Микроскопы двойные Линник

Микроскопы двойные Линника 3 — 201 [c.157]

Микроскопы двойные Линника 718, 719 --измерительные универсальные 690—693 [c.1012]

Для определения чистоты поверхности (высоты неровностей) пользуются двойным микроскопом системы Линника. По результатам испытаний строят графики зависимости Н—V (фиг. 5). [c.282]

Двойной микроскоп акад. Линника (МИС-И) MB "max а—70 3-в Лаборатория я ОТК - [c.665]

Двойной микроскоп по Линнику МИС-11 Нее ледов ан ие к ачеств а плоских и цилиндрических наружных поверхностей Высота измеряемого профиля 0,9—60. к/с. Ход столика 10 мм в каждом направлении 0,01 мм 54 97 165 318 300 X 275 X 440 Построен на принципе светового сечения поверхности [c.343]

Фиг. 23. Двойной микроскоп акад. Линника (а) и излом светового пучка на шероховатой поверхности (б).

Обработать наружную поверхность заготовки с режимом резания, соответствующим чистовой обработке, и определить шероховатость поверхности по ГОСТ 2789—59 1) визуальным сравнением с эталонами 2) при измерении на двойном микроскопе конструкции Линника 3) на профилометре 4) по профилограмме, снятой на оптическом профилографе. [c.575]

Для измерения чистоты поверхности в настоящее время промышленностью выпускается ряд специальных приборов двойные микроскопы акад. Линника МИС-11, профилографы Левина ИЗП-17М, ИС-18, ИЗП-5, интерференционные микроскопы МИИ-1. [c.397]

Двойной микроскоп акад. Линника (МИС-11)..... Я,р=0,8- -63 3-9 10 [c.264]

Двойной микроскоп акад. Линника предназначен для контроля поверхностей преимущественно 2—9-го класса чистоты по ГОСТу 2789-51. Класс чистоты определяется на этом приборе измерением наибольшей высоты микронеровностей. Нср определяется обычно по пяти замерам. [c.137]

Двойной микроскоп акад. Линника В. П. — оптический прибор, действие которого основано на использовании метода светового сечения . [c.37]

Двойной микроскоп по Линнику МИС-11 Исследование качества плоских и цилиндрических наружных поверхностей Высота измеряемого профиля 0,9—60 мКу ход столика 10 мм в каждом направлении [c.238]

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Для измерения глубины коррозии используют различные приборы. Наиболее точные измерения получают при применении оптических приборов. Глубина коррозионного поражения может быть определена с помощью обычного микроскопа методом фокусирования оптической схемы сначала на плоскость, совпадающую с верхним очагом поражения, а затем — на плоскость дна очага. По разности отсчетов на микроскопическом винте судят о глубине коррозии.. Для определения глубины коррозии может применяться также двойной микроскоп Линника или оптико-механические профилографы, например профилограф типа ИЗП-18. Преимуществами профилографа являются возможность измерения очага коррозии и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца. По профилограмме можно судить не только о глубине, но и форме образующихся коррозионных поражений. [c.22]

Фиг. 94. Двойной микроскоп Линника.

Лучшими из приведенных в таблице приборов для массовых измерений в цеховых условиях в серийном производстве являются профилометр Киселева и двойной микроскоп МИС-11 Линника. Для массового производства можно рекомендовать сравнительные образцы и профилометр Киселева. [c.293]

Радиус притупления (завала) лезвия определяется двойным микроскопом Линника, в окуляр которого вставляется специальный шаблон. [c.21]

Двойной микроскоп В. П. Линника позволяет также фотографировать исследуемую поверхность с высотой неровностей от 0,9 [c.117]

При работе очень важно обеспечить однообразие качества обработки поверхностей трения и соприкосновение образцов по всей поверхности контактирования. Качество обработки образцов проверяется на двойном микроскопе Линника и доводится на чугунном притире. Для этого металлический образец закрепляется на наконечнике шпинделя, а вместо узла трения устанавливается чугунный притир. Пластмассовые образцы притираются ПО подготовленным к работе металлическим образцам в узле трения при нагрузке 100—125 кг. При этом используется то масло, которое подвергается исследованию. Притирку проводят до тех пор, пока не достигнут полного прилегания контактирующих поверхностей. После подготовки образцы два раза промываются в бензине и высушиваются на воздухе. [c.84]

Измерять грубые повреждения поверхности зубьев (питтинг, задиры) с помощью двойного микроскопа Линника. [c.220]

Для оценки глубины ямок питтинга (выкрашиваний) использовался двойной микроскоп Линника (МИС-11). По измерениям на оттисках были получены данные о развитии питтинга по глубине на зубьях зубчатых колес стенда Ш-3 (рис. 6). [c.223]

Метод позволяет оценивать качество поверхности зубьев зубчатых колес без разборки узла и определять качество поверхности с помощью стандартных оптических приборов (микроинтерферометр, двойной микроскоп Линника и др.). [c.224]

Двойной микроскоп МИС-11 В. П. Линника предназначается для лабораторного контроля [c.718]

Радиус округления режущего лезвия р характеризует завал, притупление лезвия, имеющее место не только у затупленного, но и у острого резца. Этот радиус измеряется при помощи двойного микроскопа Линника при увеличении 300. На рис. 2 показана зависимость радиуса округления р от угла заострения р резца. [c.246]

Двойной микроскоп МИС-11 (конструкции Линника) [c.690]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Рис. 1.10. Оптическая схема двойного микроскопа Линника

Рис. 5. Двойной микроскоп В. П. Линника (МИС-11)

Основными приборами для оценки микрогеометрии по нашему стандарту являются профилометр, двойной микроскоп и микроинтерферометр Линника. [c.428]

Метод профилографирования заключается в оценке износа по профилограммам, снятым на определенном участке до и после изнашивания. Его рекомендуется использовать при стандартных испытаниях покрытий на изнашивание при фреттинг-коррозии [167]. Находят расстояние между средними линиями профиля и на основании полученных данных вычисляют интенсивность изнашивания с погрешностью не более 1-10 . Применяются профилограф-профило-метр модели 253 или оптические приборы двойной микроскоп, микроинтерферометр Линника и т. д. Износ методом профилографирования определяется обычно на образцах и деталях несложной формы с достаточно хорошо обработанной поверхностью. [c.98]

Серийно изготовляемые промышленностью приборы (профило-метры модели 240, профилографы-пррфилометры модели 201 завода Калибр , микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-5, МИИ-9, МИИ-10, двойные микроскопы акад. Линника В. П. — МИС-11) позволяют непосредственно измерять шероховатость поверхности или производить ее запись (профилограммы). Подробное описание их дано в специальных работах [11, 19, 32]. [c.47]

Тонкпй слой серебра весьма четко проявляет структуру лежащей под ним поверхности глазури очень наглядно выступают все дефекты поверхности мпкротрещины, посторонние включения, шероховатости, следы разрядов (для высоковольтных фарфоровых изоляторов) и пр. Структура посеребренной поверхности глазури изучается так же, как и структура металлических поверхностей, с помощью двойного микроскопа Линника, поляризационного микроскопа, микроинтерферометра Линника, а также путем измерения коэффициентов отражения на различных рефлексометрах. [c.159]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Для дополнения картины изменений на поверхности трения следует знать вид и величину микронеровностен этой поверхности. Для этой цели можно использовать специальные приборы, например, двойной микроскоп Линника МИС-11 и микроинтерферометр МИИ-4 или МИИ-5. [c.55]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

Двойной микроскоп Линника. Приборы акад. Линника, измеряющие Wmax (двойной микроскоп и микроинтерферометр), нашли достаточное применение. [c.24]

При изучении влияния на износ зубьев свойств масел глубина образующихся рисок при качественных маслах обычно не превышает 1 мк за 50 часов испытания. Для определения такого износа разрешающей способности мичроинтерферометра Линника (МИИ-4) вполне достаточно. В случае большего износа и более грубых изменений шероховатости возможно применение двойного микроскопа Линника. [c.221]

Двойной микроскоп мод. МИС-П (фиг. 61), конструкция которого разра ботана в 1929 г., выпускается серийно отечественной промышленностью. В ос нову конструкции прибора положен метод светового сечения , предложенный акад. В. П. Линником. Принципиальная схема [c.154]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

В настоящее время наряду с щуповыми приборами имеются утвержденные типы оптических приборов (двойной микроскоп Линника МИС-11, микроинтерферометры Линника МИИ-1, МИИ-4 и т. д.), и поэтому вопрос об обеспечении единства измерений шероховатости является весьма актуальным. [c.133]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Двойной микроскоп советского академика В. П. Линника показан на рис. 5. В его основу положена способность светового луча, проходящего через узкую щель, ломаться на уступе, очерчивая его неровности. Луч от источника света ироходит через щель диафрагмы проектора и попадает под углом 45° на проверяемую поверхность. Если на этой поверхности есть неровность, то она отразится через линзы микроскопа наблюдения, и профиль ее виден в форме волнистой линии. Величина микронеровностей определяется по шкале, нанесенной на стекле, которое встроено в микроскоп. По микропрофилю неровностей вычисляют их среднюю величину. Профиль с помощью специальной насадки может быть сфотографирован. [c.22]

Большое распространение имеет двойной микроскоп советского академика Ю. В. Линника (фиг. 10, а). Микроскоп состоит из двух тубусов осветительного 1 и визуального 2, наклоненных под углом 45° к исследуемой поверхности (фиг. 10 в). Луч света от лампочки 3, проходя через щелевую диафрагму, падает на исследуемую поверхность и, отражается в визуальный ту- бус. Если на исследуемой ловерхпости есть уступ а— [c.42]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...