Микроскопы стереоскопические — Технические

Если принять что величина D равна разности расстояний по лучу зрения между фокусами, расположенными в параллельных плоскостях, проходящих через основание и верхнюю точку одной и той же частицы, то измерение толщины частицы можно заменить измерением линейной величины I на плоскости их изображения. При этом следует отметить, что сравнительно большое увеличение, получаемое с помощью микроскопа, значительно повышает стереоскопический эффект, а относительная погрешность в определении толщины связана с точностью измерения под микроскопом в плоскости поля зрения, зависящей от технических данных микроскопа. [c.178]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...