Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Микроскоп сравнения МС

Определение класса чистоты (при сравнении шероховатости поверхности с образцом) производится визуально-осязательным методом для поверхностей, шероховатость которых не превышает 6-го класса. Для поверхностей, шероховатость которых находится в пределах 7—10-го классов чистоты, сличение шероховатости с образцом производится с помощью микроскопов сравнения (МС-48 МС-49, МС-51). В поле зрения такого микроскопа одновременно можно наблюдать в увеличенном масштабе обе поверхности.  [c.212]


Способы оценки шероховатости поверхности. Они могут быть визуальными (на глаз) и регистрируемыми специальными приборами. Визуальные выполняются путем сравнения шероховатости поверхности контролируемого изделия с образцами (эталонами) шероховатости, имеющими необходимые значения тех или других ее параметров. Обычно такими параметрами служат или Яа- Сравнение невооруженным глазом или с помощью лупы допустимо при шероховатости поверхности в пределах Я, > 10 мкм н ка 0,63 мкм. Для оценки шероховатости до = = 0,080 мкм применяются микроскопы сравнения МС-51, МС-49 и др.  [c.17]

Образцы-эталоны должны быть изготовлены из того же металла и тем же методом, что и контролируемая деталь. Чистота образца проверяется измерением на приборах и должна соответствовать грубому пределу того класса чистоты, для контроля которого предназначен образец. Очень удобно использовать в качестве образца одну из деталей партии, чистота которой предва-рительно проверяется на приборах. С помощью образцов-эталонов можно контролировать детали до 6-го класса чистоты. При повышенной чистоте поверхности (VVV 7, VVV 8) сравнение с образцами удобно производить, используя пятикратную лупу или микроскоп сравнения МС-48 или МС-49, которые позволяют  [c.340]

Рис. 225. Оптическая схема микроскопа сравнения МС-48 Рис. 225. <a href="/info/238007">Оптическая схема микроскопа</a> сравнения МС-48
Образцы-эталоны обычно изготовляются из изношенного или бракованного инструмента. Сравнение производят с помощью специальных микроскопов сравнения (типа МС-48, МС-49), имеющих увеличение в пределах до 30—55 раз.  [c.21]

Оценка шероховатости поверхности производится сравнением с эталоном, шероховатость которого известна, и непосредственным измерением с помощью специальных приборов. При первом методе, широко применяемом в производстве, сравнение шероховатостей поверхности деталей и эталона ведут визуально при помощи лупы или микроскопа модели МС-49.  [c.41]

Близкие к ТАСИ-2 характеристики имеют ряд других установок, например измерители геометрических параметров изображения ИГПИ-2, ИГПИ-3, ИРИС-Т и измерительный комплекс для изучения процессов развития микроорганизмов при воздействии внешних факторов КИПРАМ, разработанные в Ленинградском электротехническом институте им. В. И. Ульянова (Ленина) [59, 74]. Эти устройства различаются методами обработки видеоинформации. В двух последних из упомянутых систем реализован интерактивный метод измерения геометрических параметров, когда сам оператор с помощью специального электромеханического устройства обводит на изображении препарата исследуемый участок при наблюдении всего изображения на экране телевизионного кинескопа [74]. В системе КИПРАМ использован микроскоп сравнения МС-51, который позволяет проводить одновременное наблюдение и измерение параметров в двух препаратах для текущего сопоставительного анализа. Предусмотрена также возможность измерения параметров перемещения частиц дисперсных фаз и их подвижности, координат траектории, продолжительности пути, скорости перемещения и других параметров. Метод анализа видеосигнала, использованный в устройстве, позволяет разрабатывать измерительные системы для оценки таких, например, параметров, как оптическая плотность движущейся частицы, изменения площади и оптической плотности, связанные с функционированием микроорганизмов, и т. д.  [c.265]


Различают поперечную и продольную шероховатости. Поперечная шероховатость измеряется в направлении, перпендикулярном к следам обработки (в направлении подачи), а продольная— вдоль следов обработки. Обычно поперечная шероховатость по величине превышает продольную и является определяющей. Для оценки шероховатости поверхности в СССР разработаны щуповые приборы профилографы — профилометры Калибр-ВЭИ, профилометры ВК7, ПЧ-4, профилографы ИЗП-21, ИЗП-17, а также оптические приборы двойной микроскоп МИС-11, микроинтерферометры МИИ-1, МИИ-4 и микроскоп сравнения МС-48.  [c.69]

Измерение шероховатости поверхности. Качественный контроль шероховатости поверхности осуществляют путем сравнения с образцами или образцовыми деталями визуально или на ощупь. ГОСТ 9378—75 устанавливает образцы шероховатости, полученные механической обработкой, снятием позитивных отпечатков гальванопластикой или нанесением покрытий на пластмассовые отпечатки. Наборы или отдельные образцы имеют прямолинейные, дугообразные или перекрещивающиеся дугообразные расположения неровностей поверхности. На каждом образце указаны значение параметра Ra (в мкм) и вид обработки образца. Визуально можно удовлетворительно оценить поверхности с Ra = 0,6. .. 0,8 мкм и более. Для повышения точности используют щуны и микроскопы сравнения, например, типа МС-48.  [c.199]

Бесконтактные, оценивающие мнкронеровности исследуемой поверхности без соприкосновения с ней. К этой группе относится большинство оптических приборов (интерференционный и двойной микроскопы академика В. П. Линника, микроскопы сравнения и др.). Большинство из указанных приборов применяют в лабораторных условиях и при проведении экспериментальных работ. В производственных условиях, где необходимо быстро определить класс чистоты обработанной поверхности, применяют микроскопы сравнения и наборы эталонов чистоты. С помощью микроскопов сравнения партии деталей контролируют сравнением каждой из них с образцом-эталоном. В поле зрения микроскопа наблюдатель видит увеличенное изображение контролируемой поверхности рядом с увеличенным изображением поверхности эталона (в микроскопе МС-49 увеличение х50).  [c.193]


Смотреть страницы где упоминается термин Микроскоп сравнения МС : [c.145]    [c.34]    [c.217]    [c.162]    [c.233]   
Смотреть главы в:

Микроскопы, принадлежности к ним и лупы  -> Микроскоп сравнения МС



ПОИСК



Микроскоп

Микроскопия

Микроскопия микроскопы

Микроскопы сравнения В. И. Сар кина

Сравнение МКЭ и МГЭ



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте