Микроскопы — Характеристики

На установке ИМАШ-5С-65 внесен ряд изменений в конструкцию некоторых узлов микроскопа МВТ. В частности, объективы крепятся к опак-иллюминатору удлиненной переходной втулкой (увеличивающей примерно на 60 мм оптическую длину тубуса микроскопа). Изменены также рукоятки координатного перемещения столика микроскопа. Оптические характеристики применяемых объективов приведены в табл. 14, а действительные увеличения микроскопа МВТ при наблюдении, фотографировании и киносъемке структуры образцов (для различных сочетаний объективов и окуляров) — в табл. 15. [c.121]

Тела ферромагнитные — Свойства 453 Телевизионные микроскопы — Технические характеристики 345 Телевизионные пентоды — см. Пентоды телевизионные Телеобъективы 335 [c.731]

С помощью оптической делительной головКи можно на микроскопе получить характеристику винта, сколь угодно близкую к непрерывной, но с увеличением числа контролируемых точек будет возрастать трудоемкость процесса, причем погрешность измерения будет несколько выше, чем при контроле шага резьбы вследствие наличия погрешности при отсчете угла ф [c.665]

Измерительные микроскопы 431 — Характеристика 440 Измерительные приборы зубчатые 424 — [c.1072]

Измерительные микроскопы 20 — Характеристики 28 Измерительные машины концевые 17 — Характеристики 29 [c.830]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы. [c.199]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

Конструктивные материалы не вполне удовлетворяют этим предположениям. Например, такой важный материал, как сталь, если его рассмотреть под микроскопом, оказывается состоящим из кристаллов разных размеров и разной ориентации. Свойства этого материала весьма далеки от однородности, однако опыт показывает, что решения теории упругости, основанные на допущениях об однородности и изотропии, с очень высокой точностью применимы к стальным конструкциям. Объяснение этого факта состоит в том, что кристаллы очень малы обычно в кубическом сантиметре стали их миллионы. Поэтому, несмотря на то, что упругие характеристики кристаллов в разных направлениях могут различаться, сами кристаллы, как правило, расположены случайным образом и упругие характеристики больших кусков металла представляют собой усреднения характеристик кристаллов. Пока геометрические размеры рассматриваемого тела достаточно велики по сравнению с размерами одного кристалла, предположение [c.21]

В табл. 9 приведены характеристики некоторых микроскопов для контроля Микрогеометрии объектов по глубине. [c.77]

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

За характеристику смачиваемости принимали кинетический угол растекания бр( , расплава стекла на поверхности покрытия [7]. Этот угол определялся графическим методом на нагревательном оптическом микроскопе МНО-2 с автоматической регистрацией температуры и фотографированием капли в процессе растекания. [c.69]

Равномерность толщины слоя покрытия зависит от подвижности расплава. Для характеристики этого свойства с помощью теплового микроскопа исследовали растекание таблетки из смеси порошков на никеле и железе. При этом фиксировали температуру [c.157]

Исследование материалов с покрытиями с помощью растровых микроскопов позволяет проводить морфологический анализ изломов деталей с покрытиями оценивать структурную неоднородность в поперечных и продольных сечениях покрытий выявлять микроструктуру переходной зоны покрытие — основной металл определять количественные характеристики пористости покрытия изу- [c.179]

Развитие системы цифрового анализа изображений, когда набор статистики осуществляется РЭМ с преобразованием аналогового сигнала в цифровые коды, позволило решить проблему проведения анализа параметров рельефа в автоматизированном режиме с использованием ЭВМ [85-89]. В этом случае удается достичь хороших результатов измерения параметров рельефа с обеспечением требуемых метрологических характеристик получаемых данных. В направлении развития усталостной трещины нарастание скорости усталостных трещин сопровождается нарастанием шага усталостных бороздок или иных регулярно повторяющихся элементов рельефа. Речь идет об изменении рассматриваемых параметров рельефа на мезоскопическом масштабном уровне от нескольких сотен ангстрем (несколько сотых долей микрона) до нескольких микрон. Состав и структура рельефа усталостных изломов чрезвычайно разнообразны для разных конструкционных материалов. От точности получения информации при проведении измерений параметров рельефа во многом зависит не только практическая ценность получаемых данных, но особенно важно получать объективную информацию при анализе механизмов и закономерностей развития процесса разрушения. В связи с этим ниже дается краткая информация о методических особенностях получения данных о параметрах рельефа излома в автоматизированном режиме анализа изображения, формируемого в электронном микроскопе или считываемого с любого объекта видеокамерой. [c.207]

При стандартизации размерных рядов неровностей поверхности в начале использовали Rq (или Я к) — среднее квадратическое отклонение профиля неровностей от его средней линии (США) и Ra —> среднее арифметическое, точнее, среднее абсолютное отклонение его от той же линии (Англия). Эти параметры измеряли электромеханическими профилометрами возможно потому, что они представляют собой хорошо известные в электротехнике эффективное и среднее значения функций, а также статистические характеристики, подходящие для описания рассеивания случайной ординаты профиля относительно ее среднего значения, за которое в данной ситуации была принята средняя линия. Позднее, повсеместно, а также в международном масштабе, был принят параметр Ra из соображений, приведенных выше. Сохранившийся до настоящего времени параметр Ra используют с начала 40-х годов, т. е. более 30 лет. Для измерений оптическими приборами (двойными микроскопами и микроинтерферометрами) параметр Ra не подходит, так как требует трудоемких вычислений. Поэтому применительно к этой категории средств измерений неровностей принимали различные модификации характеристик общей высоты неровностей, такие, как R max — максимальная на фиксированной длине высота неровностей (ранее обозначавшаяся через Я а с). Яср — средняя высота неровностей и Rz—высота неровностей, определяемая по 10 точкам профиля. Для сопоставимости результатов измерений и однозначности стандартизуемых величин потребовалось выделить шероховатость из общей совокупности неровностей поверхности. Это сделали путем установления стандартного ряда базовых длин, полученного из рядов предпочтительных чисел. Значения параметров определяют на соответствующих базовых длинах. Неровности с шагами, превышающими предписанную базовую длину, в результат измерений шероховатости не входят, и стандартизация шероховатости поверхности на них не распространяется. [c.59]

Современные достижения в области физических исследований металлов свидетельствуют о перспективности использования не только световой, но и электронной тепловой микроскопии, когда контраст изображения обусловлен не геометрическим профилем поверхности образца, а определенными характеристиками исследуемого материала, например, работой выхода электрона при термоэлектронной или фотоэмиссии кроме того, в качестве такой характеристики может быть использован коэффициент вторичной электронной эмиссии при бомбардировке первичными электронами. Эти характеристики существенно зависят от состава, фазового состояния, ориентации и температуры изучаемого объекта, поэтому, например, эмиссионная высокотемпературная микроскопия вследствие более высокой разрешающей способности обеспечивает получение большего объема информации по сравнению со световой тепловой микроскопией. При микроструктурном изучении процессов деформирования и разрушения принципиально новые результаты могут быть получены при использовании эффекта экзоэлектронной эмиссии, позволяющего количественно характеризовать определенное энергетическое состояние локальных участков исследуемого образца, что является весьма ценным дополнением к наблюдаемым в металлографический микроскоп качественным структурным изменениям, связанным с накоплением дефектов в поверхностных слоях материала. [c.6]

При изыскании новых путей автоматизации средств тепловой микроскопии необходимо учитывать вопросы стандартизации и унификации аппаратуры, а также максимального сопряжения установок с математическими средствами обработки результатов эксперимента. Схема принципиально возможной, полностью автоматизированной системы проведения исследований на установках для тепловой микроскопии представлена на рис. 2. Как видно из рассмотрения данной схемы, автоматизация обработки информации, получаемой по всем трем основным каналам, должна предусматривать наличие специального блока обработки экспериментальных данных /, включающего в себя малогабаритную электронную вычислительную машину и систему ввода данных, полученных с помощью блока аппаратурного анализа микроструктуры //, блока регистрации изменений физических характеристик ///и блока регистрирующих механических свойств IV, а также дополнительные устройства для печатания (телетайп) V и графической выдачи результатов VI. [c.10]

Плавкостные характеристики золы определяются по ГОСТ 2057-82 с визуальным наблюдением образцов золы. Используются образцы золы в виде трехгранных пирамидок или цилиндриков (в случае применения высокотемпературного микроскопа). Плавкостные характеристики золы определяются температурой спекания ts, при которой изменяются первоначальные размеры образца без изменения геометрической формы (определяется только при применении высокотемпературного микроскопа) температурой начала деформации котррая устанавливается по изменению поверхности образца, закручиванию кромок, вспучиванию или наклону вершины температурой плавления или полусферы ta, при которой образец оплавляется, принимая форму полусферы температурой жидкоплавкого состояния t , при которой образец растекается и его высота становится менее половины высоты полусферы при температуре в- [c.16]

Оценка качества полученных покрытий дается в результате их внешнего осмотра и при увеличении под микроскопом. Примерная характеристика покрытий может быть следующая покрытие матовое, светлое или блестящее осадок мелкокристаллический или грубый, крупнокристаллический. После такой оценки качества на обоих катодах определяют среднюю толщину покрытия по одному из методов, опик анных на стр. 40—41. [c.146]

Оценка качества полученных покрытий дается в результате их внешнего осмотра н при увеличении под микроскопом. Примерная характеристика покрытий может быть следующая покрытие светлое или темное гладкое, по краям дендриты покрытие крупнокристаллическое губчатое с образованием ден-дритов и т. п. [c.153]

Описамные методы твердости характеризуют среднюю твердость сплава. Для того чтобы определить твердость отдельных структурных составляющих сплава, надо резко локализовать деформацию, вдавливать алмазную пирамиду на определенное место, найденное на шлифе при увеличении п 100—400 раз под очень нсболг.шой нагрузкой (от I до 100 гс) с последующим измерением иод микроскопом диагонали отпечатка. Полученная характеристика (Н) называется микротвердастыо п характеризует твердость определенной [c.80]

Таким образом, для каждого класса точности и вида измерительных средств устанавливают определенный комплекс метрологических характеристик и их норм, достаточный для оценки соответствующей части результатов измерений. Так, для концевых плоскопараллельных мер длины устанавливают пределы допускаемых отклонений срединной длины от номинальной, отклонений от плоскоиарал-лельностн, характеристики притираемости. Пределы Д абсолютных допускаемых погрещностей для координатно-измерительных приборов, длиномеров, компараторов, измерительных микроскопов устанавливают в соответствии с формулой [c.135]

Просвечивающая электронная микроскопия позволяет опреде -лять основные количественные характеристики дислокационной структуры вектор Бюргёрса отдельных дислокаций, плотность дислокаций (но числу точек выхода дислокаций на 1 см поверхности фольги или по суммарной длине линий дислокаций в единице объема фольги), ширину растянутых дислокаций, размеры субзерен, энергию дефектов упаковки и др. [c.99]

Характеристики сверхпроводя-. щих материалов тесно связаны с технологией и конструкцией изготовляемых проводов и подвержены заметным изменениям при переходных режимах в условиях эксплуатации. Сверхпроводящие материалы широко используются прежде всего для сооружения соленоидов, обеспечивающих создание очень сильных магнитных полей порядка 10 ajm. Рассматривается возможность применения сверхироводниковых магнитов для фокусировки потока частиц высоких энергий, при исследованиях термоядерных. процессов, для магнитных линз электронных микроскопов, для двигательных установок космических кораблей и т. п. Сочетание молекулярной и сверхнроводннковой электроники открывает перспективу создания вычислительных машин с колоссальным объемом информации. [c.280]

Угловая разрешающая способность глаза (т. е. минимальный угол между деталями изображения, которые он различает) равна Г при расстоянии до объекта I = 250 мм и соблюдении указанных выше условий. Линейное разрешение в плоскости ОК е = loL Л1 яй 250-0,0003 0,08 мм. Частотноконтрастная характеристика (ЧКХ) глаза имеет максимум при угловом размере объекта а 1° и спад в областях как низких, так и высоких пространственных частот. Использование увеличивающей ошики (лува, микроскоп) повышает разрешение в число раз, равное увеличению прибора. Применение микроскопов обеспечивает разрешение e ss 1. .. 5 мкм. [c.51]

Технические характеристики некоторых микроскопов для пространстиенных измерений [c.76]

Технические характеристики некоторых стереомикроскопов приведены в табл. 12. Для коитреля прецизионных изделий типа фотешаблонов СБИС применяют телевизионные (ТВМ) и фотоэлектрические (ФЭМ) микроскопы, имеющие высокое пространственное разрешение (до 0,01 мкм при полях зрения порядка 0,1 мм). Для измерений средней точности используют измерительные микроскопы различных конструкций оптико-механического типа. [c.84]

В образце с хризотил-асбестом в качестве наполнителя, прошедшего термообработку при 1550 С, присутствуют форстерит М 81204 (( =2.75, 2.28 А), энстатит MgSiOз (( =3.17, 2.90, 1.97, 1.70, 1.59 А) и шпинель Mg(Fe, Сг)204 ( =-4.82, 2.10, 1.60 А). Под микроскопом в иммерсии эти фазы отчетливо различаются по показателям преломления. Изотропные кристаллы кубической формы (шпинель) имели показатель преломления А=1.848 + 0.002. У кристаллов в форме шестиугольных пластин показатель преломления А =1.669 + 0.002, Ар = 1.633+ 0.002. Это оптические характеристики форстерита. Кристаллы вытянутой формы по показателям преломления А = 1.666+0.002, Ар = 1.658 + 0.002 могли быть идентифицированы как энстатит. На микрофотографии ан-шлифа образца (рис. 2, в), снятой на микроскопе МБИ-6 при увеличении 400 хорошо видны перечисленные выше фазы. [c.286]

Локальные усталостные характеристики изучают с помощью мик-ромеханических усталостных испытаний, и в результате наблюдения за накоплением усталостных повреждений в локальных зонах в процессе испытания макрообразцов. Используют оптический, электроНт ный микроскоп, рентген, электрические, оптические характеристики и др. [c.185]

Хьюз и Резерфорд [38], а также Резерфорд [70], исследуя характеристики микродеформации для оценки параметров пластической деформации при растяжении системы медь—вольфрам, ус-тановцли, что пределы микротекучести и текучести линейно зависят от объемной доли упрочнителя — вольфрамовой проволоки (рис. 15). Кроме того, было показано, что значения предела текучести и сопротивления движению дислокаций увеличиваются с ростом предварительной деформации и качественно согласуются с дислокационной моделью для медной матрицы [38]. Исследование микродеформаций в сочетании с трансмиссионной электронной микроскопией является особенно ценным, поскольку таким способом может быть получена информация о роли поверхности раздела как барьера для движения дислокаций либо как источника или стока дислокаций. [c.247]

Стерман и Брэдли [11] впервые исследовали физико-химиче- ские характеристики пленки аппрета, адсорбируемой на поверхности стекловолокна. С помощью электронного микроскопа на репликах, изготовленных по методу Брэдли [2], они изучали степень адгезионного взаимодействия и состояние пленок различных силановых аппретов, нанесенных на волокна Е-стекла. (При этом уста- новлено, что полученный на поверхности волокна слой аппрета 1 толстый (по сравнению с размерами молекул), неоднородный и -склонен к образованию агломератов в пространстве между волок-йами. После экстрагирования аппретированных волокон в аппарате Сокслета в течение 4 ч около 80% нанесенного аппрета удаляется, а оставшаяся часть присутствует в виде островнов . [c.120]

Данная методика оказалась недостаточно чуйствительной, чтобы установить, что представляет собой пространство между островками— чистое стекло или сверхтонкую пленку,. толщина которой соответствует монослою. Сравнение количества материала, Нрисутствующего в островках по данным электронной микроскопии, с общим количеством материала на экстрагированной (поверх-ности, которое определялось по результатам химического анализа, показывает, что для получения материального баланса необязательно наличие аппрета между островками. Электронно-микроскопическим методом установлено, что поверхностный слой аппрета значительно отличается от монослоя, для которого, согласно теории химической связи, характерно правильное расположение молекул. Авторы пришли к выводу, что пленка состоит в основном из легко удаляемых наружных слоев и плотно связанного полимера вблизи поверхности волокна . По мнению авторов, для получения (пленки аппрета с оптимальными характеристиками следует наносить на поверхность стекловолокна покрытие толщиной от 8 до 70 монослоев, что связано с неравномерным распределением аппрета на поверхности волокна. [c.120]

Излом изучают, во-первых, для оценки металлургического качества материала. Такой дефект обработки, как перегрев, оценивают в конструкционных материалах по наличию камневидного, а в быстрорежущих сталях нафталйнистого изломов рыхлоты, плены достаточно надежно выявляют в изломах литейных материалов и т. п. Определение температурных интервалов хладноломкости или отпускной хрупкости тоже можно отнести к области изучения изломов в связи с качествам м составом материала. Это обширная, чрезвычайно важная н наиболее древняя область использования характеристики излома. В современных условиях для решения названных задач применяют совершенное физическое оборудование — электронные микроскопы с приставками, позволяющими производить дифракционный, рентгеноспектральный и подобные анализы и определять природу фаз и других включений, ответственных за дефектность материала [71]. Применение этих методов исследования дало много ценных сведений о характерном строении и причинах возникновения различных металлургических дефектов в сталях [116]. Имеется также обширная литература, по-г.вященная анализу качества материала по фрактографическим признакам [5, И, 56, 106, ПО и др.]. [c.5]

Фрактографическое исследование в сочетании с микрострук-турным анализом и анализом трещин показало, что процесс развития макроскопических трещин в литейных никельхромовых высокожаропрочных сплавах МСбУ, ВЖЛ12У при переменном нагружении по симметричному и ассиметричному циклам при температурах 850—950°С занимает значительную часть общей жизни испытываемого гладкого образца. На это указывает, в частности, то, что общая долговечность оказывается связанной с характеристиками процесса разрушения, проявляющимися в изломе имеется связь между шириной усталостных полосок (ширина полосок измерялась с помощью оптического микроскопа при увеличениях 600—800) и долговечностью (рис. 127). Полученная зависимость может быть использована для приближенного, но тем не менее количественного определения времени [c.155]

Существенным преимуществом оптической фрактографии является возможность применять прицельный метод исследования. Прицельность исследования особенно необходима при введении количественной оценки излома, поэтому более распространенные количественные фрактографические характеристики, такие, как ширина микроусталостных полосок, получены на оптических микроскопах. [c.188]

Для исследования характеристик кратковременной и длительной прочности композиционных и тугоплавких материалов методами растяжения — сжатия, микротвердости и тепловой микроскопии в широком интервале температур в Институте проблем прочности АН УССР создана установка Микрат-4 . Схема установки представлена на рис. 1. Она состоит из камеры 1, прибора 2 для исследования микротвердости материалов и устройства 3 нагружения образца растяжением — сжатием. Откачка воздуха и газов из камеры обеспечивается механическим насосом 4 и высоковакуумным насосом 5 с ловушкой 6. Давление измеряется манометрическими преобразователями в комплекте с вакуумметром 7. Имеется возможность заполнять испытательную камеру защитной газовой средой, а также проводить испытания на воздухе. Нагревательное устройство установки подключено к стабилизатору 8 через регулятор напряжений 9, трансформатор 10 и выпрямитель 11. [c.26]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...