Коэффициент кон линзы

Принцип действия оптического пирометра с исчезающей нитью прост и иллюстрируется на рис. 7.30 а. Линза объектива формирует изображение источника, температура которого измеряется в плоскости раскаленной нити миниатюрной лампы. Наблюдатель через окуляр и красный стеклянный фильтр видит нить и совмещенное изображение источника. Ток через лампу регулируют до тех пор, пока визуальная яркость нити не станет точно такой же, как яркость изображения источника. Если оптическая система сконструирована правильно, в этот момент нить на изображении источника исчезает. Пирометр градуируется в значениях тока, проходящего через миниатюрную лампу. Так как детектором равенства яркостей является глаз человека, то доступная непосредственно для измерений область температур ограничена с одной стороны границей приемлемой яркости, с другой — яркостью, слишком слабой для наблюдения. Нижний предел зависит от апертуры оптической системы и составляет примерно 700°С, верхний предел равен примерно 1250°С. Для измерения более высоких температур между линзой объектива и нитью помещается нейтральный стеклянный фильтр (С на рис. 7.30а), понижающий яркость изображения источников. Плотность фильтра выбирается такой, чтобы обеспечить небольшое перекрытие областей. Например, току лампы, эквивалентному, скажем 700 °С на шкале без фильтра, на следующей шкале, с фильтром, будет соответствовать температура 1100°С. Таким образом, с помощью одного прибора температурные измерения могут быть расширены до любой желаемой максимальной температуры. Коэффициент пропускания фильтра т, который требуется для того, чтобы понизить яркость источника от температуры Т до температуры, например точки золота Гди, можно найти, используя приближение Вина, по формуле [c.365]

Поскольку в оптических приборах свету всегда приходится проходить через систему линз и призм, то нужно считаться с ослаблением интенсивности прошедшего света за счет отражения от поверхностей. В случае нормального падения света, как следует из формулы (3.16), коэффициент отражения (отношение интенсивности отраженного света к интенсивности падающего) определяется следующим образом [c.52]

Вычисление разности хода для интерферирующих лучей. Высоту в точке D (рис. 5.1), откуда выходят лучи Г и 2, обозначим через h, т. е. DE = h. Пусть коэффициенты преломления пластинки, линзы и прослойки между ними соответственно будут iii, щ и п . Разность хода для лучей 1 и 2 будет [c.94]

Осветительная система микроскопа состоит из источника света 1 — ртутной лампы сверхвысокого давления типа ДРШ-100-2, коллектора 2, проектирующего светящуюся плазму лампы в плоскость апертурной диафрагмы 3. Последующий путь светового потока зеркало 4, осветительная линза 5 и светоделительное зеркало 6. Последнее обладает соотношением коэффициентов отражения и пропускания Г = 1 2 и установлено под углом 45° к оптическим осям светового потока осветителя и микроскопа при этом исследуемый образец 7 освещается и изучается в прямом светлом поле. [c.138]

Для исследования микроструктуры образцов, нагреваемых до 3000° С и выше, необходимы специальные объективы, обладающие большим рабочим расстоянием, так как потери на излучение с поверхности образца возрастают пропорционально четвертой степени температуры его нагрева. На рис. 74 дан график значений тепловых потерь за счет излучения с нагретой поверхности в диапазоне от 600 до 3000° С (при коэффициентах излучения Ki 0, 2 0,4 0,6 0,8 и 1 и в отсутствие защитных экранов). Как видно из графика, при нагреве до 3000° С каждый квадратный сантиметр поверхности образца может излучать 400 Вт и более. Поэтому необходимо удаление фронтальной линзы линзового объектива от образца для снижения интенсивности ее нагрева и предотвращения выхода из строя объектива. [c.140]

На основании данных, приведенных в [29], можно принять следующие значения коэффициента трения в резьбовой паре с применением смазки — 0,18 без применения смазки — 0,23. Были подвергнуты испытаниям линзы из полиэтилена, полиформальдегида, полипропилена, смолы П-68, поликапролактама. [c.89]

Прекращение нагревания снижает напряжение. Это объясняется разницей коэффициента линейного расширения материала линзы и деталей соединения (коэффициент линейного расширения исследуемых пластмасс в 10—12 раз больше коэффициента линейного расширения стали). Перед началом и после исследования влияния релаксации на. герметичность соединения производится замер наружного и внутреннего диаметров, а также высоты линз. Из анализа результатов исследований определяется способность работать выбранного материала в пределах упругой деформации и даются рекомендации о целесообразности дальнейших испытаний при длительной работе и хранении машин. [c.95]

L — ширина линзы, и — коэффициент фильтрации, s — постоянная интенсивность инфильтрации на единицу длины оси абсцисс). [c.168]

На рис. 2.23,6 приведены значения /с в зависимости от скорости при разных 0. Лазерный решеточный анемометр на прямом рассеянии изображен на рис. 2.24, а. Луч лазера 1 фокусируется линзой 2 в некоторой точке А потока, где частицы имеют скорость Ск- Изображение этих частиц объективом 3 переносится на плоскость решетки-модулятора 4, расположенного на катоде фотоприемника 5. Если пространственный период решетки-модулятора D, а линейный коэффициент преобразования объектива т, то доплеровская частота [c.53]

Формулы справедливы для линз, показатель преломления которых п 1,5. При 1,5 > 11 или /I > 1.5 необходимо f умножить на коэффициент 2 (л — 1). [c.717]

На практике просмотр шлифа осуществляется в воздушной среде (л = 1). Для получения больших увеличений (более 600 раз) между поверхностью объектива и рассматриваемым объектом создают среду, имеющую высокий коэффициент преломления. Для этого на верхнюю поверхность линзы объектива наносят каплю кедрового масла (п = 1,52). Тогда d= 0,2 мкм. [c.68]

Характеристика параметров В / А КПД линз, % Коэффициент заполнения ВАХ КПД модуля, % [c.501]

Отрицательные линзы 10 и 18 расширяют пучки, благодаря чему облучается вся площадка катода ФЭУ и тем самым исключается влияние зонной чувствительности катода. Монохроматические (интерференционные) фильтры 11 и 19 имеют следующие характеристики максимум пропускания — при А, = 0,635 мк, максимальный коэффициент пропускания — 38%, полуширина полосы пропускания — 10 мк. Использование таких фильтров дает возможность работать в незатемненном помещении, так как часть излучения из спектра дневного света или ламп накаливания, которая может попасть на катод ФЭУ, ничтожна по сравнению с полезным потоком и не сказывается на результатах измерений. [c.33]

Авторы предпочли другой подход, в котором дифракционный элемент рассматривают как бесконечно тонкий транспарант с особым образом заданным амплитудным коэффициентом пропускания. Во-первых, такое представление ДОЭ достаточно реально отражает условия его работы дифракция света на рельефно-фазовых структурах, изготавливаемых с помощью фотолитографического метода, происходит в пределах тонкого слоя толщиной не более двух длин волн. Во-вторых, оперируя с амплитудным коэффициентом пропускания, очень просто задавать асферические отклонения в структуре ДОЭ, тогда как при рассмотрении рефракционной линзы пришлось бы вводить асферические поверхности, что затрудняет расчет элемента. Конечно, реальные ДОЭ всегда представляют собой дифракционную структуру на поверхности стеклянной подложки конечной толщины. Общепринято, однако, рассматривать в качестве ДОЭ только структуру, на которой дифрагирует свет. Если же влияние подложки существенно, то реальный оптический элемент представляется как совокупность бесконечно тонкого ДОЭ и подложки как чисто рефракционного компонента. [c.7]

Поскольку сферическую аберрацию линзы можно описать с помощью коэффициентов Ь, а параметры записи ДЛ все равно не влияют на полевые аберрации, то выбор параметров записи становится произвольным, необходимо только сохранить постоянным фокусное расстояние. Положим Z — s, — гдэ Sj — отрезок в пространстве изображений, который имеет ДЛ в минус первом порядке дифракции на основной длине волны, Хо = X. Выбранные параметры записи обеспечивают выполнение соотношений (1.15), (1.16), а эйконал записи по-прежнему равен разности двух искаженных сферических волн [c.25]

Отметим, что выражение (1.20) можно трактовать как монохроматические аберрации ДЛ в любом порядке дифракции, а не только в минус первом, но тогда s, Ьз, и т. д. следует понимать как отрезок и коэффициенты сферической аберрации линзы при работе в этом порядке (отрезок в предметном пространстве S не зависит от порядка дифракции и длины волны), что самым непосредственным образом сказывается при расчете структуры и дифракционной эффективности линзы. Эйконал записи такой ДЛ можно найти, если сравнить выражения (1.20), понимаемое как волновая аберрация линзы в т-м порядке дифракции, и [c.26]

Необходимость последнего соотношения определяется тем, что при расчете объективов, содержащих ДЛ, аберрационный анализ дает значения коэффициентов асферической деформации, которыми должна обладать ДЛ (см. гл. 4, 5). Выражение (1.21) совместно с (1.15), (1.16) позволяет выяснить возможность записи такой линзы голографическим методом с использованием интерференции чисто сферических волн, что далеко пе всегда осуществимо (см. гл. 7). [c.27]

Таким образом, проведенный анализ показал, что дифракционные линзы и сферические преломляющие поверхности имеют существенно разные аберрационные свойства. Ряд особенностей ДЛ, в полной мере присущих только плоским линзам — хорошая сходимость аберрационного разложения, возможность эффективного управления сферической аберрацией, совпадение коэффициентов различных аберраций — позволяют предполагать, что наибольшие успехи при использовании ДЛ могут быть достигнуты в области создания монохроматических (в силу резко выраженного хроматизма ДЛ) высокоразрешающих объективов. [c.37]

Если необходимо выразить аберрации в плоскости выходного зрачка через координаты предметной точки х, у (например, когда линза формирует изображение в бесконечности), то это делают с помощью обращенных формул (2.11), считая коэффициент увеличения Р = s /s. В результате в соотношениях (2.23) изменятся параметры Vi, G [c.66]

Коэффициент дисторсии опущен, так как он не представляет особого интереса общеизвестно, что тонкая линза свободна от дисторсии, если выходной зрачок совмещен с ней, а прочие решения связаны с очень далеким выносом зрачка. Отметим также, что индекс 2 в соотношениях (2.40) можно сохранить только у радиуса второй поверхности, поскольку отрезки s , совпадают с аналогичными отрезками линзы s, t. [c.78]

В заключение рассмотрим условия, при которых коэффициенты астигматизма и кривизны поля толстой линзы равны, как это имеет место для ДЛ [в случае тонкой линзы, как следует из (2.40), равенство Л3 = Гз невозможно]. Преобразуем разность между коэффициентами Аз и fs в выражениях (2.39), используя соотношения, полученные в п. 2.2. [c.79]

Явление интерференции позволяет свести к минимуму коэффициент отражения поверхностей различных элементов (линз, призм и т. и.) оптическо11 системы — осуществить так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхность элемента, например линзы, методом напыления в вакууме наносят тонкие пленки с коэ( к )ицие1ггом преломления, меньшим, чем у материала линзы. Падающий на поьерхносгь пленки пучок света / (рис. 5.14) частично отражается от внешней границы просветляющего слоя [c.106]

Просветление оптики. Уже указывалось, что при создании оптических систем с большим числом отражающих поверхностей относительно малый коэффициент отражения на каждой из них (Я 4% для перехода стекло —> воздух при нормальном падении) начинает существенно влиять на общее количество света. Так, например, в сложном объективе, состоящем из нескольких линз,. дегко потерять половину светового потока. Поэтому сведение к минимуму коэффициента отражения на каждой поверхности просветление оптики) становится важной задачей, которая теперь решается путем использования явлений интерференции. [c.217]

В соответствии с новой технологией пуансоны и матрицы указанных штампов подвергались лазерному упрочнению на технологической лазерной установке Квант-16 , оснащенной системой числового программного управления. Пуансоны были изготовлены из стали У8А, матрицы — из стали Х12М, прошедщих стандартную термическую обработку. Упрочнение рабочих кромок деталей штампов производилось после предварительного чернения химическим травлением в среде защитного газа при следующих параметрах режима напряжение накачки — 1800 В энергия излучения Е — 30 Дж фокусное расстояние фокусирующей линзы F — 61 мм степень расфокусировки KF — 5 мм диаметр луча в зоне фокусировки D — 4 мм частота следования импульсов — 1 Гц коэффициент перекрытия Кп — 0,7. Обработка производилась в защитной среде — аргоне. [c.111]

Дакрил-2М (ТУ 6-01-707-72) со, к (ЛД, Э, П) Отличается хорошей прозрачностью. Для изготовления оптических деталей (линз, шкал). Коэффициент пропускания 91 — 92% [c.499]

Расходимость излучения лазера можно уменьшить, увеличив с помощью телескопа размер пучка. Из рис. 2.4 видно, что в случае двухлинзового конфокального телескопа с коэффициентом увеличения М — Fi/Fx, где F и F2 — фокусные расстояния первой и второй линз по ходу луча, размер пучка увеличивается в М раз. Так как при этом 01Ш1 = 02Ш2, то расходимость излучения за второй линзой также падает в М раз, т. е. [c.68]

Линза 2 направляет лучи от источника света /. Один пучок лучей попадает на кювету 5 с испытуемым лаком, налитым в кювету на высоту 10 мм. Лак пропускает только часть света в виде пучка параллельных лучей другая часть света рассеивается вследствие мутности лака. Экраном 6 можно задержать лучи, проходящие через лак. Для определения коэффициента мутности необходимо определить с помощью гальванометра ток /,, идущий через фотоэлемент 7, когда экран не задерживает прямопроходящих лучей. [c.20]

Цифровая апертура равна Л = лз1па, где п — коэффициент преломления среды между предметом и передней линзой объектива а—половина угла раствора светового пучка, попадающего в объектив. [c.175]

Подчеркнем, что К-—длина волны света, реально падающего и дифрагирующего на элементе, тогда как Яо — условная длина волны, используемая для аналитического выражения структуры ДОЭ (коэффициента пропускания i). Только в частном случае голографической записи ДОЭ Яо приобретает реальный физический смысл длины волны интерферирующего света при изготовлении элемента. В дальнейшем во всех случаях будем называть Ло длиной волны записи, функцию Фо — эйконалом записи, соответственно Ф и Фт — эйконалами падающей и дифрагированной волн. Отметим, что понятие эйконала записи ДОЭ является основным в теории ДОЭ и используется как при аберрационном анализе, так и при расчете структуры дифракционных линз с заданными характеристиками. Как следует из соотношения [c.13]

Последнее обстоятельство, которое хотелось бы отметить, это равенство коэффициентов некоторых аберраций для плоской ДЛ, что не имеет места для СПП. Так, в третьем порядке равны коэффиценты астигматизма и кривизны поля, а в пятом имеется три пары равных коэффициентов. Несомненно, что это облегчает компенсацию аберраций в дифракционных объективах. Особо следует обратить внимание на совпадение коэффициентов астигматизма и кривизны поля. Требование одновременной компенсации этих аберраций в рефракционных системах приводит к необходимости выполнения условия Пецваля (см. гл. 2), что заставляет использовать компоненты со сравнительно небольшой оптической силой или вводить в систему как положительные, так и отрицательные линзы и вызывает значительные трудности при создании объективов, особенно с большой числовой апертурой. Отметим, что для ДЛ на сферической поверхности коэффициенты астигматизма и кривизны поля в третьем порядке тоже совпадают, однако обязательное наличие подложки со сферической поверхностью, для которой эти коэффициенты все равно различны, лишает указанное совпадение особого смысла. [c.37]

Рассмотрим плоскую ДЛ, коэффициенты аберраций которой в ее собственной плоскости на основной длине волны заданы выражениями (1.31). В этом случае аберрационные свойства линзы зависят от четырех параметров отрезков s и s и коэффициентов асферической деформации эйконала записи ДЛ Ьз и 65. Считая, что выходной зрачок линзы находится на расстоянии t от ее плоскости (рис. 2.6), применим к коэффициентам в плоскости ДЛ формулы (2.9) при /г— /г = Ь. Второй возможный путь, дающий те же результаты, но позволяю щий сразу получить коэффи циенты в более удобной фор ме, заключается в следую щем. Выделим из общего вы ражения (1.20) для аберра ций ДЛ в ее плоскости чле ны третьего и пятого поряд ков, не разбивая их на от дельные типы аберраций, и применим к ним формулы (2.5). В любом случае получаем для коэффициентов аберраций ДЛ в плоскости выходного зрачка следующие выражения [c.65]

Случаи компенсации отдельных аберраций у толстой линзы (d 0) достаточно многообразны. Они описаны, хотя и разрозненно, в курсах оптики,и их удобнее получать, не анализируя общих выражений для коэффициентов аберраций, а синтезируя линзу из поверхностей с неизвестными свойствами. Например, нетривиальная апланатическая и изопланатическая поверхности образуют линзу, свободную от первичного астигматизма и комы. Для сравнения со свойствами ДЛ и отдельной СПП рассмотрим более простой случай тонкой линзы (й = 0). [c.77]

Рассмотрим одновременную компенсацию комы и астигматизма. Приравняв нулю соответствующие коэффициенты в соотношениях (2.40), получим систему уравнений с двумя решениями l/s = l/rg — п/[ п — 1)/], / =/"г и 1/ 2 = = 1/ 2 — /[( —1)/]. Легко показать, что в первом случае линза представляет собой совокупность нетривиальной аплана-тической и изопланатической поверхностей, а во втором — поверхности тех же типов расположены в обратном порядке. Таким образом, решение общей задачи для тонкой линзы привело к сочетанию поверхностей с известными свойствами. Практический вывод, который можно отсюда сделать, заключается в том, что при синтезе оптических систем целесообразнее идти не от отдельных тонких (или приближающихся к тонким) линз, как это часто делается [41], а от отдельных преломляющих поверхностей. [c.79]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...