Электронная микроскопия получение слепков

Если образец подготавливают путем электролитической полировки и травления, пленку на шлиф наносят в хорошо работающей вакуумной установке, а слепок от образца отделяют электролитически, то время, затрачиваемое на все операции — от получения образца до установки препарата в электронный микроскоп, можно сократить до 10—15 мин. [c.37]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. В электронном микроскопе (для предупреждения вторичного излучения, искажающего наблюдаемую картину) изучается не самый металл, а лаковый или кварцевый слепок, полученный с поверхности протравленного шлифа и воспроизводящий детали его рельефа, зависящие от действительной структуры металла. В последнее время широко применяется прямой метод исследования на просвет. В этом случае исследуют тонкие пленки толщиной несколько сот ангстрем, прозрачных для электронов, приготовленные из массивных образцов. [c.13]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру (субструктуру) металла. Одно из наиболее важных достижений электронной микроскопии — возможность прямого наблюдения дефектов кристаллической структуры. В электронном микроскопе (для предупреждения вторичного излучения, искажающего наблюдаемую картину) часто изучают не металл, а лаковый, кварцевый или более часто угольный слепок (или реплику), полученный с поверхности протравленного шлифа (или излома) п воспроизводящий детали его рельефа, обусловленные действительной структурой металла. [c.16]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...