Элементы электронные — Выбор

Итак, анализ надежности конструкции представляет собой аналитический метод оценки или предсказания внутренне присущей конструкции надежности путем (в случае электронных устройств) выбора показателей надежности для схемных элементов и использования этих числовых величин для различных элементов, оценки влияния облегченных режимов работы, резервирования и других факторов. К анализу надежности конструкции необходимо приступать, как только появляются промежуточные варианты конструкции или разработанные схемы. Материалы анализа должны пересматриваться каждый раз после внесения значительных конструктивных изменений. [c.45]

Современный этап развития лазерной техники характеризуется непрерывным увеличением промышленного выпуска лазеров и высокими темпами внедрения лазеров в народное хозяйство. Применение лазеров в машиностроении, в производстве приборов и элементов электронной техники способствует повышению надежности, качества и увеличению выхода годных изделий, улучшает условия труда и уменьшает трудоемкость производства. Среди лазерных технологических установок для сварки, резки, закалки и отжига материалов, сверления отверстий и других операций ведущее место в настоящее время принадлежит установкам с твердотельными лазерами. Твердотельные лазеры также широко используются для исследований и испытаний различных материалов, получения высокотемпературной плазмы и мягкого рентгеновского излучения. Опыт разработок и эксплуатации приборов показывает, что достижение высоких и стабильных во времени параметров лазеров и лазерного излучения (КПД, энергии и мощности излучения, расходимости, спектрального состава) не может быть обеспечено без учета в конструкции лазеров и при управлении режимами их работы различных эффектов, обусловленных нагревом элементов лазерного излучателя. Только при правильном выборе теплового режима элементов излучателя лазера, при устранении или частичной компенсации негативных проявлений термооптических эффектов можно обеспечить стабильность параметров лазеров и эффективное управление их характеристиками. [c.3]

Случаи контроля 2 кн. 98—104 Элементы электронные — Выбор 1 кн. 26 [c.326]

Автоматизация схемотехнического проектирования предполагает решение на ЭВМ задач выбора конфигурации электронной схемы (структурный синтез) предварительного расчета параметров элементов схемы на основе упрощенных формул и соотношений определения выходных параметров схемы в зависимости от изменения внутренних и внешних параметров (одновариантный и многовариантный анализ) определения значений внутренних параметров схемы, обеспечивающих наилучшие значения выходных параметров (параметрическая оптимизация). Автоматизированное решение задач анализа и оптимизации основано на инвариантных методах и алгоритмах (см. гл. 2, 3). Специфика математического обеспечения схемотехнического проектирования проявляется в моделировании элементов электронных схем и анализе конкретных типов проектируемых схем. [c.128]

Процесс компоновки конструкции машины или механизма в основном заключается в выборе унифицированных или функциональных блоков и деталей и сборки их в соответствии с заданной функциональной схемой. В отличие от задачи покрытия электронных схем при компоновке конструкции машины или механизма отсутствует избыточность элементов. [c.15]

Важной задачей является правильный выбор способа сварки в соответствии с назначением, формой и размерами конструкций. Назначение способа сварки в значительной степени определяется свариваемостью, особенно при соединении разнородных материалов, конструктивным оформлением сварных соединений, степенью их ответственности и производительностью процесса. Необходимо также учитывать тип соединений, присадочный материал, приемы и обеспечение удобства выполнения сборочно-сварочных соединений. Эти условия предопределяют механические свойства соединений и допускаемые напряжения, необходимые для прочностных расчетов конструкций. Так, для сварки длинных швов встык более технологично применение дуговой автоматической сварки. Толстостенные элементы соединяют электрошлаковой сваркой. Для сварки внахлест тонколистовых материалов рационально применение контактной сварки. Некоторые виды свариваемых материалов (алюминиевые и титановые сплавы, нержавеющие стали и т. п.) требуют надежной защиты зоны сварки от окисления, т. е. применения аргонно-дуговой, электронно-лучевой и диффузионной сварки. Необходимо также учитывать возможности механизации и автоматизации процесса выбранного способа сварки. [c.164]

Много экспериментов было проведено с целью выяснения влияния гидростатического давления на электронные компоненты. Результаты показали, что большинство требований, предъявляемых к электронной аппаратуре, может быть удовлетворено при правильном выборе готовых компонентов. Единственными элементами, которые нельзя применять в условиях повышенных давлений, оказались механические резонаторы, в частности камертоны п пьезокварцевые резонаторы. Очень мало экспериментов, однако, было проведено (и еще меньше описано в литературе) с целью изучения воздействия на электронное оборудование или компоненты морской воды при большом давлении. [c.479]

При расчете и выборе основных элементов системы программного управления необходимо учитывать предназначение каждого элемента, а также взаимодействие его с другими элементами, т. е. каждое устройство рассматривать с точки зрения всей системы. Так, электронный усилитель предназначен для увеличения амплитуды сигнала ошибки е, однако величина его коэффициента усиления будет ограничена требованием устойчивости системы в целом. Корректирующее устройство формирует желаемые динамические характеристики всей системы и отфильтровывает помехи. [c.105]

Пределы возможного изменения характеристик механических, электромеханических и электронных элементов в процессе эксплуатации при условии сохранения устойчивости и заданной эффективности виброгашения. Зто требование влияет главным образом на выбор запасов устойчивости. [c.68]

Хотя конструктивный анализ нельзя отнести полностью к точным наукам, тем не менее методы, используемые для анализа конструкций электронных устройств, довольно хорошо разработаны. Применяемые математические и статистические методы подробно описаны в гл. 4, т. I, и гл. 1, т. II. Прогноз надежности электронных систем включает определение числа и типов электронных элементов, выбор (по справочникам или по данным испытаний) показателей надежности для элементов, принятие определенных окружающих условий, установление пределов облегчения режимов работы элементов, определение степени резервирования схем и, наконец, оценку внутренне присущей конструкции надежности. Расчеты для систем средней и более высокой сложности обычно производятся на электронной вычислительной машине. Предсказанный на основе такого анализа показатель надежности хотя и не является точной величиной, но все же позволяет грубо оценить, близка ли надежность конструкции к требуемой надежности. Результаты анализа функциональных механических, гидравлических и пневматических конструкций обычно менее точны. Это объясняется тем, что по используемым элементам обычно имеется меньше данных. Анализ надежности силовых элементов основывается на оценке запасов прочности и преобразовании их с помощью соответствующей системы взвешивания в показатели надежности. [c.42]

Специальные установки разрабатывают для микросварки в производстве модульных элементов и различного рода твердых радиосхем. Особенности заключаются в первую очередь в точном дозировании тепловой энергии, перемещении луча по изделию с помощью отклоняющих электрических и магнитных полей, совмещении нескольких технологических функций, выполняемых электронным лучом в одной камере. Поскольку вакуумные камеры и вакуумные системы стоят дорого, рациональности выбора их конструкций уделяется большое внимание. [c.198]

Возможности применения камер с ЭОП в лазерной диагностике сильно ограничены. Дело в том, что мало число разрешаемых информационных элементов на кадр (меньше, чем в неэлектронных камерах). Полный динамический диапазон яркостей для получения высококонтрастных изображений меньше, чем непосредственно у пленок. За счет эффектов растекания электронов разрешение таких камер меньше, чем разрешение полностью оптической камеры. Поскольку спектральную чувствительность фотокатода нельзя изменить, изменения спектральной чувствительности можно добиться только путем замены ЭОП. Выбор спектральной чувствительности уже, нежели при работе с фотопленками без ЭОП. Трубка ЭОП весьма непрочна. При большой мощности лазера фотокатод разрушается. Правда, ЭОП позволяет заранее обнаружить высокий уровень мощности, поскольку на ее выходе достигается насыщение прежде, чем входная мощность достигнет уровня разрушения фотокатода. При прямом же фотографировании просто прожигается пленка, которую недорого заменить. [c.57]

Точечные группы молекул, элементами которых являются вращения и отражения вибронных переменных, используются для изучения вибронных уровней молекул в данном электронном состоянии, которому соответствует единственная равновесная конфигурация без ощутимого туннелирования между конфигурациями (т. е. жесткие молекулы). Эти группы полезны при изучении, например, активных в ИК- и КР-спектрах основных колебаний, для нахождения отличных от нуля членов в потенциальных функциях молекул и для выбора атомных орбитальных волновых функций, которые могут участвовать в образовании конкретных молекулярных орбиталей. Хотя точечные группы молекул вводятся и определяются в гл. 3, а в гл. 11 обсуждается их применение, для более детального ознакомления с ними читателю все же рекомендуется обратиться к литературе, указанной в конце главы. [c.12]

В первоначальных приборах различные участки подводили под электронный зонд с помощью механического перемещения образца, а выбор участка производился с помощью оптического микроскопа, встроенного в систему. Теперь наиболее употребительна методика сканирования электронного пучка. Рентгеновские лучи генерируются серией точек во время каждой строчки или кадра, а рентгеновский сигнал фиксируется счетчиком, усиливается и преобразуется в луч, который попадает на экран синхронно со сканированием зонда. При использовании пропорционального счетчика регистрирующая система может быть настроена (с помощью амплитудного анализатора) только на регистрацию интересующего нас характеристического излучения тогда экран электронно-лучевой трубки покажет распределение одного элемента по поверхности, как на фиг. 27 [29]. Длр получения количе -ственных данных сканирующий луч может быть остановлен в любой точке, после чего измеряется интенсивность некоторых выбранных линий. Другой путь — зонд можно сканировать по образцу вдоль определенной линии, а сигнал отклоняет второй луч двухлучевой электронно-лучевой трубки. Чаще всего тем не менее для облегчения предварительного исследования оптический микроскоп сохраняют и в сканирующих приборах. [c.392]

При расчете сечений многофотонной ионизации атома водорода, как и при рассмотрении других многофотонных процессов, возникает вопрос о калибровке взаимодействия электрона с полем лазерного излучения (калибровка длины rF или калибровка скорости рА/с + А /2с , где А — векторный потенциал электромагнитного поля, а F — его напряженность). В случае атома водорода этот вопрос можно рассмотреть детально. Оказывается [5.9], что вклад в составные матричные элементы от связанных состояний совершенно различен при использовании той или иной калибровки поля. То же касается и вклада отдельно от промежуточных состояний непрерывного спектра. Лишь при использовании всего базиса невозмущенных состояний атома водорода вероятности многофотонных переходов не зависят от выбора калибровки взаимодействия. [c.117]

Помимо параметров при выборе элементной базы электронных устройств для автомобиля следует обращать внимание на соответствие между требуемыми и допустимыми для данного элемента климатическими и механическими показателями. Это касается рабочего диапазона температуры, влажности, величин ускорений, вибраций и т. д. [c.473]

Эта классификация, учитывая в какой-то мере строение электронных оболочек, не учитывает в полной мере периодичности свойств элементов. Кроме того, авторы [75] полностью пренебрегают анализом расхождений между данными различных авторов, что не может быть оправдано. Окончательный выбор той или иной точки зрения можно будет сделать после проведения тщательных [c.401]

Основные трудности, возникающие при сварке электронным лучом, связаны в интенсивным испарением из зоны сварки летучих компонентов композиций, таких как магний, литий, цинк и др. В условиях вакуума, который практически всегда сопровождает ЭЛС, интенсивное испарение этих элементов при соответствующем содержании их в композиции приводит к образованию дефектов внешнего формирования в виде выбросов расплавленного металла из объема сварочной ванны. Устранить или предупредить образование этих дефектов можно выбором рациональных приемов и режимов сварки. [c.168]

ЦОВ И выбора оптимальных характеристик для обеспечения требуемой динамики работы системы в целом. Значительную" помощь при решении этих задач может оказать электронное моделирование, которое представляет собой очень гибкий экспериментальный метод исследования. Ценность этого метода заключается прежде всего в возможности быстрого изменения при помощи простой коммутации таких физических параметров системы, как масса, габариты, жесткость, демпфирование и т. п., и удобства наблюдения за влиянием изменения этих параметров на поведение системы. Для получения хороших результатов при моделировании имеет существенное значение полное понимание физических связей каждого элемента и их взаимное влияние в системе, особенно при идеализации реальной задачи. [c.377]

Нет ничего удивительного, что в расчетах такого типа теория оказывается не очень надежной. С самого начала теории присуща неоднозначность и гибкость в выборе используемых псевдопотенциалов. Вычисляемые энергии электронов могли бы не зависеть от этого произвола, если бы расчеты проводились точно. Однако благодаря использованию теории возмущений сами результаты также содержат элемент неоднозначности. Более того, экранирование и электрон-электронное взаимодействие по необходимости учитываются лишь приближенно, и очень трудно оценить ошибки, которые при этом допускаются. Тем не менее кажется ясным, что основные аспекты проблемы в рамках теории псевдопотеициалов оказываются охваченными, и лишь количественная надежность результатов теории остается под вопросом. [c.492]

Наиболее прост пример случайного бинарного сплава, в котором матрицы переноса и Т распределены вдоль цепочки случайным образом с относительными концентрациями Сд и Сд. Как показано в 8.2, все типы одномерного пространственного беспорядка — одномерное стекло , одномерную жидкость и т. д.— можно описать единым образом, последовательно выбирая матрицы переноса из множества , в котором задана функция распределения Р ( ) межатомных расстояний Например, теория электронных состояний в одномерном жидком металле основывается на изучении цепочки, матрицы переноса для которой даются выражениями (8.24) или (8.27). При этом, как показано в 2.2, элементы матриц зависят от выбора чисел на каждом шаге. [c.353]

Электронный, полупроводниковый или магнитный усилитель является самостоятельным элементом, который может быть совершенно обособлен от перечисленных выше устройств. Выбор типа и параметров усилителя зависит от условий использования следящего привода и требований, предъявляемых к устойчивости и качеству процессов управления. Вследствие этого на взаимной связи характеристик усилителя и остальных элементов привода мы остановимся при исследовании динамики всего привода. [c.358]

Проектирование технологических процессов требует больщих затрат времени и высокой квалификации проектировщика. Автоматизация проектирования технологических процессов с помощью электронно-вычислительных машин (ЭВМ) начинает применяться в научных организациях и некоторых заводах. Процесс автоматизации проектирования технологических процессов начинают с выбора детали. Используют чертеж детали, материал, технические условия и др. Кодируют их и вводят в ЭВМ (вручную или автоматически). Сложную деталь представляют состоящей из простых элементов (плоскостей, окружностей, цилиндров, конусов, поверхностей и др.). Все эти элементы кодируют и вводят в ЭВМ. С помощью ЭВМ можно выбрать заготовку, маршрут обработки, расчет припусков, режимов резания, норм времени, выбор оснастки, загрузки оборудования, подготовку программ для станков с цифровым программным управлением и др. . [c.125]

Такое сочетание приборов в единой системе значительно расширило аналитические возможности как микроанализаторов, так и растровых электронных микроскопов. В методе РСМА обеспечена возможность просмотра с большой глубиной резкости всей поверхности исследуемого образца, выбора методически оправданных зон анализа и высокой прицельности. Информация о рельефе и структурных компонентах поверхности объектов, полученная по методу РЭМ, дополняется сведениями о распределении элементов в поверхностном слое. Эти данные часто являются определяющими при решении ряда практических задач. [c.497]

При оптимизации требований к точности электронных цепей исследуются три группы задач а) дается метод выбора значений элементов цепи, обеспечивающих миник1ум дисперсии б) рассматривается возможность уменьшения частных производных за счет использования дополнительных элементов в) минимизируется стоимость цепи путем подходящего выбора допусков элементов цепи. [c.222]

В процессе бомбардировки металлической мишенн — легируемого изделия — ускоренные ионы проникают в глубь металла. В металле ионы тормозятся при столкновениях с атомами металла и нейтрализуются свободными электронами. В результате ионы встраиваются в кристаллическую решетку металла, занимая положение замещения, либо внедряются в междуузлие 72, 73]. При этом образуется метастабильный однофазный твердый раствор. Поэтому ограничения, обусловленные нерастворимостью одного элемента в другом, в этом случае отсутствуют. Поскольку ионы многих элементов могут быть относительно легко получены, метод ионной имплантации позволяет получать большой ассортимент как совершенно новых, так и обычных сплавов на поверхности металлических изделий. Таким образом, благодаря правильному выбору легирующего элемента методом ионной имплантации можно существенно повысить коррозионную стойкость металлических изделий. [c.130]

Авторы работы [100] использовали донорно-акцеп-торную теорию взаимодействия электронов в полупроводниковых материалах для объяснения механизма модифицирования А1 переходными металлами с недостроенной с -электронной оболочкой (Ti, Zr, V, Nb, r и др.). Акцептирующую способность элементов оценивали по степени измельчения структуры алюминиевого слитка. Наибольшей акцептирующей способностью обладает Ti, наименьшей — Сг. Воздействие на структуру слитка таких модификаторов, как Ti и Zr, обладающих каждый в отдельности большой акцептирующей способностью в А1, при совместном их введении в расплав неаддитивно. Уменьшение влияния совместно введенных модификаторов на измельчение зерна в алюминиевом слитке объясняется активным Sd-обменом между Ti и Zr. Образование при модифицировании интерметаллидов, служащих дополнительными ц. к., связывают также со степенью акцептирования переходных металлов. Одним из основных факторов, определяющих модифицирующую способность переходных металлов, являются число и энергетическое состояние электронов на недостроенных оболочках изолированных атомов. По мнению авторов, изложенные соображения позволяют менее эмпирично подходить к выбору модификаторов. Предлагаемая гипотеза перекликается в известной мере с гипотезами Григоровича и других авторов. [c.111]

Монография представляет первую в мировой литературе попытку аналитического рассмотрения современного состояния разработок н применений (включая перспективные) диэлектрических материалов в электронной технике. В ней описаны особые свойства диэлектриков линейные и нелинейные диэлектрические, пьезо-, пиро-, сегнетоэлектрические, сегнетоэластические, электро-, аку-СТО-, нелинейно-оптические, лазерно-генерационные. Рассмотрены корреляции между мерой выраженности конкретных свойств и обусловливающими их особенностями структуры. Приведены характеристики основных типов используемых и предложенных устройств, включая интегральные и полифункциональные. Предложена система критериев качества рассматриваемых материалов применительно к видам их применений. Подробно протабулированы характеристики используемых и вновь предлагаемых материалов, а также типовых ИЭТ и ИФЭ с функциональными элементами из диэлектрических материалов с особыми свойствами. Проведен анализ перспектив развития отдельных направлений, сформулированы прогнозные перечни новых материалов. Книга может быть использована как современное справочное руководство при выборе материала для решения ряда прикладных задач. [c.2]

Сплавы ниобия и тантала. Поскольку NbaOg — полупроводник п-типа с анионными вакансиями, можно было бы полагать, что добавка в ниобий более высоковалентного металла (в области параболического окисления) должна привести к снижению скорости окисления. Однако анализ изменения концентрации и подвижности анионных вакансий в NbgOs при легировании титаном, ванадием, хромом и алюминием показывает, что в связи с высокой концентрацией дефектов, отличающейся лишь на два порядка от концентрации свободных электронов в металлах, и возможным изменением подвижности при изменении их концентрации подход к жаростойкому легированию ниобия с позиции теории Вагнера неприменим. Априорный выбор добавок в данном случае затруднен. Важную роль играет размер иона легирующего элемента. При образовав НИИ однофазной окалины легирование ниобия металлами, образующими ионы меньшего, чем ион размера, [c.427]

На результаты испытаний технологических свойств СОЖ большое влияние оказывает правильный выбор элементов режима резания, главным образом скорости резания. Основные серии испытаний проводили на скорости резания, обеспечивающей при работе на товарных СОЖ среднюю стойкость инструментов, соответствующую минимальной себестоимости выполнения операции обработки резанием. Кроме того, для построения зависимостей стойкости инструментов от скорости резания и получения более обоснованного заключения испытания проводили при изменении скорости резания в 1,2—1,4 раза как в сторону увеличения, так и в сторону уменьшения. Подачи и глубины резания соответствовали уровню режима резания получистовых операций. На всех металлорежущих станках для установления и поддержания на одном уровне необходимых скоростей резания были смонтированы взамен асинхронных двигателей комплектные тиристорные приводы постоянного тока типа ПКВТ или ПТЗР, а также устройства для измерения частоты вращения шпинделя на базе электронного частотомера типа 43-32. Это обеспечило постоянство скорости резания с ошибкой не более 0,5%. [c.91]

Коррозия и чрезмерный износ деталей электрических и электронных устройств могут изменить электрические характеристики оборудования и пов.лиять на его нормальное функционирование. Может быть также нанесен ущерб безопасности работы оборудования. Меры предосторожности, разработанные в результате анализа конструкций электрических и электронных агрегатов с точки зрения их защиты от коррозии и воплощенные в плане мероприятий, должны приниматься по отношению к корпусу, шасси, арматуре и прочим элементам оборудования, а также к электрическим, электронным и электромеханическим компонентам и связанным с ними проводникам, осветительным устройствам и арматуре. План мероприятий должен устанавливать минимальные требования для выбора технологии, материалов и систем, а также методов защиты таких систем от воздействия агрессивной среды при этом до.лжны также быть обеспечены надежные электрические соединения и заземления оборудования. [c.417]

ТОЛЬКО одномерно, в основу этих установок положена построчная развертка фотограммы. Выбор точек с одинаковой заданной оптической плотностью производится электронными переключающими элементами эквиденсита либо экспонируется на фотослой, либо делается видимой на телевизионном экране, либо вычерчивается чертежным инструментом. Подобная установка довольно дорогая, поэтому эквиденситометрия в таком виде не нашла широкого применения. [c.134]

Проектирование электронных схем включает схемотехнические, конструкторские и технологические аспекты. Схемотехническое проектирование связано с разработкой принципиальных электрических схем изделий электронной техники. Конструкторское проектирование, часто называемое техническим, относится к разработке конструкций модулей, типовых элементов замены, включает вопросы размещения компонентов или модулей на подложке или печатной плате, вопросы трассировки межсоединений, изготовления технической документации. Технологическое проектирование — это раз-реботка технологического процесса изготовления изделия, включая выбор технологического оборудования, расчет режимов выполнения операций, и т. п. [c.9]

Высокая жесткость и прочность армирующих элементов, составляющая основу прочности и жесткости армированных пластиков, реализуется лишь в том случае, если они расположены определенным образом по отношению к действующей нагрузке. Вследствие большого разнообразия нагрузок применяются весьма различные схемы укладкп армирующих элементов при этом задача может быть настолько сложной, что для выбора рациональных схем упаковки волокон приходится использовать электронно-вычислительные машины. Классификация по укладке позволяет установить, к какому типу анизотропии в зависимости от ориентации арматуры приводятся волокнистые композиты, а следовательно, и установить число определяемых характеристик. [c.21]

Следующим и вместе с тем решающим звеном в общей схеме интроскопии (после выбора вида и характера проникающих излучений) являются электронные преобразователи невидимых излучений в оптически видимые изображения. В зависимости от типа проникающих излучений эти преобразователи имеют свои специфические особенности. Однако общим для всех их является наличие приемного элемента, отвечающего на энергетическую плотность распределенного в фокальной плоскости скрытого изображения электронного преобразователя и усилителя этих скрытых изображений электронно-оптического трансформатора скрытых изображений в оптически видимые изображения. В том случае, когда наблюдение необходимо вести не непосредственно V прибора, а на некотором расстоянии от него (дистанционно), в общую схему иитро-скопов включены также технические устройства телевизионного типа. [c.284]

Принципы, на основании которых в ва-куумно11 технике подходят к выбору материалов и способов их обработки, существенно отличаются от принятых в других областях техники. В обычных технических конструкциях решающую роль играют механические и электрические свойства материалов, их обрабатываемость, устойчивость против коррозии и т. д. В противоположность этому в вакуумной технике основными являются возможность легкого удаления газов, низкое давление паров, достаточная прочность при высоких температурах, величина коэффициента расширения, необходимая излучательная способность или прозрачность, требуемая тепло- или электропроводность, высокое сопротивление и.золяции даже при высоких температурах, максимальная или минимальная электронная эмиссия, незначительное катодное распыление, химическая устойчивость или сродство по отношению к другим материалам, используемым при изготовлении электронных приборов, и т. п. Кроме того, решающую роль часто играет чистота используемого материала, так как возгонка примесей, содержащихся в нем даже в ничтожных количествах, и их химическое взаимодействие с другими элементами приборов могут сильно влиять как на эксплуатационные свойства, так и на срок службы приборов. Поэтому легкость обработки и стоимость материалов часто имеют в вакуумной технике лишь второстепенное значение. [c.7]

Плазменные лазеры на электронных переходах разлетных молекул принадлежат, по-видимому, к наиболее перспективным из уже действующих типов плазменных лазеров, поскольку для них особенно просто решается проблема очищения нижнего рабочего уровня и, кроме того, разнообразен выбор высвечивающихся молекул. В частности, весьма перспективны соединения тяжелых инертных газов (Аг, Кг, Хе) с элементами, характеризующимися высоким сродством к электрону — галогенами и кислородом. [c.85]

При комнатной температуре (около 300 К) и атмосферном давлении, если не оговорено иное. Радиус сферы свободных электронов определяется формулой (1.2). Мы произво.чьно выбрали величину Z для тех элементов, которые обладают более чем одной химической валентностью. Модель Друде не дает теоретического обоснования для такого выбора. Значения п основаны на данных, взятых из таблиц Уикоффа [2]. [c.20]

На фиг. 11.7 показаны части энергетических зон ряда элементов, рассчитанные Матейссом с использованием метода ППВ. Один из интересных результатов анализа состоит в том, что зоны цинка, имеющего заполненную атомную, -оболочку, в значительной степени напоминают зоны свободных электронов. Сравнение кривых Матейсса для титана с расчетами Алтмана по методу ячеек (фиг. 11.8) должно, однако, внушить здоровое чувство осторожности хотя они обнаруживают значительное сходство, отличия все же оказываются довольно сильными. Вероятно, они в большей мере связаны с различиями в выборе потенциала, чем с пригодностью методов расчета тем не менее это показывает, что при применении методов расчета зонной структуры, основанных на первых принципах , следует проявлять осмотрительность. [c.207]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...