Микроскопы Линника характеристики

Техническая характеристика 140 Микроскопы Линника 72, 76 [c.483]

Профилометр типа Аббота не применяется для оценки грубых поверхностей (расстояние между неровностями более 0,3 мм об) из-за ог-раничениостичастотной характеристики усилителя. Двойной микроскоп Линника непригоден для оценки шлифованных и доведённых поверхностей, так как может измерять высоту неровностей не менее 1—2 Микроинтерферометр Линника способен оценивать лишь тонко обработанные поверхности от 8-го до 14-го класса (см. табл. 17). [c.23]

Укажите краткие характеристики и принцип действия профилографа ИЗП-5 системы Б. М. Левина и двойного микроскопа МИС-11 систелш В. П. Линника. [c.398]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...