Микроскопы 328 — Применение

В исследованиях, где такая высокая разрешающая способность не нужна (или не достигается электронным микроскопом), применение описанного выше метода, требующего большого количества платины и связанного со значительной затратой времени, нецелесообразно. В этих случаях можно применить следующий способ. [c.107]

В микроскопе применен окуляр Гюйгенса М-И с увеличением 15 и линейным полем зрения 8 мм. [c.77]

Отклонение следа от прямой линии не превышает 0,2 мкм. Для надежного измерения столь малой величины столик должен перемещаться по направляющим, которые обеспечивали бы прямолинейность движения с точностью 0,02—0,03 мкм на некоторой длине, называемой длиной ячейки. Эта длина определяется из условия, что измеренная величина отклонения на порядок выше шума , т. е. нерегулярных отклонений от прямолинейности. Обычные направляющие не могут обеспечить такой точности. Поэтому в конструкции столика микроскопа применен следующий принцип компенсации непрямолинейности направляющих (рис. 48). [c.70]

Значительно повышает точность измерений половины угла профиля резьбы на инструментальных и универсальных микроскопах применение ножей (фиг. 179). Оно возможно только для резьб с шагом более [c.501]

С помощью метода микроскопического анализа с применением оптического или электронного микроскопа можно получить много данных о строении сплавов. Однако он не выявляет, равномерно лн распределяются атомы веществ, входящих в состав сплава. Так, например, сплав, структура которого показана на рис. 21,а, представляется совершенно однородным. [c.39]

Из оптических приборов большее применение нашли двойной микроскоп и микроинтерферометр академика В. П. Линника. [c.90]

Оптико-механические измерительные приборы. Эти приборы находят широкое применение в промышленности, поскольку позволяют выполнять измерения различных изделий с высокой точностью. По сравнению с механическими головками они имеют значительно большие пределы измерений, могут иметь табло с цифровым отсчетом. При необходимости их можно использовать для автоматического управления производственными процессами. Оптико-механические приборы бывают контактные (оптиметры, длиномеры, измерительные машины) и бесконтактные (микроскопы и проекторы). [c.120]

Согласно более поздним исследованиям с применением трансмиссионной и оптической микроскопии в нефтяных пиролизных пеках было выявлено 4 характерных масштаба надмолекулярной структуры [c.183]

Установленная формальная аналогия, разумеется, не случайна. Как при голографировании, так и при отображении в линзовой либо зеркальной оптической системе речь идет о преобразовании одной сферической волны (предмета) в другую, также сферическую волну (изображения). Формальный вид закона такого преобразования (линейное преобразование кривизны волновых фронтов) предопределен самой постановкой задачи и никак не связан с конкретным способом его реализации. Любой способ, голографический или линзовый, может только изменить кривизну исходного волнового фронта в определенное число раз и добавить к ней новое слагаемое ), но не более того. Анализ физического явления, призванного осуществить эту процедуру, конкретизирует физический смысл соответствующего множителя и слагаемого и их зависимость от характеристик явления и конструктивных особенностей системы. Последнее оказывается очень существенным при сравнительном рассмотрении разных способов. Как уже упоминалось, применение разных длин волн на первом и втором этапе предоставляет голографии неизмеримо более широкие возможности, чем аналогичный фактор в линзовых и зеркальных системах (различие показателей преломления в пространстве изображений и предметов, иммерсионные объективы микроскопов, см. 97), ибо можно использовать излучение с очень сильно различающимися длинами волн, например, рентгеновское и видимое (когда будет создан рентгеновский лазер). [c.253]

Оптические приборы и оптические методы исследования широко применяются в самых разнообразных областях естествознания и техники. Напомним, например, об изучении структуры молекул с помощью их спектров излучения, поглощения и рассеяния света, а также о применении микроскопа в биологии, об использовании спектрального анализа в металлургии и геологии. Оптические квантовые генераторы неизмеримо расширяют возможности оптических методов исследования. Приведем несколько примеров, иллюстрирующих положение дела. Один из новых методов — голография — подробно описан в главе XI. Изучение атомно-молекулярных процессов, протекающих в излучающей среде лазеров, а также рассеяния света и фотолюминесценции с применением лазеров позволило получить большой объем сведений в атомной и молекулярной физике, равно как и в физике твердого тела. Оптические квантовые генераторы заметно изменили облик фотохимии с помощью мощного лазерного излучения могут производиться разделение изотопов и осуществляться направленные химические реакции. Благодаря монохроматичности излучения оптических квантовых генераторов оказывается сравнительно простыми измерения сдвига частоты, возникающего при рассеянии света вследствие эффекта Допплера этот метод широко используется в аэро- и гидродинамике для излучения поля скоростей в потоках газов и жидкостей. [c.770]

С помощью описанных голографических пространственных фильтров решено большое количество технических задач по улучшению качества изображения повышению контраста, устранению дефокусировки. Одним из наиболее. эффективных применений метода явилось улучшение изображений в электронном микроскопе. Улучшенные изображения имели высокий контраст и разрешение, близкое к предельному. [c.53]

После первых работ Габора появились и первые результаты по созданию голографических микроскопов, в которых одна или обе ступени увеличения осуществлялись без помощи линз. Увеличение в таком безлинзовом микроскопе достигается путем применения на стадиях получения голограмм и восстановления волнового фронта источников излучения с различными длинами волн или при использовании пучков со сферическими волновыми фронтами, формируемыми с помощью фокусирующей оптики. [c.82]

Голографические интерференционные микроскопы нашли применение для исследования самых разнообразных объектов — оптических волокон, оптических линзовых растров, искусственных кристаллов для оптики, пятен масла, биомедицинских объектов, а также для изучения процессов деления клеток, роста кристаллов и т. п. [c.86]

Яа втором этапе (1983 - 1985 гг.) керамические стержни для производства лопаток с циклонно-вихревой системой охлаждения (см. рис. 114, а) были испытаны на основе составов А и Н (табл. 118). Однако на первоначальной стадии указанные составы неудовлетворительно прессовались. Стержневые заготовки имели микротрещины по тонким местам толщиной 0,6 - 0,8 мм. После механической доводки пресс-форм и ведения визуального контроля стержней с применением микроскопа (X. 4-7) добились качественного прессования стержневой массы. [c.449]

Применение электронной микроскопии и изучение реплик позволили получить более полное представление [c.117]

Микроскопы находят применение при контроле интегральных схем и других прецизионных изделий. Наиболее широко применяют стереомикроскопы, их выпускают в двух модификациях, соответствующих схемах Грену и Аббе. [c.83]

Элементы качественного и количественного анализов геометрии пор с применением оптической микроскопии даны в монографии [15]. Используя приемы стереоскопической металлографии [129], можно вычислять удельную поверхность крупных пор, число сферических пор в единице объема, среднее расстояние между порами средний реальный диаметр сферических пор и др. [c.80]

Имеется много работ, в которых применение растрового микроскопа позволило получить ценную информацию о структуре покрытий. Изучались шлифы и изломы детонационных покрытий. Показано, в частности, исключительно плотное прилегание первого слоя покрытия (толщиной меньше 15 мкм) к поверхности основного металла [15]. В результате параллельных исследований на сканирующем микроскопе и микрозонде образцов с детонационными слоями и целыми покрытиями из твердых сплавов было отмечено, что в приграничных участках со стороны покрытий образуются зоны тонкодисперсной смеси размером 15 мкм, при напылении формируется поверхностная граница распада со своеобразным анкерным зацеплением [258]. В Институте машиноведения АН СССР проводился фрактографический диализ структуры детонационного покрытия из окиси алюминия на поверхностях косого шлифа и излома [259]. Кинетику развития усталостной трещины в образцах с плазменными покрытиями изучали по снимкам поверхности излома [61]. [c.180]

Особый интерес с точки зрения механизма формирования сферических частиц представляет анализ их структуры и состава [88-90]. Применение методов микро-рентгено-спектрального анализа на растровом электронном микроскопе показало, что частицы не имеют никаких особенностей по сравнению с основным материалом в виде избытков легирующих элементов. Измерение микротвердости частиц размером около 10 мкм покат зало, что она более чем в 1,5 раза выше, чем у основного материала. Последнее обусловлено процессом обкатки частиц и их упрочнением. [c.156]

Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119]. [c.85]

Итак, дисло кации были вначале (20-е годы) придуманы для объяснения различия между теоретической и фактической прочностью металлов в 50-е годы в связи с применением электронного микроскопа дислокации были обнарул<ены металлографически так, например, на рис. 44 представлена, по-видимому, первая электронная фотография, где видна экстраплоскость, край которой является дислО кацией. [c.66]

Основные типы и области применения а) штангенянструмен-тов б) микрометрических инструментов в) рычажно-механических инструментов г) рычажно-оптических инструментов д) инструментальных микроскопов. [c.73]

При электронно-лучевой сварке возможно получение швов малых размеров и эти прецизионные швы широко используют- ся в конструкциях раличных радиоэлектронных схем и устройств, где часто процесс сварки приходится вести с применением микроскопа. [c.114]

Значение предложенного Аббе метода оценки разрешающей силы микроскопа заключается также в том, что он открывает дополнительную возможность его применения любой волнистый рельеф можно рассматривать как некоторую фа.ювую решетку. Для наблюдения ее изображения нужно превратить такую фазовую решетку з амплитудную, т.е п систему светлых и темных полос. В теории фазовой решетки доказывается, что это можно сделать, если уменьшить или увеличить на п/2 разность фаз между волнами, ответственными за нулевой спектр и спектры высших порядков. Цернике указал, что для этого достаточно внести тонкую стеклянную пластинку в фокальную плоскость объектива микроскопа. На область в центре такой пластинки, где локализован максимум нулевого порядка, наносится тонкий прозрачный слой, который изменяет на п/2 фазу волны, распространяющейся в направлении только этого спектра. Для осуществления такого изменения фазы глой вещества с показателем преломления п должен иметь толщину ./4(п — 1). Этот метод, получивший название фазового контраста, позволяет исследовать очень нечеткие структуры и играет большую роль в различных приложениях. [c.344]

Принцип измерения диаметра звезд был применен (Зигмонди) также для измерения субмикроскоиических частиц, размер которых не позволяет непосредственно различать их в микроскоп. И в этом случае диафрагма с двумя щелями, вырезающая пучки лучей, поступающие от наблюдаемой частицы в объектив микроскопа, создает в поле зрения дифракционную картину, так что частицы представляются в виде светлых полосок, параллельных линии, соединяющей щели, и испещренных максимумами. Раздвигая щели, добиваемся исчезновения дифракционных максимумов и таким образом определяем поперечник частицы, параллельный линии О. Поворачивая диафрагму, можно найти размеры частицы во всех направлениях. [c.198]

Для повышения разрешающей способности микроскопа выгодно применение более коротких волн (ультрасриолет) и увеличение [c.354]

Применение ультрафиолетовых лучей, требующее изготовления оптики микроскопа из соответствующих материалов (кварц, флюорит) или использования отражательной оптики, ограничено длинами волн 250—200 нм, ибо большинство объектов, подлежаш,их наблюдению, сильно поглощает короткий ультрафиолет. Таким обра.зом, на этом пути возможно увеличение разрешающей силы примерно в два раза, что и осуществлено в современных ультрафиолетовых микроскопах, причем, конечно, необходимо применять фотографический метод наблюдения. [c.357]

О преимуществах схемы прямой регистрации уже говорилось, к недостаткам ее можно отнести высокие требования к разрешающей способности регистрирующей среды и сильное влияние пятнистой структуры (спек.л-структуры) на качество изображения. В голографической схеме, использующей микрообъективы для создания увеличенно1 о изображения предмета, требования к разрешающей способности минимальны, пятнистая структура мало влияет на изображение, но поле зрения и глубина регистрируемого пространства определяются свойствами применяемого микрообъектива и оказываются весьма мaJ ыми. Таким образом, обе описанные схемы [ологра-фического микроскопа обладают существенными недостатками, ограничивающими возможностг. их применения при микроскопических исследованиях. [c.85]

Наиболее интересные и перспективные возможности при изучении прозрачных микрообьективов открывает применение в микроскопии методов голографической интерферометрии. [c.85]

Визуальный контроль основных материалов, сварных соединений и изделий проводится невооруженным глазом и с применением оптических приборов (луп, микроскопов, визуально-оптических приборов — цистоскопов, эндоскопов, бароскопов, флексоскопов, биноклей, перископических дефектоскопов, зеркал, зрительных труб и др.). [c.140]

Для примера на рис. 13.6 показаны фотографии (полученные с помощью электронного микроскопа) обычного химического фильтра со средним размером пор 0,45 мкм (рис. 13.6, а) и ядерного фильтра с размером пор 0,4 мкм (pif . 13.6, б). Как видно из рисунка, качество ядерного фильтра намного выше химического. Применение ядерных фильтров исключительно многообразно. Очистка газов, воды, сортировка микропримесей по размерам, изучение размеров и формы типов клеток крови, стерилизация биологических сред, фильтрация и разделение различных типов вирусов и молекул, очистка пива и вина — вот далеко не полный перечень. [c.658]

РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ, использующая тот же эффект дпфракциопиого контраста, что и просвечивающая электронная микроскопия, также позволяет наблюдать отдельные дислокации. Но из-за малой разрешающей способности она применима лишь к монокристаллам с плотностью дислокаций не выше 10 — 10 см . Поэтому этот метод не может сколько-нибудь широко использоваться для изучения дислокационной структуры металлов и сплавов. Основная область применения метода — анализ дислокационной структуры совершенных монокристаллов полупроводников (кремний, германий и др.). [c.99]

Характеристики сверхпроводя-. щих материалов тесно связаны с технологией и конструкцией изготовляемых проводов и подвержены заметным изменениям при переходных режимах в условиях эксплуатации. Сверхпроводящие материалы широко используются прежде всего для сооружения соленоидов, обеспечивающих создание очень сильных магнитных полей порядка 10 ajm. Рассматривается возможность применения сверхироводниковых магнитов для фокусировки потока частиц высоких энергий, при исследованиях термоядерных. процессов, для магнитных линз электронных микроскопов, для двигательных установок космических кораблей и т. п. Сочетание молекулярной и сверхнроводннковой электроники открывает перспективу создания вычислительных машин с колоссальным объемом информации. [c.280]

Угловая разрешающая способность глаза (т. е. минимальный угол между деталями изображения, которые он различает) равна Г при расстоянии до объекта I = 250 мм и соблюдении указанных выше условий. Линейное разрешение в плоскости ОК е = loL Л1 яй 250-0,0003 0,08 мм. Частотноконтрастная характеристика (ЧКХ) глаза имеет максимум при угловом размере объекта а 1° и спад в областях как низких, так и высоких пространственных частот. Использование увеличивающей ошики (лува, микроскоп) повышает разрешение в число раз, равное увеличению прибора. Применение микроскопов обеспечивает разрешение e ss 1. .. 5 мкм. [c.51]

Минимально обнаруживаемый дефект достигает порядка 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в 4 раза по сравнению со стеклянным зеркалом. Возможно контролирование поверхности ма 1ериала, двигающегося со скоростью свы1не 15 м/с. Сканирующие лазерные системы бегущего луча могут также использоваться для получения изображения объектов контроля. Схема лазерного сканирующего инфракрасного микроскопа для контроля внутренних дефектов полупроводниковых материалов с механическим сканированием объекта контроля и неподвижным лучом лазера отличается низким быстродействием, но имеет высокую разрешающую способность. Схема с системой сканирующих зеркал отличается большим быстродействием (до 50 кад/с при 200—400 строках разложения телевизионного изображения), однако наличие полевых аберраций оптической системы приводит в этом случае к снижению пространственного разрешения. [c.96]

Использование когерентного излучения позволило создать принципиально новый метод проекционной микроскопии, основанный на применении квантовых усилителей света. Объект с помощью объектива освещается монохроматическим светом от лазера на парах меди. Отраженный от объекта свет проходит активную среду, усилн-вается и проектируется на экран. Когерентные микроскопы обеспечивают высокое пространственное разрешение (1 мкм при увеличении порядка 1000— 1500 при яркости изображения, недоступного обычным световым микроскопам). Особенностью микроскопа являются возможность фокусировки мощного лазерного излучения на любом элементе объекта и возможность осуществлять его коррекцию (напрн- [c.96]

Особенности применения определили конструктивные особенности теплови-зионных микроскопов. Как правило, это настольные приборы, а объект исследования располагается горизонтально. Фокусировка осуществляется перемещением самого объекта, изменение увеличения — заменой части или всего объектива. Близки по конструкции и назначению к тепловизионным микроскопам ИК микрорадиометры. Оптико-механическое сканирование части объекта осуществляется перемещением столика с установленным на нем исследуемым, объектом. Скорости сканирования, как правило, медленные — от десятков секунд до нескольких минут. [c.139]

Плавкостные характеристики золы определяются по ГОСТ 2057-82 с визуальным наблюдением образцов золы. Используются образцы золы в виде трехгранных пирамидок или цилиндриков (в случае применения высокотемпературного микроскопа). Плавкостные характеристики золы определяются температурой спекания ts, при которой изменяются первоначальные размеры образца без изменения геометрической формы (определяется только при применении высокотемпературного микроскопа) температурой начала деформации котррая устанавливается по изменению поверхности образца, закручиванию кромок, вспучиванию или наклону вершины температурой плавления или полусферы ta, при которой образец оплавляется, принимая форму полусферы температурой жидкоплавкого состояния t , при которой образец растекается и его высота становится менее половины высоты полусферы при температуре в- [c.16]

Поверхность образца можно наблюдать с помощью оптической системы (фото 2), которая при применении иммерсионной оптики обеспечивает 1400-кратное увеличение. Микроскоп закрепляется на координатном столике. Это позволяет проводить наблюдение и необходимые замеры без снятия образца с установки. Для фотографирования используется фотонасадка. Для испытаний применяются плоские образцы 70x10x3 мм. [c.36]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...