Рентгеновские лучи

Для того чтобы вычислить сумму состояний, нужно иметь сведения, относящиеся к энергетическим уровням молекул в системе. Данные по термическим энергетическим уровням вращения и колебания могут быть получены из рамановских, инфракрасных и ультрафиолетовых спектров. Ультрафиолетовый спектр и спектр рентгеновских лучей дают сведения об электронных энергетических уровнях. Так как спектроскопическое определение энергетических уровней исключительно точно, то предпочитают эти данные. Для некоторых классов соединений, в частности углеводородов, такие данные используют для вычисления термодинамических функций в известных температурных пределах. [c.114]

Указанные обстоятельства определили условия проведения опытов [Л. 89, 90, 144, 145], в которых были использованы дисперсные материалы (графит, кварцевый песок, алюмосиликатный катализатор и др.), по своим сыпучим свойствам близкие к идеальным. Влияние различных факторов на характер движения оценивалось по изменению профиля скорости окрашенного элемента слоя. Движение наблюдалось через плоскую застекленную стенку полуцилиндрического прямоугольного и других каналов либо с помощью просвечивания рентгеновскими лучами через стенку круглого стеклянного канала. В последнем случае использовался диагностический рентгеновский аппарат, а частицы слоя предварительно смачивались барием. Измерительный участок исключал влияние концевых эффектов. Проверка, произведенная радиоактивным [Л. 242] и рентгенологическим [Л. 237] методами, показала, что стеклянная стенка не искажает картину движения. Влияние углового эффекта в месте стыка стекла и стенки уменьшается при использовании каналов прямоугольного сечения. Во всех случаях результаты измерения были представлены в относительных величинах и носят в основном качественный характер. [c.292]

Гипотеза о том, что в кристаллах расположение частиц (атомов) закономерное, была выдвинута очень давно (Е. С. Федоров, 1860 г.), но только после открытия рентгеновских лучей (Рентген, 1895 г.) и применения их к изучению строения кристаллов (М. Лауэ, 1912 г.) это было установлено экспериментально. Многочисленные работы, проведенные с того времени физиками многих стран, выявили расположение атомов в кристаллах различных веществ, в том числе металлов и сплавов. [c.21]

Внутреннее строение кристаллов, т. е. расположение атомов в криста.1-лической решетке, изучают посредством рентгеноструктурного анализа, использующего рентгеновские лучи. [c.36]

Рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны весьма [c.36]

Вследствие малой длины волны рентгеновские лучи не отражаются от поверхности, а проникают внутрь вещества. Под действием электромагнитного поля этих лучей электроны атомов приводятся в колебательное движение. [c.36]

А). Рентгеновские лучи получаются в специальных приборах в результате торможения электронов при их столкновении с мишенью, при этом кинетическая энергия электронов превращается в разновидность электромагнитных колебаний — рентгеновские лучи. Получение, свойства, использование рентгеновских лучей рассматриваются в курсе физики. [c.36]

Рентгеновские лучи невидны, но, как и световые, они воздействую на эмульсию пластинки. [c.36]

Для более точного построения диаграммы состояния в дополнение iK термическому методу изучают с помощью микроскопа и рентгеновских лучей структуру сплавов разного состава и по-разному обработанных термически, измеряют разнообразнейшие физические свойства сплавов и т. д. [c.115]

Кроме того, бериллий применяют как источник нейтронов, возникающих при его бомбардировке а-частицами, для окон рентгеновских трубок (бериллий прозрачен для рентгеновских лучей) и в других случаях. [c.558]

Рениевый эффект 532 Рентгеновские лучи 36 Решетка кристаллическая пространственная 22 [c.645]

В псевдоожиженном слое при помощи емкостного датчика [23], колебаний давления, определяемых тензометрическим способом [705], прохождения рентгеновских лучей [40] и рассеяния света [892]. [c.414]

Условие Брегга трактуется обычно как условие отражения рентгеновского луча от определенной кристаллической плоскости, хотя, по существу, имеет место не отражение, а интерференция колебаний, распространяющихся от возбужденных электронов в атомах кристаллической решетки. [c.529]

Если рассмотреть две параллельные плоскости АА и ВВ (рис. 591) в некоторой кристаллической решетке, то нетрудно установить условие Брегга. Рентгеновский луч, падающий на плоскости и отражающийся от них, будет усиливаться в том случае, когда разность хода волн I и 2 будет составлять целое число волн X. Тогда [c.529]

Это и есть условие Брегга. Оно показывает, что отражение рентгеновских лучей от некоторой плоскости возможно только при падении на нее луча под определенным углом 9, удовлетворяющим ношению. Число п называется порядком отражения. [c.529]

Теперь рассмотрим схему отражения рентгеновского луча от поверхности исследуемого образца. Пучок, падающий по нормали к поверхности, охватывает площадку 1,5—2 им в диаметре. На этой площадке, как показывает опыт, среди большого числа освещенных кристалликов находится обычно достаточное количество таким образом ориентированных кристаллов, что определенные их плоскости находятся в соотношении Брегга с параметрами падающего луча. При этом происходит отражение луча от кристаллов (рис. 592). Отраженные лучи образуют коническую поверхность с углом при вершине 360° — 49 Если на их пути поставить фотографическую пленку, то на ней зафиксируется круг радиуса Л (рис. 592). Очевидно, [c.529]

Длина волн рентгеновских лучей - 6 (10 ...10 ) мм гамма-излучения - (10 ..410 ) мм, что во много раз меньше длин световых волн [(4...7)-10 ] мм. [c.188]

Радиографический контроль. Контроль проникающим излучение.м используется для обнаружения микропор и трещин. Рентгеновские лучи или гамма-лучи проходят через испытуемый материал и фиксируются на фотопленку или экран дефектоскопа. [c.185]

РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ СПЛОШНОГО И ДИСКРЕТНОГО СПЕКТРА [c.156]

Рентгеновские лучи. Условие резкого торможения осуществляется при бомбардировке быстрыми электронами твердого антикатода, при котором, как увидим ниже, излучаются короткие электромагнитные волны — рентгеновские лучи разных длин волн. [c.157]

В 1895 г. немецкий ученый К. Рентген, изучая электрический разряд в разреженных газах, обнаружил новый, никому не известный до тех пор вид излучения. Это излучение самим Рентгеном было названо Х-лучами . В дальнейшем оно стало называться в честь первооткрывателя рентгеновскими лучами. [c.157]

Последующие исследования показали, что рентгеновские лучи дифрагируют (Лауэ, 1912 г.) и интерферируют (Линник, 1930 г.), т. е. обладают свойствами волн. Были обнаружены два типа рентге- [c.157]

Рентгеновская трубка. Рентгеновские лучи сплошного спектра. [c.158]

Как показывают опытные данные, рентгеновские лучи сплошного спектра возникают при энергиях электронов, не превышающих некоторой критической величины (обычно при напряжениях на трубке до 20—30 кВ), характерной для данного материала антикатода. Рентгеновские лучи сплошного спектра имеют резкую границу со стороны коротких длин волн, называемую коротковолновой границей сплошного спектра. [c.158]

Рентгеновские лучи дискретного спектра. В случае, когда энергия электрона достигает некоторого критического значения, характерного для материала антикатода, или превышает его, на фоне сплошного спектра возникают интенсивные максимумы с дискретными значениями энергии. Поскольку рентгеновские лучи такого рода зависят от материала антикатода, то они обычно называются характеристическими рентгеновскими лучами. Характеристические рентгеновские лучи обладают отличительными свойствами. [c.159]

ДИФРАКЦИЯ НА ТРЕХМЕРНОЙ РЕШЕТКЕ. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ (ФОРМУЛА ВУЛЬФА-БРЭГГА) [c.162]

Выяснить природу закаленной стали можно лишь, применяя рентгеновские лучи и другие методы физического аиалг.за металлов (электронный микроскоп, внутреннее трение и др.). [c.235]

Рентгеновское просвечивание основано на различном поглощении рентгеновского излучения участками металла с дефектами и без них. Сварные соединения просвечивают с помощью специальных рентгеновских аппаратов. С одной стороны шва 3 на некотором расстоянии от него помещают рентгеновскую трубку /, с другой (противоположной) стороны к нему плотно прижимают кассету 4 с рентгеновской пленкой (рис. 5.56, а). При просвечивании рентгеновские лучи 2 проходят через сварное соединение и облучают пленку. Для сокращения экспозиции просвечивания в кассету с пленкой закладывают усиливающие экраны. После проявления пленки на ней фиксируют участки повышенного потемнения, которые соответствуют дефектным местам в сварном соединении. Вид и размер дефектов определяют сравнением пленки с эталонными снимкамн. [c.244]

Фотоситаллы получают из стекол литиевой системы фотохимическим путем при облучении стекле ультрафиолетовыми или рентгеновскими лучами. [c.46]

Физические основы. В основе радиациотгых методов когггроля лежит ионизирующее излучение в форме рентгеновских лучей и гамма-излучения, Н то и другое излучение имеет электромагнитную природу. [c.114]

Длина волн рентгеновских лучей — 6-(10- ... Ю ) мм гамма-излучения— (10 ... 4-10 -) мм, что во много )аз меньше длш) световых нолп [(4. .. 7) 10 ] мм. [c.114]

Возникающие затруднения решаются следующим образом. В исследуемой точке новерхиоегь металла зачищается н травится кис.тогой. Далее, иа очищенную поверхность (обычно электролитически) наносятся кристаллы как(мо-либо другого металла. При исследовании стальных конструкций для этой цели используется большей частью золото. При съемке на илси-кс получаются линии рентгеновских лучей, отраженных от кристаллов железа и от кристаллов золота. Поскольку кристаллы золота нанесены электролитически, они нс напряжены, и расстояние между атомами в кристаллической решетке золота моисно считать известным. Поэтому из уравнения Брегга (16.7) определяется угол O для зо.тота. Если же иа проявленной пленке замерить расстояние 2h между линиями золота, то 113 выражения (16.8) можно с высокой степенью точности иаГгги и искомую величину а. Таким образом, эта величина определяется косв. пно [c.530]

Перенос наблюдают обычно при помощи скоростной киносъемки или съемки в рентгеновских лучах синхронно с осцилло-графированием. [c.88]

Рентгеновские лучи можно получить с помощью специальной так называемой рентгеновской трубки. Она представляет собой стеклянную (или металлическую) трубку, из которой откачивается воздух до давления поряд а 10 мм рт. ст. Внутри трубки расположены катод (К) и аитмкагод (/1Л ) (рис. 6.36). К катоду подсоединена батарея накала (й//), которая приводит к эмиссии термоэлектронов из катода. Создаваемое высокое напряжение между катодом [c.158]

И антикатодом сообщает большую скорость термоэлектронам. Быстрые электроны, попадая на антикатод, испытывают на нем резкое торможение, в результате чего и возникает тормозное излучение — электромагн1шюе излучение короткой длины волны. Полученные таким образом рентгеновские лучи обладают, подобно белому свету, сплошным спектром и поэтому называются белым рентгеновским излучением. Белое излучение по известным причинам называется также тормозным. [c.158]

Известно, что оптический спектр изолированргого атома состоит из отдельных линий. При образовании молекулы оптический спектр усложняется — возникает полосатый спектр. При переходе вещества в твердое состояние изменяется характер спектра он может стать сплошным. В отличие от этого линейчатый рентгеновский спектр атома не изменяется он не зависит от того, к какому веществу относится. По-видимому, характеристические рентгеновские лучи порождаются не слабо связанными с ядром валентными (оптическими) электронами, а электронами, расположенными близко к ядру. [c.159]

Прежде чем объяснить возникновение хара1стеристических рентгеновских лучей, определим, исходя из постулата Бора, полную энергию водородоподобного атома (иона, имеющего единственный [c.159]

Увеличение разрешающей силы микроскопа путем уменьшения длины световой волны прнв ело к положительному результату. Микроскопы, пспользующне ультрафиолетовые лучи, позволяют увеличить разрешающую силу примерно в два раза. Переход к микроскопам, использующим рентгеновские лучи, позволил бы резко увеличить разрешающую силу. Однако отсутствие оптических линз для рентгеновских лучей делает практически почти невозможным создание рентгеновских микроскопов. Такие принципиальные трудности были преодолены после того, как в 1923 г. Луи де Бройлем была выдвинута гипотеза, согласно которой любой частице с массой т, движущейся со скоростью v, соответствует волна с длиной [c.203]

Явление Комптона. Исследуя в 1923 г. рассеяние рентгеновских лучей, Комптои пришел к открытию, известному теперь в литературе под названием явления Комптона. [c.347]

Схема опыта Комптона представлена на рис. 15.5. Монохроматическое рентгеновское излучение с длиной волны I, исходящее из рентгеновской трубки, проходит через диафрагмы D и и в виде узкого пучка направляется па рассеиватель. Рассеянные лучи анализируются с помош,ью спектрографа рентгеновских лучей. С помощью этого опыта Комптоном было установлено, что при рассеянии рентге- ] l f f рааеибатель новских лучей наблюдается увеличение [c.347]

Металловедение (1978) -- [ c.36 ]

Оптика (1977) -- [ c.157 , c.161 ]

Физика. Справочные материалы (1991) -- [ c.279 ]

Оптическая голография Том1,2 (1982) -- [ c.149 , c.232 ]

Справочник по специальным работам (1962) -- [ c.711 ]

Технология металлов и конструкционные материалы Издание 2 (1989) -- [ c.21 ]

Метрология, специальные общетехнические вопросы Кн 1 (1962) -- [ c.346 ]

Задачи по оптике (1976) -- [ c.224 , c.364 ]

Машиностроение Энциклопедический справочник Раздел 2 Том 3 (1948) -- [ c.153 , c.158 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...