Диафрагма полевая

В сложных оптических приборах (перископы, смотровые трубки и т. п.) имеется несколько промежуточных действительных изображений, и в любом из них может быть установлена полевая диафрагма. Полевая диафрагма всегда оптически сопряжена с плоскостью предметов. [c.129]

Оптическая система создает изображение, которое в краевой зоне ухудшено аберрациями, т. е. нерезко, и имеет в ряде случаев недостаточную освещенность. Поэтому краевые зоны изображения не пригодны для использования, и для их ограничения применяют полевые диафрагмы. Полевая диафрагма имеет форму круга в наблюдательных приборах, действующих совместно с глазом человека, и форму прямоугольника в фотографирующих. [c.191]

Рис. 7.32а. Фотоэлектрический пирометр с преломляющей оптической системой [44]. / — источник 2 2 — диафрагма 3 — галогенная вольфрамовая лампа 4 — полевая диафрагма 5 —линза 6 — коллимированный источник 7—поглощающие фильтры 8 — интерференционные фильтры 9 — фотоумножитель 10 — карусель // — поглощающий фильтр 12 — ограничивающая диафрагма 13 — затвор 14 — прицельный телескоп 15 — линза объектива 16 — источник 1.

С эффектом размера источника тесно связаны вариации освещенности полевой диафрагмы, обусловленные либо изменением пропускания или отражения элементов объектива, либо изменением размера отверстия диафрагмы, возникающим в результате нагревания под действием излучения от печи. Эффект этого происхождения максимален, когда на внешней поверхности элементов объектива остаются органические пленки. Это уже упоминалось [61] в связи с проблемой стабильности пропускания окон вольфрамовых ленточных ламп. Если используется [c.380]

Оптическая схема типичной модели двухлучевого микроинтерферометра МИИ-4 показана на рис. 22, а. От лампы 1 через конденсор 2, апертурную диафрагму 3, полевую диафрагму 4 и объектив 5 пучок лучей падает на пластину 8 с полупрозрачным слоем и разделяется на два пучка когерентных лучей примерно одинаковой интенсивности. [c.91]

Нить лампы I проектируется конденсором 2 в плоскость апер--турной диафрагмы 3. Объектив 5 и пластина 8 проектируют изображение апертурной диафрагмы в плоскости зрачков входа одинаковых микрообъективов 6 и 10, г изображение полевой диафрагмы — -В бесконечность. [c.92]

На рис. 28 представлен общий вид прибора. На массивном Основании 18 корпуса прибора смонтирована стойка 3, в которой собрана оптическая схема прибора и предметный столик 15. Для перемещения предметного столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях служат микровинты 1. Для фиксации положения предметного столика предусмотрена рукоятка 17. Грубую фокусировку на исследуемый объект можно осуществить перемещением столика по вертикали с помощью винта 2, а точную фокусировку — с помощью механизма 16. На стойке 3 смонтированы головка микроскопа 9 и осветительное устройство, содержащее источник света 6, конденсор 7 с полевой и апертурной 5 диафрагмами и фильтр монохроматического света 8. [c.104]

Как уже отмечалось, микроскоп позволяет наблюдать микроструктуру образца в светлом поле, при прямом и косом освещении. В светлом поле при прямом освещении нить лампы источника света 1 проектируется коллектором 2 и осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 4. Диафрагма 5 коллектора 2 проектируется осветительной линзой 3 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 6. Апертурная диафрагма 4 проектируется осветительной линзой 7 в плоскость выходного зрачка объективов 8 или 9. Полевая диафрагма проектируется осветительной линзой 7 в бесконечность. Так как объективы 8 и 9 рассчитаны на длину тубуса бесконечность , то изображение полевой диафрагмы проектируется объективами в плоскость предмета. [c.93]

Объективы 7 и 8 передают изображение полевой диафрагмы в плоскость объекта. Апертурная диафрагма проектируется линзой 6 в плоскость выходного зрачка объектива. [c.99]

Полевая диафрагма 8 через объектив 9 с большим рабочим расстоянием проектируется на поверхность образца 7. [c.138]

Если перед фотоприемником установлена полевая диафрагма, пространственное разрешение определяется проекцией этой диафрагмы в рассеивающем объеме. [c.290]

Ортоскопические окуляры удобны тем, что полевая диафрагма расположена перед коллективной линзой и изображение, даваемое объективом, попадает в полость диафрагмы окуляра, не будучи измененным коллективной линзой, как это имеет место в окулярах Гюйгенса. При этом не изменяется масштаб изображения, даваемого объективом, что особенно удобно для измерительных целей. [c.244]

С и м м е т р н ч н ы е окуляры имеют удаленный выходной зрачок, широкое поле зрения и полевую диафрагму перед линзами. Применяются для фотографирования при слабых увеличениях. Выпускается окуляр с собственным увеличением 15 и фокусным расстоянием 17 мм. [c.244]

Окуляры Кельнера имеют широкое поле зрения и полевую диафрагму перед коллективной линзой. [c.245]

Ортоскопические окуляры удобны тем, что полевая диафрагма расположена пе- [c.334]

Нить лампы накаливания / проектируется коллектором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 4. В фокальной плоскости проекционного объектива 6 помещена полевая диафрагма 5, которая изображается объективом в бесконечности. Параллельный пучок лучей попадает на разделительную пластинку 7, которая одну половину лучей отражает, а другую — пропускает. Отраженный от пластинки 7 пучок лучей собирается в фокусе объектива ]0 на поверяемой поверхности детали 8, установлен- [c.349]

Датчик температуры имеет зеркально-линзовую оптическую систему (см. рис. 1). Полевая диафрагма 3 введена для ограниче- [c.21]

Осветительная система М. состоит из лампы 1, коллектора 2, плоского зеркала 4 и конденсора 6. С плоскостью препарата 7 сопряжены полевая диафрагма окуляра 10 и полевая осветит, диафрагма 3, обычно регулируемая. Конус лучей, к-рый может быть воспринят объективом, ограничивает апертурная диафрагма 9, с к-рой сопряжены ирисовая диафрагма 5, наз. апертурной осветит, диафрагмой, и нить лампы накаливания 1. При таком расположении источника [c.142]

Принцип действия и устройство металлографического микроскопа. Для изучения микроструктуры металлов используют металлографические микроскопы (рис. 1.4). Подготовленный соответствующим образом шлиф 1 помещают перпендикулярно оптической оси микроскопа в плоскости, совпадающей с передней главной фокальной плоскостью объектива 2. Шлиф освещается проходящим через объектив почти параллельным оптической оси пучком света, который формируется посредством осветительной системы, состоящей из источника (лампы) 3, коллекторной линзы 4, апертурной 5 и полевой 7 диафрагм, вспомогательных линз 6, 8 и полупрозрачной пластинки 9. Световые лучи, отражающиеся от участков поверхности шлифа, приблизительно нормальных оптической оси микроскопа, попадают в объектив. а те лучи, которые отражаются от неровностей поверхности, не попадают в его поле. На конечном, изображении поверхности [c.22]

В результате чего количество параметров для коррекции полевых аберраций пятого порядка еще более сокращается. Положение апертурной диафрагмы влияет на компенсацию аберраций, как правило, ограниченно. Во-первых, как следует из формул п. 2.1, его изменение [c.111]

Таким образом, для компенсации трех полевых аберраций — комы, астигматизма и дисторсии — остаются три параметра г, d и dp Если апертурная диафрагма помещена в плоскость ДЛ, то аберрации дублета складываются из аберраций толстой РЛ с вынесенным зрачком, коэффициенты которых даны выражениями (2.39), и аберраций ДЛ в ее собственной плоскости [см. формулы (1.М)]. При сложении необходимо учесть, что промежуточное изображение, формируемое РЛ, служит предметом для ДЛ и, следовательно, коэффициенты РЛ необходимо согласно уравнению (2.11) умножить на обратное увеличение ДЛ 1/Рз==5з/5 в соответствующей степени. Кроме того, при подстановке параметров дублета в соотношения (2.39) необходимо учитывать, что [c.159]

Осветитель (фиг. 83) состоит из корпуса 1, который с помощью зажимного устройства 2 закрепляется на стойке 3. Корпус может перемещаться на стойке по высоте и наклоняться. В корпусе находятся патрон 4 с лампой 8 в 20 вт, двухлинзовый коллектор, ирисовая диафрагма (полевая при настройке освещения по Кёлеру), карман для светофильтров. Патрон с лампой передвигается вдоль оптической оси для настройки освещения. Лампа включается в сеть с напряжением 127/220 в через понижающий трансформатор, в корпусе которого встроен выключатель для отключения лампы и реостат для регулирования накала лампы. Трансформатор входит Б комплект осветителя. Осветитель соединяется с микроскопом Т-образной планкой, которая обеспечивает постоянство в регулировке освещения препарата. [c.161]

Полевая диафрагма (диафрагма поля зрения) — та из диафрагм, которая определяет, какая часть пространства может быть изображена данной оптической системой она наиболее препят- [c.91]

Даваемые объективами 6 и 10 вторичные изображения полевой диафрагмы проектируются на испытуемую поверхность 7 и зеркало 11. Компенсационная пластина 9 уравнивает длины хода в стекле двух пучков лучей. Отразившись от испытуемой поверхности и зеркала, пучки лучей, вновь пройдя микрообъективы 6 и 10, соединяются полупрозрачной пластиной 8 и объективом 13 вместе с зеркалом 14 направляются в окуляр 12, в фокальной плоскости которого и наблюдается изображение испытуемой поверхности и система интерференционных полос, образованная соединившимися пучками когерентных лучей. При фотографировании интерференционной картины зеркало 14 выводят из хода лучей и с помощью объектива 15 и зеркала 17 лучи направляют на фотопленку, помещенную в кадровом окне 16. Разность хода когерентных световых пучков создается децентрированием объектива 10. Оно вызывает разделение зрачков выхода оптической системы и тем самым создает в поле интерференции переменный наклон пучков, которые разделяет и собирает в фокальной плоскости объектив 13. [c.92]

Оптическая схема микропрофилометра МИИ-12 представлена на рис. 27, а. Пучок лучей от осветителя 1 проходит через коллектор 2, апертурную диафрагму 3, линзы и 7 и полевую диафрагму 6, отражаясь от пластин 5 и 3, и поступает на отражательную пластину И, на которой нанесен светоделительный слой. Параллельный пучок лучей, отраженный от пластины 11, собирается линзами интер ренционного объектива 10 в точку на исследуемой поверхности 9, затем, отразившись от нее, снова проходит через интерференционный объектив и пластину И. [c.100]

Оптическая схема высокотемпературного микроскопа с зеркальнолинзовыми объективами приведена на рис. 48. При наблюдении объекта в светлом поле нить лампы источника света J проектируется коллектором 2 в плоскость ирисовой апертурной диафрагмы 3, а диафрагма коллектора — линзой 4 в плоскость ирисовой полевой диафрагмы 5. Линза 6 проектирует полевую диафрагму в бесконечность. [c.99]

Схема содержит последовательно расположенные объектив 1 зеркало 2, поляризационную призму Волластона 3, направля ющий объектив 4, зеркало 5, фокусирующий объектив б, прием ный объектив 7, зеркало 8, микроскоп 9, приемную поляриза ционную призму 10 с установленной передней полевой диафраг мой 11, зеркало 12, поворотное зеркало 13, два фотоприеыника 14 15 и дифференциальный усилитель 16. Между объективом 4 и зеркалом 5 помещена диафрагма, ограничивающая рассеянный на частице в обратном направлении свет. Перед диафрагмой расположена четвертьволновая пластинка 18 с азимутом 45° относительно соответствующих ортогональных плоскостей поляризации расщепленных пучков. Между зеркалом 8 и микроскопом 9 помещена полевая диафрагма с экраном, ограничивающим прямые проходящие пучки. Положение зеркала 13 на рисунке соответствует работе схемы на рассеянии вперед. Для получения режима работы схемы на рассеянии назад необходимо повернуть зеркало на 90°, а блок фотоприемников на 45°. [c.295]

Оптические линейки (рис. 10.8) производят измерение отклонений измеряемого профиля от исходной прямой, заданной лучом, проходящим через центры зеркальнолинзовых объективов, образующих афокальную автоколлимационную систему. Лучи света от лампочки 6, пройдя через призму 5, линзу 4, призму 17 и левую половину кубика 12, освещают визирную марку 2 и через зеркально-линзовые объективы 1 к 13 создают изображение визирной марки на полевой диафрагме 3. Микрообъек-тиа 11 переносит увеличенное изображение визирной марки 2 в плоскость биссектор-ной сетки 7, которое окуляром 9 проецируется на экран 8. [c.288]

ОКУЛЯР (от лат. oeulus — глаз) — часть оптич. системы (зрительной трубы, микроскопа и т. п.), обращённая к глазу наблюдателя и предназначенная дли увеличения и рассматривания действит. изображения, созданного объективом или объективом совместно с оборачивающей системой. Если увеличенное изображение проецируется на экран или фотоматериал, то иногда используется термин проекционный О. . Для наблюдения изображения зрачок глаза наблюдателя необходимо совместить с выходным зрачком О. Благодаря наличию полевой диафрагмы, расположенной в передней фокальной плоскости О., наблюдаемое изображение чётко ограничено. [c.404]

Оси. оптич, характеристики О. видимое увеличение (используется преим. для О. микроскопов) Г — tgGj /tgo), где О) — угол, под к-рым наблюдался бы предмет в отсутствие О., ш — угол, под к-рым видно изображение того же предмета видимое увеличение О. связано с его фокусным расстоянием f соотношением Г = 250// (250 — расстояние наилучшего видения) угловое поле 2io — угол, под к-рым наблюдатель видит полевую диафрагму О. угл. поле О. составляет 20° в О. микроскопов и 90°—100° у широкоугольных О. зрительных труб удаление (расстоя- [c.404]

В общем случае плоскости объекта О1О2 и контура 5x52 не совпадают и имеет место виньетирование (с шириной кольца ВВ1, рис,). -Еслп же плоскость 5x52 совмещена с плоскостью объекта, граница П. резка. Этого стараются добиться во мн, телескопах, зрительных трубах и др., помещая полевую диафрагму в фокальную плоскость объектива. [c.7]

Оптическая схема. микроскопа показана на рис. 1.8, а. Свет от источника 1 (лампы накаливания с йодным цик.том типа КИМ9-75) проходит через коллектор 2 и призмой 3 проецируется в плоскость апертурной диафрагмы 4 далее линзой 5, зеркалом 6, линзой 7 и полупрозрачной пластинкой 8. изображение источника 1 и апертурной диафрагмы проецир) -ется в плоскость опорного торца под объектив. Полевая диафрагма 9 помещается. в фокальной плоскости второй осветительной линзы 7 и проецируется сю в бесконечность, а после объектива — в плоскость предмета. Лучи, пройдя объектив и отразившись от шлифа, вновь проходят через объектив, пластинку 8 и телеобъективом 10 собираются в промежуточной плоскости, являющейся плоскостью предмета для панкратической системы 11. Затем лучи отражаются от зеркал 13 и 14, проходят через линзы оборачивающей системы 12 и призму 15 и поступают в бинокулярную насадку 1в. [c.29]

Рнс. 1.9. Микроскоп МИМ-8М (центральная часть) / — поляризатор 2—апертурная диафрагма 3 — осветительный тубус 4 — передвижная рамка с полевой и кольцевой диафрагмой 5 — столик микроскопа 6 — винты перемещения столика 7 — объектив 3 — рукоятка призмы косого освещения 9 — рукоятка анализатора /Й — окуляр // — фототубус 12 — рукоятка перевода призмы визуального наблюдения для фотографировакня 13 — рукоятка. механизма грубой подачи 14 — барабанчик механизма микро-мегренной подачи /5 — рукоятка зажимного вннта 16 — винт перемещения апертурной диафрагмы [c.29]

У — источник света (лампа К-30, 170 Вт) 2 — коллектор 3—теплопоглотитель (для предохранекня поляризатора) 4 — откидная линза (для работы в темном поле) 5 — кольцевая диафрагма 6 — светофильтры 7 — поляризатор 8 — гомаль или окуляр 9 — апертурная диафрагма 10, II — линза осветительного тубуса 12 — полевая диафрагма 13 — линза осветительного тубуса 14 — призма косого освещения 15 — полупрозрачная пластинка 16 — кольцевое зеркало /7 — объектив 18 — анализатор 19—ахроматическая линза 20—призма визуального тубуса 21 — призма фототубуса 22—ахроматическая линза 23 — неподвижная призма визуального тубуса 24 — конденсор темного поля [c.30]

Изложенным требованиям в полной мере удовлетворяет трехлинзовый объектив, в котором только центральная линза имеет оптическую силу, причем апертурная диафрагма помещена в ее плоскости. Оптическая схема объектива приведена на рис. 4.8 [а. с. 1045203 (СССР)]. Световой диаметр и частота структуры центральной линзы зависят не от рабочего поля (полевого угла) объектива, а только от его рэлеевского разрешения, т. е. от апертурного угла. Остальные два элемента системы, световой диаметр которых зависит от рабочего поля, являются линзами без оптической силы, т. е. дифракционными асфериками, у которых даже при большом световом диаметре, как правило, приемлемая частота структуры. Асферики расположены по разные стороны от силовой ДЛ, как показано на рис. 4.8. В рассматриваемом объективе десять конструктивных параметров отрезки силовой линзы S, s расстояния от силовой линзы до асферик d, d коэффициенты асферической деформации всех элементов 5а> Зл 5л За которые связаны всего двумя конструктивными соотношениями, определяющими увеличение и фокусное расстояние объектива [c.142]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...