Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Линзы Толщина

Тонкой называется линза, толщина которой значительно меньше радиусов ограничиваюш,их ее сферических поверхностей. Линза, которая в середине толще, чем у краев, называется выпуклой  [c.269]

Предварительные замечания. С изменением температуры происходят изменения показателей преломления стекол, радиусов кривизны поверхностей линз, толщин линз и воздушного промежутка между линзами из-за теплового расширения материала промежуточного кольца (рис. 41, гл. I). Показатель преломления стекла при температуре t° вычисляется по формуле  [c.200]


Величина сферической аберрации отдельной линзы в воздухе является функцией следующих параметров формы ( прогиба ) линзы увеличения, при котором работает линза толщины линзы показателя преломления.  [c.182]

В качестве модели мартенситного кристалла возьмем, как ив [2], двояковыпуклую линзу, толщина которой в центральной части Н, а радиус Я. Для имеем  [c.498]

Рассеивающая линза. Линзу, толщина которой возрастает от центра к периферии, называют рассеивающей (при условии, что это — стеклянная линза и находится она в воздухе). Если представлять себе линзу составленной из тонких призм (как мы делали для собирающей линзы), то вершина каждой мысленной призмы будет ближе к оси, чем основание, и лучи будут отклоняться от оси линзы (а не к оси, как это было в случае собирающей линзы). Параллельный пучок, пройдя через линзу, станет расходящимся, причем будет казаться, что он выходит из мнимого фокуса Р (рис. 9.30). Легко  [c.458]

В качестве примера рассмотрим тонкую линзу, ограниченную сферическими поверхностями с радиусами кривизны и / 2- Относительный показатель преломления линзы обозначим через п, приняв за единицу показатель преломления окружающего пространства. Пусть точечный предмет Р находится на главной оптической оси линзы. Толщиной линзы будем пренебрегать и поместим начало координат в ее центре. Обозначим через х абсциссу точки Р, через XI — абсциссу ее промежуточного изображения Рх, возникающего от преломления лучей на первой поверхности линзы. Абсциссу Хх можно найти с помощью формулы (10.2), если в ней сделать замену п ->1, п - п, х - Х1, Н Это дает  [c.73]

На основании данных табл. VI. 1 можно вычислить толщину линзы d в центре для случая положительных лииз по заданным радиусам кривизны г и г и диаметру отверстия D. Пусть L (рис. VI.1) —линза, толщина которой подлежит определению. Обозначая через а и а стрелки, т. е. высоты сегментов, соответствующие первой и второй поверхностям, для высоты имеем  [c.352]

На рис. 48 показана линза толщиной й с отмеченными значениями фокусных расстояний и и вершинных фокусных расстояний и s f. Найдем отрезки 5 и 5 , определяюш,ие положение главных плоскостей относительно вершин преломляющих поверхностей. Из рис. 48  [c.99]

Для облегчения изготовления и обеспечения надежного крепления между диаметром линзы толщиной по оси (1 и толщиной по краю должны выдерживаться следующие соотношения  [c.203]

В псевдоожиженном слое крупных частиц практически обоснованно предполагать, что температурный перепад между поверхностью теплообмена и ядром слоя сосредоточен в основном на первом от поверхности ряде частиц. Можно также считать, что от поверхности к частице тепло передается теплопроводностью через газовую линзу, образованную поверхностями, теплообмена и частицы и условно ограниченную цилиндрической поверхностью диаметром, равным с1ц (для упрощения расчетов, как и ранее, частицу принимаем в виде цилиндра диаметром йц, а газовую прослойку — в виде диска того же диаметра и по объему, равному линзе), т. е. рассматривается задача по прогреву пакета из двух пластин (газ и частица) толщиной б и R = d соответственно с одинаковой начальной температурой to поверхность одной стороны пакета мгновенно приобретает температуру /ст, которая поддерживается постоянной, температура поверхности противоположной стороны также постоянна в про-  [c.95]


Локализация интерференционной картины на поверхности пластинки. Интерференционная картина от пластинки переменной толщины наблюдается в том случае, если на экран с помощью линзы проектируется изображение верхней поверхности самой пластинки. Картина исчезла бы, если бы на экран проектировали изображение источника.  [c.89]

Не представляет большого труда доказать, что при удалении линзы от пластинки, т. е. при увеличении толщины воздушной прослойки, кольца Ньютона сжимаются и каждый раз при увеличении расстояния на полуволну одно из них пропадает.  [c.95]

Вывод формулы линзы без ограничения на ее толщину. Пользуясь рис. 7.14, можно вывести более общую формулу линзы, полностью эквивалентную формуле (7.17), без каких-либо ограничений  [c.182]

Если толщина линзы пренебрежимо мала, то можно считать, что главная оптическая ось пере-  [c.269]

Линза называется тонкой, если обе ее вершины можно считать совпадающими, т. е. если толщина линзы й мала по сравнению с Дх и Д2. радиусами кривизны ограничивающих поверхностей. На рис. 12.15 для ясности линза изображена толстой. В дальней-  [c.288]

Когда толщина линзы й. мала в сравнении с - 2. последний член в этом выражении можно отбросить, и мы приходим к формуле для тонкой линзы (см. 77). Если же й достаточно велика, фокусное расстояние линзы существенно зависит от ее толщины. В частности, можно, очевидно, подобрать условия, когда 1// = 0, т. е. толстая линза оказывается телескопической системой, увеличение которой определяется отношением Rl/R2.  [c.301]

Из формулы (92) следует, что, изменяя угол клина а, можно изменять ширину наблюдаемых интерференционных полос, которые при рассмотренном способе возникновения называют полосами равной толщины. Другой способ получения интерференционных полос, называемых полосами равного наклона, заключается в том, что параллельные световые пучки, падающие на плоскость под разными углами р , разделяют линзой и собирают в разных местах фокальной плоскости, причем каждой отдельной полосе соответствует определенная, зависящая от наклона разность хода А, а именно для воздушного промежутка  [c.89]

Микроскопический метод исследования с помощью светового потока. Направляя луч монохроматического света через специальную линзу микроскопа на отражающую плоскую поверхность металла под углом 45°, с помощью другой линзы можно наблюдать отраженное изображение. При неровной поверхности световые лучи отклоняются на величину, пропорциональную высоте неровностей поверхности. Таким образом, если с небольшой площади поверхности полностью удалить металлическое покрытие и направить на этот участок луч света, то отклонение луча даст абсолютную величину толщины покрытия. В случае прозрачных покрытий, т. е. неметаллических (таких, как чистые оксидные покрытия, образуемые анодным окислением алюминия), получают отражение от поверхности как покрытия, так и основного металла, без снятия покрытия. Данный метод не приводит к нарушению покрытия.  [c.140]

Гарднер и Свард [1] описали ряд приборов, применяемых для определения толщины невысохших пленок непосредственно после их нанесения, а также после высыхания покрытия. Для определения толщины невысохших пленок применяют прибор Пфунда и другие. Действие прибора Пфунда основано на погружении выпуклой линзы в пленку невысохшей краски с последующим измерением диаметра окрашенной поверхности линзы. Толщина мокрой пленки t выводится из соотношения между диаметром D окрашенной поверхности и радиусом кривизны R линзы и выражается величиной  [c.719]

Способ вывода четвертой матрицы не столь очевиден. В [96] для этого используется следующий прием толстый слой линзоподобной среды мысленно расчленяется на N одинаковых тонких слоев. Действие каждого из них на проходящий световой пучок эквивалентно в первом приближении действию сочетания слоя той же толщины IjN состоящего из однородной среды с = и линзы, толщина которой мала по сравнению с IjN г f = N1 (ri2l). Из последзоощих материалов данного параграфа мы увидим, что именно такая линза вносит разность хода — соответствую-  [c.11]


Во многих автомобилях плафоны потолочных и других ламп сделаны из найлона. Благодаря прочности найлона и возможности отливать из него тонкостенные детали, иа него изготовляют линзы толщиной около 0,6 м.ч, выдержн-  [c.118]

Рис. 9.3. Собирающая линза. Параллельные лучи от источников и фокусируются в точкеР, если оба источника совершают колебания с одной и той же фазовой постоянной. Расстояние от центра линзы до фокуса Р называется фокусным расстоянием линзы f (для линзы. толщина которой мала по сравнению с 1). Рис. 9.3. Собирающая линза. Параллельные лучи от источников и фокусируются в точкеР, если оба источника совершают колебания с одной и той же <a href="/info/321146">фазовой постоянной</a>. Расстояние от центра линзы до фокуса Р называется <a href="/info/14529">фокусным расстоянием линзы</a> f (для линзы. толщина которой мала по сравнению с 1).
Аппроксимация линзой (без учета встречного движения жидкости). Если не учитывать встречное двиг жение жидкости, то смоченная поверхность шара будет представлять собою половину поверхности с( )ерической линзы толщиной 2Я и с радиусом основания  [c.90]

Р2.6. Тонкая линза. Тонкой называют линзу, толщина которой по сравнению с радиусами кривизны поверхностей пренебрежимо мала. Главной оптической осыо линзы называют прямую, проходящую через цешры кривизны сферических поверхностей, ограничивающих линзу.  [c.202]

Высота слоя агломерата 13—16 см. Слабо оплавленные гранулы шихты, как правило, сохраняются на его поверхности. Под поверхностным слоем местами наблюдаются сульфидные скопления в виде извилистых струеподобных полос, и линз, толщина которых не превышает 3—5 мм.  [c.148]

На рис. 43, а показана линза толщиной d с отмеченными значениями фокусных расстояний / и / и юкальных отрезков s>- и sv . Найдем отрезки sh и sh, определяющие положение главных плоскостей относительно вершин преломляющих поверхностей. Из рисунка следует, что вн = s> — /, азн = sp — f. Тогда согласно формулам (91) и (92)  [c.61]

Подобные полосы в-первые наблюдались Г уком. Однако вследствие того, что онн были подробгю исследованы Ньютоном, их называют кольцами Ньютона. Схема, с помощью которой наблюдаются кольца Ньютона, представлена на рис. 5.1. Роль пластинки переменной толщины играет воздуи/пая прослойка между линзой и плоскопараллельной пластинкой. Границы этой пластинки определяются снизу верхней поверхностью плоскопараллельной пластинки, сверху—нижней поверхностью линзы. Параллельный пучок света, выделенный из точечного источника, расположешюго в фокусе линзы (линза и источник на рисунке не изображены), направляется на систему линза — плоскопараллельная пластинка. Некоторый луч 1 этого пучка после отражения от нижней поверхности воздушной прослойки выходит из точки D. В эту же точку падает другой луч 2, который частично отражается. Лучи / п 2 являются когерентными и при наложении интерферируют между собой. Так как подобная интерференционная картина наблюдается с помощью отраженных лучей, то ее называют интерференционной картиной в отраженном свете. Аналогичную картину можно наблю-дат з в прошедшем свете.  [c.93]

Толщина базовых элементов обычно составляет 1,2 мм, диаметр — 20 мм, толщина медной линзы — 0,4 мм, диаметр — 50 мм. Перфорация линзы отверстиями с плотностью около 10см вполне достаточна для свободной перекачки через пластинку воды в капиллярно-пористых телах или сока в пищевых продуктах.  [c.65]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еш,е выявляемой, толщиной цветового или флюоресцентного слоя. На обезжиренную ровную стеклянную плитку наносится 1—2 капли гцшетранта, сверху накладывается выпуклая линза малой кривизны, линза легко прижимается. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопропускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. В случае люминесцентных пенетрантов осуществляется боковое облучение УФ-светом, причем интенсивность облучения нормируется и должна составлягь 500 мкВт/см .  [c.158]


Смотреть страницы где упоминается термин Линзы Толщина : [c.184]    [c.140]    [c.153]    [c.399]    [c.340]    [c.162]    [c.137]    [c.243]    [c.351]    [c.93]    [c.117]    [c.180]    [c.401]    [c.118]    [c.214]    [c.289]    [c.330]    [c.885]    [c.224]    [c.85]    [c.156]   
Справочник технолога-приборостроителя (1962) -- [ c.702 ]



ПОИСК



Допуски и посадки на толщину линз

Измерение толщин линз и расстояний между ними

Линза

Линзы конечной толщины

Линзы конечной толщины и мовшски

Основные Фазовое преобразование, осуществляемое тонкой линзой. Расчет функПОНЯТИЯ ции толЩИны- Виды линз. Линза как элемент, осуществляющий преобраФурье-ОПТИКИ зование Фурье Дифракционное образование изображений линзой

Переход к системе линз с конечными толщинами

Функция толщины линзы



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте