Понятие о микроскопе

В разделе I, наряду с основными положениями теории микроскопа, изложены некоторые практические понятия о методах наблюдения и правилах работы с микроскопом, которые позволяют добиться наилучшего использования микроскопа и максимально реализовать его возможности. [c.3]

Понятие о разрешающей способности микроскопа тесно связано с так называемым полезным увеличением микроскопа. Его не следует смешивать с общим или видимым увеличением микроскопа. Чтобы полностью использовать разрешающую способность микроскопа, необходимо подобрать соответствующее увеличение всей системы микроскопа. Это увеличение должно быть настолько "большим, чтобы наименьшее разрешаемое микроскопом расстояние составляло в пространстве изображений микроскопа угол, не меньший, чем предельный угол разрешающей способности е глаза наблюдателя [17, с. 28] [c.32]

Понятие об измерении и контроле. 2. Методы измерения. Основные метрологические показатели средств измерения. 3. Принцип сохранения единства мер. 4. Международная система единиц. 5. Плоскопараллельные концевые меры длины. 6. Штриховые меры длины. 7. Штангенинструменты. 8. Микрометрические инструменты. 9. Рычажно-механические приборы. 10. Рычажно-оптические приборы. II. Инструментальные микроскопы и проекторы. 12. Калибры. 13. Средства измерения углов. 14. Средства контроля плоскостности и прямолинейности. 15. Средства контроля шероховатости. 16. Понятие о производительных и автоматических методах контроля. 17. Выбор средств измерения. [c.137]

Правда, Б грубом приближении, которое оказывается достаточным при решении большинства практических задач, опенки разрешающей силы в обоих случаях (j е. при рассмотрении когерентного или некогерентного освещения) не расходятся очень сильно. С принципиальной же точки зрения чрезвычайно интересно замечание Д. С. Рождественского, впервые предложившего считать освещение объекта в микроскопе частично когерентным. О его работах стоит вспомнить теперь, когда понятие частичной когерентности квазимонохроматической волны получило столь существенное развитие, истоки которого часто связывают лишь с формулировкой теоремы Цернике. [c.339]

В последнее время наблюдается тенденция к проведению расчетов контактных характеристик шероховатых тел на основании прямого численного моделирования. При этом отпадает необходимость модельного описания поверхностей—определения их статистических характеристик, введения понятия неровности и так далее. Такие подходы стали реальностью в связи с возможностью получения данных о трехмерной топографии поверхностей, в частности, с помощью сканирующего атомно-силового микроскопа, и развитием вычислительной техники. [c.431]

Занятия по микроанализу должны ознакомить студентов с конструкцией металлографического микроскопа и работой на нем и-показать наблюдаемую в микроскопе наиболее типичную структуру простых по строению металлов. Получаемые при этом зрительные представления должны быть закреплены в памяти в такой степени, чтобы постоянно приводимые в лекциях и книгах понятия — зерно, эвтектика, твердый раствор, литая и деформированная структура и т. д. легко ассоциировались и вызывали в памяти представления о виде этих структур в микроскопе. [c.85]

Истинная площадь контакта частицы с поверхностью в ре- альных условиях не поддается точному расчету и эксперимен-] тальному определению. Вряд ли можно считать правильным 1 , определение площади контакта под микроскопом по следу , оставшемуся после отрыва частиц, ибо такой след может быть зафиксирован на липкой или, во всяком случае, неупругой под-ложке, что противоречит самому понятию о давлении прилипа-ния. При адгезии в воздушной среде упругая деформация зоны л контакта в различных точках будет неодинакова. Среднеинтегральное значение давления прилипания можно представить в виде [c.17]

Просвечивающая электронная микроскопия выявила во многих сплавах весьма сложную тонкую структуру мартенситных кристаллов с большим количеством дислокаций и двойников. Такая субструктура может возникнуть двумя принципиально разными путями во-первых, при дополнительной пластической деформации (скольжением или двойникованнем), которая, как показано в 34, является неотъемлемой составной частью механизма мартенситной перестройки решетки, и, во-вторых, при пластической деформации после образования мартенсита из-за воздействия на мартенситный кристалл окружающей упругой среды. В первом случае можно го -ворить о первичной субструктуре превращения, а во втором — о вторичной субструктуре деформации. Соответственно различают понятия о двойниках превращения и деформационных (механических) двойниках. Различить же происхождение субструктуры экспериментально не всегда удается. Обсуждаемые ниже факты рассматриваются в предположении, что мы имеем дело с субструктурой превращения. [c.232]

II. Элементы режущего инструмента — орудия по механич. обработке древесины, действие к-рого основано на принципе делимости древесины. Конструкция режущего инструмента определяется следующими элементами резцами, корпусом инструмента, элементами и местами для направления движения стружки, элементами для установки и закрепления инструмента. Р е в е ц — часть режущего инструмента, ограниченная гранями заточки, имеющими лезвия по линиям пересечения граней. В схематическом виде резец представляет собой клин, щеки которого — грани заточки, а линия пересечения их — лезвие. Грань заточки резца, или просто грань резца, не всегда имеет плоскую форму, присущую граням геометрич. тела, и наавание (грань) присваивается ей условно. Расположение грани заточки резца определяется пространственным углом между плоскостью элементарно-малого участка грани вблизи лезвия и элементарно-малого участка обработанной резцом поверхности древесины у того же участка лезвия резца. Грань резца, наиболее близко расположенная к обработанной резцом поверхности, называется задней гранью. Грань резца, соприкасающаяся с отделяемой резцом стружкой, называется передней гранью резца, или просто передней гранью угол между задней гранью и обработанной рез цом поверхностью — углом наклона резца, или задним углом, и обозначается буквой а. Угол между передней и задней гранями нааывается углом заострения резца и обозначается буквой /3. Угол между передней гранью и нормалью с обработанной резцом поверхностью называется передним углом и обозначается буквой у. Угол между передней гранью и обработанной резцом поверхностью — углом резания и обозначается буквой .Лезвие — линия пересечения граней заточки резца, может иметь различную форму в зависимости от количества и формы образующих его граней. Простым лезвием называется лезвие, образованное двумя гранями заточки. Оно м. б. прямолинейным, а также и криволинейным. Лезвие, образованное пересечением трех и более граней заточки резца, имеющее форму сопряженной линии, называется сопряженным, илу сложным, лезвием. Понятие о лезвии как о нек-рой линии м. б. только при идеально остром резце. Однако таких резцов в природе не м. б., ив действительности лезвие представляет собой нек-рую поверхность взаимного перехода граней заточки резца, что можно проследить при просмотре лезвия любого режущего инструмента под микроскопом. Корпус инструмента — часть инстру- [c.98]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Понятие луча лежит в основе геометрической оптики — приближения, справедливого для волнового поля, амплитуда и волновой вектор к-рого изменяются плавно, на масштабах, существенно превышающих длину В. В этом случае поле может быть представлено как набор независиьплх лучей. В однородной среде лучи прямолинейны, в неоднородной — искривлены в соответствии с законами преломления (рефракции). С помощью лучей можно построить изображение любого предмета, размеры к-рого велики по сравнению с Я, На этом основаны принципы работы мн. оптич. приборов (линза, телескоп, микроскоп, глаз и т. д,), а также нек-рых типов радиотелескопов. В аналогичных ситуациях для акустич. волн говорят о геометрической акустике. [c.321]

Особое прикладное значение в Г. о. имеет теория центрир. оптич. системы — совокупности преломляющих и отражающих поверхностей вращения, имеющих общую ось, наз. оптич. осью, и симметричное относительно этой оси распределение показателей преломления (если система содержит неоднородные среды). Большинство используемых на практике онтич. систем фотообъективов, зрительных труб, микроскопов и т. п.) является центрированными, В таких системах для области пространства, бесконечно близкой к оптич. оси и наз. параксиальной областью, действуют простые законы, связывающие положение луча, вышедшего из системы, с вошедшим в неё лучом. Для центрир. оптич. систем область Гаусса совпадает с параксиальной областью. Исходные положения параксиальной оптики — т. и. законы солинойного сродства, по к-рым каждой прямой пространства предметов соответствует одпа сопряжённая с ней прямая в пространстве изображений, каждой точке — сопряжённая с ней точка и, как следствие, каждой плоскости — сопряжённая с ней плоскость. С помощью условного распространения действия законов параксиальной оптики на всё пространство вводится понятие идеальной оптич. системы, изображающей любую точку пространства предметов в виде точки в пространстве изображений. Любая геом. фигура, расположенная в пространстве предметов на плоскости, перпендикулярной оптич. оси, изображается идеальной системой в виде геометрически подобной фигуры в пространство изображений также на плоскости, перпендикулярной [c.439]

Увидеть Т. движения квантовой частицы (напр., электрона в атоме) непосредственно при помощи микроскопа или поиыгаться поймать Т. к.-л. способом невозможно. С формальной точки зрения причина состоит в том, что в квантовой частице неприменимо понятие материальной точки, можно говорить лишь об амплитуде вероятности обнаружить частицу в том или ином состоянии. Как показал Гейзенберг (1927), физ. причина такого положения вс-шей заключается в том, что, пытаясь измерить положение частицы, 141,1 неизбежно воздействуем на неё, причём это воздействие не может быть меньше постоянной Планка. Следовательно, в квантовом, случае [когда выполнено условие (7)] представление о Т. как о геом. месте точек, в каждой из к-рых частицы имеют определ. скорость, физически бессмысленно. [c.155]

По-видимому, первые исследования, относящиеся к вопросу о частичной когерентности, были выполнены Верде [1], который изучал размеры области когеренчности для света от протяженного первичного источника. Позже в исследованиях Майкельсона была установлена связь между видностью интерференционных полос и распределением яркости по поверхности протяженного первичного источника 12] (см. п. 7..3.6), а также между видностью и распределением энергии в спектральной линии 1.3] (см. п. 7.5.8). Фактически результаты Майкельсона были интерпретированы на языке корреляций лишь значительно позднее, однако его исследования внесли существенный вклад в формулировку современных теорий частичной когерентности (см. 14]). Первую количественную меру корреляции световых колебаний ввел Jtaya [5] ири исследованиях по термодинамике световых иучков. Дальнейший вклад в теорию был внесен Бере-КО.М ) [6], который использовал понятие корреляции при исследовании образования изображения в микроскопе. [c.452]

Необходимо подчеркнуть, что для разведочной сейсмологии понятие модели является более насущным, чем для других наук о Земле, скажем, для геологии, петрофафии, или океанологии если геолог может изучать (наблюдать, измерять) свои объекты - горные породы, проявления тектоники, процессы осадконакопления - непосредственно, то сейсмологи и сейсморазведчики имеют дело ь/со с физическими полями этих объектов. Сейчас, как правило, задача обычных, рядовых сейсморазведочных работ формулируется как построение именно модели того или иного конкретного геологического объекта, которого сейсморазведчик никогда не воспримет своими органами чувств ни в обнажении, ни под микроскопом, ни даже с помощью бурового долота, как буровик, или прибора на каротажном кабеле, как геофизик-промысловик. При этом понятие модели конкретного объекта сейсморазведочных работ включает набор его совершенно конкретных характеристик - геометрической [c.4]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...