Длинные линзы

Такая схема записи п вертикальном направлении является внеосевой, а в горизонтальном — осевой и называется астигматической схемой записи одноступенчатой радужной голограммы. Восстановленное изображение такой голограммы в вертикальном направлении будет довольно умеренным, так как поле обзора в горизонтальном направлении (размер голограммы) зависит только от длины линзы, и цилиндрическую линзу любого размера можно достать или сделать без труда, то этот метод устранил основное препятствие одноступенчатого процесса — узкий обзор в горизонтально.м направлении. [c.48]

Для увеличения оптической силы необходим больший ток, следовательно, нужно заменить одну петлю на катушку конечных размеров. Чем больше требуемый ток, тем длиннее линза, и рано или поздно фокус окажется внутри поля линзы. Дальнейшим увеличением числа ампер-витков можно заставить [c.239]

Идея линз с точно определенными границами очень привлекательна. Характеристические параметры таких линз могут быть выражены в единицах физической длины линзы, которая примерно совпадает с протяженностью поля. Такие линзы будут рассмотрены в следующем разделе. [c.411]

Было показано [38], что, если отношение радиусов центрального и крайних электродов меняется, сферическая аберрация минимальна для трубок одинаковых радиусов. Обычно сферическая аберрация уменьшается с увеличением общей длины линзы. [c.441]

Магнитные линзы обычно сложнее в изготовлении, чем электростатические. Однако число определяющих параметров, как правило, мало, и поэтому расчет свойств магнитных линз намного проще, чем электростатических. Они также более подробно рассмотрены в литературе вследствие исключительно широкого применения в электронной микроскопии. К счастью, имеется превосходная монография [50], соответствующая современному уровню теории магнитных линз. Поэтому в этой главе мы можем ограничиться только рассмотрением их наиболее важных свойств. Магнитные линзы можно разделить на две основные категории длинные линзы с распределенными полями и короткие линзы с сильно концентрированными полями. Следует отметить, что в длинных линзах трудно очертить границы, и даже в случае коротких линз предмет или изображение, либо оба вместе, могут находиться в области поля, поэтому в этом случае важны реальные свойства линз. [c.474]

Магнитные линзы используются для формирования электронных зондов или для получения сильно увеличенных изображений малых объектов. Их также можно использовать для анализа по энергиям. Теперь рассмотрим различные типы магнитных линз. Так как длинные линзы — основа простых моделей магнитных линз, начнем с них. [c.476]

Длинные линзы с малой сферической аберрацией [c.481]

НО все еще со значительной областью определения. Практически интересные распределения индукции, взятые с этой диаграммы и отмеченные цифрами, показаны на рис. 143. Решения № 1,8, 17, 26 и 39 представляют длинные линзы с низкой сферической аберрацией (разд. 8.2.3). Особенно интересно решение № 27, потому что оно представляет распределение с высоким полем вблизи объекта, низким — вблизи изображения и реаль- [c.526]

Так как функция д г) пропорциональна возбуждению и чем длиннее линза, тем сильнее ее действие, очевидно, что оптическая сила квадрупольной линзы должна зависеть от значения безразмерной величины Если можно ис- [c.566]

Во-первых, обладая огромной плотностью энергии, получаемой при короткой фокальной длине линз и больших иллюминационных отверстиях, лазеры могут быть использованы для изготовления малых отверстий и сварки сверхтвердых и труднообрабатываемых материалов, которые работают в условиях сверхвысоких температур. [c.446]

Длина изображения xh (в сечении //) зависит от длины линзы и линейного увеличения Pi в сечении I. Считая линзу бесконечно тонкой, имеем [c.332]

Установка Ньютона позволяет простым способом определить приблизительное значение длины волны света. Для этого, как следует из формулы (5.3), достаточно определить радиус для максимума данного порядка при известном радиусе кривизны линзы, [c.95]

Через интерферометр, состоящий из двух полупрозрачных (П и П ) и двух непрозрачных зеркал П и Я4) пропускается свет от источника сплошного спектра. Интерференционная картина, полученная в виде горизонтальных полос, с помощью линзы Лз проектируется на щель спектрографа. Спектрограф располагается так, чтобы щель его была направлена перпендикулярно к горизонтально расположенным полосам интерференции. В обе ветви интерферометров вводятся две одинаковые кюветы и Т . В одну из кювет (расположенную внутри вакуумной печи) вводится исследуемый материал, в данном случае пары натрия. Путем нагрева до нужной температуры можно получить пары натрия при необходимом давлении. Вторая кювета откачивается. Если кювета с металлом не нагрета, то из-за отсутствия паров натрия нулевая полоса (полоса, для которой разность хода двух интерферирующих лучей равна нулю) будет прямолинейной и пройдет через середину перпендикулярно расположенной щели спектрографа. Выше и ниже этой легко отличимой от других ахроматической полосы располагаются полосы первого, второго порядков и т. д. Так как расстояние между полосами тем больше, чем больше длина волны, а линии дисперсии интерферометра (линия дисперсии направлена вдоль оси у) и спектрографа (линия дисперсии направлена вдоль оси х) взаимно перпендикулярны, то в результате действия обоих приборов в пло- [c.266]

Линза электромагнитная усилительная — прибор магнетронного типа с усилением высокочастотного сигнала в осевом направлении, в котором используются длинный анод и цилиндрический катод, а входное и выходное устройство присоединены к торцам анодного блока и трансформируют колебания я-вида в волну типа Ноц (прибор может быть выполнен в обращенном варианте). [c.148]

X — длина волны падающего света) наблюдается интерференционный максимум света. Линза не вносит разности хода. Как следует из уравнения (78.4), условие интерференционного максимума для каждой длины световой волны выполняется при своем значении угла дифракции ф. В результате при прохождении через дифракционную решетку пучок белого света разлагается в спектр. [c.268]

Т. к. подобные колебания для простейшего случая g(s)— onst были впервые исследованы в бетатроне, то поперечные колебания частиц в циклич. ускорителях часто называют бетатронными, а параметр v — бетатрон-ной частотой (в англ. литературе — betatron tune). Ма-тем. анализ показывает, что в системах со знакопеременной Ф. при не слишком большой силе фокусирующих элементов v пропорц. квадрату силы линз (произведению градиента поля на длину линзы). Т. о., знакопеременная Ф. является Ф, второго порядка, в связи с чем прихо- [c.334]

Если мы используем выражение (5.135) для вычисления коэффициента сферической аберрации, то увидим, что первые два члена подынтегральной функции всегда положительны, а знак третьего совпадает со знаком —ВВ". Так как в соответствии с теоремой Шерцера so всегда положительно, можно надеяться на уменьшение сферической аберрации, если значение интеграла по ВВ" предельно велико. Это эквивалентно требованию, чтобы график функции распределения магнитной индукции был всегда выгнут относительно оси, т. е. имел минимум для положительных или максимум для отрицательных значений распределения В г). Магнитные поля с такими распределениями эквивалентны длинным линзам и могут быть сформированы, например, соответствующим образом распределенной неравномерной обмоткой длинного соленоида. Они действительно применялись для уменьшения сферической аберрации в -спектрометрах [291J. [c.481]

Эта глава представляет собой краткий обзор основных свойств магнитных линз. Мы начали с главных соотношений и затем сжато рассмотрели длинные линзы. Сравнительно подробно описаны различные модели магнитных линз, причем особое внимание уделено колоколообразной модели Глазера. В некоторых деталях обсуждены короткие и различные нетрадиционные линзы. [c.506]

Рассмотрим гауссовский пучок как моду лазерного резонатора, который образован двумя сферическими зеркалами (с радиусами кривизны Лд и Лв). находящимися на расстоянии d друг от друга. Предположим, что резонатор обладает бесконечной апертурой, поэтому дифракционными эффектами на зеркалах можно пренебречь. Мода является самосогласованной конфигурацией поля, и если мы хотим представить ее в виде иучка, распространяющегося в прямом и обратном направлении виут] резонатора, то это требует, чтобы параметры пучка оставались неизменными после замкнутого цикла проходов. Удобный и наглядный метод для решения такого рода задач — это <-разверпуть>> резонатор, заменив его (с точки зрения вычислений) последовательностью линз (см. гл. 5, 5). Фокусные длины линз определяются радиусами кривизны заменяемых нми зеркал, а их расположение — расстоянием между зеркалами. После этого можно свести проблему к изучению распрострапення пучка через периодическую последовательность линз. [c.172]

Поскольку применение энергии света для тех или иных технологических процессов связано с фокусировкой луча, поли-хроматичность играет в данном случае отрицательную роль. Полихроматический свет при прохождении через линзу фокусируется в виде пятна довольно значительных размеров, так как волны разной длины по-разному преломляются при прохождении через стекло. Это явление носит название хроматической аберрации и значительно ограничивает возможности обычных полихроматических источников. [c.116]

По законам дифракции наименьший размер сфокусированного пятна равен длине волны X и для оптического диапазона составляет размер порядка 1 мкм. Полихроматичность увеличивает размер до сотен и тысяч микрометров, в результате чего максимальная концентрация энергии в пятне нагрева в данном случае не превышает 10 Вт/мм , что соизмеримо с нагревом пламенем горелки и на 4...5 порядков меньше, чем для монохроматического луча лазера. Кроме того, фокусировка ухудшается в связи с тем, что применяющиеся фокусирующие линзы и фокусирующие зеркала со сферическими поверхностями имеют отклонения от требуемой для точной фокусировки геометрии поверхности. Ухудшает фокусировку и то, что светящееся тело обычно имеет конечные размеры и проецируется в виде определенной геометрической фигуры. [c.116]

Внешний вид и оптическая схема оптиметров со шкалой, проецируемой на экран, приведены на рнс. 5,8. Луч Beia от источника 1 через конденсор 2, теплофильтр 3, линзу 4 и призму 5 освещает нанесенную на пластине 6 шкалу с 200-.мн ( 100) делениями. Через зеркало 7, объектив 8 и зеркало 9 шкала проецируется на поворотное зеркало W, связанное с измерительным наконечником ИН. Отразившись от зеркала 10, изображение шкалы снова проецируется на другую половину пластины 6 с нанесенным неподвижным штрихом-указателем. С помощью объектива 13 и зеркал 12, 11 14 изображение шкалы с указателем проецируется на экран 15. Даже при больших передаточных отношениях прибор весьма компактный. Согласно ГОСТ 5405—75 выпускают оптиметры с окулярол (тип ОВО) или проекционным (тип ОВЭ) экраном для вертикальных или горизонтальных измерений. Диапазон показаний шкал трубок оптиметров 0,1 или 0,025 мм, пределы измерений О—180 мм (у горизонтальных О—350 мм), измерительное усилие 0,5—2,0 Н, погрешность измерений от 0,07 до +0,3 мкм. Малые диапазоны показаний по шкалам позволяют применять оптиметры в основном для сравнительных измерений с использованием концевых мер длины (см. рис. 5.1). [c.121]

Для восприятия лучистой энергии используют различные приемники термобатареи, болометры, термисторы II т. д. Спаи термопар, чувствительные элементы болометров и термисторов хорошо зачернены с целью создания неселективности термоприемников в широком диапазоне длин волн. Однако следует заметить, что к данным, полученным радиационным методом, следует относиться с осторожностью. Необходимо учитывать, что для увеличения чувствительности метода применяют линзы и другие фокусирующие устройства кроме того, часто используют радиационные пирометры. Использование оптических элементов приводит к тому, что приемник воспринимает излучение неполно и в ограниченной области спектра. Поэтому, как оправедливо отмечено в [131], использование пределов интегрирования, показанных в формуле (6-69), не правомерно. В этом случае степень черноты интегральна лишь в пределах полосы пропускания оптической системы, т. е. [c.164]

Фраунгоферова дифракция от одной щели. Рассмотрим дифракцию плоской монохроматической световой волны от щели ширигюй Ь (рис. 6.17). Для простоты будем считать, что световая волна длиной X падает нормально к плоскости щели. Параллельный пучок света, пройдя через щель на непрозрачном экране 5j, дифрагирует под разными углами в правую и левую сторону от первоначального направления падения лучей. Линза Л собирает параллельные пучки дифрагированных лучей в соответствующих точках экрана [c.136]

Выше мы построили изображение точки в тонкой линзе, расположенной на ее главной оптической оси. Построим теперь изображение отрезка AiB длиной (рнс. 7.14) в тонкой линзе. Для этого достаточно пост])онть изображение точки При построении [c.182]

При построении изображения малого предмета в тонкой линзе мы пользовались параксиальным пучком света. Кроме того, лучи параксиального пучка составляли небольшие углы с главной оптической осью. Далее, падающий свет сч1ггали монохроматическим, а показатель преломления материала линзы — не зависящим от длины волны падающего света. На практике все эти условия не соблюдаются и возникают соответствующие недостатки оптических систем. Коротко остановимся на некоторых из них. [c.186]

Хроматическая аберрация. Из-за явления дисперсии (зависимость 1юказателя преломления от длины волны) для данной линзы [c.187]

Увеличение разрешающей силы микроскопа путем уменьшения длины световой волны прнв ело к положительному результату. Микроскопы, пспользующне ультрафиолетовые лучи, позволяют увеличить разрешающую силу примерно в два раза. Переход к микроскопам, использующим рентгеновские лучи, позволил бы резко увеличить разрешающую силу. Однако отсутствие оптических линз для рентгеновских лучей делает практически почти невозможным создание рентгеновских микроскопов. Такие принципиальные трудности были преодолены после того, как в 1923 г. Луи де Бройлем была выдвинута гипотеза, согласно которой любой частице с массой т, движущейся со скоростью v, соответствует волна с длиной [c.203]

Приближенные расчеты показывают, что волна, соответствующая электрону, ускоренному полем в 150 В, равна 1 А, что на три порядка меньше длины волны видимого света. Поскольку электрону соответствует столь короткая волна, это наводит на мысль о возможности скор1струирования микроскопа, работающего с электронным пучком. Роль оптической системы могут выполнять соответствующим образом подобранные электрические и магнитные поля — электромагнитные линзы для электронного пучка. Этот прибор — электронный микроскоп — впервые был изготовлен в СССР акад. А. А. Лебедевым. Электронные микроскопы в принципе могут ПОЗВОЛИТЬ различить детали размером порядка 1 А. В настоящее время современные электронные микроскопы позволяют различить детали размером 25—30 А. [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...