Линза толстая

Таким образом, разложение матрицы переноса толстой линзы на три более простые матрицы приводит к весьма наглядному представлению фокусные расстояния тонкой линзы равны фокусным расстояниям толстой линзы, а два дрейфовых интервала определяют положение произвольных точек в пространстве объектов и изображений по отношению к соответствующим главным плоскостям толстой линзы. Толстая линза заменяется тремя простыми элементами, но при этом изменение координаты луча r z) внутри линзы учитывается соответствующим выбором дрейфовых интервалов. [c.228]

Линза называется тонкой, если обе ее вершины можно считать совпадающими, т. е. если толщина линзы й мала по сравнению с Дх и Д2. радиусами кривизны ограничивающих поверхностей. На рис. 12.15 для ясности линза изображена толстой. В дальней- [c.288]

Легко видеть, что разобранная выше тонкая линза может рассматриваться как частный случай толстой линзы, в которой точки Я1 и Я.2 совпадают и главные плоскости сливаются. Узловые точки, совмещенные с Я1 и Н , также совпадут, образуя оптический центр линзы. Построение изображения произойдет, как и раньше, при помощи каких-либо двух простейших лучей (ср. также рис. 12.19). [c.299]

Когда толщина линзы й. мала в сравнении с - 2. последний член в этом выражении можно отбросить, и мы приходим к формуле для тонкой линзы (см. 77). Если же й достаточно велика, фокусное расстояние линзы существенно зависит от ее толщины. В частности, можно, очевидно, подобрать условия, когда 1// = 0, т. е. толстая линза оказывается телескопической системой, увеличение которой определяется отношением Rl/R2. [c.301]

Две толстые линзы (/1 и /2) расположены так, что оси их совпадают и расстояние между фокусами равно А. Определить фокусное расстояние / полученной сложной системы (рис. 28). [c.884]

Картину преломления волн можно показать на волнах, распространяющихся по поверхности жидкости, воспользовавшись тем, что скорость распространения этих волн в мелких сосудах зависит от глубины сосуда и уменьшается с уменьшением глубины. Если на дно ванны, в которой вибратор возбуждает плоские волны, положить толстое стекло, уменьшив тем глубину слоя воды, то у границы стекла будет происходить преломление волн. Придав стеклу форму линзы, можно наблюдать действие на волны собирательной линзы (рис. 462). Поскольку законы преломления волн здесь такие же, как и в оптике, то и результаты получаются аналогичными. [c.716]

Фиг. 18. Способы блокировки линз а — жесткий заготовки стекла наклеиваются на специально обработанные площадки или лунки корпуса инструмента с помощью тонкого слоя смолы или просмоленной хлопчатобумажной прокладки б — эластичный заготовки наклеиваются смолой в виде толстых подушек на ровную сферическую поверхность корпуса.

В заключение рассмотрим условия, при которых коэффициенты астигматизма и кривизны поля толстой линзы равны, как это имеет место для ДЛ [в случае тонкой линзы, как следует из (2.40), равенство Л3 = Гз невозможно]. Преобразуем разность между коэффициентами Аз и fs в выражениях (2.39), используя соотношения, полученные в п. 2.2. [c.79]

Последний переход сделан с помощью соотношения (2.14). Таким образом, равенство Az — fs достигается лишь при равных радиусах поверхностей, что возможно для толстой линзы. Полученное соотношение частный случай известного условия Пец-валя [7], которое для системы, состоящей из k сферических [c.79]

Ясно, что коэффициент асферической деформации 63 следует выбирать исходя из условия устранения сферической аберрации дублета, и он полностью определяется радиусами г, гг и толщинами d, d . Кроме того, из условия Пецваля (2.42) следует, что одновременно компенсировать астигматизм и кривизну поля в системе с толстой линзой можно только при г = Г2 = г, т. е. когда РЛ представляет собой мениск с равными радиусами. [c.159]

Таким образом, в соответствии с этой формулой сферическая линза преобразует радиус кривизны R падающей волны в радиус кривизны / 2 выходяш,ей волны. Аналогичным образом радиус кривизны выходящего гауссова пучка, показанного на рис. 8.2, с, будет также определяться формулой (8.36). Следовательно, мы имеем теперь как амплитудное [с помощью формулы (8.3а)], так и фазовое [с помощью формулы (8.36)] распределения поля волны на выходе линзы. Эта волна имеет гауссово распределение по амплитуде и сферический волновой фронт, т. е. гауссов пучок остается гауссовым и после того, как он пройдет через систему (тонких) линз. Этот результат остается верным и в случае прохождения пучка через систему толстых линз, в чем можно убедиться, рассматривая толстую линзу как совокупность тонких. Зная размер пятна и радиус кривизны волнового фронта непосредственно после линзы, можно вычислить соответствующие величины в любой точке пространства. Например, размер пятна Шо2 в новой перетяжке пучка и расстояние Z-2 от линзы до этой перетяжки можно найти, выполняя расчеты по формулам (8,1) в обратном порядке. При некоторых прямых преобразованиях мы приходим к следующим двум выражениям [c.481]

Другой прием заключается в добавлении толстой менисковой отрицательной линзы, увеличивающей фокусное расстояние объектива без удлинения системы этот прием выполнен в расчете бинокля 4Х А. И. Слюсаревой (рис. 11.33). Фокусное расстояние объектива / = 100 мм, окуляра / = —25 мм, диаметр объектива 50 мм. Конструктивные элементы такого бинокля даны в табл. П.16. [c.194]

Значение параметра л распространяется и на толстые линзы, полагая я = —fp, имеем [c.584]

Самые разнообразные системы с круговой симметрией (в частности, приведенные в конце табл. 1.1) могут быть представлены в виде сочетаний перечисленных выше четырех. Так, фигурирующий в пятой графе толстый слой среды, одна из граничных поверхностей которого является не плоской, а сферической с радиусом кривизны R, разбивается на плоский слой и прилегающий к указанной поверхности участок малой длины последний эквивалентен тонкой линзе с / =jR/(n - 1). [c.12]

Рис. 11.3. К определению силы толстой линзы

Формула (11.34) есть обш,ая формула для силы толстой линзы. [c.189]

Подставляя это значение толщины в формулу (11.34) для силы толстой линзы, получаем [c.202]

Можно рассмотреть случай, когда радиусы толстой линзы будут равны друг другу тогда первый член в формуле (11.34) обратится в нули сила мениска с равными радиусами выразится формулой [c.203]

Для решения такой задачи продифференцируем общее выражение для силы толстой линзы в воздухе [c.203]

Склеенная поверхность способна внести два дополнительных положения анастигматических зрачков примером тому может служить положительная толстая линза с вве-нее концентрической поверхностью склейки. Дап-линзы приведены ниже [c.340]

В результате получим только шесть различных форм базовых линз, свободных от астигматизма и комы, нз которых две формы будут зашифрованы одинаково — тонкие линзы Б (ка) и толстые линзы тоже Б (ка), но с равными радиусами своих обеих поверхностей. [c.380]

В [10, гл. VI1 был подробно описаи один из методов перехода к толстым системам, основанный на сохранении углов а в воздушных промежутках и высот у к h. Он состоит, во-первых, в определении толщин линз толстой системы на осиоваинн конструктив- [c.226]

Развитие микрофотографии привело к настоятельной потребности применения микрообъективов с исправленной кривизной поверхности изображения. Первые микрообъективы-планахро-маты были рассчитаны Богегольдом в 1938 г. [84]. Из-за отсутствия в то время марок стекол типа сверхтяжелых кронов не представлялось возможным рассчитать планахроматы с постоянным хроматизмом увеличения. Так, например, применение в качестве фронтальной линзы толстых менисков из тяжелых флинтов, исправляющих кривизну изображения (Siv =< 0), привело к тому, что объектив 40x0,65, состоящий из семи линз, имел хроматизм [c.49]

В то время как для толстой линзы (например, стеклянной, находящейся в воздухе) ofui расположены внутри iee, недалеко от ограничивающих сферических noBepxHo reii, [c.184]

Зная свойства кардинальных плоскостей и точек, можно без труда построить изображение в любой системе, пользуясь двумя лучами, исходящими из одной точки. В частности, для линз отпадает требование тонкости. Рис. 12,27 показывает, как можно построить изображение в толстой линзе, если дано расположение ее главных плоскостей и ( юкусов. На рис. 12.27 проведены лучи, построение которых особенно просто определяет положение точки В, сопряженной с точкой В. В силу гомоцентричности пучка любой другой луч из В пройдет через В. [c.298]

Обычное устройство простой ахроматической линзы показано на рпс. 13.17. К двояковыпуклой линзе из крона присоединяется (приклеивается) соответствующим образом рассчитанная рассеивающая линза из флинта (см. упражнение 114). Добавочная линза удлиняет фокусные расстояния первой линзы. При этом больще увеличивается фокусное расстояние лучей, сильнее преломляемых (короткой длины волны), так что фокус Оф отодвигается больще, чем фокус Окр. Выбирая соответствующим образом параметры, мы заставляем совпадать фокусы двух (или даже трех) длин волн. Однако при современных сортах стекол не удается добиться совпадения фокусов для всех видимых лучей, в результате чего возникает остаточный хроматизм, называемый вторичным спектром. Для тонких линз совпадение положения фокуса для разных длин волн означает также уравнивание фокусных расстояний, т. е. полную ахроматизацию. Для толстых же линз (систем) совпадение [c.317]

Др. особенность состоит в соотношения показателей преломления жидкости и пара. У криогенных П. к. ояи близки. Это обусловливает узкую направленность света, рассеянного пузырьком. Фотографирование производится во встречном световом потоке. Широкие пучки света, освещающие рабочий объём П. к., сходятся в фокусе, смещённом в сторону от фотогр. объективов. Для формирования встречных пучков используются линзы, растры, толстые сферяч. зеркала, зеркала с чередующимися тёмными полосами (для гашения мни-шх изображений), отражат. системы из мелких стеклянных шариков ( скотчлайт ). [c.179]

Толстая нелинейная линза. В толстом слое нелиней- ной среды пучок значительно расплывается уже внутрн самого слоя и эффективная (интенсивная) дефокусироВ" ка идёт на расстоянии порядка Рлл4И. Для оценки толстой линзы можно воспользоваться ф-лой (7), мевив толщину слоя I на /"цд, получая в результате вы- ражение > [c.408]

Опыты с нагревом образца. Многие электронные микроскопы снабжены приставкой для нагрева образца в колонне микроскопа. Такая приставка представляет собой встроенный в столик объекта электронагреватель и позволяет просматривать объекты в процессе нагрева или при постоянной температуре вплоть до 1200 С (при этом необходимо принимать меры предотвращения окисления объекта, особенно при высоких температурах нагрева). Приставку для нагрева можно использовать при исследовании динамики процессов выделения и растворения второй фазы, упорядочения и разупорядочения, полигониза-ции и др. Однако следует иметь в виду, что кинетика (но не механизм) этих процессов, протекающих в тонкой фольге, может отличаться от таковой в массивных образцах, так что подобные исследования целесообразно проводить, используя высоковольтные микроскопы, позволяющие просматривать более толстые образцы. Быстрый локальный нагрев образца легко осуществить электронным пучком для этого достаточно убрать подвижную коиден-сорную диафрагму или изменить режим работы первой конденсорной линзы (увеличить диаметр пучка на объекте). Таким путем можно разогреть небольшой участок, примерно равный по площади первичному пучку на объекте, [c.60]

Случаи компенсации отдельных аберраций у толстой линзы (d 0) достаточно многообразны. Они описаны, хотя и разрозненно, в курсах оптики,и их удобнее получать, не анализируя общих выражений для коэффициентов аберраций, а синтезируя линзу из поверхностей с неизвестными свойствами. Например, нетривиальная апланатическая и изопланатическая поверхности образуют линзу, свободную от первичного астигматизма и комы. Для сравнения со свойствами ДЛ и отдельной СПП рассмотрим более простой случай тонкой линзы (й = 0). [c.77]

Поле зрения в 40°, даваемое старыми окулярами Рамсдена и Гюйгенса, не удовлетворяет современным повышенным требованиям, предъявляемым к оптическим системам. Увеличение поля до 50—60° и даже до 65° приводит к ряду усложнений, к применению довольно толстых линз и сравнительно больших кривизн поверхностей на краях поля появляются большие аберрации высших порядков, и методика расчета, успешно применяемая для окуляров Рамсдена и Гюйгенса, должна быть изменена. [c.145]

Применение толстых меиискообразных линз, что из-за короткофокусных окуляров не влечет значительного увеличения габаритов телескопической системы. [c.163]

В отличие от упомянутых выше авторов, мы считаем целесообразным уже в данной стадии расчета переход к системе с линзами конечной толщины. Действительно, дальнейшее выполнение расчета по формулам для бесконечно тонких систем не упрощает задачу. Основное, наиболее важное для практики, свойство бесконечно тонких компонентов, а именно возможность определения сумм Зейделя для отдельных компонентов, остается в силе и для линз с конечными толщинами, если пользоваться изложенным в 110, гл. VI ] методом перехода к толстым линзам с сохранением величии ft. При этом положения линз конечной толщины выбираются таким образом, чтобы высоты пересечения параксиальных лучей с главными плоскостями этих линз равнялись высотам пересечения этих же лучей с соответствующими бесконечно тонкими компонентами. Толщины линз могут быть вычислены уже сейчас, когда известны оптические силы ф , относительное отверстие системы, ее поле з рения и величины а у,,. Конечно, такой расчет может быть только приближенным, так как заранее точно неизвестно, как будут виньетироваться наклонные пучки но в первом приближении достаточно и грубого знания этих толщин кроме того, здесь может помочь и знание известных уже объективов подобного типа. [c.245]

При переходе к системе из толстых линз сохраним прежние буквенные обозначения и нумерацию величин, относящихся к бесконечно тонким лиизам, напишем индексы римскими цифрами все величины, относящиеся к линзам конечной толщины, будем обозначать теми же буквами, что и для тонких линз, но будем нумеровать их по порядку преломляющих поверхностей и обозначать номера арабскими цифрами. [c.245]

В качестве простейших в работе [1] рассмотрены простая линза значительной толщины, две бесконечно тонкие системы, разделенные воздушным промежутком, два симметрично расположенных толстых компонента — одинаковых или подобных — и, наконец, триплет из трех бесконечно тонких компонентов, разделенных двумя воздушными промеЛсутками. В первых двух комбинациях числа независимых переменных не хватает для получения толстой системы с заданными наперед значениями шести коэффициентов b.i,, . . , 64, но в остальных, например в триплете, где имеются три значения Р, три значения W и два воздушных промежутка, всегда возможно, по крайней мере теоретически, решить поставленную задачу. Затруднения возникают обычно по той причине, что при решении получаются такие пары значений Р н W, которые приводят к сложным, иногда нереализуемым компонентам. Два лишних параметра (8—6 = 2) используются для того, чтобы добиться более простых конструкций компонентов триплета. [c.311]

Способ вывода четвертой матрицы не столь очевиден. В [96] для этого используется следующий прием толстый слой линзоподобной среды мысленно расчленяется на N одинаковых тонких слоев. Действие каждого из них на проходящий световой пучок эквивалентно в первом приближении действию сочетания слоя той же толщины IjN состоящего из однородной среды с = и линзы, толщина которой мала по сравнению с IjN г f = N1 (ri2l). Из последзоощих материалов данного параграфа мы увидим, что именно такая линза вносит разность хода — соответствую- [c.11]

Рис. 1.3. К выбору направлений координатных осей а - тонкий клин, б - смещенная линза, в - зеркало, г — толстый слой среды с непараллелы1ыми границами

Нарвду с астигматизмом тепловая линза имеет аберрации, свойственные толстым линэам. В кристаллах АИГ-Nd это проявляется в том, что оптические силы центральной (приосевой) области и периферии отличаются друг от друга [40]. Степень отличия зависит от свойств осветителя и от ориентации области внутри ооветителя. Как показано в работе [40], для осветителей эллиптического типа оптическая сила центра в среднем примерно в 1,8 раза больше, чем периферии. В плоскости кристалла, параллельной малой оси эллипса, аберрации слабее, что связано с неравномерностью распределения накачки по сечению [c.43]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...