Линза

В псевдоожиженном слое крупных частиц практически обоснованно предполагать, что температурный перепад между поверхностью теплообмена и ядром слоя сосредоточен в основном на первом от поверхности ряде частиц. Можно также считать, что от поверхности к частице тепло передается теплопроводностью через газовую линзу, образованную поверхностями, теплообмена и частицы и условно ограниченную цилиндрической поверхностью диаметром, равным с1ц (для упрощения расчетов, как и ранее, частицу принимаем в виде цилиндра диаметром йц, а газовую прослойку — в виде диска того же диаметра и по объему, равному линзе), т. е. рассматривается задача по прогреву пакета из двух пластин (газ и частица) толщиной б и R = d соответственно с одинаковой начальной температурой to поверхность одной стороны пакета мгновенно приобретает температуру /ст, которая поддерживается постоянной, температура поверхности противоположной стороны также постоянна в про- [c.95]

Системы линз, расположенные около шлифа и глаза наблюдателя. [c.37]

При температурах горячей обработки (800—1200 С) сульфид марганца пластичен и под действием внешних сил вытягивается в продолговатые линзы (рис. 154,е). [c.187]

Взаимодействие фотонов с возбужденными атомами дает лавинообразные потоки фотонов в различных направлениях. Наличие торцовых зеркальных [юверхностей рубинового стержня приводит к тому что при многократном отражении усиливаются свободные световые колебания в направлении оси стержня рубина вследствие стимулирования возбужденными атомами. Спустя 0,5 мс более половины атомов хрома приходит в возбужденное состояние, и система становится неустойчивой. Вся запасенная энергия в стержне рубина одновременно высвобождается, и кристалл испускает ослепительный яркий красный свет. Лучи света имеют высокую направленность. Расходимость луча обычно не превышает О, Г. Системой оптических линз луч фокусируется на поверхности обрабатываемой заготовки (рис. 7.15). [c.414]

В оптико-механических устройствах используется подвижная координатная система. Регистрирующий орган — визир в виде линзы с перекрестием — перемещается по рабочему полю с помощью двух кареток. С визиром связан вращающийся диск с прорезями. Фотоэлектрический датчик вырабатывает импульсы, число которых пропорционально перемещению визира. Количество импульсов, соответствующих перемещению по координатам X м у, подсчитывается счетчиками. По окончании движения каретки коды, зафиксированные в счетчиках, будут соответствовать значениям координат. Рассматриваемые устройства обеспечивают точность измерения координат 0,25.,.0,4 мм. К их недостаткам относится сложность механических узлов. [c.53]

В оптико-механическую систему 5 входит зеркало 10 для поворота луча лазера 12 на 90°, линза 13 с фокусным расстоянием 254 мм, линза 14 с фокусным расстоянием 12 мм, линза 15 с фокусным расстоянием 63 мм датчик 16 системы слежения механический привод И системы слежения. [c.301]

Принцип действия оптического пирометра с исчезающей нитью прост и иллюстрируется на рис. 7.30 а. Линза объектива формирует изображение источника, температура которого измеряется в плоскости раскаленной нити миниатюрной лампы. Наблюдатель через окуляр и красный стеклянный фильтр видит нить и совмещенное изображение источника. Ток через лампу регулируют до тех пор, пока визуальная яркость нити не станет точно такой же, как яркость изображения источника. Если оптическая система сконструирована правильно, в этот момент нить на изображении источника исчезает. Пирометр градуируется в значениях тока, проходящего через миниатюрную лампу. Так как детектором равенства яркостей является глаз человека, то доступная непосредственно для измерений область температур ограничена с одной стороны границей приемлемой яркости, с другой — яркостью, слишком слабой для наблюдения. Нижний предел зависит от апертуры оптической системы и составляет примерно 700°С, верхний предел равен примерно 1250°С. Для измерения более высоких температур между линзой объектива и нитью помещается нейтральный стеклянный фильтр (С на рис. 7.30а), понижающий яркость изображения источников. Плотность фильтра выбирается такой, чтобы обеспечить небольшое перекрытие областей. Например, току лампы, эквивалентному, скажем 700 °С на шкале без фильтра, на следующей шкале, с фильтром, будет соответствовать температура 1100°С. Таким образом, с помощью одного прибора температурные измерения могут быть расширены до любой желаемой максимальной температуры. Коэффициент пропускания фильтра т, который требуется для того, чтобы понизить яркость источника от температуры Т до температуры, например точки золота Гди, можно найти, используя приближение Вина, по формуле [c.365]

Рис. 7.30а. Схема оптического пирометра НБЭ с исчезающей нитью. А — линза объектива В — апертурная диафрагма (А на рис. 7.306) С — нейтральный фильтр О — пирометрическая лампа с вольфрамовой нитью Е — красное стекло Е — линза окуляра О — выходная диафрагма (С на рис. 7.306) [49].

Рис. 7.32а. Фотоэлектрический пирометр с преломляющей оптической системой [44]. / — источник 2 2 — диафрагма 3 — галогенная вольфрамовая лампа 4 — полевая диафрагма 5 —линза 6 — коллимированный источник 7—поглощающие фильтры 8 — интерференционные фильтры 9 — фотоумножитель 10 — карусель // — поглощающий фильтр 12 — ограничивающая диафрагма 13 — затвор 14 — прицельный телескоп 15 — линза объектива 16 — источник 1.

При оценке погрешностей фотоэлектрической пирометрии было найдено, что имеются источники погрешностей, связанные со способа.ми взаимодействия оптической системы и источника. Погрешности этой категории исследовать довольно трудно, так как они часто являются результатом сложных комбинаций различных эффектов. Один из наиболее важных эффектов такого рода связан с размером наблюдаемого источника и распределением яркости за пределами геометрически наблюдаемой площади. Для объекта конечного размера, находящегося в плоскости источника, поток излучения, прошедший плоскость диафрагмы, из-за дифракции меньше потока, который должен иметь место в соответствии с геометрической оптикой. Чтобы эти потери свести к нулю, нужно было бы увеличить размер источника так, чтобы в отверстии диафрагмы он стягивал угол 2л стерадиан. Таким образом, если пирометр измеряет по очереди два источника с разными размерами, сравнение будет содержать погрешность, обусловленную дифракцией. Дополнительная погрешность возникает в результате рассеяния на линзах объектива или на зеркале. Она также будет зависеть от размера источника, так как рассеяние пропорционально освещенности элементов объектива. [c.379]

Для оптического прибора выходные параметры — сферическая аберрация, кома, астигматизм, хроматизм положения, фокусное расстояние системы внутренние параметры — радиусы поверхностей линз и расстояния между ними [c.22]

При использовании метода помутнения зеркала, применяемого в гигрометре ВГ-2 (КуАИ), охлаждаемый элемент (рис. 6.11,а) выполнялся в виде медного стержня 14, к торцевой поверхности которого была припаяна тонкая железная пластинка с хромированной зеркальной плоской поверхностью. Термопара 15 заделывалась под железную пластинку. Световой луч от лампочки 2 падает на зеркальную поверхность, отражается от нее и, пройдя через линзу 10, подается на фотоэлемент 9. В момент выпадения конденсата зеркальная поверхность излучит диффузию, что и зарегистрируется фотоэлементом и электронным индикаторным устройством, а по показанию соединенного с термопарой измерительного прибора фиксируется температура точки росы. В гигрометре ВГ-1 применен способ утечки тока. В этом варианте охлаждаемый элемент (рис. 6.11,6) изготавливается из металлической трубки 16, запаянной с одного торца и металлического стер- [c.298]

Газопроницаемая стенка из полупрозрачного тугоплавкого материала, расположенная в фокусе параболоидного концентратора солнечной энергии, может быть использована в качестве высокотемпературного источника теплоты, в частности, для непосредственного нагрева рабочего тела в ракетных двигателях [7]. Концентрированное солнечное излучение, проходящее через прозрачную кварцевую линзу 1 (рис. 1.7), погло-10 [c.10]

Все упомянутые выше процессы сводятся к двум основным вариантам (рис. 3.12) в зависимости от соотношения между направлениями потоков теплоносителя и падающего излучения. Противоточная схема (тепловой экран с транспирацией) соответствует задачам пористого охлаждения, прямоточная - теплообмену в объемных гелиоприемниках. Отличительной особенностью последних является возможность нагрева газа в матрице до очень высокой температуры, существенно превышающей допустимую температуру прозрачной линзы, сквозь которую предварительно проходит излучение. Подаваемый холодный газ охлаждает прозрачную линзу, после этого он нагревается по мере течения сквозь пористый слой и максимальная температура достигается на выходе из него. При этом входные, менее нагретые слои матрицы частично экранируют собственное излучение от внутренних,бол ее нагретых, [c.60]

Для увеличения плотности энергии в луче после выхода электронов из первого анода электроны фокусируются магнитным полем в специальной магнитной линзе 4. Сфокусированные в плотный пучок летящие электроны ударяются с большой скоростью о малую, резко ограниченную площадку (пятно нагрева) на изделии 6, при этом кинетическая энергия электронов, вследствие торможения превращается в теплоту, нагревая металл до очень высоких температур. Для перемещения,луча по свариваемому изделию на пути электронов помещают магнитную отклоняющую систему 5, позволяющую устанавливать луч точно по линии стыка. [c.16]

В системах, используемых для сварки световым лучом, концентрация энергии в пятне нагрева достигает 10 Вт/см и может быть увеличена при применении специальных линз и отражателей. Принципиальная схема оптических систем для сварки и пайки приведена на рис. 12. [c.18]

Создавая при помощи специальной магнитной системы (магнитной линзы) по оси электронного луча магнитное поле определенной формы, можно обеспечить сходимость траекторий электронов в одной точке (фокусировку) и изменять ее в широких пределах. При этом изменяется концентрация энергии на обрабатываемом изделии, что представляет значительный интерес с технологической точки зрения. [c.111]

Магнитная линза 111 Магнитное дутье 82 Макроструктура 447 [c.553]

I — насос жидкого хладоагента 2 — стол с образцами для испытаний 3 — форвакуумный насос 4 — азотная ловушка 5 — масляный диффузионный насос 6 — генератор водородных ионов 7 — собирающая линза 8 — сепаратор электронов 9 — электромагнитный сепаратор для ускорения пучка протонов 10 — монохроматор II — интегрирующая сфера 12 — источник ультрафиолетовой радиации 13 — штанга для подъема образцов после облучения [c.182]

Для ввода графической информации в ЭВМ используются два типа устройств световое перо и планшет. Световое перо направляется в ту или иную точку экрана дисплея (точнее, малый участок экрана) и происходит следующее. Свет от поверхности экрана, куда направлено перо, через узкое отверстие и фокусирующую линзу попадает на фотоэлемент, который генерирует сигнал, пропорциональный интенсивности и цвету освещения указываемого участка. Этот сигнал через аналого-цифровой преобразователь (АЦП) подается в ЭВМ, после чего действующая программа прерывается и начинается процесс идентификации точки, указанной [c.173]

Поскольку в оптических приборах свету всегда приходится проходить через систему линз и призм, то нужно считаться с ослаблением интенсивности прошедшего света за счет отражения от поверхностей. В случае нормального падения света, как следует из формулы (3.16), коэффициент отражения (отношение интенсивности отраженного света к интенсивности падающего) определяется следующим образом [c.52]

Точечный источник S расположен в фокусе (рис. 4.6) двояковыпуклой линзы Л. Исходящие из линзы лучи света (на рис. 4.6 изображен один луч) попадают в интерферометр Майкельсона, состоящий из двух зеркал и полупрозрачной пластины. Луч, исхо- [c.77]

Параметры электронного луча, соответствующие технологическому процессу сварки, определяют основные требования к конструкции электронной пушки (табл. 34). В сварочных установках электронная пушка состоит из следующих основных э.гсементов катод—источник электронов анод — электрод с отверстием в середине для пропускания луча к изделию, подключенный к положительному полюсу силового выпрямителя фокусирующий ири-катодныл. . .летстрод (модулятор), регулирующий силу тока в луче фокусирующая магнитная линза отклоняющая магнитная система. [c.159]

Плотность тока в луче можно регулировать, меняя его диаметр на изделии без изменения величины общего тока, с номондью магнитной линзы. Такая линза представляет собой катушку с тот ом, ось которой совпадает с осью луча. Для повынюния эффективности работы ее помещают в ферромагнитный экран. В этом случае магнитное поле концентрируется в узком немагнитном зазоре. Фокусное расстояние липзы (/, см) — расстояние от середины этого зазора д,о минимального сечения прошедшего сквозь линзу пучка — [c.160]

Источником света в таких установках служит либо мощная дуговая ламна вь[сокого давления, либо квантовый генератор. С помощью зеркал и оптических линз свет poKy npyeT fr па свариваемом изделии в пятно диаметром от 2—3 мм до 20—50 мкм. [c.165]

Неметаллические включения, оксиды и сульфиды в процессе деформации располагаются или в виде разорванных строчек (оксиды), или в виде продолговатых линз (сульфиды) (рис. 155), ориентированных вдоль направления прокатки. Эти включения служат центрами кристаллизации феррита, в результате образуется полосчатая феррито-перлитиая структура (рис. 154,в) [c.190]

Схема установки для электронно-лучевой обработки (электронная пушка) показана на рис. 7.14. В вакуумной камере 1 установки вольфрамовый катод И, питаемый от исючкика тока, обеспечивает эмиссию свободных электронов. Электроны формируются в пучок специальным электродом и под действием электрического поля, создаваемого высокой разностью потенциалов между катодом И анодом 10, ускоряются в осевом направлении. Луч электронов проходит систему юстировки 9, диафрагму 8, корректор изображения 7 и систему магнитных линз 6, которые окончательно [c.413]

I — источник тока Р — батарея конденсаторов д — корпус 4 — импульси 1Я лампа 5 —пусковое устройство 6 — рубин 7 — линзы 8 — з шотовка [c.414]

Примеры применения коник в технике рис. 3.71 —овальное зубчатое колесо, делительная линия зубьев которого является эллипсом, линия же выступов и впадин зубьев — ветви эквидис-танты эллипса (алгебраической кривой восьмого порядка) рис. 3.72 — трубка кинескопа ГОСТ 10413—84) рис. 3.73 — линза (ГОСТ 9507—82). [c.77]

Для фокусирования электронного луча в электронгюй пушке обычно используется система диафрагм и магнитных линз. Магнитная линза 4 представляет собой соленоид с магнитопроводом, создающий специальной формы магнитное поле, которое при взаимодействии с электроном изменяет его траекторию и искривляет ее в направлении к оси системы. При этом можно добиться сходимости электронов на достаточно малой площади поверхности и в фокусе электронный луч может обладать весьма высокой плотностью энергии, достигающей 5-10 Bт/мм . Такая плотность энергии достаточна для осуществления целого ряда технологических процессов, причем в результате измене ния фокусировки она может быть плавно изменена до минимальных значений. [c.108]

Создание волновой теории света и усовершествования технологии изготовления оптических линз, стекол и зеркал позволили создать целый ряд разнообразных оптических приборов. Была установлена принципиальная возможность фокусирования светового потока на относительно небольших поверхностях и создания удельных плотностей энергии, достаточных для разогрева и плав- [c.114]

Поскольку применение энергии света для тех или иных технологических процессов связано с фокусировкой луча, поли-хроматичность играет в данном случае отрицательную роль. Полихроматический свет при прохождении через линзу фокусируется в виде пятна довольно значительных размеров, так как волны разной длины по-разному преломляются при прохождении через стекло. Это явление носит название хроматической аберрации и значительно ограничивает возможности обычных полихроматических источников. [c.116]

По законам дифракции наименьший размер сфокусированного пятна равен длине волны X и для оптического диапазона составляет размер порядка 1 мкм. Полихроматичность увеличивает размер до сотен и тысяч микрометров, в результате чего максимальная концентрация энергии в пятне нагрева в данном случае не превышает 10 Вт/мм , что соизмеримо с нагревом пламенем горелки и на 4...5 порядков меньше, чем для монохроматического луча лазера. Кроме того, фокусировка ухудшается в связи с тем, что применяющиеся фокусирующие линзы и фокусирующие зеркала со сферическими поверхностями имеют отклонения от требуемой для точной фокусировки геометрии поверхности. Ухудшает фокусировку и то, что светящееся тело обычно имеет конечные размеры и проецируется в виде определенной геометрической фигуры. [c.116]

Внешний вид и оптическая схема оптиметров со шкалой, проецируемой на экран, приведены на рнс. 5,8. Луч Beia от источника 1 через конденсор 2, теплофильтр 3, линзу 4 и призму 5 освещает нанесенную на пластине 6 шкалу с 200-.мн ( 100) делениями. Через зеркало 7, объектив 8 и зеркало 9 шкала проецируется на поворотное зеркало W, связанное с измерительным наконечником ИН. Отразившись от зеркала 10, изображение шкалы снова проецируется на другую половину пластины 6 с нанесенным неподвижным штрихом-указателем. С помощью объектива 13 и зеркал 12, 11 14 изображение шкалы с указателем проецируется на экран 15. Даже при больших передаточных отношениях прибор весьма компактный. Согласно ГОСТ 5405—75 выпускают оптиметры с окулярол (тип ОВО) или проекционным (тип ОВЭ) экраном для вертикальных или горизонтальных измерений. Диапазон показаний шкал трубок оптиметров 0,1 или 0,025 мм, пределы измерений О—180 мм (у горизонтальных О—350 мм), измерительное усилие 0,5—2,0 Н, погрешность измерений от 0,07 до +0,3 мкм. Малые диапазоны показаний по шкалам позволяют применять оптиметры в основном для сравнительных измерений с использованием концевых мер длины (см. рис. 5.1). [c.121]

Для восприятия лучистой энергии используют различные приемники термобатареи, болометры, термисторы II т. д. Спаи термопар, чувствительные элементы болометров и термисторов хорошо зачернены с целью создания неселективности термоприемников в широком диапазоне длин волн. Однако следует заметить, что к данным, полученным радиационным методом, следует относиться с осторожностью. Необходимо учитывать, что для увеличения чувствительности метода применяют линзы и другие фокусирующие устройства кроме того, часто используют радиационные пирометры. Использование оптических элементов приводит к тому, что приемник воспринимает излучение неполно и в ограниченной области спектра. Поэтому, как оправедливо отмечено в [131], использование пределов интегрирования, показанных в формуле (6-69), не правомерно. В этом случае степень черноты интегральна лишь в пределах полосы пропускания оптической системы, т. е. [c.164]

Оптика (1977) -- [ c.179 ]

Физика. Справочные материалы (1991) -- [ c.269 ]

Оптика (1976) -- [ c.288 ]

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий (1976) -- [ c.198 ]

Техническая энциклопедия Том17 (1932) -- [ c.0 ]

Краткий справочник по физике (2002) -- [ c.0 ]

Колебания и волны Введение в акустику, радиофизику и оптику Изд.2 (1959) -- [ c.374 ]

Справочное руководство по физике (0) -- [ c.0 , c.352 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...