Микроскопы Линника

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

Для измерения глубины коррозии используют различные приборы. Наиболее точные измерения получают при применении оптических приборов. Глубина коррозионного поражения может быть определена с помощью обычного микроскопа методом фокусирования оптической схемы сначала на плоскость, совпадающую с верхним очагом поражения, а затем — на плоскость дна очага. По разности отсчетов на микроскопическом винте судят о глубине коррозии.. Для определения глубины коррозии может применяться также двойной микроскоп Линника или оптико-механические профилографы, например профилограф типа ИЗП-18. Преимуществами профилографа являются возможность измерения очага коррозии и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца. По профилограмме можно судить не только о глубине, но и форме образующихся коррозионных поражений. [c.22]

Фиг. 94. Двойной микроскоп Линника.

Радиус притупления (завала) лезвия определяется двойным микроскопом Линника, в окуляр которого вставляется специальный шаблон. [c.21]

При работе очень важно обеспечить однообразие качества обработки поверхностей трения и соприкосновение образцов по всей поверхности контактирования. Качество обработки образцов проверяется на двойном микроскопе Линника и доводится на чугунном притире. Для этого металлический образец закрепляется на наконечнике шпинделя, а вместо узла трения устанавливается чугунный притир. Пластмассовые образцы притираются ПО подготовленным к работе металлическим образцам в узле трения при нагрузке 100—125 кг. При этом используется то масло, которое подвергается исследованию. Притирку проводят до тех пор, пока не достигнут полного прилегания контактирующих поверхностей. После подготовки образцы два раза промываются в бензине и высушиваются на воздухе. [c.84]

Измерять грубые повреждения поверхности зубьев (питтинг, задиры) с помощью двойного микроскопа Линника. [c.220]

Для оценки глубины ямок питтинга (выкрашиваний) использовался двойной микроскоп Линника (МИС-11). По измерениям на оттисках были получены данные о развитии питтинга по глубине на зубьях зубчатых колес стенда Ш-3 (рис. 6). [c.223]

Метод позволяет оценивать качество поверхности зубьев зубчатых колес без разборки узла и определять качество поверхности с помощью стандартных оптических приборов (микроинтерферометр, двойной микроскоп Линника и др.). [c.224]

Радиус округления режущего лезвия р характеризует завал, притупление лезвия, имеющее место не только у затупленного, но и у острого резца. Этот радиус измеряется при помощи двойного микроскопа Линника при увеличении 300. На рис. 2 показана зависимость радиуса округления р от угла заострения р резца. [c.246]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Рис. 1.10. Оптическая схема двойного микроскопа Линника

Двойные микроскопы Линника пригодны для оценки микрогеометрии поверхностей, имеющих высоту неровностей от 1—2 до 60 мк. [c.429]

Фиг. 211. Двойной микроскоп Линника (оптическая схема)

Двойной микроскоп Линника. Прибор предназначен для измерения чистоты поверхностей 3—9-го классов чистоты. Действие микроскопа основано на принципе светового сечения (фиг. 102). Прибор (фиг. 103) состоит из двух микроскопов микроскоп А служит для освещения исследуемой поверхности (проектирующий микроскоп), микроскоп В — для наблюдения и измерения получаемого очертания кривой [c.452]

Двойной микроскоп Линника позволяет измерять микронеровности высотой от 0,9 до 60 мк только на наружных плоских или цилиндрических поверх- [c.453]

Микроскоп Линника с помощью дополнительного неподвижного перекрестия. Методом светового сечения, а также с помощью сканирующего электронного микроскопа и др. [c.784]

Бесконтактные приборы являются измерительными приборами, основанными либо на принципе светового сечения исследуемой поверхности (например, двойной микроскоп Линника МИС-11), либо на исполь- [c.213]

Двойной микроскоп Линника МИС-11 (фиг. 90) предназначен для контроля шероховатости по параметру Н р для поверхностей с 3-го по 9-й класс чистоты (ГОСТ 2789—51). Для контроля поверхностей различных классов чистоты к прибору прилагаются сменные объективы, которые следует применять в соответствии с табл. 60. При использовании микрообъективов для других классов чистоты, не указанных в таблице, резко увеличивается погрешность измерения. [c.214]

Интерференционные микроскопы Линника (фиг. 102) применяются для контроля поверхностей, шероховатость которых находится в пределах 10—14-го классов чистоты по параметру Нср. [c.214]

Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9-й класс интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5— для поверхностей с 10-го по 14-й класс. [c.214]

Двойной микроскоп Линника МИС-11 [c.217]

Рис. 2. Фотография слоя консистентной смазки толщиной 30 мк под микроскопом Линника а — слой смазки без дефектов б — слой смазки с дефектом

На рис. 2 показаны микрофотографии пленок смазок, которые можно наблюдать под микроскопом Линника. На верхнем снимке (а) виден равномерный по толщине слой смазки, не имеющий дефектов, на нижнем снимке в слое смазки четко виден дефект (разрыв в слое смазки). Таким образом, просмотр смазок под микроскопом Линника дает возможность обнаружить дефекты [c.238]

Тонкие пленки консистентных смазок заданной толщины (20—500 мк) можно наносить на платиновый электрод небольшой площади и контролировать их качество при помощи микроскопа Линника. [c.240]

Рис. 11. Двойной микроскоп Линника МИС-11

Двойной микроскоп Линника МИС-11. В 1929 г. советский ученый академик В. П, Линник предложил прибор для оценки шероховатости поверхности, основанный на методе светового сечения (рис. 11, а). В приборе луч света направляется на поверхность под определенным углом. С противоположной стороны под таким же углом производится наблюдение. Если луч света попадает на гладкую поверхность, то мы увидим узкую ровную световую полоску. В том случае, когда на поверхности имеются какие-нибудь неровности, наблюдатель увидит изломанную световую полоску (рис. 11, б). [c.29]

Технические данные микроинтерферометров и двойных микроскопов Линника и профилографов Левина см.том 11, гл. VII], табл. 27, стр. 250. [c.54]

Величина износа определялась по глубине борозды при помощи микроскопа Линника. Данные, характеризующие износостойкость исходного материала и диффузионного хромового покрытия, приведены в табл. 3 и на рис. 2, на которо м показаны изменения величины износа со временем. [c.110]

Аппаратура для оценки чистоты поверхности Микроинтерферометр Линника Двойной микроскоп Линника [c.1204]

ДВОЙНОЙ МИКРОСКОП ЛИННИКА (МИС-11) [c.132]

Двойной микроскоп Линника применяется для контроля чистоты поверхности в значениях И ср для классов чистоты 3 - [c.132]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5. [c.55]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

Двойной микроскоп Линника. Приборы акад. Линника, измеряющие Wmax (двойной микроскоп и микроинтерферометр), нашли достаточное применение. [c.24]

Для определения качества обрабатываемой поверхности следует иметь микроскоп Линника и профилометр Аббота. [c.373]

При изучении влияния на износ зубьев свойств масел глубина образующихся рисок при качественных маслах обычно не превышает 1 мк за 50 часов испытания. Для определения такого износа разрешающей способности мичроинтерферометра Линника (МИИ-4) вполне достаточно. В случае большего износа и более грубых изменений шероховатости возможно применение двойного микроскопа Линника. [c.221]

Тонкпй слой серебра весьма четко проявляет структуру лежащей под ним поверхности глазури очень наглядно выступают все дефекты поверхности мпкротрещины, посторонние включения, шероховатости, следы разрядов (для высоковольтных фарфоровых изоляторов) и пр. Структура посеребренной поверхности глазури изучается так же, как и структура металлических поверхностей, с помощью двойного микроскопа Линника, поляризационного микроскопа, микроинтерферометра Линника, а также путем измерения коэффициентов отражения на различных рефлексометрах. [c.159]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

В настоящее время наряду с щуповыми приборами имеются утвержденные типы оптических приборов (двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометры Линника МИИ-1, МИИ-4 и т. д.), и поэтому вопрос об обеспечении единства измерений шероховатости является весьма актуальным. [c.133]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Для контроля шероховатости обработанной поверхности деталей в местах, трудно доступных не только измерению их с помощью приборов, но и сравнению с образцами чистоты, пользуются методом слепков. Сущность данного метода состоит в том, что с измеряемой поверхности снимают отпечаток. Полученную на отпечатке микрогерметрию данного участка поверхности обычно измеряют на микроскопе Линника МИС-11 (фиг. 98). [c.212]

К числу приборов ДЛЯ определения шероховатости без механического ошупывания иглой, основанных на оптических методах измерения, следует отнести двойной микроскоп Линника. Он дает возможность измерять Я ах в пределах от 1,6 до 40 мк. [c.20]

Для более точной оценки шероховатости поверхности используют другие приборы. Наиболее распространенными из них являются двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометр МИИ-4, профилограф-про-филометр завода Калибр модели 201, 240, 202. [c.29]

Наиболее распространено определение микрогеометрии или профиля поверхности с помощью различных профилометров, которые разделяются на оптические — микроинтерферометры, двойной микроскоп Линника [9, 12] — и на механические или оптико-механические с ощупывающей иглой. Недостаток оптических приборов заключается в малом поле зрения, что снижает надежность измерений и требует многократных определений микрогеометрии в различных точках [13]. Как показал В. С. Лапатухин [14], определение микрорельефа фосфатных пленок при помощи двойного микроскопа Линника, дало менее точные результаты, чем при использовании оптико-механических профилографов. [c.32]

В некоторых случаях люминесцентный метод дефектоскопии позволяет не только обнаруживать наличие или отсутствие микро-трещпн в деталях, но и оценить их глубину. Последняя определяется но ширине образующейся люлпшесцирующей полосы, по времени проявления , а иногда и по интенсивности свечения. Опытным путем устанавливается связь между этими величинами и глубиной трещины, которую измеряют, например, на интерфереицпонпом микроскопе Линника. На основании полученных данных составляются таблицы, которыми в дальнейшем при известных условиях и пользуются. [c.561]

На рис. 3.27 приведены графики расчетной и действительной зависимостей высоты микронеровностей от величин ы продольт ной подачи. Действительную высоту микронеровностей измеряли двойным микроскопом Линника у партии идентичных деталей из стали 45, обработанных на станке 1722 при t = 1 мм, v = = 87 м/мин и S = 0,15, 0,25 0,4 0,6 и 0,9 мм/об. Как показали исследования для случая обработки стали при неизменной Геометрии инструмента со скоростью и >> 40 м/мин, между высотой микронеро ностей и значением продольной подачи суш,ествует определенная зависимость. Следовательно, измерение величины продольной подачи дает возможность с достаточной точностью оценить в процессе резания шероховатость получаемой поверхности детали. [c.216]

Двойной микроскоп Линника позволяет определять микрогеометрию поверхности по максимальной высоте неровностей. На этом приборе нельзя измерить микрогеометрию тонкообработанных поверхностей, имеющих максимальную высоту неровностей менее 4 мк, и, следовательно, такой микроскоп неприменим для оценки поверхностей, подвергнутых отделочным операциям (притирка, хонинг. суперфиниш и др.). [c.1205]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...