Микроскопы Сила разрешающая

Хорошо отрегулированные отечественные микроскопы имеют разрешающую силу до [c.120]

РАЗРЕШАЮЩАЯ СИЛА ТЕЛЕСКОПА И МИКРОСКОПА [c.198]

Принимая во внимание, что читатель достаточно хорошо знаком с устройством и принципом действия микроскопа и телескопа из курса физики средней школы, остановимся лишь на рассмотрении их разрешающей силы. [c.198]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы. [c.199]

Таким образом, для разрешающей силы микроскопа в случае освещенных объектов получено то же самое выражение, что и для самосветящихся объектов, Различие в коэффициентах (0,61 и 0,5) [c.202]

Условие синусов необходимо при рассмотрении разрешающей силы микроскопа, оптика которого всегда рассчитывается с учетом роли внеосевых пучков. [c.330]

Правда, Б грубом приближении, которое оказывается достаточным при решении большинства практических задач, опенки разрешающей силы в обоих случаях (j е. при рассмотрении когерентного или некогерентного освещения) не расходятся очень сильно. С принципиальной же точки зрения чрезвычайно интересно замечание Д. С. Рождественского, впервые предложившего считать освещение объекта в микроскопе частично когерентным. О его работах стоит вспомнить теперь, когда понятие частичной когерентности квазимонохроматической волны получило столь существенное развитие, истоки которого часто связывают лишь с формулировкой теоремы Цернике. [c.339]

К вопросу о разрешающей силе микроскопа [c.341]

Оцените разрешающую силу микроскопа при когерентном и некогерентном освещении объекта. [c.459]

Основные физические идеи голографии были сформулированы Д. Габором в 1948 г. в связи с проблемой повышения разрешающей способности электронных микроскопов. Габор подтвердил свои теоретические соображения экспериментами в оптической области спектра. Однако в силу указанных трудностей голография развивалась очень медленно вплоть до создания оптических квантовых генераторов, излучение которых, по самому принципу их работы, исключительно монохроматично и обладает высокой степенью про- [c.260]

Разрешающая сила микроскопа [c.348]

Риг. 15.2. К вычислению разрешающей силы микроскопа. [c.349]

Таким образом, разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше значение п sin и. Эта последняя величина получила название числовой апертуры объектива и обычно обозначается через Л. [c.350]

Таким образом, как для освещенных, так и для самосветящихся объектов разрешающая сила микроскопа зависит от числовой апертуры А. [c.354]

ВОЛНЫ, соответствующая электронам, очень мала. Она имеет порядок нескольких тысячных нанометра, ибо обычно применяются электроны с довольно большими скоростями (соответствующими ускоряющей разности потенциалов 40—60 кВ). Тем не менее, как мы видели в 97, для рассмотрения основного вопроса о разрешающей силе микроскопа надо принять во внимание, что длина волны [c.360]

Кристаллические тела не идеальны в них всегда в огромном количестве суш,ествуют нарушения структуры, называемые несовершенствами (или дефектами). В силу ряда- причин отдельные кристаллы в реальном металле не имеют возможности принять правильную форму. Кристаллы неправильной формы называются зернами или кристаллитами. Их размер от 0,1 до 10 мкм. Напомним, что разрешающая способность микроскопа равна длине волны све- [c.31]

Электронный микроскоп. В электронном микроскопе лучи света заменены потоком электронов, поэтому разрешающая сила его и предельное увеличение ограничиваются не длиной волны, а аберрациями геометрической оптики. Предельные увеличения электронного микроскопа могут достигать сотен тысяч крат. Другими преимуществами электронного микроскопа являются большая глубина резкости (вследствие малых угловых апертур), позволяющая получать стереоснимки и исследовать рельеф поверхности, а также возможность исследовать процессы при повышенных температурах. На фиг. 17 изображён электронный микроскоп с увеличением до 25 000 крат. [c.148]

Если с помощью микроскопа можно хорошо ознакомиться с основными чертами строения боксита и определить в нем прозрачные минералы фазовым контрастным методом, то из-за ограниченной разрешающей силы микроскопа форму и взаимосвязь сросшихся отдельных кристаллов можно распознать только в редких случаях. Хороший объектив с апертурой 1,0 имеет, например, разрешающую силу 0,3 мкм и такую же глубину резкости. Если, например, необходимо различить шестиугольную форму псевдо-гексагональных кристалликов гидраргиллита или подобные частицы, то в поперечнике они должны быть не меньше 2 мкм и находиться в узкой зоне резкости, перпендикулярной оптической оси микроскопа. [c.26]

Вопрос о качестве изображения, получаемого при помощи оптических систем (микроскопов, телескопов, фотообъективов и т. п.), приобрел в настоящее время большое практическое значение, поскольку разрешающая сила оптических приборов уже стала близка к предельно возможной. [c.4]

У электронного микроскопа соотношение между разрешающей способностью и глубиной резкости лучшее. Для препаратов обычной толщины у большинства микроскопов достижимая разрешающая сила больше 5 нм (50 А). В противоположность светооптическому изображению при максимальном увеличении электронного микроскопа глубина резкости кратна разрешению например, при разрешающей способности 5 нм (50 А) глубина резкости равна примерно 1000 нм (10000 А) = 1 мкм (1 микрону). [c.26]

Под разрешающей силой микроскопа понимается то минимальное расстояние (линейное или угловое) между близлежащими точками, при котором их еще можно наблюдать раздельно. Вследствие того что объект располагается на небольшом расстоянии от объектива (обычно чуть дальше фокуса объектива), в данном случае не будет наблюдаться точная картина фраунгоферовой дифракции. Однако, так как плоскость изображения ПП объектива находится на расстоянии, существенно превьннающем диаметр объектива, проходящие лучи можно считать почти параллельными. Далее, при рассмотрении дифракции этих лучей на апертурной диафрагме MN [c.199]

Следовательно, при иекогереитиом освеп1,е11ии самосветящегося объекта разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше числовая апертура и чем меныне длина волны света. [c.201]

Увеличение разрешающей силы микроскопа. Из выражения разрешающей силы микроскопа видно, что суш,ествуют два пути ее увеличения а) увеличение числовой апертуры б) уменьшение длины волны света, в котором рассматривается объект. Числовую апертуру можно увеличить как увеличением угла апертуры, так и увеличением показателя преломления окружаюш,ей объект среды. Увеличення п можно добшъся, погружая объект в прозрачную жидкую Среду с возможно большим показателем преломления (со-ответствуюш,ие микроскопы называются иммерсионными). Однако, как известно, для оптически более плотных прозрачных жидкостей /г лг 1, 6, что не приводит к существенному увеличению разрешающей силы. Увеличение разрешающей силы за счет увеличения апертуры также ограничено, так как в предельном случае sin и = = 1. В реальных случаях можно добиться значения sin и = 0,95 при /г = 1. Это означает, что возможно разрешение деталей объекта размером порядка половины длины световой волны. [c.203]

Увеличение разрешающей силы микроскопа путем уменьшения длины световой волны прнв ело к положительному результату. Микроскопы, пспользующне ультрафиолетовые лучи, позволяют увеличить разрешающую силу примерно в два раза. Переход к микроскопам, использующим рентгеновские лучи, позволил бы резко увеличить разрешающую силу. Однако отсутствие оптических линз для рентгеновских лучей делает практически почти невозможным создание рентгеновских микроскопов. Такие принципиальные трудности были преодолены после того, как в 1923 г. Луи де Бройлем была выдвинута гипотеза, согласно которой любой частице с массой т, движущейся со скоростью v, соответствует волна с длиной [c.203]

Изложение намеченного круга вогтросов начнем с краткого анализа аберраций оптических систем и способов их устранения. Затем исследуем разрешающую силу телескопа и микроскопа. Рассмотрение этих двух очень важных частных задач позволит ознакомиться с основами дифракционной теории оптических инструментов и современными способами повышения разрешающей силы оптических приборов. [c.328]

Сравнивая соотношени 1/с/мин лйши/л с выражением для разрешающей силы телескопа [см. (6. 108)], заметим существенную разницу разрешающая сила микроскопа зависит не от диаметра объектива, а от угла его раскрытия. [c.342]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

Дифракция, возникающая вследствие ограничения пучка лучей, имеет место и в микроскопе и такл<е приводит к ограничению его разрешающей силы. Для микроскопа обычно выражают его способность к разрешению деталей не величиной угла, а линейными размерами мельчайшей разрешимой детали или минимальным расстоянием между двумя точками, различимыми с помо цью микроскопа. В том случае, когда две такие точки испускают некогерентные волны (самосветящиеся точки), задача вполне аналогична рассмотренной в предыдущем параграфе. [c.348]

Мы нашли выражение для разрешающей силы микроскопа, исходя из предположения, что точки объекта посылают некогерентные волны (объект самосветящийся), так что ди()зракционные картины просто накладываются одна на другую. Однако обычно в микроскоп рассматривают объекты освещенные, а не самосветящиеся. Это значит, что отдельные точки объекта рассеивают падающие на них волны, исходящие из одной и той же точки источника, и, следовательно, свет, идущий из разных точек объекта, оказывается когерентным. К такому случаю, гораздо более распространенному, наш вывод разрешающей силы микроскопа непосредственно неприложим (см. упражнение 120). Аббе указал весьма интересный прием определения разрешающей силы для случая освещенных объектов и нашел, что и в данном случае разрешающая сила также определяется числовой апертурой объектива. Метод рассмотрения Аббе состоит в следующем. [c.350]

Применение ультрафиолетовых лучей, требующее изготовления оптики микроскопа из соответствующих материалов (кварц, флюорит) или использования отражательной оптики, ограничено длинами волн 250—200 нм, ибо большинство объектов, подлежаш,их наблюдению, сильно поглощает короткий ультрафиолет. Таким обра.зом, на этом пути возможно увеличение разрешающей силы примерно в два раза, что и осуществлено в современных ультрафиолетовых микроскопах, причем, конечно, необходимо применять фотографический метод наблюдения. [c.357]

Принципиальное ограничение разрешающей силы электронного микроскопа лежит, конечно, так же как и в случае обычного оптического микроскопа, в ди( )ракционных явлениях, обусловливаемых волновой природой электронов. Такую дифракцию электронов можно наблюдать непосредственно, если подобрать условия опыта [c.360]

Д. с. играет в оптике и физике вообще исключительно важную роль ею определяются, напр., предельные возможности оптич. приборов, разрешающая сила микроскопов и телескопов, добротность открытых pe io-наторов и др. Появлеине лазеров определило новый круг задач и явлений, связанных с Д. с. К ллы относятся вопросы дифракции частично когерентных полей или явление самодифракции в нелинейных оптич. средах (см. IJелииейпая оптика). [c.677]

Зависимость V от г определяется анустич. свойствами материала образца, поэтому она получила назв. К(г)-характеристики материала или его акустич. сигнатуры. Подбором смещения г можно получить высокий акустич. контраст даже при небольших изменениях упругих параметров в образце ценой, однако, уменьшения разрешающей силы микроскопа. [c.149]

Разрешающая сила микроскопа [5,tvi. X] обратно пропорциональна длине волны лучей, образующих изображение. Для увеличения разрешающей силы можно пользоваться ультрафио- [c.411]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...