Рентгеновские Интерференция

Происхождение и характер дебаеграммы легко понять, если описание рентгеновской интерференции проводить с помощью обратной решетки и сферы Эвальда. Поликристаллы представляют собой скопления беспорядочно ориентированных мелких кристалликов. Поэтому в обратном пространстве поликристалл можно представить в виде набора концентрических сфер, радиусы которых равны обратным значениям межплоскостных расстояний [c.53]

Фрагменты возникают при развитой пластической деформации металла в холодном состоянии блоки — при кристаллизации и при деформации полигоны — как результат перестройки дислокаций при нагреве после холодной пластической деформации или во время пластической деформации в определенном интервале повышенных температур. Области когерентного рассеяния введены для объяснения пониженной интенсивности рентгеновских интерференций. [c.43]

На рис. 57 представлена зависимость полуширины рентгеновской интерференции, твердости и термического расширения для серебра, содержа- цего цитрат, от температуры. Зависимость термического расширения от температуры показывает, что при распаде органических включений происходит лишь частичное удаление возникающих газов. Газ, остающийся в металле, вызывает скачкообразное повышение линейного расширения. Как видно на рис. 57, повреждения решетки металла увеличиваются с повышением температуры до момента достижения точки распада цитрата, затем наступает уменьшение повреждений. Такое поведение объясняется тем, что повреждения решетки вначале возрастают с повышением температуры, не оказывая при этом влияния на твердость. Повреждения ре- [c.97]

Так как количественную оценку плотности дислокаций в углеродистых сталях, деформированных на 10% и более, произвести под электронным микроскопом на просвет нельзя вследствие того, что отдельные дислокации уже не разрешаются, то оценивали изменение плотности дислокаций по уширению рентгеновских интерференций. [c.160]

Не исключена возможность некоторой перегруппировки дислокаций в стенках ячеек, а также частичная их аннигиляция, так как при температурах 200—300° С происходит, хотя и небольшое уменьшение ширины рентгеновских интерференций (особенно после больших обжатий) (см. рис. 71). Несмотря на некоторое снижение плотности дислокаций, усиление взаимодействия дислокаций в стенках ячеек может вызывать некоторое упрочнение. [c.174]

Так как упрочнение в интервале температур 300— 600° С обусловлено в основном процессами, происходящими в перлитной составляющей стали, то увеличение содержания углерода (перлита) в стали должно повышать эффект упрочнения. И действительно, увеличение содержания углерода после малых обжатий (см. например, рис. 54) приводит к повышению упрочнения в сред-нем интервале температур отпуска. При этом содержание углерода в стали оказывает незначительное влияние на уменьшение ширины рентгеновских интерференций феррита при отпуске в области температур 300— 600° С (см. рис. 71). Резкое различие в уменьшении ширины линий на рентгенограммах при отпуске в среднем интервале температур в сталях с различным содержанием углерода проявляется после больших обжатий (см. рис. 71). Чем выше содержание углерода в стали, тем интенсивнее протекает процесс уменьшения плотности дефектов кристаллической решетки феррита. Так как процессы разупрочнения протекают тем интенсивнее, чем выше степень деформации и больше содержание углерода в стали, то внешнее проявление эффекта упрочнения (отклонение от монотонного хода кривых изменения прочности и твердости) после больших деформаций будет тем меньше, чем больше перлита (углерода) в стали и выше степень деформации (см. рис. 54, 55). [c.203]

Условие Брегга трактуется обычно как условие отражения рентгеновского луча от определенной кристаллической плоскости, хотя, по существу, имеет место не отражение, а интерференция колебаний, распространяющихся от возбужденных электронов в атомах кристаллической решетки. [c.529]

Хотя изложение основ рентгеноструктурного анализа не является задачей этой книги, упомянем здесь об интерференционном методе исследования кристаллов, в котором используют дискретные рентгеновские спектры характеристические лучи) — резкие пики, появляющиеся на сплошном фоне рентгеновского излучения при больших ускоряющих потенциалах. Кристаллографическими исследованиями было установлено, что в любом кристалле можно обнаружить определенные плоскости, в которых атомы или ионы, составляющие его решетку, упакованы наиболее плотно. Такие плоскости отражают монохроматическое рентгеновское излучение, и, следовательно, может происходить интерференция волн, отраженных различными плоскостями. Очевидно, что усиление отраженной волны произойдет лишь под вполне определенным углом 0 (рис. 6.78). Если разность хода (А = АО + ОВ) равна целому числу длин волн, то [c.351]

Особенным затруднением для гипотезы волновой природы рентгеновских лучей служили неудачи опытов, проделанных Рентгеном и рядом других исследователей с целью обнаружить интерференцию и дифракцию рентгеновских лучей. Лишь значительно позже (около 1910 г.) выяснилось, что длина волны рентгеновского излучения значительно меньше, чем у видимого света и ультрафиолетовых лучей, и поэтому первые опыты по осуществлению интерференции были заранее обречены на неудачу. [c.407]

Метод рентгеновского гониометра. Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. Этого недостатка лишен метод рентгеновского гониометра. В этом методе используют монохроматическое излучение, кристалл вращают вокруг выбранной оси, кассета с цилиндрической пленкой движется возвратно-поступательно вдоль оси вращающегося кристалла, поэтому отражения разделяются по их третьей координате. Снимают не всю дифракционную картину, а с помощью определенного приспособления вырезают одну какую-нибудь слоевую линию, чаще всего нулевую (рис. 1,48). При таком методе съемки каждый интерференционный рефлекс попадает в определенное место на пленке и наложения рефлексов не происходит. С помощью такой развертки, используя сферы отражения, определяют индексы интерференции и по ним устанавливают законы погасания (см. выше). Затем по таблицам определяют федоровскую пространственную группу симметрии, т. е. полный набор элементов симметрии, присущий данной пространственной решетке, знание которого в дальнейшем облегчает расчеты проекций электронной плотности. Далее определяют интенсивности каждого рефлекса, по ним — значения структурных амплитуд и строят проекции электронной плотности. [c.52]

Сущность рентгеновского метода измерения основана на явлении интерференции рентгеновских лучей, проходящих через кристаллическую решетку исследуемого материала. [c.387]

Интерференция рентгеновских лучей—см. [c.90]

Трудность расчетного определения полей деформаций и напряжений у вершины трещины привела к необходимости разработки и применения экспериментальных методов исследования деформаций и напряжений. В настоящее время достаточно хорошо разработаны и эффективно используются методы фотоупругих покрытий, сеток, муара, тензометрии, рентгеновского анализа, травления, дифракционных решеток, электронной микроскопии, фазовой интерференции, нанесения медных покрытий, голографии, прямого наблюдения полированной поверхности образцов (1, 10, 6, 34, 49, 56, 130, 187, 199, 260, 261, 287], позволяющие исследовать поля деформаций при статическом и циклическом [c.15]

ГЛУБИНА ПРОНИКНОВЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ НА ТОНКИХ ПЛЕНКАХ [c.34]

Из экспериментальных исследований интерференции мягкого рентгеновского излучения на системе слой—подложка отметим работу [16], где на десяти характеристических линиях в диапазоне 0,8—3,1 нм изучено отражение от тонких слоев А1 и Сг толщиной от 29 до 300 нм. Результаты проделанных авторами измерений константы б по интерференции совпадают о данными [c.37]

Положение изменилось в конце 1970-х — начале 1980-х годов, когда были проведены первые успешные эксперименты, а затем освоена технология изготовления многослойных рентгеновских зеркал. По принципу действия эти зеркала аналогичны многослойным тонкопленочным покрытиям в оптике видимого диапазона и основаны на конструктивной интерференции волн, отраженных от различных границ раздела структуры. В то же время многослойные рентгеновские покрытия имеют ряд принципиальных особенностей. [c.76]

Визуальное качество изображения в большой степени зависит от контраста или относительных интенсивностей фона изображения и участков, несущих информацию. В определенных случаях контраст фотографических (обработанных) транспарантов должен быть изменен. Например, контраст аэроснимков во многих случаях необходимо уменьшать, а контраст рентгеновских изображений — усиливать. Для управления контрастом можно использовать когерентные оптические системы с обратной связью (рис. 9). В таких системах входной транспарант модулирует свет, многократно отраженный от зеркал обратной связи, прежде чем информация выводится из системы 117, 20]. С изменением расстояния между зеркалами контраст изображения усиливается или ослабляется в зависимости от того, конструктивная или деструктивная интерференция имеет место между многократно отраженными сигналами. [c.602]

В настоящей работе устанавливается связь между неоднородными пластическими деформациями отдельных элементов объема и интенсивностью составляющих профиля рентгеновских интерференций в изотропном приблин ении. При этом предполагается выполнение условий Кренера [7]. [c.110]

В работе устанавливается связь между неоднородными пластическими деформациями отдельных элементов объема с интенсивностью составляющих профи гя рентгеновских интерференций в изотропном приближении. На основе предположения выполнения условий Крорюра развиваются математические связи между гетерогенной циклической деформацией и распределением интенсивности рентгеновских рефлексов моно- и поликристаллов. [c.424]

В материалах, обладающих достаточно большой, магнито-стрикцией, анализ внутренних напряжений в течение некоторого времени проводился путем исследования намагничивания. Школой Беккера [2] в начале 30-х годов было установлено, что коэрцитивная сила, начальная проницаемость и энергия намагничивания зависят от внутренних напряжений в материале. Эта качественная зависимость использовалась во многих металлографических исследованиях, но до появления в 1956 г. работы Реймера [17] количественная связь была определена недостаточно точно. Реймер измерял внутренние напряжения по уширению рентгеновских интерференций и сравнивал их с величиной напряжений, определенной из измерений энергии намагничивания в чистом никеле полученные значения хорошо совпадали до напряжений 10 кг1мм . Этот результат был достигнут лишь благодаря учету углового распределения констант магнитострикции в отдельных кристаллитах изучаемого материала. (Чтобы получить полное представление о проделанной Реймером работе, следует обратиться к оригинальной публикации.) Из-за многих эффектов, например характера распределения кристаллов, гетерогенности и т. д., которые могут оказывать влияние на энергию намагничивания, при использовании описанного метода необходима большая осторожность. Одна из последних работ на монокристаллах никеля показала хорошее совпадение между величиной приложенного напряжения и значением напряжения, вычисленного по форме кривой зависимости намагниченности в области приближения ее к насыщению. Эти эксперименты показали, что магнитные измерения напряжений дают правильные результаты только для главных направлений кристалла. [c.303]

Мерой для измерения повреждений решетки, появляющихся в результате включений посторонних веществ, кроме таких чувствительных к структуре свойств, как твердость, может также служить ширина рентгеновских интерференций при рентгенографических тонкоструктурных анализах. С возрастанием повреждений решетки линии в дебаеграмме расширяются, а при отсутствии повреждений решетки они сужаются. [c.96]

Уменьшение расстояния между частицами цементита в стали от 20—25 до примерно 0,6 мкм увеличивает на порядок предел текучести ферритной основы [282]. Повышение количества цементита при одинаковом их размере уменьшает расстояние между частицами, а следовательно, приводит к повышению сопротивления пластической деформации. Исследование упрочнения стали с глобулярными частицами цементита при примерно одинаковом их размере и равномерном их распределении (исследуемые стали подвергали улучшению) показало, что прирост твердости и рост уширения рентгеновских интерференций при малых обжатиях (до 10—20%) тем больше, чем выше содержание углерода в стали (рис. 52). Это различие практически исчезает [c.134]

Динамическое деформационное старение стали сопровождается увеличением ширины терференционпых линий [441, 518 интервал максимального уширения линий совпадает с интервалом температур максимального изменения механических свойств. Как известно [519], основной вклад в уширение рентгеновских интерференций вносят размеры областей когерентного рассеяния рентгеновских лучей и величина микроискажений кристаллической решётки матрицы. Поэтому методом аппроксимации проводили разделение общего уширения рентгеновских интерференций на уширение за счет малости областей когерентного рассеяния рентгеновских лучей ( )) и уширение за счет величины микроискажений кристаллической решетки а-фазы (Да/а). Установлено, что прокатка с обжатием 15% в интервале температур динамического деформационного старения приводит к дроблению областей когерентного рассеяния и росту микроискажений кристаллической решетки а-фазы [11, с. 201]. Аналогичные результаты получили Лиль и Лёв [480] при дефор- [c.277]

Рентгенографирование образцов из стали 20 и 40Х производилось фотографическим методом регистрации рентгеновских интерференций и ионизационным методом. [c.130]

Полученные рентгенограммы микрофотометрировались на микрофотометре МФ-2. Высота щели 4 мм, ширина 1,5 мм. Ми-крофотометрирование производилось с использованием логарифмической шкалы микрофотометра, что позволило непосредственно строить кривые почернения. По ним можно было судить об интенсивности рентгеновских интерференций. [c.130]

Формула Вульфа — Брэгга. Вскоре после открытия М. Лауэ (1912) электромагнитной природы рентгеновских лучей русский ученый Ю. В. Вульф (1912) и независимо от него английские физики отец и сын Г. и Л. Брэгги (1913) дали простое истолкование интерференции рентгеновских лучей в кристаллах, объяснив это явление их отражением (как от зеркала) от атомных плоскостей. Основываясь на этих соображениях, они вывели формулу, описывающую положение интерференционных максимумов. Ниже приводится вывод этой формулы, носящей название формулы Вуль-Рис. 1.36. К выводу формулы фа — Брэгга. [c.38]

Рассеяние рентгеновских лучей, как известно, имеет место в направлениях 0, удовлетворяющих условию Вульфа — Брэггов (см. 10.2) 2d sin =--тХ, где d — расстояние между атомными плоскостями 0 — угол скольжения падающих лучей ш = 1, 2, 3,. . . . В случае дебаевских волн роль постоянной d решетки играет длина гиперзвуковой волны Л. Кроме того, в отличие от рассеяния рентгеновских лучей на дискретных центрах, акустическая решетка имеет синусоидальное распределение плотности, т. е. в этом случае взаимное усиление лучей в результате интерференции возможно только при т=1 [c.122]

Прямые методы определения структуры кристаллов ведут свое начало от открытия Лауэ, Фридрихсом и Книппингом в 1912 г. интерференции рентгеновских лучей на кристаллической решетке. Рассмотрим основные моменты теории дифракции рентгеновских лучей на пространственной решетке кристалла. Некоторые из них уже были приведены в 3 гл. 1. Вкратце они состоят в следующем. Пусть плоская поляризованная электромагнитная волна в момент времени t падает на свободный заряд в точке О. Тогда напряженность поля вторичной волны, создавае- [c.182]

Рентгеновские лучи — Интерференция Интерференция света 3 —-252 Инфлюенты реакций 1 (2-я) — 338 Инфузорная земля — Теплопроводность I (1-я) —485 Иод 1 (1-я) —364 [c.90]

МЕТАЛЛОФИЗИКА — раздел физики, в котором изучаются структура и свойства металлов МЕТОД [аналогии состоит в изучении какого-либо процесса путем замены его процессом, описываемым таким же дифференциальным уравнением, как и изучаемый процесс векторных диаграмм служит для сложения нескольких гармонических колебаний путем представления их посредством векторов встречных пучков используется для увеличения доли энергии, используемой ускоренными частицами для различных ядерных реакций Дебая — Шеррера применяется при исследовании структуры монохроматических рентгеновских излучений затемненного поля служит для наблюдения частиц, когда направление наблюдения перпендикулярно к направлению освещения Лагранжа в гидродинамике состоит в том, что движение жидкости задается путем указания зависимости от времени координат всех ее частиц ин1 ерференционного контраста служит для получения изображений микроскопических объектов путем интерференции световых воли, прошедших и не прошедших через объект меченых атомов состоит в замене атомов исследуемого вещества, участвующего в каком-либо процессе, их радиоактивными изотопами моделирования — метод исследования сложных объектов, явлений или процессов на их моделях или на реальных установках с применением методов подобия теории при постановке и обработке эксперимента статистический служит для изучения свойств макроскопических систем на основе анализа, с помощью математической статистики, закономерностей теплового движения огромного числа микрочастиц, образующих эти системы совнадений в ядерной физике состоит в выделении определенной группы одновременно происходящих событий термодинамический служит для изучения свойств системы взаимодействующих тел путем анализа условий и количественных соотношений происходящих в системе превращений энергии Эйлера в гидродинамике заключаегся в задании поля скоростей жидкости для кинематического описания г чения жидкости] [c.248]

ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЁЙ - возникновение отклонённых (дифрагированных) лучей в результате интерференции упруго рассеянных электронами вещества вторичных воли, Д. р. л, обусловлена пространственно упорядоченным расположением атомов рассеивателя и большой величиной параметра пространственной дисперсии (1 — длина волны рентгеновского н.= лучения, d — характерное межатомное расстояние в веществе). Она является осн. методом исследования атомной структуры веществ (см. Рентгеновский структурный анализ. Рентгенография материалов. Рентгеновская топография. Рентгеновская спектроскопия) [1 — 6]. [c.671]

Взаимосвязь макро- и микропараметров среды была обоснована микроскопич. электронной теорией X. А. Лоренца (1880), рассматривающей электрон (атом) как осциллятор, а среду как набор частиц-осцилляторов. Падающая световая волна вызывает колебания в частицах, в результате чего они излучают волны, когерентные с падающей. Вторичная волна одного атома действует на др. атомы и вызывает их дополнит, излучение интерференция всех этих волн с падающей объясняет все явления отражения и преломления. Если расстояние между частицами X (что справедливо для оптич. диапазона) и если плотность частиц одинакова во всём объёме среды, то расчёт по молекулярной теории приводит к тем же выводам, что и феноменологич. теория. Именно в среде вторичные волны гасят падающую и создают прелом.чённую вне среды интерференция вторичных волн приводит к образованию отражённой волны с амплитудой, описываемой ф-лами Френеля. Если расстояние между частицами сравнимо с А. (в ренте, области), то феноменологич. теория неправомерна. необходим другой подход (см. Дифракция рентгеновских лучей). Тепловое движение частиц нарушает постоянство их плотности и приводит к новому явлению — молекулярному рассеянию света. [c.512]

Дифракция ЖР-иалучения на совершенном кристалле благодаря регулярному расположению атомов крис-таллич. структуры носит динаынч. характер (динамич. дифракция см. Дифракция рентгеновских лг/ней). Это означает, что многократное рассеяние излучения на кристаллич. плоскостях сохраняет свои когерентные свойства, в результате чего амплитуда дифраги-ров. Волн становится сравнимой с амплитудой проходящей волны. Интерференция дифрагированных и проходящей волн приводит к образованию результирующего волнового поля в кристалле, к-рое может быть представлено а виде суперпозиции волн, получивших назв.. блоховских. Эфф. длина блоховской волны в кристалле принимает значение от единиц до десятков мкм, что существенно снижает требования к изготовлению ревтгенооптич. влементов. [c.348]

Значительно большей (на 2—3 порядка) светосилой обладают отражательные Р. м. скользящего падения с зеркальными системами Вольтера, из к-рых чаще используется система гиперболоид—эллипсоид (см. рис. 2 в ст. Рентгеновская оптика). Теоретик, разрешение таких Р. м, на оптич. оси определяется соотношением 6 гг (1 - - ЛГ)Х/4л6, где М — увеличение, 0 — угол скольжения, примерно равный /g апертуры. Напр., для сканирующего Р. м., дающего уменьшенное изображение источника в плоскости просвечиваемого объекта с М — 0,3 и 0=3°, при X = 2,5 нм б — 5 нм. Реальное разрешение закиснт от точности изготовления зеркал, имеющих глубоко асферическую форму, и составляет л/1 мкм необходимая для получения теоретик, разрешения точность (—1 нм) пока недостижима для совр. технологии. Полевые аберрации отражат. Р. м. этого типа довольно велики и ограничивают поле зрения до угл. величины — 1°. Использование многослойных интерференц. покрытий позволяет увеличить угол 0 н тем самым повысить светосилу отражательного Р. м. скользящего падения. [c.367]

Определение элементного состава методом ионизационной спектроскопии основано на измерении энергий связи электронов остова [6]. Одно из новых направлений иони-зац. спектроскопии—анализ протяжённой тонкой структуры спектра, проявляющейся в виде осцилляций за порогом ионизации и охватывающей область энергий до сотен эВ. Природа этих осцилляций подобна природе осцилляций EXAFS (см. Рентгеновские спектры) и связана с интерференцией волны де Бройля выбитого из атома электрона и волн, рассеянных атомами ближайших координац. сфер данного атома в направлении назад . Фурье-анализ образующейся тонкой структуры энергетич. спектра электронов позволяет с высокой точностью определять радиусы координац. сфер [7 ]. Тонкая структура в спектре, прилегающая к порогу ионизации остовных уровней, служит ис- [c.553]

Рентгеновски определяемый период решетки твердого раствора фиксируется как результат интерференции рентгеновских лучей, рассеянных атомами, которые относятся к области, рассеивающей как единое целое, так называемой области когерентного рассеяния (ОКР). Размеры ОКР, даже в сильно искаженном кристалле, имеют порядок десятков нанометров. Именно поэтому получаются резкие реф- [c.128]

Это знакомое нам уравнение Брэгга, а особые значения углов скольжения 0 назьшают углами Брэгга . При выполнении условия, выраженного указанным уравнением, рентгеновские волны от всех узлов кристаллической решетки усиливают друг друга при других углах падения интерференция приводит к снижению интенсивности. Как со свойственной ему проницательностью отмечал Брэгг, это уравнение представляет собой разновидность знакомого соотношения в оптике, которое определяет цвета при отражении от тонких пленок (Брэгг, 1975). [c.170]

На рис. 3.1 показана угловая зависимость коэффициента отражения многослойного рентгеновского зеркала, содержащего 200 пар чередующихся слоев молибдена (толщина слоя 1,99 нм) и бора (толщина слоя 2,91 нм). В отличие от случая одной границы раздела (штриховая и штрихпунктирная кривые), вне области полного внешнего отражения (т. е. при ср < п/2 — Од) имеется довольно узкая область углов падения, в которой значение коэффициента отражения составляет десятки процентов. Пик отражения имеет резонансный характер, что связано с интерференцией большого числа волн, отраженных различными границами раздела многослойной структуры. Угловое положение пика приближенно соогвегствует условию Брзгга (3.3). [c.77]

К настоящему времени методы голографии легли в основу новых направлений исследования, представляющих значительный научный и прикладной интерес. Универсальность принципа голографической регистрации, основанного на общности явлений интерференции и дифракции для волновых процессов различной физической природы и различной частоты, открыла ранее недоступные возможности наблюдения этих процессов, связанные с реализацией голографии в рентгеновском, инфракрасном, радиоволновом диапазонах спектра электромагнитных колебаний, на ультразвуковых волнах, квазичастицах различной природы, а также на дебройлевских волнах частиц. [c.7]

Интерес к голографии не исчерпывается только тем, что она дала возможность ввести в оптику третье измерение. Голография вторглась почти во все традиционные области прикладной оптики, заставив пересмотреть сложившиеся ранее границы между ними. Голографический приицип позволил по-новому осмыслить некоторые области ИК-техники, СВЧ-техники, акустики, рентгеновской и электронной микроскопии, короче говоря, все те направления, где играет роль интерференция волн. [c.302]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...