Линза просвечивающая

Если просвечивающая волна расходящаяся, то оба изображения мнимые, и для их регистрации необходима дополнительная оптическая система, в качестве которой может выступать и глаз. Просвечивание сходящейся волной (г , > 0) позволяет получать действительные изображения на экране без применения линз (так называемое безлинзовое изображение). [c.256]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

ЭМ просвечивающего типа (объект пронизывается электронами) делаются с электростатическими или магнитными линзами. Обычно просвечивают пластический отпечаток объекта. [c.599]

Put- 1. Электронный микроскоп просвечивающего типа (ПЭМ) 1—электронная пушка с ускорителем 2—конденсорные линзы 3—объективная линза 4—проекционные линзы J—световой микроскоп, дополнительно увеличивающий изображение, наблюдаемое на экране б—тубус со смотровыми окнами, через которые можно наблюдать изображение 7—высоковольтный кабель 8 — вакуумная система 9— пульт управления 10—стенд [c.575]

Фазовые пластинки предназначены для придания пучку S требуемого начального состояния поляризации. Изменяя ориентацию пластинки Я/2 относительно направления поляризации лазерного излучения и ориентацию пластинки Я/4 относительно пластинки У2, создают любое нужное состояние поляризации просвечивающего пучка S. Линза фокусирует излучение лазера в точке внутри иммерсионной ванны. В этой точке пучок имеет диаметр около 0,2 мм. [c.32]

Просвечивающий электронный микроскоп состоит из электронной пушки и системы электромагнитных линз, заключенных в колонну, откачиваемую до остаточного давления не вы- [c.47]

Рис. 2.1. Оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа с электромагнитными линзами

В обычном просвечивающем электронном микроскопе, в котором используются электромагнитные линзы, электронная пушка дает пучок электронов с энергией приблизительно от 20 кэВ до нескольких мегаэлектронвольт. Наиболее часто используется напряжение в 100 кэВ. Обычно освещение образца регулируется с помощью двух конденсорных линз. Эффективный размер источника порядка нескольких микрометров. Расходимость пучка на образце можно уменьшить вплоть до 10 рад, однако для освещения большой интенсивности, которое необходимо для больших увеличений, расходимость может достигать 10" рад, особенно если образец вводится в поле объективной линзы так, что переднее поле объектива действует как короткофокусный конденсор. [c.287]

Следует отметить, что проведенное сравнение было сделано для фиксированного положения изображения и равных увеличений (так называемый случай фиксированного пучка в просвечивающей электронной микроскопии). Это означает, что различные линзы сравнивались при разных отношениях электродных напряжений. Действительно, гибридная линза всегда работает при более высоких отношениях напряжений, поэтому ее аберрации ниже. [c.420]

В заключение отметим некоторые особенности электронных микроскопов. Основную часть выпуска промышленных образцов микроскопов составляют просвечивающие электронные микроскопы. Здесь есть конструкции как с одной промежуточной линзой, так и с двумя линзами. Обычно ускоряющая разность потенциалов равна 50—100 кВ, однако разрабатываются микроскопы, в которых ускоряющее напряжение достигает единиц мегавольт. Характерными для современных электронных микроскопов являются большой диапазон увеличений (220 —500 000><), наличие высококачественной системы регистрации, высокая стабильность блоков питания объективной и других линз, многокаскадная вакуумная система, разнообразие конструкций держателей образцов. Высокого совершенства достигли растровые электронные микроскопы (диаметр электронного пучка в них 5—10 нм). [c.294]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еще выявляемой толщиной цветового или флюоресцентного слоя. На обезжиренную ровную стеклянную плитку наносятся 1. .. 2 капли пенетранта, сверху накладывается выпуклая линза малой кривизны, линза легко прижимается. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопропускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. В случае люминесцентных пенетрантов осуществляется боковое облучение УФ-светом, причем интенсивность облучения нормируется и должна составлять 500 м-кВт/см . [c.570]

Вследствие низкой начальной скорости поле объективной линзы преломляет даже те электроны, которые выходят из катода под большими углами к оптической оси, и они участвуют в образовании изображения. Напомним, что в просвечивающем микроскопе изображение создают только те электроны, траектории которых отклоняются на небольшой угол от оптической оси, поэтому теоретическая разрешающая способность эмиссионных микроскопов меньше, чем у просвечивающих. На практике разрешающая способность эмиссионных микроскопов оказывается еще ниже. [c.20]

Изображение на экране получается с помощью синхронных разверток кадровой и строчной. Инерция зрительного ощущения приводит к восприятию движущегося изображения. Приемные трубки для телевизоров — кинескопы — выпускают в массовом производстве, а проекционные телевизионные и просвечивающие трубки — серийно. В кинескопах для фокусировки используют электронностатические линзы, для развертки — магнитное управление, угол отклонения электронного луча от оси трубки до 55°, дымчатое стекло увеличивает контрастность и уменьшает ореол, алюминированный экран устраняет ионное пятно, увеличивает контрастность и яркость изображения. Срок службы кинескопов 6000—10 ООО ч. Выпускают взрывобезопасные трубки, у которых экран обжат бандажом, компенсирующим натяжение в стекле, образующееся в результате воздействия на экран атмосферного давле- [c.160]

Рнс. 7. Принципиальная схема просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ) 1—автоэмиссионный катод 2—промежуточный анод 3 — анод 4 — диафрагма осветителя 5—магнитная линза 6—двухъярусная отклоняющая система для развёртки электронного зонда 7 — маг-нитвый объектив 8 — апертурная диафрагма объектива Ч — объект О—отклоняющая система 11 — кольцевой детектор рассеянных электронов 12 — детектор верассеянных электронов (удаляется при работе магнитного спектрометра) [c.577]

Оптическая часть установки (рис. 2) состоит из четырех ветвей. Первая ветвь предназначена для формирования просвечивающего пучка S и включает в себя источник света i, призму фазовые пластинки Я/2 (в полволны) 3 и XI4 (в четверть волны) 4, положительную линзу 6, иммерсионную ванну 6, модель 7. В качестве источника света используется выпускаемый промышленностью гелий-неоповый лазер ЛГ-56, который излучает монохроматический свет с длиной волны к = 0,633 мк (ширина линии излучения ДЯ, 10 мк). Излучение коллимировано (угловая расходимость — 10 ), линейно поляризовано диаметр выходящего пучка — [c.31]

Как известно [1 2], оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа аналогична схеме обычного светового микроскопа (фиг. 1,а) конденсорная линза освещает узким пучком электронов объект, изображение которого с помощью двух электронных линз — объективной и проекционной — в увеличенном масщтабе переносится на конечный экран. Проходя через объект, расположенный вблизи апертурной диафрагмы объективной линзы, электроны взаимодействуют с атомалш объекта и отклоняются от первоначального направления падения пучка, т. е. рассеиваются , При этом у части электронов скорость меняется только по направлению, не меняясь по величине, что соответствует упругому рассеиванию. Скорость другой части электронов меняется и по направлению, и по величине, при этом часть энергии электронов затрачивается на возбуждение и ионизацию атомных электронов в объекте. Вследствие этого электроны, пройдя через объект, после рассеяния в нем имеют вид расходящегося пучка. При этом электроны, рассеянные на угол, больший апертурного угла объективно линзы, определяемого диаметром апертурной диафрагмы и ее геометрическим положением, поглощаются в толще материала этой диафрагмы, и в дальнейшем в формировании изображения, возникающего на экране электронного микроскопа, принимает участие только та часть рассеянных электронов, которая прошла через диафрагму (фиг. 1,6). [c.5]

Кроме обычного просвечивающего электронного микроскопа с фиксированным пучком электронов для получения в основном таких же данных используется также сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (СПЭМ). Принцип его действия показан на фиг. 13.2. Здесь короткофокусную линзу типа объективной используют для получения электронно-лучевого зонда малого [c.289]

К сожалению, это очень трудный вопрос. В самом деле, число геометрических и электрических или магнитных параметров, линзовой конструкции, используемой на практике, может быть весьма велико, а с другой стороны, различные приложения могут выдвигать сильно отличающиеся и даже противоречивые требования. Например, в просвечивающих электронных микроскопах нужны линзы с очень большой оптической силой (малым фокусным расстоянием), в то время как для зондоформирующей системы требуется большее рабочее расстояние (большое фокусное расстояние). Поэтому всегда необходимо анализировать данную оптическую систему с точки зрения конкретного применения. [c.350]

Очень близок по устройству к электронным микроскопам электронограф. Большинство электронных просвечивающих микроскопов может работать в режиме электронографа. При этом электроны с помощью магнитных линз собираются в очень узкий пучок, который наводится на обнаруженную заранее деталь структуры. Получающаяся дифракционная картина подобна той, которая возникает при рентгеновском анализе по методу Лауэ. По электронограмме можно определить кристаллографические параметры очень мелких частиц и тонких пленок, которые не поддаются рентгеноструктурному анализу из-за соизмеримости длин волн рентгеновского излучения и геометрических размеров частиц и пленок. [c.53]

Первые электронные микроскопы, сконструированные по принципу просвечивающего оптического микроскопа, состояли из двух групп линз. Увеличение таких приборов можно было регулировать только с помощью проекционной линзы (при использовании для этой цели объективной линзы промежуточное изображение может выйти за пределы плоскости объекта проекционной линзы), т. е. в довольно узких пределах. Дело в том, что для каждой проекционной линзы существуют только одно оптимальное увеличение. В обмотке проекционной линзы выгодно иметь максимальное количество ампер-вИткон (не достигая при этом предела насыщения полюсного наконечника и максимально допустимого тока), поскольку максимальное возбуждение магнитных линз соответствует наименьшей сферической аберрации. Эго обусловлено тем, что при уменьшении фокусного расстояния [c.16]

В наиболее часто применяемых методах просвечивающей электронной микроскопии только один пучок формирует конечное изображение. Это достигается путем введения в объективную линзу диафрагмы с достаточно малой апертурой, пропускающей пучок, который соответствует только одному рефлексу дифракционной картины в плоскости АВ (см. рис. 39). Изображение, образованное проходящим пучком, называется светлопольным, тогда как изображение, образованное каждым из дифрагированных пучков, называется темнопольиым. [c.52]

ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 10 раз) увеличенного изображения объектов, в к-ром вместо световых лучей используются пучки эл-нов, ускоренных до больших энергий (30—100 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ. основы электронно-оптич. приборов были заложены почти за сто лет до появления Э. м, ирл. матем. У. Р. Гамильтоном, установившим существование аналогии между прохождением световых лучей в оптически неоднородных средах и траекториями ч-ц в силовых полях. Целесообразность создания Э. м. стала очевидной после выдвижения в 1924 гипотезы о волнах де Вройля, а технич. предпосылки были созданы нем. физиком X. Бушем, к-рый исследовал фокусирующие св-ва осесимметричных полей и разработал магн. электронную линзу (1926). В 1928 нем. учёные М. Кнолль и Э. Руска приступили к созданию первого магн. просвечивающего Э. м. (ПЭМ) и спустя три года получили изображение [c.886]

Просвечивающие растровые Э. м. ЩРЭМ) обладают столь же высокой РС, как и ПЭМ. В этих приборах применяются автоэмиссионные пушки, обеспечивающие достаточно большой ток в зонде малого диаметра (2—3 А). Диаметр зонда уменьшают две магн. линзы (рис. 5). Ниже объекта расположены детекторы — центральный и кольцевой. На первый попадают нерассеянные эл-ны, и после преобразования и усиления соответств. сигналов на экране ЭЛТ появляется т. н. светлопольное изображение. На кольцевом детекторе собираются рассеянные эл-ны, создающие т. н. темнопольное изображение. В ПРЭМ можно исследовать более толстые объекты, чем в ПЭМ, т. к. возрастание числа неупруго рассеянных эл-нов с толщинох [c.889]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...