Микроскоп электронный

Микрорезание 110, ИЗ, 115, 116 Микроскопия оптическая 156—160 Микроскопия электронная просвечивающая [c.208]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

П. д. и самодиффузия исследуются экспериментально разл. методами, регистрирующими результат перемещения частиц (меченые атомы, измерение работы выхода). Однако наиб, число данных по П. д., в т. ч. весьма определённых и детализированных, получено методами полевой эмиссионной микроскопии (электронной и [c.644]

Электронный микроскоп. Электронный микроскоп состоит из электронной пушки и ряда электромагнитных линз, с помощью которых путем использования волновых свойств электронов представляется возможным получение увеличенного изображения [c.158]

Микроскопия электронная растровая [c.349]

Микроскоп электронный просвечивающий высоковольтный 61 приставки аналитические 61 [c.350]

Микроскоп электронный растровый классификация 63 глубина фокуса 64 разрешение 64 [c.350]

Оснащение микроскопа электронно-оптическим преобразователем с флуоресцирующим экраном дало возможность глубоко исследовать непрозрачности роговицы [Л. 815]. Такое же приспособление к пирометру с исчезающей нитью позволило уменьшить нижний порог измерения температур и увеличить точность в нормальном интервале [Л. 816]. [c.385]

Желание иметь электронные и ионные оптические системы с наперед заданными свойствами и столь малыми аберрациями, насколько это возможно, так же старо, как и сама электронная и ионная оптика. Как мы видели в предыдущих главах, аберрации являются фундаментальными ограничениями при создании любой лучевой оптики. Уменьшение аберраций особенно актуально для ионных пучков. Их необходимо фокусировать электростатическими линзами, которые должны обеспечивать независимость отклонения частиц от их отношения заряда к массе. Как мы знаем, аберрации стандартных электростатических линз намного выше, чем у магнитных линз. Следовательно, разрешающая способность ионных зондов всегда ограничивается аберрациями. Кроме того, уменьшение аберраций магнитных линз также желательно для улучшения работы электронных микроскопов, электронных зондовых приборов и т. п. [c.507]

Благодаря необычайным и разнообразным свойствам электронных приборов и устройств были созданы осциллографы, электронные микроскопы, электронные счетно-решающие машины, ускорители элементарных частиц, стало возможным осуществить телевидение, радиолокацию, произвести запуск искусственных спутников, осуществить полет космических ракет и кораблей, сфотографировать обратную сторону Луны. [c.93]

Микроскопия электронная 52 Микроструктура 49 Микротвердость 59 [c.253]

МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ — см. Электронный микроскоп. [c.243]

Конструкция и работа протонного микроскопа не отличаются значительно от конструкции и работы электронного микроскопа электронная пушка заменяется протонной пушкой, а в качестве источника используется водород. [c.105]

В настоящем разделе рассматривается анализ с помощью оптического микроскопа (электронно-микроскопический анализ, см. стр. 165). [c.129]

Микроскопический анализ металлов заключается в исследовании их структуры с помощью оптического микроскопа (использующего обычное белое или ультрафиолетовое излучение) и электронного микроскопа. В настоящем разделе рассматривается микроскопический анализ в оптическом микроскопе электронно-микроскопический анализ описан в другом разделе справочника (см. стр. 119). [c.99]

Оптические системы с непрерывно изменяющимися показателями преломления принципиально возможны, но из-за трудностей их изготовления в световой оптике они не встречаются. (Исключение составляет хрусталик глаза, показатель преломления которого возрастает от периферии к центру.) Аналогом таких систем являются электронные и ионные приборы (электронный микроскоп, электронный осциллограф, электронно-лучевая трубка в телевидении и пр.), в которых роль лучей играют электроны или ионы, движущиеся в электростатических или магнитных полях, создаваемых заряженными электродами или катушками, по которым текут электрические токи. Эти электроды называются электрическими, а катушки—магнитными линзами. Получение изображений в таких системах изучается в электронной и ионной оптике. [c.180]

Двойное лучепреломление при течении. ......... Седиментация и вязкость. . . Рассеяние света....... Рассеяние света....... Электронная микроскопия. . Электронная микроскопия. . 700 700 670 840 520 650 700 500 [c.283]

ИОННЫЙ МИКРОСКОП, электронно-оптич. прибор, в к-ром для получения изображений применяется ионный пучок, создаваемый термоионным или газоразрядным ионным источником. По принципу действия И. м. аналогичен электронному микроскопу. Проходя через объект и испытывая в различных его участках рассеяние и поглощение, ионный пучок фокусируется системой электростатич. или магн. линз и создаёт нд экране или фотослое увеличенное изображение объекта. [c.232]

Для изучения дисперсных структур, а также тонких деталей грубых структур (границы зерна, блочное строение и т. д.) в металлографии применяют электронный микроскоп. [c.38]

В качестве освещения в электронном микроскопе использован электронный луч. Как видно из приведенной формулы, разрешающее расстояние определяется длиной волны. [c.38]

В поле напряженностью 50000 В электронам сообщается скорость 124000 км/с, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа порядка [c.38]

Механико-термнческая обработка (МТО) 284 Микрозонд 40 Микроскоп растровый 41 Микроскоп электронный 38 [c.645]

В качестве силикатной связки был взят силикат калия состава 1x20-33102 (КЗ), способ получения которого описан ранее [1]. Исследования проводили с помощью метода электронной микроскопии. Электронно-микроскопические реплики получали с поверхности спеков, отличающихся содержанием связки (от 10 до 40 об.%) и температурой термообработки (от 100 до 700 °С). В композициях на основе оксида магния щелочносиликатная связка-матрица обладает хорошей смачивающей способностью по отношению к зернам наполнителя. [c.99]

В науке о прочности направление, занимающееся изучением строения изломов, получило название фрактография (от английского fra ture — излом, разрушение). Несмотря на то, что особенности изломов давно используют в практических исследованиях, научный подход к изучению их еще только разрабатывается. Успешному развитию фрактографических исследований способствует привлечение современных физических методов электронной микроскопии, рентгеноструктурного, рентгеноспектрального анализов и пр. Особенно плодотворным оказалось использование электронных микроскопов. Электронная фрактография, позволяющая приблизиться к пониманию микромеханизмов разрушения, является одним из звеньев связи позиций металловедения, металлофизики и механики материалов в обширной проблеме разрушения. [c.4]

Экспериментальные методы, дающие информацию о поверхностных явлениях на атомном уровне, разнообразны. Это автоэмиссионная микроскопия (см. Ионный проектор), дифракция электронов, инфракрасная спектроскопия, ионная спектроскопия, комбинационное рассеяние света, оже-спектроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, термодесорбц. спектроскопия, фотоэлектронная спектроскопия, электронная микроскопия, электрон-фотонная спектроскопия, ал-липсометрия и др. Эти методы позволяют решать мн. практически важные задачи в области электроники, роста кристаллов, вакуумной техники, катализа, повышения прочности материалов и их обработки, борьбы с коррозией и трением и т. д. Т. к. роль П. особенно велика для частиц малых размеров и тонких плёнок, то исследование поверхностных явлений приобрело особо важное значение для развития микроэлектроники. [c.655]

ЭЛЕКТРОНОГРАФ — прибор Д1я исследования атомного строения вещества (гл. обр. твёрдых тел и газовых молекул) методами электронографии. Э.— вакуумный прибор, схема той его части, где формируется электронный пучок, близка к схеме электронного микроскопа. В колонке—основном узле Э. (рис. 1, 2 в ст. Электронный микроскоп) — электроны, испускаемые раскалённой вольфрамовой нитью, разгоняются высоким напряжением (от 30 кВ и выше— быстрые электроны и до 1 кВ — медленные электроны), С помощью диафрагм и магн. линз формируется узкий электронный пучок, направляемый на исследуемый образец, находящийся в спец. камере объектов и установленный на спея, столике. Для регистрации электронов используют, напр., люминесцентный экран или фотопластинку, чувствительную к потоку электронов, на к-рой создаётся лифракц. изображение (электронограмма). Э. снабжают разл. устройствами для нагревания, охлаждения, испарения образца, его деформации и т, д. [c.584]

ГИИ и материаловедения полупроводниковых наноструктур вряд ли возможно без глубокого проникновения в природу явлений, разыгрывающихся в традиционных полупроводниковых средах на атомном (молекулярном) уровне. Это, в свою очередь, требует разработки новых нестандартных методов исследования с использованием сканирующей атомно-силовой и туннельной микроскопии, электронной микроскопии высокого разрешения, рентгеновской спектрометрии с применением син-хротронного излучения и ряда других современных подходов. [c.113]

Микроскопия электронная просвечивающая диффузионное рассеяние электронов 58 изучение дислокационной структуры 59 косвенный метод 50 кристаллографический анализ 54 микродифракционный фазовый анализ 54 полупрямой метод 50 приготовление образцов 51 прямой метод 51 [c.349]

Форма поперечного сечения и типичная структура углеродных волокон, получаемых из различных видов исходного сырья, показаны на рис. 1. В работе [20] приведены результаты исследований углеродных волокон различными методами рентгеновским, оптической и электронной микроскопии, электронной дифракции и т. п. Учитывая, что глубина проникновения электронов в углеродное волокно — 2000 А и методом электронной дифракции могут быть получены только усредненные по объему значения раз-ориентации углеродных слоев, следует признать, что сочетание этих методов позволяет изучить совокупность поверхностных и объемных характеристик структуры волокна. Вьшолненные эксперименты показали, что ориентация углеродных слоев (вдоль оси волокна) на периферии волокна является более совершенной, чем в центральной зоне. Ориентацию пачек углеродных слоев по отношению к поверхности образца исследовали оптическим методом в поляризованном свете. Установлено, что в волокнах на основе полиакрилнитрильного сырья, имеюш,их круглую форму поперечного сечения, пачхш углеродных слоев сориентированы С-осями в среднем перпендикулярно поверхности волокна, в то время как в волокнах на основе вискозного сырья расположение пачек углеродных слоев в поперечном сечении можно считать [c.342]

Преобразуемая величина называется входной, а результат преобразования — выходной величиной. Соотношение между ними задается функцией преобразования (статической характеристикой). Если в результате преобразования физическая природа величины не изменяется, а функция преобразования является линейной, то преобразователь называется масштабным или усилителем, (усилители напряжения, измерительные микроскопы, электронные усилители). Слово усилитель обычно употребляется с определением, которое приписывается ему в зависимости от рода преобразуемой величины (усилитель напряжения, гидравлический усилитель) или от вида единичных преобразований, происходящих в нем (ламповый усилитель, струйный усилитель). В тех случаях, когда в преобразователе входная величина превращается в другую по физической природе величину, он получает название по видам этих величин (электромеханический, пневмоемкостный к так далее). [c.174]

ПРОСВЕЧИВАЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — электронный микроскоп, в к-ром изображение создается электронами, нроходящими через объект. Подробнее см. Электронный. микроскоп. [c.224]

Развитие электронной оптики и электронной микроскопии привело также к созданию отражательных, эмиссионных, растровых (электронных и рентгеновских) микроскопов, имеющих большие перспективы использования в исследовании металлов созданы новые приборы и методы металлофизического исследования, использующие электронную оптику и высококачественные электропитающие устройства электронных микроскопов рентгеноспектральные микроанализаторы, рентгеновские микроскопы, электронные анализаторы (для исследования потенциала кристаллической решетки), электронные зеркала (для исследования до-ме.нной структуры ферромагнетиков) и т. д. [c.165]

Распространенными методами определения коэффициентов диффузии и проницаемости являются сорбционно-десорбционный (с применением весов Мак-Бена), интерс ренционный (по интерференции света определяется граница продвижения вещества в пленке), микроскопический (определяется фронт поляризации света под микроскопом), метод фазовой границы с применением вертикального оптиметра, сканирующей и отражательной микроскопии, электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа (для пленок радиационностойких полимеров) [38, с. 198, 2561. [c.119]

РАБОТА ВЫХОДА 1ЮНТАКТНАЯ РАЗНОСТЬ ПОТЕНЦИАЛОВ ТЕРМОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННЫЕ ПОВЕРХНОСТНЫЕ УРОВНИ [c.353]

Э. п, находят широкое применение в технике и науч. исследованиях, в частности в телевиз. системах, электронных микроскопах, электронно-оптических преобразователях, используются для плавки и сварки металлов и т. д. Сильноточные Э, п, используются для нагрева плазмы, коллективного ускорения заряж. ч-ц, получения тормозного излучения, ондуляторного излучения и потоков нейтронов, генерации СВЧ-колебаний и лазерного излучения, в исследованиях по физике ТВ, тела. [c.881]

Блоки мозаики, как правило, очень малы, но различимы под электронным микроскопом. Обычно размеры блоков и степень их разориентировки измеряют методами рентгенострук-гурного анализа (см. п. 7). [c.33]

Металловедение (1978) -- [ c.38 ]

Оптика (1976) -- [ c.357 ]

Техника в ее историческом развитии (1982) -- [ c.370 ]

Металлургия и материаловедение (1982) -- [ c.158 ]

Физическое металловедение Вып II (1968) -- [ c.375 , c.377 ]

Окисление металлов и сплавов (1965) -- [ c.229 ]

Основы оптики Изд.2 (1973) -- [ c.415 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...