Микроскопы измерительные интерференционные

МИКРОСКОП ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ-МИКРОСКОП ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ [c.239]

Идея предложенных В. П. Линником микроинтерферометров заключается в сочетании интерферометра Майкельсона с измерительным микроскопом, что позволяет получать увеличенное в нужное число раз изображение интерференционной картины в поле зрения микроскопа и измерять координатным методом вырисовывающиеся таким образом неровности с помощью обычного винтового окулярного микрометра. При таких измерениях не нужно даже предварительно определять цену деления круговой шкалы барабана окулярного микрометра она получается сама собой при сравнении размеров неровностей профиля, выраженных в делениях шкалы, с шириной интерференционной полосы, выраженной в тех же делениях, поскольку, как указывалось выше, расстояние в одну полосу соответствует размеру неровности профиля поверхности, равному половине длины волны света, т, е. обычно Х/2 0,275 мкм. [c.90]

Перо можно либо фотографическим, либо фотоэлектрическим методом. Обработка полученной интерферограммы заключается в измерении на негативах диаметров изображений интерференционных колец с помощью измерительного микроскопа. Для построения контура линии измеряют распределение плотности почернения в направлении диаметра на специальных приборах — микрофотометрах. В результате получают кривые распределения интенсивности в интерференционной картине, подобные контуру спектральной линии источника. [c.39]

В качестве измерительных приборов используются универсальный и инструментальный микроскопы, а также проекторы. При этом на микроскопах измерения могут производиться с помощью специальных ножей (рис. П.92, а) или сферического наконечника (рис. П.92, б), а также проекционным способом на микроскопах и проекторах без применения ножей (рис. П.92, в) и интерференционным методом, а также с помощью измерительной бабки ИБ-24. [c.418]

Контроль шероховатости с помощью оптических приборов более трудоемок, однако погрешности измерения, возникающие от упругости измерительной среды, при этом сведены к нулю. Двойной микроскоп Линника МИС-11 применяется для измерения параметра Яг В интервале 80—1,6 мкм. Интерференционный микроскоп МИИ-4 контролирует шероховатость поверхностей по параметру Яг В пределах 0,8—0,025 мкм. [c.88]

Особое место в бесконтактных измерениях шероховатости занимают оптические приборы приборы светового сечения приборы теневого сечения микроскоп измерительный интерференционный микроскоп однообъективный муаровый. [c.86]

К первой четверти XX в. количество и разнообразие точных приборов значительно возросло. Большинство из них относится к различным группам современного приборостроения [29,0.29—37]. Одну из ведущих групп в приборостроении занимают оптико-механические приборы, в которую входят 1. Микроскопы. 2. Астрономические приборы. 3. Геодезические приборы. 4. Астрофизические приборы. 5. Спектрометрические приборы. 6. Спектрографические приборы. 7. Фотометрические приборы. 8. Калориметрические приборы. 9. Поляризационные приборы. 10. Интерференционные приборы. 11. Аэрофотометрические приборы. 12. Фотограмметрические приборы. 13. Фотооптическая регистрирующая аппаратура. 14. Киноаппаратура. 15. Специальные приборы для фотокинопромышленности. 16. Офтальмологические приборы. 17. Электрооптические приборы. 18. Рефрактометрические приборы. 19. Оптико-измерительные приборы. 20. Специальные приборы для оптического производства. 21. Приборы для определения качества поверхностей. [c.361]

По Сле прохождения света через анализатор условия будут прежними, причем интерференционные полосы окажутся параллельными острому краю клина. В случае фиксированного положения клина разность — для обыкновенного и необыкновенного лучей при данной длине волны также постоянна и для варца равна 0,009. При этом разность хода лучей линейно зависит от толщины клина в месте прохождения луча, так как o = n . Темные полосы появляются там, где 5/2 равно четному числу половин длины волны, а яркие там, где о/Я равно нечетному числу половин длины волны, что показано на рис. 3-4 для случая монохроматического света. Если перед кварцевым клином находится стеклянный образец с натяжениями, то темные линии смещаются вправо иди влево в зависимости от вида натяжений. ]у1аксимальное смещение линии можно измерить при помощи измерительного микроскопа или катетометра. Градуировка смещений по натяжениям может быть осуществлена путем нагрузки соответствующим грузом пластинки из стекла того же сорта, что и анализируемый образец. На рис. 3-5 изображено расположение деталей прибора для измерения натяжений [Л. 16], а на рис. 3-6 показана картина интерференционных линий, получающихся в бусинковом впае. [c.53]

При макроскопическом электрофорезе методом подвижной границы разделяющую среду стабилизируют, повышая ее вязкость с помощью сахарозы, желатины или крахмала. Часто в конструкцию электрофоретических камер вводят охладительные змеевики и водяные рубашки . При микроэлектрофорезе методом массопереноса и препаративных разновидностях свободного электрофореза наряду с платиной — универсальным электродным материалом для изготовления анодов — используют цинк, свинец, серебро, молибден, титан, покрытый двуокисью марганца, для изготовления катодов — цинк, титан, железо, никель. Конструктивно разнообразные электрофоретические ячейки отличаются прецизионным исполнением в основном лишь в тех случаях, когда они входят в качестве составного узла в измерительный преобразователь более сложного типа, использующий двойной эффект электрохимический и оптический. Это имеет место при реализации метода подвижной границы (У-образные стеклянные ячейки в сочетании с оптическими теневыми, масштабными или интерференционными измерительными системами) и методов микроэлектрофореза (замкнутые ячейки круглого и прямоугольного сечения, двухтрубные ячейки, открытые ячейки цилиндрические и прямоугольного сечения в сочетании с микроскопом). Устройство микроэлектрофоретических ячеек основных типов схематически представлено на рис. 25, б—г. [c.231]

Современная техника измерений сложилась в результате длительного развития методов и средств измерений на основе учения об измерениях — метрологии. Ускоренный прогресс техники измерений начался во второй половине XVIII в. и был связан с развитием промышленности. Повышение точности и производительности измерительных приборов происходило благодаря использованию новых принципов измерений, основанных на достижениях науки и техники. Первые приборы для высокоточных линейных измерений — компараторы для сравнения штриховых мер — были созданы в 1792 г. Промышленное производство инструментов для абсолютных измерений — штангенциркулей — организовано в 1850 г., а микрометров — в 1867 г. В конце XIX в. получили широкое распространение сначала нормальные, а затем предельные калибры, появились концевые меры длины. Механические приборы, предназначенные для относительных измерений, резко повысили точность в 1890 г. разработаны рычажные, затем зубчатые и рычажнозубчатые измерительные головки, в 1937 г. — пружинные измерительные головки. С 20-х гг. нашего столетия быстро развиваются оптико-механические приборы оптиметры созданы в 1920 г., интерференционные приборы — в 1923 г., универсальный микроскоп и измерительные машины — в 1926 г., проекторы — в 1930 г. В [c.4]

Измерение параметров шероховатости поверхности при помощи микроинтерферометров и растровы.ч измерительных микроскопов. Вертикальное увеличение интерферометров и растровых мисроскопос. определяемое через ширину полосы (интерференционной, муаровой), в1.(Ги1рают исходя кз оптимального числа полос в поле изобрал ен прибора. [c.369]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...