Измерительные микроскопы 431 — Характеристика

Технические характеристики. измерительных микроскопов, выпускаемых отечественной промышленностью, приведены в табл. 56. [c.234]

Технические характеристики измерительных микроскопов, выпускаемых отечественной промышленностью [c.235]

Техническая характеристика измерительных микроскопов [c.176]

Поверка универсальных измерительных микроскопов регламентируется инструкцией 106—56 и методическими указаниями, разработанными во ВНИИМ в 1969 г. Подробно поверка микроскопов изложена в работах [1, 5]. Технические характеристики измерительных микроскопов приведены в табл. 5.23, погрешности измерения — в табл. 5.24. [c.178]

Технические характеристики отечественных и зарубежных координатно-измерительных приборов и машин приведены в табл. 11.9. Координатно-измерительные приборы типа УИМ-29 и ДИП созданы на базе универсальных измерительных микроскопов. Они производят измерение по двум координатам. Результаты измерений представлены в цифровой форме с их фиксацией на цифропечатающей машине. Для обработки результатов измерения в комплект прибора модели ДИП-1 входит мини-ЭВМ. [c.322]

Измерительные микроскопы 431 — Характеристика 440 Измерительные приборы зубчатые 424 — [c.1072]

Задание. 1. Ознакомиться с принципом работы спектрографа (например, ИСП-30) и основными характеристиками оптической схемы по техническому описанию. 2. Провести вычисление линейной дисперсии спектрографа ИСП-30 в спектральном диапазоне 400—250 нм через интервалы 10—15 нм. 3. Измерить линейную дисперсию. Для измерения дисперсии фотографируют дуговой спектр железа, на фотопластинке отмечают 10—15 пар близких линий >.1 и Х2 = Х - - Ах по изучаемому диапазону спектра и с помощью измерительного микроскопа МИР-12 измеряют расстояния А/ между ними. Тогда = А//АЯ,. 4. Построить теоретический и экспериментальный графики )г = f(Я). [c.522]

Измерительные микроскопы 20 — Характеристики 28 Измерительные машины концевые 17 — Характеристики 29 [c.830]

Универсальные микроскопы имеют большие, чем инструментальные, пределы измерения и повышенную точность линейных измерений. Так, универсальный измерительный микроскоп УИМ-21 имеет пределы измерения для линейных размеров в продольном направлении О— 200 мм, в поперечном О—100 мм для угловых размеров О—360° при цене деления угловой головки Г. Увеличение главного микроскопа равно 10><, 15х, 30>< или 50 в зависимости от применяемого объектива. Такие же характеристики имеет проекционный микроскоп УИМ-23 с пределами измерения 200 х 100 мм, на котором главный и отсчетные микроскопы заменены проекционными устройствами, значительно облегчающими работу контролера [19]. [c.143]

Измерители деформаций статических электронные 3 — 492 Измерительная аппаратура 1 — 415 Измерительное усилие 4 — 4 Измерительные инструменты 6—163 Измерительные линейки — Характеристики 4 — 9 Измерительные машины концевые 4 — 17 — Характеристики 4 — 29 —-— штриховые 4 — 16 — Характеристики 4 — 29 Измерительные микроскопы 4—20 — Характеристики 4 — 28 Измерительные приборы 4 — 27 — см. также Приборы для измерения давления [c.425]

Микропереключатели для токарных станков 255 Микроскопы двойные 733 -- для измерения параметров цилиндрических резьб 735, 736 --измерительные 726 — Характеристика 727 [c.893]

Характеристики измерительных микроскопов приведены в табл. 9 и 10. [c.382]

Характеристики измерительных микроскопов [c.383]

Если для каждого конкретного измерительного микроскопа известны его метрологические характеристики, то многие из составляющих погрешностей измерения можно считать систематически определенными, и тогда предельную суммарную погрешность измерения можно рассчитать по формуле [c.393]

Под резервами при этом понимают как неиспользованные пути увеличения информационной мощности установок, так и перспективные возможности ее прироста. Появление резервов в значительной мере обусловлено развитием современных методов и средств измерительной, регистрирующей и вычислительной техники, повышением уровня технических характеристик материалов и изделий, механизацией и автоматизацией эксперимента. Не вдаваясь в подробности расчетов оптимальной величины производительности установки, достаточно хорошо изложенных в работе [118], рассмотрим некоторые тенденции и пути развития аппаратуры для тепловой микроскопии на основе технических усовершенствований, обеспечивающих прирост информационной мощности установок для микроструктурного исследования материалов в широком диапазоне температур. [c.278]

Основные измерительные инструменты и универсальные измери-тельные приборы. Основные характеристики инструментов и приборов, в том числе и предельные погрешности измерения наружных размеров и глубин, приведены в табл. 2, погрешности измерения внутренних диаметров — в табл. 3. В табл. 4 даны основные характеристики, в том числе и предельные погрешности микроскопов. [c.67]

Характеристика работ. Контроль и приемка сложных и ответственных деталей и узлов механизмов после механической и слесарной обработки с проверкой точности изготовления по чертежам и ТУ с применением универсального контрольно-измерительного инструмента и приборов (оптиметр, концевые меры, индикаторы, микроскоп и др.). Выборочная проверка качества сложных поковок, отливок и полуфабрикатов, поступающих на механическую и слесарную обработку. Проверка предельного гладкого специального инструмента с жесткими допусками и режущего инструмента сложного профиля (четырехступенчатые развертки, долбяки для рифления, фасонные резцы и др.). Проверка сложного вспомогательного инструмента. Наладка контрольно-измерительных приборов. [c.301]

Измерительные лупы выпускаются и испытываются по ГОСТ 8309—75 трех типов ЛИ-3 — лупы, склеенные из трех линз в пластмассовом корпусе ЛИ-4 и ЛИ-4М — лупы, склеенные попарно из четырех линз в металлическом корпусе. Лупы типов ЛИ-3 и ЛИ-4 имеют диапазон измерения до 15 мм. лупы ЛИ-4М— до 10 мм. Лупы состоят из подставки 3 (рис. 5.26), к которой крепятся корпус 1 с линзами 2 и шкала 4. Цена деления шкалы 0,1 мм. В лупах типов ЛИ-3 и ЛИ-4 шкала выполнена стеклянной, в линзах типа ЛИ-4М — металлической. Технические характеристики измерительных луп приведены в табл. 5.19. Для измерительных целей также могут быть использованы выпускаемые ЛОМО по ТУ 3-3.123—78 отсчетные микроскопы типа МИР-2 с ценой деления 0,058—0,036 мм и пределами измерения 0,15—6,00 мм и микротвердомеры, изготовляемые по ТУ 3-3.1377—77, имеющие увеличение 138 и 520 . [c.171]

Большой класс фотометрических приборов составляют приборы для анализа суспензий, включающие определение оптической плотности и спектральной характеристики поглощения отдельных частиц или их участков, классификацию типов частиц, измерение их размеров, подвижности и других характеристик. Эти приборы, в состав которых включены оптические микроскопы, можно разделить на относительно простые лабораторные анализаторы микрофотометры, микроспектрофотометры, микроколориметры и др. и сложные измерительные комплексы с использованием сканирующих фотоэлектрических преобразователей и специализированных вычислительных систем. Приборы первой группы отличаются от рассмо- [c.260]

Эти микроскопы относятся к группе оптико-механических приборов на них можно в лабораториях и цехах измерять не только резьбы, но и линейные размеры в прямоугольных координатах, угловые размеры у деталей и у режущих и измерительных инструментов и шаблоны (сложного профиля). Микроскопы типа ИТ и ММИ имеют пределы измерения в продольном направлении 75 мм и в поперечном 25 мм, а микроскоп большой модели типа БМИ в продольном направлении 150 мм и в поперечном 50 мм. Сравнительная характеристика микроскопов по предельным погрешностям измерения элементов наружной резьбы представлена в табл. 22. [c.143]

В конце урока следует рассмотреть дифференцированные методы контроля, перечислив существующие методы и средства и дав характеристику каждому из них, проводить эту часть урока хорошо в виде беседы. В ходе беседы сравнивается резьбовой микрометр с гладким микрометром, напоминается принцип измерения на инструментальном микроскопе, отмечается, что измерение на микроскопе относится к бесконтактному методу измерения, измерение по методу трех проволочек — к косвенному. Для слесарей-инструментальщиков, лаборантов измерительных лабораторий, контролеров ОТК этот вопрос следует рассмотреть более детально — в объеме, приведенном в тексте главы. [c.333]

Таким образом, для каждого класса точности и вида измерительных средств устанавливают определенный комплекс метрологических характеристик и их норм, достаточный для оценки соответствующей части результатов измерений. Так, для концевых плоскопараллельных мер длины устанавливают пределы допускаемых отклонений срединной длины от номинальной, отклонений от плоскоиарал-лельностн, характеристики притираемости. Пределы Д абсолютных допускаемых погрещностей для координатно-измерительных приборов, длиномеров, компараторов, измерительных микроскопов устанавливают в соответствии с формулой [c.135]

Технические характеристики некоторых стереомикроскопов приведены в табл. 12. Для коитреля прецизионных изделий типа фотешаблонов СБИС применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа. [c.84]

Преобразуемая величина называется входной, а результат преобразования — выходной величиной. Соотношение между ними задается функцией преобразования (статической характеристикой). Если в результате преобразования физическая природа величины не изменяется, а функция преобразования является линейной, то преобразователь называется масштабным или усилителем, (усилители напряжения, измерительные микроскопы, электронные усилители). Слово усилитель обычно употребляется с определением, которое приписывается ему в зависимости от рода преобразуемой величины (усилитель напряжения, гидравлический усилитель) или от вида единичных преобразований, происходящих в нем (ламповый усилитель, струйный усилитель). В тех случаях, когда в преобразователе входная величина превращается в другую по физической природе величину, он получает название по видам этих величин (электромеханический, пневмоемкостный к так далее). [c.174]

Характеристика прибора Б П. Теневой проектор БП отечественного производства, изображенный на фиг. 10. 1, представляет собой разновидность измерительного микроскопа, у которого теневое изображение детали лроектируется не на сетку, яаходящуются в окуляре, а ia экран с большим увели-ieниeм. [c.273]

Задание. 1. Изучить основные спектральные характеристики монохроматора угловую и линейную дисперсии призменного и дифракционного монохроматоров спектральный интервал, выделяемый монохроматорами. 2. Экспериментальная установка работает по схеме на рис. П.12, а. Измерительный микроскоп Ь снабжен окуляр-микрометром. 3. Измерить линейную дисперсию монохроматора в диапазоне спектра от 400 нм до 600 нм. С помощью окулярного микрометра измеряется расстояние А/ между близкими линиями 1 и в спектре ртутной лампы (рис. П.12, б) (10—15 пар линий по спектру) и затем вычисляется линейная дисперсия 1)( = А//АЛ. 4. Построить график линейной дисперсии А = /(Я). 5. Используя график линейной дисперсии, рассчитать и построить зависимость ширины входной Явх и выходной йвых щелей монохроматора (авх = йвых) от длины волны X для получения заданного спектрального интервала АХ, выделяемого монохроматором, т. е. а = /(Л). Необходимый АЛ задается преподавателем. Составить отчет по форме на с. 504. [c.522]

Измерительные микроскопы нашли очень широкое применение в измерительных лабораториях заводов и в научно-исследователь-ских институтах. Основы теориь А икроскопии изложены в гл. I, поэтому здесь будут описаны лищь принципиальные оптические схемы, элементы конструкции и даны технические характеристики некоторых приборов этой группы. [c.107]

Аналогичную характеристику имеет проекционный микроскоп УИМ-23 (рис. 6.19,6) с диапазоном измерения по осям X (200 мм), Y (100 мм), на котором главный и отсчетный микроскопы заменены проекционными устройствами 1, 2 п 3, облегчаюшими работу. Результаты измерения определяют по шкалам 2 и 5. На микроскопе УИМ-23 в отличие от УИМ-21 можно работать сидя, что значительно облегчает труд контролера и обеспечивает более высокую производительность. В нашей стране начато производство универсальных измерительных микроскопов с цифровым отсчетом с точностью отсчета 1 мкм. [c.106]

Для получения информации о рельефе поверхности используются различного вида щуповые приборы (профилометры, профилографы), оптические интерферометры, туннельные и сканирующие атомно-силовые микроскопы и т. д. Они позволяют с той или иной степенью точности воссоздать микрорельеф поверхности на заданном ее элементе, а также определить некоторые её характеристики (осреднённый высотный и шаговый параметры, средний наклон и радиус кривизны в вершине неровности, среднее количество неровностей на единицу площади и т.д.). Развитие измерительной техники приводит к изменению представлений о топографии, что стимулирует возникновение новых математических моделей, используемых для описания топографии поверхности. С другой стороны, при создании приборов для исследования топографии в конструкцию и программное обеспечение закладывается возможность измерения и расчёта характеристик, наиболее широко используемых при моделировании. Обзор экспериментальных методов исследования топографии поверхностей содержится в [59, 235]. [c.11]

Широкое использование методов микроскопии жидких сред или их отпечатков на подложках, разработка методов автоматического и полуавтоматического измерения абсорбционных и геометрических характеристик отдельных фрагментов и деталей изображений, формируемых оптическими микроскопами, привели к появлению приборов и измерительных комплексов, в которых в качестве фотоэлектрических преобразователей стали применяться передаюи ие телевизионные трубки. В таких системах ОЭИП представляют собой оптический микроскоп, сопряженный с передающей телевизионной камерой. Как правило, в этих приборах используются прикладные телевизионные установки (ПТУ), передающие камеры которых построены на видиконах. Их основной функцией является преобразование потока лучистой энергии, формирующего изображение, в электрический сигнал, которое осуществляется одновременно с электронным сканированием (разверткой) изображения. Устройству, принципам действия [c.206]

Близкие к ТАСИ-2 характеристики имеют ряд других установок, например измерители геометрических параметров изображения ИГПИ-2, ИГПИ-3, ИРИС-Т и измерительный комплекс для изучения процессов развития микроорганизмов при воздействии внешних факторов КИПРАМ, разработанные в Ленинградском электротехническом институте им. В. И. Ульянова (Ленина) [59, 74]. Эти устройства различаются методами обработки видеоинформации. В двух последних из упомянутых систем реализован интерактивный метод измерения геометрических параметров, когда сам оператор с помощью специального электромеханического устройства обводит на изображении препарата исследуемый участок при наблюдении всего изображения на экране телевизионного кинескопа [74]. В системе КИПРАМ использован микроскоп сравнения МС-51, который позволяет проводить одновременное наблюдение и измерение параметров в двух препаратах для текущего сопоставительного анализа. Предусмотрена также возможность измерения параметров перемещения частиц дисперсных фаз и их подвижности, координат траектории, продолжительности пути, скорости перемещения и других параметров. Метод анализа видеосигнала, использованный в устройстве, позволяет разрабатывать измерительные системы для оценки таких, например, параметров, как оптическая плотность движущейся частицы, изменения площади и оптической плотности, связанные с функционированием микроорганизмов, и т. д. [c.265]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...