Метод большой сферической линзы

Метод больших цилиндрических линз предложен Д. Джоном. Этот метод отличается от метода большой линзы тем, что вместо сферических используют большие цилиндрические линзы (рис. 87, а). [c.147]

В монографии изложены численно-аналитические методы и результаты решения для большого круга неклассических пространственных задач механики контактных взаимодействий упругих тел (в рамках линейной теории упругости). Рассмотрены тела полуограниченных размеров (полупространство, слой, цилиндр, пространство с цилиндрической полостью, клин, конус, полупространство со сферической выемкой или выступом, пространство с шаровой полостью), а также тела ограниченных размеров (круглая плита, шаровой слой и сектор шарового слоя, сферическая линза, шар). [c.3]

Метод фокального пятна состоит в том, что преобразование поля ближней зоны идеальной положительной линзой приводит к образованию в ее фокальной плоскости амплитудного распределения интенсивности излучения, совпадающего с распределением поля в дальней зоне. Плоский фронт волны преобразуется идеальной линзой в сферический, сходящийся в фокусе. Вблизи фокальной плоскости образуется пятно радиусом а. Расходимость определится из соотношения 0 = 2а//, где / — фокусное расстояние линзы. Пятно минимального радиуса находится не в фокальной плоскости. В этом методе рекомендуется использовать длиннофокусные линзы с большей апертурой. Таким образом, измерение расходимости этим методом сводится к точному измерению радиуса а фокального пятна. Существует несколько способов его определения. [c.102]

На рис. 58 показана схема съемки кинофильма с трехмерным изображением, полученным растровым методом в некогерентном свете на цветную кинопленку обычной структуры. При этом регистрируется множество ракурсов изображения только по горизонтали. На этой схеме свет, отраженный от объекта /, проходит через киносъемочный объектив 2, имеющий большую ширину и малую высоту зрачка и содержащий как сферические, так и цилиндрические линзы, благодаря чему он имеет более длинное фокусное расстояние по горизонтали, чем по вертикали. [c.115]

Таким образом, в новом методе уже не нужно исправлять сферическую аберрацию электронных линз. Размер отверстия может быть намного больше величины предельно допустимой в обычной электронной микроскопии. Для достижения некоторого определенного разрешения необходимо только воспроизвести аберрации с той же самой точностью, с которой они должны быть исправлены. Таким образом, трудности переносятся из области электронной оптики в область световой, где могут быть изготовлены преломляющие поверхности любой формы без ограничений, накладываемых в электронной оптике теорией электромагнитного поля. От электроннооптической части схемы мы требуем лишь определенной умеренной стабильности в работе, достаточной для того, чтобы избежать слишком частой юстировки оптической системы. [c.222]

В последние годы в машиностроении и приборостроении большое развитие получил автоколлимационный метод контроля. Контроль взаимного расположения отражающих плоскостей оптических деталей, клиновидности, центрировки линз, радиусов кривизны сферических поверхностей, фокусных расстояний линз, контроль асферических поверхностей, взаимного расположения плоскостей в пространстве, точности изготовления геометрических форм, сопряжения плоскостей — такова далеко неполная сфера применения автоколлимационного метода контроля. [c.3]

После довольно длительного периода использования эмпирических методов изготовления первых нашедших применение оптических приборов луп, очковых стекол, зрительных труб и микроскопов — начались попытки перехода к более обоснованным методам, опирающимся иа знание законов преломления и отражения. Неудивительно, что Декарт, сформулировавший впервые точные законы преломления и отражения, стал первым оптиком-конструктором, указавшим на наличие сферической аберрации линз и показавшим, как ее исправлять. Ньютон, открывший дисперсию и хроматическую аберрацию линз, дал и формулы для оценки последней, которые значительно позже позволили Дол-лонду создать первые ахроматы. Эйлер написал большой трактат [c.334]

Уровень развития оптических систем микроскопов определяется главным образом двумя основными условиями состоянием производства новых оптических сред и методами расчета оптических систем. Удовлетворить возросшие требования к оптике микроскопов в отношении улучшения целого ряда их оптических характеристик (числовой апертуры, поля зрения, разрешающей способности, контраста, уменьшения габаритных размеров и т. д.) можно различными путями. Можно, например, усложнить оптическую систему, увеличивая число линз, или заменить сферические поверхности несферическими. Первый путь ведет к большим потерям света вследствие отражения, а также к значительному количеству рефлексов и потере контраста в изображении. Второй путь приводит к такому усложнению производства, что в настоящее время еще нельзя рассчитывать на серьезные успехи несферической оптики, по крайней мере, при массовом ее производстве. Остается еще один путь улучшения качества оптических систем — это рациональное применение новых марок стекол и кристаллов повышенной прозрачности, обладающих особыми дисперсионными свойствами. [c.48]

Для того чтобы с помощью синтезированных фильтров можно было обрабатывать изображения большой площади, они должны записываться с достаточно большой пространственной частотой. Для увеличения пространственной частоты фильтра в [192] был предложен метод голографического копирования. На рис. 7.15 приведена схема копирования фильтра для увеличения его пространственной несущей. Изображение, восстановленное с помощью линзы с синтезированного на ЦВМ фильтра — голограммы Г, освещенной плоской волной когерентного света, используется в качестве нового изображения для получения нового фильтра по классической схеме Ван дер Люгта [214]. При этом для формирования нового фильтра используется только изображение, восстановленное в +1 порядке дифракции, остальные дифракционныр порядки экранируются посредством диафрагмы Д. В качестве опорного источника можно использовать либо плоскую монохроматическую волну S, как показано на рис. 7.15, либо точечный источник со сферическим волновым фронтом, расположенный в одно11 плоскости с изображением, восстановленным с синтезированно11 голограммы-фильтра. При этом расстояние между источником и + 1 дифракционным порядком должно быть не меньше размера входного транспаранта в установке фильтрации. Это условие обеспечивает получение нового фильтра с большей пространственной частотой. Для случая плоской опорной волны, падающей в плоскость фильтра Ф, пространственная частота на фильтре зависит от угла падения Т опорной волны на фильтр. Чем больше угол, тем выше пространственная частота. Этот метод повышения пространственной несущей нашел применение для синтеза фильтров в различных задачах фильтрации [63, 112]. [c.154]

Контроль формы поверхностей. Простейшими примерами применепия интерференционных методов для технических целей является определение радиусов кривизны линз и испытание качества плоскопараллельных пластинок. Обычно радиусы кривизны линз определяются с помощью сферометра. При этом требуется измерить радиус сферического сегмента линзы и его стрелку. Погрешность измерения стрелки составляет 1ц. Эта точность вполне удовлетворяет требованиям, если радиусы кривизны поверхностей линз достаточно малы, что обусловливает большую стрелку сегмента. Однако существует ряд оптических приборов, в которых линзы имеют большие радиусы кривизны и соответственно малую стрелку сегмента, охватываемого стойками сферометра. Относительная точность измерений при этом сильно падает и становится неудовлетворительной. [c.700]

Для решения широкого класса задач астрономии, оптического приборостроения и оптической обработки тформадии необходимы высококачественные асферические поверхности, например, параболическая оптика для больших телескопов. Получение асферических поверхностей высокого качества зависит от разработки эффективных методов их аттестации [1-4]. Методы аттестации асферических поверхностей основаны на созданжи эталонных волновых фронтов, форма которых соответствует контролируемой поверхности. Сферические ж плоские водаовые фронты естественным образом формируются в классических оптических системах, состоящих из линз, призм, сферических зеркал, а также пробными стеклами. Создание эталонов волновых фронтов более сложной формы наталкивается на значительные трудности. [c.541]

Как видно из рис. 4.26, заимствованного из работы Блэка и Линфу-та [41], наличие аберраций существенно изменяет ОПФ. На рис. 4.26,а штриховой кривой представлена зависимость Г(ы) для линзы без аберраций. Остальные кривые соответствуют возникающей за счет сферических аберраций разности хода IX для различных положений приемной плоскости относительно гауссова фокуса. Следует Заметить, что наилучшее приближение ОПФ к идеальному случаю возможна при дефокусировке на —X. Существенной особенностью кривых на рис. 4.26,6 является реверсия фазы изображения, т. е. отрицательный знак ОПФ при большой дефокусировке. Более подробно метод Фурье в анализе изображений рассмотрен в работах [25, 26, 42, 43], а также к книге Мураты (1966), приведенной в библиографии к данной главе. [c.328]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...