Микроскопия световая (оптическая)

Бесконтактные измерения шероховатости поверхности выполняют на оптических приборах. В микроскопах светового сечения МИС-11 (рис. 138,а) объектив 3 проецирует на поверхность изделия узкий пучок света, идущий от источника 1 через щель 2. На поверхности образуется освещенная полоса, представляющая собой след пересечения профиля плоскостью светового потока. Изображение щели фокусируется объективом 4 в плоскость сетки 5 окуляра 6. Лучи, отраженные от выступов и впадин профиля, на окулярной сетке будут смещены один относительно другого. Значение смещения зависит от высоты неровностей. Совмещая линии, нанесенные на сетке окуляра-микрометра (рис. 138,6), с выступами и впадинами профиля, определяют высоту неровностей на базовой длине и затем подсчитывают параметр Кг. Перед измерением определяют цену деления окулярного [c.174]

Какие параметры используют для оценки шероховатости поверхности 2. Какими способами контролируют шероховатость с помощью образцов шероховатости 3. В чем заключается принцип действия профилографа-профилометра 201 4. Какой параметр шероховатости измеряют на микроскопах светового сечения 5. Как выглядит оптическая схема микроинтерферометра 6. Как определяют высоту микронеровностей [c.178]

Наиболее точные оптические стенды снабжены микроскопом. На колесе автомобиля укрепляют зеркальный отражатель и по смещению на шкале микроскопа светового пятна от отражателя определяют углы установки колес. [c.197]

Рис. 14. Оптическая схема микроскопа светового сечения

Для определения фрактальной размерности требуется использование оптической микроскопии в широком интервале изменения увеличения и разрешения. Это достигается при комбинировании световой, сканирующей электронной и трансмиссионной электронной микроскопии (в отдельных случаях также используют ионную туннельную электронную микроскопию). [c.92]

Оптический метод основан на измерении уступа, образованного краем покрытия с основным металлом, способом светового сечения или растровым способом с помощью оптического микроскопа. Метод применим для измерения толщины покрытия от 1 до 40 мкм с коэффициентом отражения не менее 0,3. Уступ получают растворением небольшого участка покрытия с предварительной изоляцией остальной части поверхности. [c.55]

Оптическая схема микроскопа Лим-ника типа МИС-11 для измерения методом светового сечения показана на рис. 15. Источник с помощью конденсора освещает щель (0,1 х 1 мм). Линзы и микрообъектив проектируют щель на изделие. Изображение щели наблюдается в микроскоп, состоящий [c.72]

Воспроизведение профиля неровностей поверхности при использовании оптических приборов — микроинтерферометров, двойных микроскопов и т. д. сопряжено с фотографированием, которое не только требует затраты дополнительного времени, но и отделяет момент испытания поверхности и момент изучения ее воспроизведенного профиля между этими моментами лежит период обработки негатива и изготовления позитива. Поэтому за последние десятилетия не прекращаются поиски возможности непосредственной записи профиля световым лучом, который к тому же не деформирует неровности поверхности. [c.122]

Заслуживает внимания еще один аспект оптико-механической аналогии. В заданной области пространства могут распространяться световые колебания различных частот. Может случиться так, что коэффициент преломления п зависит от частоты. Это явление называется дисперсией . При наличии дисперсии первоначальный волновой фронт оптических приборах это явление называется хроматической аберрацией . Явлению дисперсии в оптике тоже может быть предложена соответствующая механическая аналогия. Механические траектории, начинающиеся перпендикулярно базисной поверхности S = О, могут несколько различаться по своей полной энергии Е. Это происходит, например, в электронном микроскопе, где тепловое движение электронов вызывает небольшой разброс значений их полной начальной энергии Е. Это приводит к дисперсии и к небольшой хроматической аберрации в картине, получаемой с помощью электронного микроскопа. [c.312]

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

Наблюдение методами обычной световой микроскопии за процессами, предшествующими деформации, практически неосуществимо, так как накапливание внутренних напряжений, полигонизация и тому подобные явления, приводящие в дальнейшем к проявлению сдвигов и перемещений, сказывающихся на образовании микрорельефа на поверхности образца, не могут быть выявлены оптическими методами. Для исследования этих явлений целесообразно применение рентгеноструктурного анализа, позволяющего осуществлять прецизионное измерение периода решетки, оценку микро-иапряжений, фрагментации и разворота зерен и др. [c.159]

При съемке образцов с помощью световых металлографических микроскопов, а также специальных установок для исследования структуры металлов при высоких температурах, снабженных микроскопами МВТ с микрофотонасадками, не предусматривающими фиксирования оптической оси микроскопа, необходимо на поверхности пленки или пластинки, на которую производится съемка микроструктуры, нанести четыре отметки в виде острых зубцов, располагаемых во взаимно перпендикулярных направлениях. На рис. 163 представлена схема съемки стереопар. [c.256]

Электронным микроскопом по аналогии с оптическим микроскопом называют электронно-оптический прибор, служащий для получения сильно увеличенных изображений малых предметов. В отличие от оптического микроскопа в электронном микроскопе используются не световые лучи, а электронные, а вместо стеклянных линз — линзы электронные (электростатические или магнитные). Возможность построения короткофокусных линз позволяет конструировать электронные микроскопы с большим увеличением. Увеличения, которые можно получить с помощью электронного микроскопа, достигают 100 ООО раз и более, тогда как лучшие оптические микроскопы дают увеличение порядка 2000 раз. Объект, предназначенный для рассматривания в электронном микроскопе, должен быть настолько тонким, чтобы электроны в нем не поглощались. [c.355]

Из приборов светового сечения в СССР выпускаются приборы ПСС-2, вместо ранней модели МИС-П. Новая конструкция микроскопа имеет примерно те же технические данные, что и модель МИС-11, но обладает лучшими оптическими характеристиками, позволяющими значительно увеличить точность измерения. Прибор снабжен сменными объективами. Общее увеличение микроскопа 75 , 266 , 337 и 750 . Поле зрения прибора соответственно 3,6 1,2 0,8 0,36 мм (при измерении шероховатости поверхности с помощью оптических приборов длина участка измерения ограничивается полем зрения прибора). [c.121]

Из всего сказанного следует, что именно волновые свойства света определяют предел разрешения в оптических приборах. В дальнейшем были предприняты попытки отказаться от световых волн и использовать для получения изображения в микроскопе более мелкие частицы материи электроны, а затем и нейтроны. Использование для этой цели электронов привело к возникновению новых приборов — электронных микроскопов. [c.370]

На рис. 47 приведена оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. От источника белого света световой пучок, пройдя конденсор 4, попадает на зеркало 3, от которого через диафрагму 6 и объектив 7 направляется на разделяющую призму //, склеенную из двух [c.117]

При смещении оптической системы в направлении, перпендикулярном оси резьбы, на величину I—I, изображение световой точки, пройдя объектив 2, попадает в точку 3, откуда через новое положение объектива 4 попадает на окулярную сетку в положение 5. Таким образом, оптическая система резьбового микроскопа позволяет зафиксировать его положение относительно оси резьбы. [c.527]

Двойной микроскоп конструкции Лин-ника мод. МИС-11 а) Измерение б) фотографирование светового сечения Оптический 3—9 [c.151]

Современные оптические микроскопы дают увеличение рассматриваемого предмета примерно до 2000 раз, что позволяет видеть частицы размером около 0,1 мкм. Значительно большие возможности предоставляет электронный микроскоп, в котором вместо световых лучей используются электронные лучи, т. е. поток быстро летящих в вакууме мельчайших частиц отрицательного электричества (электронов). Электронный микроскоп дает возможность увеличения до 100 тыс. раз и более, при этом можно видеть частицы [c.10]

Для исследований микроструктуры наиболее часто используют световые микроскопы МИЛ -7 и МИМ-8 Разрешающая способность оптического светового микроскопа с применением масляного иммерсионного объектива соответствует практически 1 мкм. [c.311]

Оптический сигнал, полученный, например, с помощью светового микроскопа, превращается с помощью преобразователя сиг- [c.186]

Рис, 15. Оптическая схема микроскопа светового сече- ния Линннка [c.72]

К спектральному анализу можно отнести метод регистрации оптических спектров действия. При определении спектров действия спектральный подход фактически осуществляется по линии пробоподготовки биообъект подвергается действию светового излучения различных длин волн, при этом регистрируются его физико-химические параметры, например электропроводность, потенциал, парциальное давление кислорода в пробе и др. Необходимо подчеркнуть, что метод пока еще не нашел практического применения в лабораторной практике. Научные же исследования ведутся в области фотобиологических процессов, связанных с сумеречным зрением, фотодинамическим действием света (гемолиз эритроцитов), инактивацией ферментов, вирусов и т. д. Интересные перспективы при исследовании жидкостей открывают оптические методы, использующие двойные физические эффекты, оптическая голография, микроволновая спектроскопия, метод лазерной микроскопии. Арсенал оптических методов постоянно расширяется, совершенствуются известные методы, получают аппаратурную реализацию новые оптические эффекты. [c.85]

Увеличение разрешающей силы микроскопа. Из выражения разрешающей силы микроскопа видно, что суш,ествуют два пути ее увеличения а) увеличение числовой апертуры б) уменьшение длины волны света, в котором рассматривается объект. Числовую апертуру можно увеличить как увеличением угла апертуры, так и увеличением показателя преломления окружаюш,ей объект среды. Увеличення п можно добшъся, погружая объект в прозрачную жидкую Среду с возможно большим показателем преломления (со-ответствуюш,ие микроскопы называются иммерсионными). Однако, как известно, для оптически более плотных прозрачных жидкостей /г лг 1, 6, что не приводит к существенному увеличению разрешающей силы. Увеличение разрешающей силы за счет увеличения апертуры также ограничено, так как в предельном случае sin и = = 1. В реальных случаях можно добиться значения sin и = 0,95 при /г = 1. Это означает, что возможно разрешение деталей объекта размером порядка половины длины световой волны. [c.203]

Увеличение разрешающей силы микроскопа путем уменьшения длины световой волны прнв ело к положительному результату. Микроскопы, пспользующне ультрафиолетовые лучи, позволяют увеличить разрешающую силу примерно в два раза. Переход к микроскопам, использующим рентгеновские лучи, позволил бы резко увеличить разрешающую силу. Однако отсутствие оптических линз для рентгеновских лучей делает практически почти невозможным создание рентгеновских микроскопов. Такие принципиальные трудности были преодолены после того, как в 1923 г. Луи де Бройлем была выдвинута гипотеза, согласно которой любой частице с массой т, движущейся со скоростью v, соответствует волна с длиной [c.203]

Я перенес главу, посвященную основным фотометрическим понятиям, во введение, желая использовать правильную терминологию уже при описании явлений интерференции и оставив в отделе лучевой оптики лишь вопросы, связанные с ролью оптических инструментов при преобразовании светового потока. Заново написаны многие страницы, посвященные интерференции, в изложении которой и во втором переработанном издании осталось много неудовлетворительного. Я постарался сгруппировать вопросы кристаллооптики в отделе VIII, хотя и не счел возможным полностью отказаться от изложения некоторых вопросов поляризации при двойном лучепреломлении в отделе VI, ибо основные фактические сведения по поляризации мне были необходимы при изложении вопросов прохождения света через границу двух сред, с которых мне казалось естественным начать ту часть курса, где проблема взаимодействия света и вещества начинает выдвигаться на первый план. Я переработал изложение астрономических методов определения скорости света и добавил некоторые новые сведения о последних лабораторных определениях этой величины. Гораздо больше внимания уделено аберрации света. Рассмотрены рефлекторы и менисковые системы Д. Д. Максутова. Значительным изменениям подверглось изложение вопроса о разрешающей способности микроскопа я постарался отчетливее представить проблему о самосветя-щихся и освещенных объектах. Точно так же значительно подробнее разъяснен вопрос о фазовой микроскопии, приобретший значительную актуальность за последние годы. [c.11]

Оптический метад анализа текстур основан на использовании кристаллографической анизотропии скорости химического растворения. При правильном подборе режима травления на поверхности кристаллитов можно получить фигуры травления, хорошо наблюдаемые в световом микроскопе. Форма этих фигур травления и их ориентировка в плоскости шлифа зависят от того, какой кристаллографической плоскостью hikdi ориентирован соответствующий кристаллит параллельно плоскости шлифа и как эта плоскость hikili повернута вокруг нормали к плоскости шлифа. [c.272]

Приведены новейшие данные по оптической, световой, электронной, просвечивающей, растровой, дифракционной, фотоэмиссиоиной и автоионной микроскопии. Описан метод дифрактометрии в медленных электронах и при использовании электронов с высокими энергиями. Рассмотрен микроанализ с помощью электронного зонда, Оже-спектроскопии и др. Изложены сведения о сварных соединениях. С позиций металлографии классифицированы различные способы сварки, исследованы основные изменения структуры прн сварке с растрескиванием в твердом состоянии, прослежено влияние температурного поля на структурные изменения при различных способах сварки. [c.28]

Методика упрощенной обработки профилограмм и фотографий оптических изображений профиля. Объектом обработки воспроизведения профиля на бумаге могут быть профилограммы, полученные на щуповом профилографе, или фотографии профиля, полученные на двойном микроскопе (приборе светового сечения), микроинтерферометре или растровом микроскопе. [c.162]

Иитерферометрический метод. В этом оптическом методе применен луч монохроматического света, который направлен на границу между покрытием и основным слоем точно таким же образом, как в микроскопическом методе исследования с помощью светового потока. Но вместо измерения отношения отраженного луча микроскоп используется для установления количества интерференционных колец, создаваемых при рассеивании света под действием уступа на границе покрытия. Число колец, умноженное на половину длины волны использованного светового луча, составляет толщину покрытия. [c.140]

Наиболее широкие перспективы применения разработанной методики открываются при использовании телевизионных анализаторов изображения в сочетании с высокотемпературными установками, позволяющими визуально наблюдать за поверхностью образцов в процессе их испытания. С этой целью в Лаборатории высокотемпературной металлографии в содружестве с Проблемной лабораторией металловедения Уральского политехнического института разработан телевизионный анализатор изображения, который может быть использован совместно с любыми металлографическими микроскопами, снабженными фотонасадкой типа МФН-12. В этом приборе световое поле анализируемого объекта преобразуется видиконом в последовательность электрических импульсов, амплитуда которых пропорциональна оптической плотности, а длительность — протяженности частицы, считываемой электронным лучом. Усиленные камерой видеоимпульсы совместно с сигналами частоты строк и полей подаются на дискриминатор, представляющий собой регулируемый фиксатор уровня видеосигнала. Путем регулирования уровня фиксации можно выделить из общей металлографической картины ту часть изображения, которая должна подвергаться анализу. Степень дискриминации воспроизводится видеоконтрольным устройством (монитором). [c.11]

Оптическая система установка ИМАШ-18 состоит из объектива 11 с большим рабочим расстоянием, укрепленного на опак-иллюминаторе 12 специального металлографического микроскопа. В осветителе микроскопа 13 применена ртутная газоразрядная лампа сверхвысокой яркости типа ДРШ-100-2 мощностью 100 Вт. Яркость свечения жгута паров плазмы в этой лампе составляет около 100 кстб. Следует напомнить, что яркость электрической дуги составляет всего около 15 кстб. Визуальное наблюдение за структурой образца осуществляется через окуляр 14 и монохроматический узкополосной светофильтр 15. Последний является одним из важных элементов оптической системы [58]. Он пропускает преимущественно волны с длиной X = 546 мкм (ртутная линия в спектре лампы) и срезает собственное световое излучение образца, а также волны других длин из спектра лампы. При этом становится возможным прямое наблюдение за микроструктурой образца в отраженном свете, а также фотографирование или киносъемка ее камерой 16. [c.138]

Он представляет собой оптический микроскоп со стробоскопическим осветр1телем, который работает синфазно с возбудителем динамических перемещений. Четкость и устойчивость стробоскопического изображения зависит соответственно от длительности световых импульсов и их скважности, за время которых увеличенное изображение исследуемого микроучастка не должно сместиться на расстояние более 0,1 мм. Такие условия достигаются применением газоразрядных импульсных источников света [3] при скорости перемещения изображения до 200 м/с или импульсных лазеров [4] при более высоких скоростях в сочетании с индуктивными синхронизаторами типа [5], обеспечивающими стабильную скважность световых импульсов. [c.304]

Оптический фотоэлектронный сигнализатор предназначен для подачи звукового или светового сигнала в момент появления на поверхности образца первой трещины усталости. Принцип действия прибора основан на изменении коэффициента оптического отражения гГоврежденной и неповрежденной поверхностей металла. Разработанное устройство (рис. 122) состоит из оптической системы 4, фотоэлектронного умножителя 5, осветителя /, поискового механизма <3, блока питания и усиления 2 . Назначение оптической системы (рис. 123) —увеличение изображения микроплощадки рабочей части поверхности образца для повышения чуиствительности устройства и проектирования изображения на плоскость диафрагмы фотоэлектронного умножителя 5. Оптическая система состоит из объектива I и окуляра 3 микроскопа. Промежуточное изображение 2 находится впереди переднего фокуса окуляра Fqk (в отличие от обычных микроскопов, где промежуточное изображение находится за передним фокусом окуляра), что дает возможность получить не мнимое, а [c.184]

К классу III с допускаемой амплитудой виброскорости Уа= = 0,315 мм/с отнесены оптикаторы, оптические длиномеры, ультраоптимеры, измерительные машины длиной до 1 м, катетометры, контактные интерферометры, приборы для контроля линейных размеров с электронным индикатором контакта и ценой деления 0,1. .. 0,5 мкм, растровые измерительные микроскопы, микроинтерферометры, приборы светового сечения, приборы для контроля цилиндрических и конических зубчатых колес, спектрографы, спектрометры, спектрофотометры, масс-спектрометры, микрофотометры, фотоэлектрические усилители, прецизионные металлорежущие станки средних размеров (внутришли-фовальные, круглошлифовальные с направляющими скольжения, плоскошлифовальные, координатно-расточные и т. п.). [c.121]

ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ — совокупность оптич. деталей — линз, призм, плоскопараллельных пластинок, зеркал и т. п., скомбинированных определ. образом для получения оптич. изображения или для преобразования светового патока, идущего от источника света. В зависимости от положения предмета и его изображения различают несколько типов О. с. микроскоп (предмет на конечном расстоянии, изображение — на бесконечности), телескоп (и предмет, и его изображение находятся в бесконечности), объектив (предмет расположен в бесконечности, а изображение — на конечном расстоянии), проекц. система (предмет и его изображение расположены на конечном расстоянии от О. с. см. Проекционный аппарат). О. С. характеризуются такими параметрами, как светосила, линейное и угл. увеличение, масштаб оптического изображения. [c.451]

УЛЬТРАМИКРОСК(ЗП—оптич. прибор для обнаружения мельчайших (коллоидных) частиц, размеры к-рых меньше предела разрешения (см. Разрешающая способность оптических приборов) обычных световых микроскопов. Возможность обнаружения таких частиц с помощью У. обусловлена дифракцией света на них. При сильном боковом освещении каждая частица в У. отмечается наблюдателем как яркая точка (светящееся дифракц. пятно) на тёмном фоне. Вследствие дифракции на мельчайших частицах рассеивается очень мало света, поэтому в У. применяют, как правило, сильные источники света. В зависимости от интенсивности освещения, длины световой волны, разности показателей преломления частицы и среды можно обнаружить частицы размерами от 20—50 нм до 1—5 мкм. По дифракц. пятнам нельзя определить истинные размеры, форму и структуру частиц У. не даёт оптич. изображений исследуемых объектов. Однако, используя У., можно установить наличие и численную концентрацию частиц, изучать их движение, а также рассчитать ср. размер частиц, если известны их весовая концентрация и плотность. [c.218]

То, что световой микроскоп не всесилен, первым точно понял немецкий физик Эрнст Аббе (1840— 1905). Его деятельность тесно связана с начальным этапом работы знаменитых оптических мастерских Карла Цейса в Йене. Аббе сыграл видную роль в усовершенствовании микроскопа, и ему во многом обя- [c.54]

Вторая ветвь оптической системы представляет собой оптическую часть регистрирующего устройства и дредназначена для передачи энергии рассеянного света от исследуемой точки модели на светочувствительную площадку приемника света — катод фотоэлектронного умножителя (ФЭУ). В эту ветвь входят объектив (от универсального измерительного микроскопа УИМ-21) 8, вогнутое зеркало 9, отрицательная линза 10, монохроматический фильтр 11, катод ФЭУ 12. Объектив проектирует с увеличением изображение просвечиваемого элемента модели на вогнутое зеркало, которое в этой ветви играет роль диафрагмы в алюминиевом слое зеркала на оптической оси второй ветви оставлен непокрытым кружок диаметром 0,5 мм — световой зонд . Узкий пучок света, прошедший [c.32]

Важнейшим инструментом металловеда яиляется микроскоп для исследований в отраженном свете. Различают нормальные и обратные оптические микроскопы в зависимости от того, падает ли световой луч иа поверхность образца сверху или снизу. [c.19]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...