Волна отраженная

Границе пленки вновь происходит частичное отражение волн (рис. 262). Световые волны, отраженные двумя поверхностями тонкой пленки, распространяются в одном направлении, но проходят разные пути. При разности хода Л/, кратной целому числу длин волн [c.267]

Пусть на поверхность стекла, показатель преломления которого По нанесен слой диэлектрика оптической толщины п1 = Я/4. Показатель преломления п этого диэлектрика должен быть меньше о - Очевидно, что волны, отраженные от внешней и внутренней поверхностей такого слоя, находятся в противофазе, так как оптическая разность хода между ними составляет >./4 + Х/4 = Х/2, а изменение фазы на л ( потеря полуволны ) происходит на обеих поверхностях (рис. 5.32). [c.217]

В результате интерференции волн, отраженных от покоящегося Ti и движущегося Т2 отражателей, возникает нестационарная [c.234]

Хотя изложение основ рентгеноструктурного анализа не является задачей этой книги, упомянем здесь об интерференционном методе исследования кристаллов, в котором используют дискретные рентгеновские спектры характеристические лучи) — резкие пики, появляющиеся на сплошном фоне рентгеновского излучения при больших ускоряющих потенциалах. Кристаллографическими исследованиями было установлено, что в любом кристалле можно обнаружить определенные плоскости, в которых атомы или ионы, составляющие его решетку, упакованы наиболее плотно. Такие плоскости отражают монохроматическое рентгеновское излучение, и, следовательно, может происходить интерференция волн, отраженных различными плоскостями. Очевидно, что усиление отраженной волны произойдет лишь под вполне определенным углом 0 (рис. 6.78). Если разность хода (А = АО + ОВ) равна целому числу длин волн, то [c.351]

Рассмотрим схему опытов по голографии. Исследуемый объект освещают пучком света лазера, предварительно уширенным простым оптическим устройством. Рассеянная объектом световая волна, а также исходная ( опорная ) волна, отраженная от зер- [c.354]

Если параллельный пучок рентгеновского излучения падает на кристалл, то на каждой атомной плоскости будет происходить дифракция. Максимум интенсивности дифрагировавших рентгеновских волн соответствует направлению, определяемому законами правильного отражения. Условие же взаимного усиления волн, отраженных от разных плоскостей, запишется, очевидно, в виде [c.409]

Итак, пусть на границу раздела двух изотропных однородных диэлектриков падает плоская электромагнитная волна. В таком случае, как показывает опыт, от границы раздела диэлектриков будут распространяться две плоские волны — отраженная и преломленная. [c.471]

Можно всегда выбрать а так, чтобы Д,. = X, т. е. чтобы волны, отраженные левой и правой половинами каждой зоны, взаимно уничтожались. Только для направления sin ф = sin ф, т. е. ф = ф, такой выбор ширины зоны невозможен. По этому направлению свет будет отражаться. Аналогично для преломленных волн единственное направление, по которому свет при любом разбиении поверхности на зоны не будет уничтожен, удовлетворяет условию i sin ф — sin х = = о, т. е. закону преломления. [c.874]

LiF равна 2,32 А. Поэтому можно ожидать, что при падении медленных нейтронов под малым углем 0 на плоскость кристалла будет наблюдаться отражение монохроматических нейтронов под углом, равным углу падения. Связь между углом 0, длиной волны отраженных нейтронов к и постоянной решетки d дается известной формулой Брегга — Вульфа (см. 23, п. 2) [c.341]

Рассмотрим распространение плоской электромагнитной волны, падающей на плоскую границу, разделяющую две однородные непроводящие изотропные среды (диэлектрики). При этом будем предполагать, что обе среды бесконечны, иначе необходимо учитывать волны, отраженные от внешних границ сред. С такими волнами приходится считаться при отражении света от ограниченных поверхностей, например пластинок. [c.12]

Для такого значения волнового вектора существует сдвиг фаз на величину я между волнами, отраженными от двух соседних атомов. Следовательно, решение для этого значе- [c.80]

Отсюда имеем aj = a , sin j/sin pa = Это означает, что волна расширения отражается под углом, равным углу падения прямой волны отражение волны сдвига подобно преломлению с коэффициентом [c.76]

Интересный физический смысл в этом подходе приобретают структурные амплитуды f(H). Их аргументы — вектора, характеризующие нормали к определенным отражающим плоскостям, и поэтому структурные амплитуды i (H) могут рассматриваться как амплитуды волн, отраженных от плоскостей с индексами (Ни Яг, Яз). Поэтому при прочих равных обстоятельствах f(H) тем больше, чем плотнее усеяны атомами соответствующие отражающие плоскости. [c.186]

Через узлы пространственной кристаллической решетки можно провести много плоскостей (рис. 26), и каждая из них будет отражать волну в таком направлении, чтобы угол отражения был равен углу падения, причем это условие не зависит от длины волны волны всевозможных длин отражаются одинаково. Однако в действительности отражение в данном направлении происходит не только от одной плоскости, но и от всех других плоскостей, параллельных данной. Все эти волны, отраженные от различных плоскостей, когерентны между собой, поскольку порождаются одной и той же первичной волной. Другими словами, при отражении волны от семейства параллельных поверхностей происходит деление амплитуды между вторичными отраженными волнами, распространяющимися под углом отражения, равным углу падения. Если разность фаз между вторичными волнами кратна 2тс, то они усилят друг друга и под углом отражения будет действительно распространяться отраженная волна. Если же эта кратность отсутствует, то никакой отраженной волны не будет. Условие, при котором происходит отражение от системы параллельных поверхностей, называется условием Брэгга- Вульфа. Выведем это условие. [c.49]

Разность фаз между волнами, отраженными от соседних поверхностей, равна 5 = /сА = (2лД)А. Конструктивная интерференция этих волн произойдет при условии 5 = 2пт (т = I, 2,3,. ..). Следовательно, на основе [c.49]

Мы предположили, что входным звеном цепочки, к которому приложена внешняя э. д. с., служит звено с номером п = 0. В (8.6.27) первые слагаемые соответствуют волне, бегущей от источника, а вторые — волне, отраженной от нагрузки. Амплитуды этих волн можно определить из следующих граничных условий [c.303]

Ударные трубы. Для изучения движения при больших числах М в последние годы широко применяются ударные трубы различных конструкций. Они использовались для изучения процессов возникновения ударных волн, отражения и преломления их, процессов детонации в горючих газах, явлений конденсации и поведения газов при высокой температуре. Ударные трубы могут также применяться для исследования нестационарных явлений в машинах, изучения гашения возмущений при электрических разрядах, распространения взрывных волн в горных разработках, действия взрывных волн на элементы конструкций машин и сооружений. [c.467]

Рас. 4.4. Распространение ударной волны, отраженной от С( )еры, в турбулентной области, занятой продуктами взрыва [c.86]

Проходя через кристалл, тепловые нейтроны подобно рентгеновским лучам претерпевают дифракционное рассеяние. Это рассеяние проявляется в том, что при попадании пучка нейтронов в кристалл возникают новые пучки, идущие в направлениях, отличающихся от первоначального. Возможные направления этих дифрагированных пучков рассчитываются для нейтронов совершенно так же, как и для рентгеновских лучей. Упрощенный, но, как показывает более точное рассмотрение, в общем правильный механизм явления дифракции таков. На кристалл падает плоская нейтронная волна. Ядра, расположенные в определенной кристаллической плоскости, отражают эту волну. Параллельных кристаллических плоскостей очень много. Волны, отраженные в каждой из [c.551]

При падении на поверхность раздела сред сферической волны отражение и преломление происходят так, как будто каждый из падающих лучей является ограниченной плоской волной. Например, в случае границы раздела двух жидкостей (рис. 17) лучи ОА и ОВ, углы падения которых меньше критического, отражаются и преломляются по обычным законам. Лучи 0D и ОЕ, угол падения которых превышает критический, испытывают незеркальное отражение. Чем ближе значения угла р к критическому, тем больше смещение DD и ЕЕ. Для луча, угол падения которого равен критическому, смещение стремится к бесконечности. [c.198]

В случае падения плоской волны на прямой двугранный угол (рис. 18) происходит двукратное отражение волны от граней угла, приводящее к параллельному ее смещению. При падении на двугранный угол сферической волны от источника О отражение происходит от плоскости MJV, отраженные волны как бы излучаются мнимым источником О, но только нижние волны становятся верхними, и наоборот. Если двугранный угол образуется поверхностями твердого тела, то при каждом отражении может происходить трансформация волн, как показано на рис. 13 и 14. Вследствие этого амплитуда волны, отраженной в сторону источника излучения, может существенно уменьшиться при определенных углах падения (рис. 19). Если волна падает под большим углом к одной из граней, то возникают поверхностные и головные (скольжения) волны, в результате чего отраженная волна ослабляется (на рис. 19 не показано). [c.200]

Кроме перечисленных признаков для распознавания образа дефектов используют спектральный метод, а также анализируют амплитуды волн, отраженных и рассеянных на дефектах. [c.247]

Толщина h волокнисто-пористого материала обычно выбирается из следующего условия. Амплитуда звукового давления в звуко вой волне, отраженной от жесткой задней поверхности, при выходе из слоя не должна превышать 6% от амплитуды падающей волны. Для соблюдения этого условия толщина слоя должна быть не менее двух следующих значений при условии, что средняя пористость будет порядка 0,8, а нижняя граничная частота ЮО гц [c.61]

Для уяснения физической сущности волн в пластинах рассмотрим процесс образования нормальных волн в жидком слое. Пусть на слой толщиной /г (рис. 1.3) падает извне под углом р плоская продольная волна. Линия AD показывает фронт падающей волны. В результате преломления на границе в слое возникает волна с фронтом СВ, распространяющаяся под углом а. и многократно отражающаяся в слое. При определенном угле падения фазы волны, отраженной от нижней поверхности, и прямой волны, идущей от верхней поверхности, совпадают, что и является условием возникновения нормальных волн. [c.15]

Комплексное значение ф2 приведет к тому, что комп.тексными окажутся амплитуды отраженной и преломленной волн в формулах Френеля, что, как известно, связано с эллиптической поляризацией излучения. Следовательно, если на металл падает линейно поляризованная волна, то как отраженная, так и преломленная волны будут эллиптически поляризованы. Исследование преломленной волны затруднительно, так как она нацело поглощается в очень тонком слое металла, и поэтому обычно экспериментально изучают волну, отраженную от металла. Этот метод, предложенный в начале XX и. Друде, служит основным способом определения оптических характеристик металла. [c.102]

Особый исторический интерес представляет случай интерференции в тонком воздушном слое, известный под именем когец Ньютона. Эта картина наблюдается, когда выпуклая поверхность линзы малой кривизны соприкасается в некоторой точке с плоской поверхностью хорошо отполированной пластинки, так что остающаяся между ними воздушная прослойка постепенно утолщается от точки соприкосновения к краям. Если на систему (приблизительно нормально к поверхности пластинки) падает пучок монохроматического света, то световые волны, отраженные от верхней и нижней границ воздушной прослойки, будут интерферировать между собой. При этом получается следующая картина в точке соприкосновения наблюдается черное пятно, окруженное рядом концентрических светлых и черных колец убывающей ширины ). [c.125]

Таким образом, в той части среды, где находится мощный импульс, показатель преломления оказывается зависящим от времени. Вместе с тем на примерах рассеяния света, дифракции на ультрааку-стической волне, отражения от движущегося зеркала и т. п. мы видели, что изменение оптических свойств во времени обязательно приводит к изменению спектрального состава излучения, распространяющегося в такой нестационарной среде. В случае рассеяния света была существенна цестационарность, обусловленная поступательным движением молекул или внутримолекулярными колебаниями, к в результате спектр рассеянного света отличался от спектра излучения, входящего в среду (.цублет Мандельштама—Бриллю- [c.830]

Указание. В случае воздушной прослойки кольца получаются при наложении волны, отраженной от 1 (параллельный пучок), и волны, отраженной от 2 (рас.ходящийся пучок, исходящий из мнимого фокуса Р выпуклого зеркала 2). Линза 2 дает два мнимых изображения источника (параллельный пучок, отраженный от 1, собран в фокусе линзы Р ) и 82 (изображение Р). Размер колец определяется расстоянием При заполнении пространства 1—2 водой лучи, отраженные от 2, преломляясь в слое воды (рассеивающая линза), станут более расходящимися, и линза 2 соберет их в точке так что следовательно, кольца [c.870]

Одним из методов получения голограммы эталонной поверхности является голографическая регистрация световой волны, отраженной или прошедшей через эталонный элемент, например линзу. Схема регистрации голограммы аналогична оптической схеме, приведенной на рис. 40, а. На место линзы 4 в оптическую схему помещают. эталонную линзу, профиль которой измерен другими методами. Волна, прошедшая через линзу и представляющая собой предметную волну, посредством зеркал 5 9 освещает фотопластинку 8. Вторая волна, отраженная зеркалами 3 и /о, является опорной волной и также падает на фотопластинку, на которой рег истрируется результат интерференции объектной и опорной волн. Проявленная фотопластинка — голограмма устанавливается с помощью специальных кинематических держателей на прежнее место в оптической схеме. Если ее осветить одной лишь опорной волной, то за голограммой будут распространяться две волны — опорная и восстановленная объектная волна, несущая информацию о профиле. эталонной поверхности. [c.101]

Законы отражения и преломления. Если на границу раздела двух сред с зазными оптическими свойствами падает плоская волна, то она делится иа две волны отраженную и проходящую во вторую среду (преломленную). Таким образом, электромагнитное поле в первой среде образуется из поля падающей и отраженной волн, а во второй — из поля преломленной волны. [c.12]

Пусть имело место полное мгновенное закрытие затвора. Тогда повышение давления согласно (6-101) равно avJg = АЯ , и обратная волна, отраженная от входа, будет иметь величину [c.217]

Вскоре после открытия дифракции ренгеновских лучей в кристаллах Вульфом и Брэггом был предложен подход к построению теории рассеяния, отличающийся от подхода Лауэ. Вместо суммирования амплитуд рассеяния волн, рассеянных электронами (рассеивающими центрами), в этом подходе предлагалось суммировать амплитуды волн, отраженные атомными плоскостями (см. рис. 4.7). Пусть пучок рентгеновских лучей ( к =Я ) будет падать на отражающие плоскости (для простоты будем их считать параллельными внешним граням) под углом О, причем расстояния между соседними параллельными плоскостями в семей- [c.185]

Таким образом, вынужденное колебание представлено в виде суммы бегущих волн. Первое слагаемое характеризует волну, бегущую от источника. Слагаемые вида ехр [/(pi —/сх)]ехр (—2/skI) (s = 1, 2,. ..) описывают бегущие волны, отраженные от конца линии х = 0, а слагаемые ехр [/(pi+ кх)] ехр (—2/sfei) — отраженные от конца х = /. Величина s характеризует число отражений, которые претерпела данная волна. При. каждом прохождении линии волна затухает по закону ехр(—RljYLj ). Поэтому в (10.3.26) следует учитывать лишь конечное число волн, тем меньшее, чем больше затухание в линии. В пределе при большом затухании остается лишь волна, бегущая от источника [c.341]

Принцип голографической интерферометрии состоит в следующем. После экспонирования и фотообработки голограмму устанавливают на прежнее место, освещают лазерным пучком и. наблюдают сквозь нее объект, также оставшийся на прежнем месте, но получивший какие-либо деформации механические, тепловые и т. д. причем оператор увидит объект, покрытый сетью интерференционных полос. Интерференционная картина в данном случае возникает в результате интерференции двух фронтов световых волн отраженного от объекта в момент наблюдения и восстановленного с голограммы предметного пучка. Интерференционные полосы являются геометрическим местом точек равных перемещений, полученных объектом. Часто метод голографической интерферометрии реализуется другим способом. Об состоит в том, что на одну и ту же пластинку двумя экспозициями Босле-довательно записываются голограммы от объекта, находящегося в исходном в деформированном состоянии. При этом суммарная экспозиция должна находиться в пределах линейного участка характеристической кривой фотоэмульсии. [c.78]

Дифференциальный канал J регистрирует нарушениё сплошности по фазе и амплитуде электромагнитных волн, отраженных от соседних участков объекта контроля. Балансный канал 2 обеспечивает контроль свойств, используя для этой цели эталонное плечо. Настройка на эталонное изделие или бездефектный участок произ- [c.234]

Дельта-метод (рис. 2,3, в) основан на использовании дифракции волн на дефекте. Часть падающей на дефект поперечной волны от и.злучателя 2 отражается зеркально, а другая часть дифрагирует в виде поперечной и трансформированной продольной волн. При отражении волна также частично трансформируется в продольную волну. Дифрагированная продольная волна поступает на приемник 4 продольных волн, который несколько позднее принимает также продольную волну, отраженную от нижней поверхности изделия. [c.96]

Кф.п= UilUi (дельта-методика A с 129638 СССР Амплитуда поперечных волн, отраженных от дефекта к нижней поверхности и принятых приемником П1, —Ut, дБ амплитуда трансфор- Сф.п = 4. .. 7 дБ Объемный Л1П1 П2 [c.255]

Гидравлика. Кн.2 (1991) -- [ c.2 , c.79 ]

Механика сплошной среды. Т.2 (1970) -- [ c.213 ]

Оптика (1985) -- [ c.106 ]

Гидравлика (1984) -- [ c.370 ]

Теория упругости Изд4 (1959) -- [ c.291 ]

Акустика слоистых сред (1989) -- [ c.27 , c.199 , c.201 , c.211 , c.215 , c.243 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...