Увеличение изображения

Для получения с микрофотокопии увеличенных изображений применяю увеличительные установки (УУ-2 и др.). [c.288]

Это означает, что приведенная ортогональная изометрия дает подобное увеличение изображения приблизительно в 1,22 раза, т. е. масштаб такого изображения будет Л4 1,22 1. [c.226]

Верно и обратное утверждение. Гомотетия может быть определена как аффинное преобразование, при котором прямые, соединяющие соответствующие точки, проходят через одну точку — центр гомотетии. Гомотетию применяют для увеличения изображений (проекционный фонарь, кино). [c.68]

Лампа находится на расстоянии 2 м от экрана. На каком расстоянии от лампы нужно поставить собирающую линзу с фокусным расстоянием 0,4 м, для того чтобы получить на экране увеличенное изображение лампы [c.292]

Получению увеличенного изображения соответствует значение di=0,55 м. [c.292]

Очень эффектные явления легко наблюдать при использовании достаточно интенсивного источника света, в нескольких метрах от которого устанавливается малый непрозрачный экран или ирисовая диафрагма, позволяющая открывать ряд зон Френеля. Конечно, расстояние а г 02 источника света до матового экрана, на котором следует наблюдать дифракционную картину, должно быть достаточно большим (не менее 10 — 15 м). Эти эксперименты (рис. 6.6) трудно показать в большой аудитории без современных технических средств. Многие из опытов по дифракции Френеля можно демонстрировать с помощью простейшей телевизионной установки, включающей передающую трубку (монитор) и несколько телевизоров, установленных в аудитории. Свет от мощной лампы фокусируется на небольшой круглой диафрагме. После дифракции на исследуемом препятствии свет от этого точечного источника попадает на фотокатод монитора и зрители наблюдают на экранах телевизоров сильно увеличенное изображение дифракционной картины (рис. 6.5, 6.6). [c.262]

Получение увеличенных изображений [c.248]

Для плоских объектов выполнение условия У = и не необходимо, и можно получить неискаженное увеличенное изображение не только за счет различия в длинах волн 1 и 7/, но и путем выбора геометрических условий опыта. Например, при плоской опорной волне (/"о оо) [c.251]

Из приведенного выше выражения для увеличения видно, что в голографии Фурье увеличенное изображение можно получить как за счет различия длин волн X н X, так и путем приближения объекта к голограмме (уменьшение г , которая действует, следовательно, как объектив микроскопа. [c.256]

Другой прием осуществления увеличенного изображения заключается в изготовлении репродукции голограммы в уменьшенном масштабе. Поскольку масштаб интерференционной структуры при этом уменьшился (скажем, в М раз), то углы дифракции для просвечивающего света соответственно увеличились (также в М раз). Следовательно, должен увеличиться и размер изображения. И действительно, простой расчет приводит к соотношению [c.256]

При больших увеличениях очень важной задачей является хорошее использование идущего от объекта светового потока, ибо он должен распределяться по большой поверхности увеличенного изображения. Так как размеры объекта значительны, то необходимо специальное осветительное устройство, позволяющее направить весь идущий от объекта свет в сравнительно небольшой проекционный объектив. Это достигается при помощи короткофокусного конденсора С значительного размера, расположенного, как показано на рис. 14.20, с таким расчетом, чтобы свет от него сходился на входном зрачке проекционного объектива О. Так как, с другой стороны, расстояние от объектива до предмета О должно соответствовать резкой наводке, то конденсор и объектив должны быть согласованы друг с другом. [c.336]

Вначале осветитель снимают с рельса и конденсатор 1 центрируется вместе с лампочкой накаливания, которая помещается на рельс вместо осветителя. Лампочка должна находиться достаточно далеко от щели 1 спектрографа, чтобы при перемещении конденсатора вдоль рельса можно было получить в плоскости щели уменьшенное и увеличенное изображения ее нити. Для удобства центрировки на щель надевается металлический колпачок с перекрестием. Конденсатор и нить лампочки будут находиться на оптической оси в том случае, если ее уменьшенное и увеличенное изображения будут располагаться симметрично относительно перекрестия юстировочного колпачка (см. задачу 1). [c.127]

Последовательно устанавливают на оптической оси все элементы системы — лампу 1, линзы 2 и 4 (рис. 95). Для этого сначала нужно снять с рельса штатив с горелкой и стойку с одной из линз. Передвигая оставшуюся линзу по рельсу, добиваются получения уменьшенного и увеличенного изображения светящейся ленты лампы симметрично относительно центра щели. При этом предполагается, что рельс параллелен оптической оси прибора. Когда лампа и первая линза установлены на оптической оси прибора, очень просто расположить по оси и вторую линзу. [c.260]

Визуально-оптические приборы. Для контроля геометрии микро- и макрообъектов обычно используют проекционный метод сравнения или измерения, который заключается в получении увеличенного изображения изделия на экране с последующим его сравнением с изображением, принятым ва эталонное. [c.56]

Нами выбирались электроды длиной 3 мм. Сила тока и экспозиция были подобраны таким образом, чтобы глубина следа на образце не превышала 1—2 мк. Увеличенное изображение [c.187]

При анализе результатов упрочнения, выполненного по схемам рис. 38, в, г, обнаружено (рис. 49, в), что форма участков со значительным снижением твердости в узловых точках изменяется и в плане имеет вид треугольника (равностороннего или равнобедренного в зависимости от рассматриваемой схемы), причем площадь этих участков значительно меньше, чем в показанном ранее случае (рис. 49, б). На рис. 50, в представлено увеличенное изображение треугольного участка, подвергнутого трехкратному отпуску. Все [c.76]

Электронным микроскопом по аналогии с оптическим микроскопом называют электронно-оптический прибор, служащий для получения сильно увеличенных изображений малых предметов. В отличие от оптического микроскопа в электронном микроскопе используются не световые лучи, а электронные, а вместо стеклянных линз — линзы электронные (электростатические или магнитные). Возможность построения короткофокусных линз позволяет конструировать электронные микроскопы с большим увеличением. Увеличения, которые можно получить с помощью электронного микроскопа, достигают 100 ООО раз и более, тогда как лучшие оптические микроскопы дают увеличение порядка 2000 раз. Объект, предназначенный для рассматривания в электронном микроскопе, должен быть настолько тонким, чтобы электроны в нем не поглощались. [c.355]

Для лучшего рассмотрения контролируемой детали применяются проекторы, дающие на экране увеличенное изображение, которое сравнивается с наложенным на экран номинальным контуром детали путем перемещения предметного стола или на глаз. [c.596]

Фиг. 12.12. Кадры 7 и И фиг. 12.10 в увеличенном изображении.

Фиг. 12.17. Кадры 5, 8, 10 и 15 фиг. 12.11 в увеличенном изображении.

Указание параметров геометрических преобразований фигур на чертеже позволяет реализовать некоторые удобства, возникающие при этом. Так, указание масштаба чертежа позволяет строить уменьшенные либо увеличенные изображения. Задание преобразования симметрии позволяет наносить размерную информацию на чертеже более компактно и т. д. [c.38]

При построении точной диметрической прямоугольной проекции координаты любой из точек пространства умножают на соответствующие коэффициенты искажений по направлению осей Oixi и OiZi на 0,94, а по оси Otyi— на0,47. Практически пользуются приведенными коэффициентами искажений, равными 1 и 0,5. Получается несколько увеличенное изображение. Все элементы изобра- [c.311]

На рис, 377 представлен учебный чертеж мелкомодульного храпового колеса с зубьями наружного зацепления. В качестве главного вида принят осевой фронтальный разрез детали. На виде слева показаны дна э.яемента зубчатого венца полностью, а остальные элементы показаны условно в соответствии с требованиями ЕСКД (ГОСТ 2.305-68). Для пояснения формы и размеров зубьев храпового колеса дано их увеличенное изображение в виде выносного элемента. Данные, характеризующие модуль, число зубьев колеса и шаг, приведены в i а блице параметров. [c.249]

На рис. 406...408 приведены учебные чертежи характерных деталей станочных приспособлений — опорной призмы, прихвата и углового установа. На чертежах всех трех деталей выполнено по два изображения, а также полные и местные разрезы для выявления формы и размеров отдельных элементов деталей. На чертеже углового установа в виде выносного элемента дано дополнительное увеличенное изображение канавки для выхода шлифовального круга, на котором хорошо видна форма канавки и удобно нанесены ее размеры. [c.275]

Выбор формата и планировки чертежа. Формат чертежа или эскиза выбирают в зависимости от сложности и размеров детали с учетом возможности как увеличения изображения по сравнению с натурой для сложных и мелких, так и уменьшения для простых по форме и крупных деталей. Изображения на чертеже должны обеспечивать ясность всех элементов детали. Для мелких элементов детали используют выносные элементы. Прежде чем выбрать формат чертежа, тшательно анализируют форму детали и определяют количество необходимых изображений. Выполняют это осмотром детали при эс-кизировании с натуры или мысленным представлением ее формы по чертежу сборочной единицы при деталировании. На предварительно выбранном формате выполняют черновик планировки чертежа, на котором чертят от руки осевые линии и габаритные контуры всех необходимых изображений, штрихуют намеченные разрезы, отмечают зоны для нанесения размеров. Анализируют намеченную планировку с целью выявления возможности уменьшения формата чертежа за счет уменьшения занимаемой площади простыми симметричными изображениями — видами слева, справа, сверху, снизу — путем выполнения только половины этих изображений без снижения ясности чертежа. При таком анализе учитывают также возможность изменения масштаба как всех изображений, так и отдельных из них как в сторону уменьшения изображений, так и в сторону увеличения. По результатам анализа принимают окончательное Рис. 14.8 решение о выбранном формате. [c.240]

В предыдущих параграфах мы предполагали, что опорная и просвечивающая волны идентичны. В этом случае мнимое изображение полностью копирует сам объект. Однако выполнение указанного условия отнюдь не обязательно, и голографирование успешно осуществляется и в том случае, когда на первом и втором этапах применяется излучение с разными длинами волн и разными кривизнами волновых фронтов. Такие изменения условий опыта позволяют получать увеличенные изображения голографируемых предметов. [c.248]

В 60 было показано, что при идентичности опорной и просвечивающей волн изображение вполне подобно объекту и может отличаться от него только в результате дифракционного расширения изображения каждой точки (см. 63). Попытка получить увеличенное изображение (см. 61) неизбежно сопряжена, как оказывается, с дополнительным ухудшением качества изображения (так называемые аберрации изображения см. гл. XIII). Это обстоятельство требует к себе особого внимания, поскольку аберрации быстро растут по мере увеличения размеров голограммы и углов падения света. [c.261]

Синтез голограммы включает обычно четыре зтапа. На первом. этапе рассчитывают параметры световой волны амплитуда и фаза) при распространении ее от объекта к голограмме. При. этом исходят из того, что объект, освещенный когерентным светом, может быть адекватно описан ограниченной совокупностью точек, рассеивающих свет. Второй. этап состоит в том, что амплитуду и фазу кодируют с 1К)мощью действительной неотрицательной функции, 1 рафическое отображение которой и представляет собой синтезированную голограмму. Результирующая информация записывается в памяти вычислительной машины и на третьем. этапе отображается на выходном устройстве ЭВМ—графопостроителе или электронно-лучевой трубке, что. дает увеличенное изображение голограммы. Увеличение необходимо вследствие недостаточного разрешения печатных и отображаЮ1Цих устройств. На последнем — четвертом. этапе полученный на ЭВМ рисунок 10Л01 раммы уменьшается оптическим методом до размеров, соответствующих длине волны, использованной при расчете, и регистрируется фотографически в виде транспаранта (который представляет собой синтезированную голограмму). Если полученную таким образом голограмму осветить когерентным светом (от лазера), то восстановится изображение объекта. [c.69]

Контроль остаточных напряжений в однослойном покрытии. Рассмотрим метод определения остаточных напряжений на примере оптической схемы получения голограмм сфокусированных изображений. Фотообъектив, помещенный между фотопластинкой и образцом, фокусирует изображение поверхности объекта на плоскость фотопластинки. Причем их плоск(К1и должны быть параллельны. В этом случае достигается наибольшая чувствительность к нормальной компоненте вектора перемещения (т. е. к прогибу образца /) Существенным преимуществом голограмм сфокусированных изображений является возможность получения увеличенного изображения объекта, а следовательно и ббльщего оптического разрещения интерференционных полос. Кроме того, при восстановлении интерферограмм можно пользоваться источником естественного света. [c.116]

Для правильного освещения спектрографа источник света должен быть установлен строго на оптической оси коллиматора, а оптическая ось конденсорной линзы должна совпадать с его осью. Установка дуги и конденсорной линзы выполняется следующим образом. Сначала штатив с электродами (дуга не горит ) придвигают ближе к щели и устанавливают дуговой промежуток точно против центра щели (перекрестие линий на крышке щели). Затем штатив передвигают на конец рельса, зажигают дугу и уточняют положение электродов с помощью конденсорной линзы, перемещаемой по рельсу так, чтобы на крыщке щели получались то уменьшенное, то увеличенное изображение. Внося поправки сначала в положение конденсора при уменьшенном изображении дуги, затем в положение дугового промежутка на оси при увеличенном его изображении, добиваются симметричного относительно центра щели положения изображения дуги. Если смотреть со стороны камерного объектива (конденсор предварительно убрать с рельса) при широко открытой щели, то изображение правильно установленного источника света будет казаться расположенным в центре призмы (несколько правее). Расстояние от источника света до щели не должно быть меньше 4/конд. В данной задаче фокусное расстояние конденсорной линзы /конд=75 мм ее диаметр конд=40 мм. [c.25]

Линии одитковых углов Wy проходят посередине муаровых полос. В этом легко убедиться на увеличенном изображении проявленного отпечатка (рис. 98) [c.149]

В 10—30-х годах текущего столетия были опробованы методы микроскопического анализа изучение под микроскопом поперечного шлифа электролитически покрытой поверхности, измерение под микроскопом неровностей поверхности по репликам из желатина и т. д. Предпринимали попытки косвенной оценки неровностей поверхности по потерям энергии маятника при торможении его неровностями поверхности во время качания, по разности размеров деталей до и после доводки, по предельному углу регулярного отражения света, по теневой картине поверхности на экране с увеличенными изображениями поверхностных дефектов, по расходу воздуха через участок контакта сопла с испытуемой поверхностью, по четкости изображения растра на испытуемой поверхности или на экране после отражения от нее светового пучка, по электрической емкости контактирующей пары испытуемая поверхность — диэлектрик с нанесенным слоем серебра , по нагрузке на индентер при определенном его сближении с испытуемой поверхностью, по изображению мест плотного соприкосновения призмы с неровностями поверхности и т. д. Были опробованы методы исследования рельефа поверхности с помощью стереофотограмм и стереокомпаратора. На производстве в этот период доминировали органолептические методы контроля визуальное сравнение с образцом, сравнение с помощью луп, сравнение на ощупь ногтем, краем монеты и т. п. В 30-х годах был предложен и реализован в двойном микроскопе метод светового сечения (Линник, Шмальц), а также метод микроинтерференции и основанные на нем микроинтерферометры, сочетающие схемы микроскопа и интерферометра Майкельсона. В этот же период [c.58]

Он представляет собой оптический микроскоп со стробоскопическим осветр1телем, который работает синфазно с возбудителем динамических перемещений. Четкость и устойчивость стробоскопического изображения зависит соответственно от длительности световых импульсов и их скважности, за время которых увеличенное изображение исследуемого микроучастка не должно сместиться на расстояние более 0,1 мм. Такие условия достигаются применением газоразрядных импульсных источников света [3] при скорости перемещения изображения до 200 м/с или импульсных лазеров [4] при более высоких скоростях в сочетании с индуктивными синхронизаторами типа [5], обеспечивающими стабильную скважность световых импульсов. [c.304]

Оптический фотоэлектронный сигнализатор предназначен для подачи звукового или светового сигнала в момент появления на поверхности образца первой трещины усталости. Принцип действия прибора основан на изменении коэффициента оптического отражения гГоврежденной и неповрежденной поверхностей металла. Разработанное устройство (рис. 122) состоит из оптической системы 4, фотоэлектронного умножителя 5, осветителя /, поискового механизма <3, блока питания и усиления 2 . Назначение оптической системы (рис. 123) —увеличение изображения микроплощадки рабочей части поверхности образца для повышения чуиствительности устройства и проектирования изображения на плоскость диафрагмы фотоэлектронного умножителя 5. Оптическая система состоит из объектива I и окуляра 3 микроскопа. Промежуточное изображение 2 находится впереди переднего фокуса окуляра Fqk (в отличие от обычных микроскопов, где промежуточное изображение находится за передним фокусом окуляра), что дает возможность получить не мнимое, а [c.184]

Функциональная схема фотоэлектрографа для регистрации развернутого увеличенного изображения поверхностных трещин представлена на рис. 125, где Af — растр-элемент (параллело [c.188]

Однако в этом, как и в дрзггих сяз чаях применения ЭВМ, требуется выполнение большой и кропотливой работы специалистов различного профиля по созданию системы автоматизиро-вшного поиска. Структура и функционирование такой системы значительно упрощаются, если в качестве носителей информации использовать микрофиши — гибкие фотопластинки размером с почтовую открытку. На каждой из них методами современного микрофильмирования можно разместить десятки страниц стандартов, нормативно-технической и справочной литературы. Микрофиши, снабженные специальным шифром, позволяют быстро с помош ью автоматических устройств, отыскивать необходимую информацию. Микрофиши с нужной информацией поступают в выводное просмотровое устройство. Эго специальный проектор, на экране которого демонстрируется черно-белое увеличенное изображение книжной страницы, иллюстрирующего материала и др. В ходе просмотра ажав соответствующие кнопки, можно получить и копии нужных материалов на обычной бумаге. Подобные информационно-поисковые системы с устройствами для вывода информации на микрофиши, ее автоматизированного поиска и печати действуют в ряде информационных центров и библиотек СССР. [c.205]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...