и изображения создаёт стигматическое увеличенное изо--бражение источника в точке 1. Предельное дифракц. [c.367]

Рис. 2. Схема отражательного рентгеновского микроскопа скользящего падения Киркпатрика—Баэза О — источник (излучающий объект) А и В — сферические или цилиндрические зеркала О и О" — промежуточные астигматические изо-бражеиия О, — действительное изображение.

Фотографирование структуры и микрофотография. Для изготовления фотоснимков структуры применяют микроскопы больших размеров с пластиночным фотоаппаратом, а также такие небольшие устройства, как Вертиваль [142], представляющий собой обычный отражательный микроскоп, в ко- [c.180]

Одними из первых и наиболее известными из таких анализаторов являются приборы типа Квантимет фирмы ambridge Instruments (Англия). В этих приборах использован принцип линейного анализа. Получаемое в обычном вертикальном микроскопе с автоматическим перемещением предметного столика изображение структуры с фокальной плоскости окуляра вводится в телевизионную камеру, сигналы с которой подаются одновременно на детектор и экран контрольного телевизора (рис. 1.13). Детектор выделяет и оценивает импульсы, соответствующие оптической отражательной способности исследуемы.х [c.31]

Если говорить не только об отражательной оптртке, но и об оптике МР-диапазона в целом, то необходимо упомянуть дифракционную оптику нормального падения — прозрачные решетки и зонные пластинки (френелевские линзы), обсуждение которых выходит за рамки книги. Они представляют собой тончайшую регулярную структуру (с размером штриха 0,01—0,1 мкм), свободно висящую или расположенную на пленке толщиной порядка 1 мкм, либо на ажурной поддерживающей арматуре . Изготавливают их методами планарной микроэлектронной технологии. Прозрачные решетки и зонные пластинки используются как в спектроскопии плазмы, так и в микроскопии биологических объектов. Расчетная дифракционная эффективность зонных пластинок равна 15—40 % в диапазоне 2—12 нм. [c.10]

Первичные серебряные отпечатки могут исследоваться в оптическом микроскопе в отраженном свете, обладая гораздо более высокой отражательной способностью, чем керамика. Однако при очень щероховатой поверхности такому исследованию свойственны все те недостатки, о которых шла речь выше. [c.146]

Предпришьмаются попытки применения в микроскопии, кроме обычных пропускающих голограмм, также и отражательных голограмм, которые позволяют еще более увеличить числовую апертуру, поскольку в этом случае объект, который предполагается прозрачным, не препятствует распространению референтного пучка. Другим преимуществом является возможность производить реконструкцию отражательных голограмм в белом свете. [c.188]

Применение отражательных объективов позволяет использовать при данной апертуре гораздо большие рабочие расстояния, что особенно важно для высокотемпературной металлографии и для непосредственного наблюдения структуры изломов. Отражающие системы совершенно ахроматичны, так что они открывают более широкие возможности для распознавания фаз и более компактны. Типичная отражательная система показана на фиг. 4, а [16]. Следует отметить, что одно из ее зеркал имеет несферическую поверхность это уменьшает затемнение, которое создается тенью от второго зеркала. Естественная апертура отражательных систем может быть увеличена с помощью применения иммерсионной жидкости. Рабочее расстояние обычного микроскопа можно увеличить с помощью устройства, которое воспроизводит действительное изображение объекта (фиг. 4, б), а затем это изображение исследуется с помощью обычного микроскопа [46]. Лучи света от объек- [c.358]

К системам, основанным на отражении ультразвуковых колебаний, относятся ультра вуксвэй микроскоп и ультразвуковой отражательный импульсный дефектоскоп. [c.71]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...