Коэффициент отражения

F — удельная поверхность т — коэффициент отражения [c.6]

Пусть известны коэффициенты отражения rt и пропускания Т( элементарного слоя стопы. Тогда коэффициенты отражения и пропускания любого пакета из п слоев можно рассчитать по формулам [175] [c.148]

Применение этих формул к бесконечному пакету позволяет в пределе при п- ао получить коэффициент отражения поверхности моделируемой дисперсной среды и в соответствии с законом Кирхгофа [105] ее степень черноты [c.148]

В ранее использованной модели [163, 171] предполагалось, что элементарные слои, образующие стопу, имеют толщину, равную d, и их оптические характеристики принимались равными характеристикам частиц. Такая связь между свойствами элементарного слоя и образующих его частиц может быть использована по крайней мере в качестве первого приближения при плотной упаковке частиц. Если система частиц сохраняет высокую объемную концентрацию при неплотной упаковке, связь между параметрами элементарного слоя и образующих его частиц будет более сложной. Для расчета этой зависимости служит геометрическая модель элементарного слоя—двумерная модель дисперсной среды [177], в которой реальные частицы, расположенные случайным образом в одной плоскости, заменены системой регулярно расположенных в узлах плоской квадратной сетки с шагом 2ур сфер. В рамках геометрической оптики взаимодействие излучения с поверхностью не зависит от ее размеров [125], поэтому принято, что сферы имеют единичный радиус. Предполагается, что поверхность их диффузно отражающая, серая. Для расчета характеристик элементарного-слоя используется вспомогательная схема (рис. 4.1), образованная моделью 2 и двумя абсолютно черными плоскостями I и 3. Задав на а. ч. плоскости 1 поток излучения плотностью qb, можно найти коэффициенты отражения и пропускания модели rt и Т( по отношению потоков, попадающих на плоскости / и 5 после многократного отражения на частицах, образующих систему 2, к заданному потоку, а затем поглощательную способность и равную ей степень черноты. [c.149]

Теперь коэффициенты отражения, пропускания и поглощения элементарного слоя стопы могут быть определены как отношения соответствующих потоков (4.19) к падающему (4.20) [c.154]

Зависимость характеристик элементарного слоя от параметров модели представлена на рис. 4,5. Как степень черноты Et, так и коэффициенты отражения rt и пропускания Т( наиболее сильно изменяются при достаточно плотной упаковке частиц (Ур<3). При увеличении расстояния Ур (в области Ур>3) проис- [c.155]

Если погруженная в слой поверхность обладает высоким коэффициентом отражения, влияние теплопроводности и свойств частиц более существенно. При радиационном обмене функция еэ сильно зависит в этом случае от излучательных свойств частиц (при переходе от сильно отражающих к сильно поглощающим частицам величина еэ изменяется почти в 2 раза при Тст = 0). Сложный теплообмен приводит к ослаблению влияния параметра ер. Кроме того, функция ез практически не отличается от аналогичной зависимости для черной поверхности (гст = 0,1) (рис. 4.14, а). [c.178]

Анализ условия, что стенки полости должны быть полностью отражающими, является значительно более трудным, чем рассмотрение чисто геометрических ограничений. Если коэффициент отражения стенок меньше единицы, то должны, по-видимому, присутствовать еще дополнительные поправочные члены. Однако сами эти члены должны стремиться к нулю, если стремится к нулю коэффициент отражения стенок, так как в соответствии с законом Кирхгофа коэффициент излучения при этом стремится к единице, что вновь приводит к идеальным условиям черного тела внутри полости. [c.317]

К каждой из этих величин нужно добавить индекс для обозначения необходимых условий наблюдения, длины волны и температуры. В соответствии с рис. 7.4, например, коэффициент отражения элемента х в наиболее общем случае может быть записан как [c.323]

Связь между различными видами коэффициентов отражения и коэффициентов яркости может быть выведена из следующего [c.324]

Легко показать, что коэффициент отражения элемента внутри сферы выражается рядом [c.338]

Полость сделана большой, чтобы при визировании нижней части цилиндра и обращенного конуса ее излучательная способность для теплового излучения при 273 К превышала 0,9999. Область длин волн, на которую приходится основная часть излучения при этой температуре, простирается от 2 до 200 мкм. На излучение за пределами этой области приходится лишь 0,1 % от полной энергии излучения. Температура полости измерялась восемью прецизионными платиновыми термометрами сопротивления, прикрепленными к различным частям полости. Однородность температуры в цилиндрической и конической частях была лучше, чем 1 мК. Внутренняя поверхность полости покрыта черной краской ЗМ-С-401, оптические свойства которой известны до длины волны 300 мкм. Вплоть до длины волны 30 мкм коэффициент отражения краски меньше 0,06. Таким образом, излучательная способность полости с достаточной степенью точности определяется только членом с р в уравнении (7.56) для углов падения больше 80° при всех длинах волн чернение приводит к преимущественно зеркальному отражению. [c.347]

Оба описанных выше метода требуют применения дополнительного источника теплового излучения. В промышленности широкое применение нашел другой, более простой метод [35]. Вместо отдельного дополнительного источника здесь используется сама поверхность совместно с позолоченным полусферическим зеркалом, которое находится в контакте с поверхностью или в непосредственной близости от нее. Для измерений плотности излучения внутри полусферы в качестве детектора используется кремниевый фотоэлемент. Если полусфера является идеальным отражателем (коэффициент отражения золота в инфракрасной области больше 99%), а площадь поверхности полусферы, занятая кремниевым элементом, пренебрежимо мала. [c.391]

Проведенное рассмотрение существенно упрощено с предположением об однородности температуры внутри стекла. Для неоднородных температур уравнение (7.104) должно быть модифицировано введением Ь Х, Т) под знак интеграла. Для конкретных температурных градиентов уравнение должно решаться численным методом [6], так как никакое простое решение невозможно. К счастью, коэффициент поглощения и коэффициенты отражения поверхностей обычно такие, что даже для слоя толщиной всего 5 мм внутренние отражения более высоких порядков очень малы и ими обычно можно пренебречь. [c.396]

От чего зависит коэффициент отражения УЗ-волны при падении се на поверхность [c.166]

Величину А называют коэффициентом поглощения. Он представляет собой отношение поглощенной лучистой энергии ко всей лучистой энергии, падающей на тело. Величину R называют коэффициентом отражения. R есть отношение отраженной лучистой энергии ко всей падающей. Величину D называют коэффициентом проницаемости. D есть отношение прошедшей сквозь тело лучистой энергии ко всей лучистой энергии, падающей на тело. Для боль-шинства твердых тел, практически не пропускающих сквозь себя лучистую энергию, А R = . [c.459]

Машины, работающие в закрытых помещениях, целесообразно окрашивать красками светлых тонов (голубой, светло-зеленый, светло-серый), которые обла.дают повышенным коэффициентом отражения и увеличивают освещенность помещения. В производствах, где на первом месте стоят требования санитарии (пищевое, медицинское), следует применять покрытия молочно-белого цвета пли цвета слоновой кости. [c.52]

Усиление, обеспечиваемое рабочим веществом, должно превышать некоторое пороговое значение, зависящее от коэффициента отражения полупрозрачного зеркала. Чем меньше этот коэффициент, тем больше должно быть пороговое усиление, обеспечиваемое рабочим веществом, иначе генерируемое рабочим веществом излучение затухнет. [c.120]

Для реальных поверхностей, покрытых окислами и имеющих меньшую частоту обработки, значение коэффициента отражения уменьшается. С ростом температуры вещества на его поверх- [c.124]

Таблица 3.2. Коэффициенты отражения волн различных лазеров для металлических поверхностей

Еще большего поглощения энергии можно добиться при нанесении на поверхность веществ с малыми коэффициентами отражения (газовая сажа, краска), но в этом случае возможно взаимодействие нанесенного вещества с основным материалом, что не всегда допустимо. [c.125]

Значительно увеличивает поглощательную способность материала вследствие создания на его поверхности оксидов, имеющих меньший коэффициент отражения по сравнению с основным металлом. [c.128]

Метод, основанный на измерении спектральных коэффициентов отражения покрытия при освещении его вспомогательным источником излучения. Расчет е(Х, Т) производится на основании закона Кирхгофа для непрозрачных тел [c.163]

Поскольку в оптических приборах свету всегда приходится проходить через систему линз и призм, то нужно считаться с ослаблением интенсивности прошедшего света за счет отражения от поверхностей. В случае нормального падения света, как следует из формулы (3.16), коэффициент отражения (отношение интенсивности отраженного света к интенсивности падающего) определяется следующим образом [c.52]

При отражении света от поверхностей прозрачных пластин вследствие малого коэффициента отражения мы не принимали во внимание лучи, отраженные два или большее число раз. Однако в случаях, когда интенсивности многократно отраженных лучей близки друг к другу, учет их вклада в общую интенсивность является обязательным. Реализация упомянутого случая — случая многолучевой интерференции — определяется значениями коэффициентов отражения и пропускания. [c.100]

Величина А = д/ пад называется коэффициентом п о г л о щ е н и я, / = ,/ fnaA — коэффициентом отражен и я,0 = д/ пад — коэффициентом пропускания. [c.90]

Для определения коэффициентов отражения и пропускания элементарного слоя во вспомогательной системе (см. рис. 4.1) задается собствЙ1ное излучение с плотностью дь на а. ч. плоскости I. Собственное излучение частиц принимается равным 0. В этом случае при переходе от бесконечной системы (см. рис. 4.1) к ячейке (см. рис. 4.2) для сохранения подобия необходимо задать внешнее излучение как на грани I, принадлежащей плоскости 1, так и на боковых гранях е, f, g, h, чтобы моделировать поток, приходящий на рассматриваемый участок дисперсной плоскости от удаленных участков поверхности/. [c.151]

Коэффициенты отражения и пропускания ка1ждой из образующих систему плоскостей принимались рав ными соответствующим характеристикам элементарно го слоя стопы. Предполагалось, что образующие эле ментарный слой частицы непрозрачны, а их концентра ция и степень черноты изменялись в широких пределах [c.165]

Если погруженная поверхность имеет высокую из-лучательную способность, величина еэ существенно зависит от степени черноты частиц (рис. 4.15, а). Высокий коэффициент отражения стенки практически исключает влияние величины Вр на эффективную степень черноты слоя (рис. 4.15, б). [c.179]

Рассмотрим цилиндрический акустический интерферометр с площадью поперечного сечения А, заполненный газом со средней плотностью р, в котором скорость звука равна с. Обозначим акустический коэффициент затухания через а, длину волны — через Л, волновое число к=2п1Х и / г и Нг — коэффициенты отражения соответственно отражателя и излучателя, которые в общем случае могут быть комплексными. Сумма механического импеданса излучателя Zt и газа ZL(l) составляет полный импеданс Z(l), где I — длина полости, поскольку и сам излучатель, и газовый столб влияют на величину скорости. [c.102]

Для коэффициентов излучения, отражения, поглощения и пропускания мы будем использовать обозначения е, р, а и т соответственно. Термины коэффициент излучения , коэффициент отражения и т. д. относятся к реальным поверхностям и включают эффекты геометрии поверхности. Такие термины, как излучательная способность или отражательная способность , относятся к идеальным гладким поверхностям, и их использование ограничивается дискуссией об отверстии в полости черного тела. Полезным иногда термином является и коэффициент яркости Я, который определяется как отно-щение потока излучения, отраженного от элемента поверхности в специфических условиях излучения и наблюдения, к потоку, отраженному идеальной, полностью отражающей, полностью диффузной поверхностью, излученному и наблюдаемому таким же образом. [c.323]

Предположим, что требуется найти излучательную способность изотермической полости, показанной на рис. 7.5. Величина, которую необходимо вычислить, представляет собой отношение спектральной яркости элемента стенки А5, визируемого в Р, к спектральной яркости черного тела при той же температуре. В свою очередь поток излучения, исходящий из в направлении апертуры а, состоит из двух частей потока, излученного самим элементом А5, и лучистого потока, отраженного тем же элементом А5. Первый зависит только от коэффициента излучения стенки и ее температуры и не зависит от присутствия остальной части полости. Отраженный поток, со своей стороны, зависит от коэффициента отражения поверхности элемента А5 и от лучистого потока, попадающего на А5 из остальной части полости. На значении отраженного потока сказывается влияние а, так как лучистый поток, который в замкнутой полости пришел бы от а в направлении А5, в рассматриваемом случае отсутствует. Именно этот эффект отсутствия падающего потока от а в потоке излучения, отраженного от А5, и необходимо вычислить. Следует также учесть, что отсутствует не только лучистый поток в направлении а- А5, но и лучистый поток от а в направлении остальной части стенок полости. Таким образом, лучистый поток, поступающий в А5 от всей оставщейся части полости, является несколько обедненным. Из всего этого должно быть ясно, что расчет излучательной способности такой полости никоим образом не является тривиальной операцией. Для строгого вычисления необходимо знать в деталях геометрию полости и системы наблюдения, угловые зависимости излучательной и отражательной характеристик материала стенки полости, а также распределение температуры вдоль стенок полости. Температурная неоднородность изменяет поток излучения полости в целом так же, как и наличие апертуры, но с некоторым дополнительным усложнением, которое состоит в том, что изменение потока [c.327]

Коэффициенты отражения рр и р для двух плоскостей поляризации связаны с излучательной способностью соотноще-ниями [c.390]

При падении волны на поверхность ра.здела двух сред часть волны переходит ио вторую среду, а часть отражается нпервую. Коэффициент отражения равен [c.128]

Падающий на поверхность вещества поток лучистой световой энергии частично поглощается, а частично отражается. Из оптики известно, что доля отраженной энергии зависит от длины волны излучения и состояния поверхности вещества. В табл. 3.2 приведены значения коэффициентов отражения (при полном отражении этот коэффициент равен 1) для чистых неокисленных полированных поверхностей металлов. [c.124]

Применение абсолютных рефлектометрических методов осложнено тем, что при высоких температурах собственное излучение исследуемой поверхности достаточно высоко и возникают существенные трудности ори измерении спектральной яркости отраженного излучения. Как известно, для этого метода коэффициент отражения вычисляется из выражения [c.163]

Для устранения этих трудностей Д. Я. Светом был предложен модуляционный рефлектометрический метод измерения коэффициента отражения, который позволяет исключить влияние самоизлучения исследуемой (поверхности. Предварительная модуляция светового потока от вспомогательного источника исключает собственное излучение поверхности покрытия. В работе [130] предложен относительный метод модуляционной рефлектоме-трии, позволяющий измерять коэффициенты диффузионного отражения. [c.163]

Годом позже Друде предложил более совершенный метод определения оптических параметров металла. Согласно методу Друде, для определения и и х достаточно измерить сдвиг фаз Аф = ср ( — ср между параллельными и перпендикулярными компонентами отраженного поля и коэффициент отражения R при некотором значении угла падения. Далее п и х можно связать с параметрами среды е ИОВ уравнениях Максвелла. Как показывают расчеты, результаты подобного вычисления не дают удовлетворительного согласия с экспериментально вычисленными значениями я и х в видимой области. Расхождение усиливается с увеличением частоты падающего света. Такое расхождение между теорией и экспериментом можно обьяс-iHiTb влиянием связанных электронов на п и х. Действительно, при развитии вышеупомянутой теории мы исходили из представления о металле как о системе, состоящей из полностью свободных электронов. При увеличении частоты света (для видимой и ультрафиолетовой областей) в оптических явлениях участвуют также связанные электроны, отсюда и вытекает расхождение теории с экспе-рпмеьггом. В инфракрасной области, где оптические свойства металлов Б основном обусловлены наличием свободных электронов, согласие можно считать удовлетворительным. Вообще мы не вправе [c.65]

Обозначим амил1ггудные коэффициенты отражения (отношение амплитуд отраженной и падающей волн) и пр0пуска1п1я (отношение амплитуд прошедшей п падаюшей воли) через р и т. Пусть амплитуда падаюи1,ей линейно-поляризованной световой волны будет (рис. 5.6). При каждом прохождении через границу раздела пластинка — воздух амплитуда волны уменьшается в т раз, а при каждом отражении от такой границы она уменьшается в р раз- [c.100]

Теплотехника (1991) -- [ c.90 ]

Оптика (1976) -- [ c.137 , c.490 , c.661 , c.780 ]

Атомная физика (1989) -- [ c.180 ]

Теплотехника (1986) -- [ c.208 ]

Теплопередача Изд.3 (1975) -- [ c.365 ]

Введение в акустическую динамику машин (1979) -- [ c.171 ]

Лабораторный практикум по испытанию лакокрасочных материалов и покрытий (1977) -- [ c.181 ]

Оптические волны в кристаллах (1987) -- [ c.236 ]

Лазерная термометрия твердых тел (2001) -- [ c.20 ]

Электроакустика (1978) -- [ c.164 , c.181 ]

Основы физики и ультразвука (1980) -- [ c.144 ]

Осветительные установки железнодорожных территорий (1987) -- [ c.72 , c.73 , c.202 ]

Оптика (1986) -- [ c.149 ]

Физика дифракции (1979) -- [ c.333 ]

Газовая динамика (1988) -- [ c.204 ]

Светостойкость лакокрасочных покрытий (1986) -- [ c.67 , c.74 , c.80 ]

Температуроустойчивые неорганические покрытия (1976) -- [ c.99 , c.100 , c.171 ]

Теплопередача (1965) -- [ c.346 ]

Материаловедение Технология конструкционных материалов Изд2 (2006) -- [ c.516 ]

Справочник по электротехническим материалам (1959) -- [ c.41 ]

Метрология, специальные общетехнические вопросы Кн 1 (1962) -- [ c.337 ]

Основы оптики Изд.2 (1973) -- [ c.73 , c.74 , c.298 ]

Волны (0) -- [ c.219 , c.222 , c.351 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.410 ]

Акустика слоистых сред (1989) -- [ c.27 , c.48 , c.94 , c.97 , c.132 , c.185 , c.198 , c.211 , c.215 ]

Физические основы ультразвуковой технологии (1970) -- [ c.214 , c.215 , c.242 , c.368 ]

Справочник проектировщика динамический расчет сооружений на специальные воздействия (1981) -- [ c.9 ]

Коротковолновые антенны (1985) -- [ c.11 ]

Ультразвуковая дефектоскопия (1987) -- [ c.26 , c.27 ]

Теория оптических систем (1992) -- [ c.118 ]

Теплотехника (1985) -- [ c.263 ]

Ультразвук и его применение в науке и технике Изд.2 (1957) -- [ c.20 , c.21 ]

Лазерное дистанционное зондирование (1987) -- [ c.38 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...