Метод интерференционный

С помощью таких объективов можно осуществлять микроскопические исследования в светлом и темном полях, а также методами интерференционного и фазового контраста. [c.106]

Окисные пленки бывают тонкие, средние и толстые. Тонкие пленки имеют толщину от нескольких до 400 А и невидимы невооруженным глазом их можно обнаружить и измерить с помощью оптических методов — интерференционным или методом отражения поляризованного света. [c.13]

Метод интерференционного контраста состоит в том, что каждый луч, входящий в микроскоп, раздваивается один проходит сквозь наблюдаемую частицу, второй — мимо. В окулярной части микроскопа оба луча вновь соединяются и интерферируют между собой. Результат интерференции определяется разностью хода лучей Д, к-ран выражается ф-лой Д = NX — (п — n )d, где [c.146]

При образовании мартенсита на гладкой (до превращения) поверхности стального образца формируется характерный рельеф, прекрасно различимый при увеличении (рис. 131, а). На рис. 131,6 показаны те же неровности поверхностного рельефа, сфотографированные с помощью специального метода интерференционной микроскопии. Принцип этого метода мы объяснять не будем, но фотография, думаем, скажет сама за себя. [c.224]

Относительные методы интерференционный метод трубки, или метод включений метод стержня метод широкой полосы метод измерения удлинения с помощью определения электросопротивления. [c.151]

Метод интерференционного контраста. Небольшие изменения микрорельефа поверхности можно обнаружить с помощью интерференционного микроскопа или, микроинтерферометра. Последний прибор позволяет, кроме того, количественно оценивать изучаемый рельеф, что особенно важно для исследования структурного механизма пластической деформации. Используют методы двухлучевой и многолучевой интерферометрии. В первом случае (интерферометр Линника) свет от источника Ь расщепляется полупрозрачной пластинкой Т на два пучка (рис. 1.7). Один пучок, отраженный от [c.27]

Использование многолучевой интерферометрии для исследования микрорельефа поверхности (98, 195], осуществляемого по измерению воспроизведенного изображения объекта, очень важно в научном и Практическом отношении. Высокая чувствительность многолучевых интерференционных микроскопов позволяет исследовать объекты, обладающие неровностями рельефа поверхности, соизмеримыми с величиной межатомных расстояний в кристаллической решетке в твердом теле. Наиболее распространенными областями применения многолучевого метода интерференционной микроскопии являются Определение малых флуктуаций показателя преломления, изучение колебаний пьезокристаллов и т. д. [28, 98, 134, 193). [c.7]

Абсолютный метод (интерференционный метод в длинах световых волн) [c.80]

Абсолютный метод интерференционного измерения плоских. концевых мер, допускающий непосредственное сличение длины измеряемой меры с длиной световой волны, применяется для измерения с предельной практически достижимой точностью концевых мер 1-го разряда. [c.80]

Фотоэлектрические методы интерференционных измерений. Эти методы имеют значительные преимущества по сравнению с визуальными, выражающиеся в более высокой чувствительности и отсутствии субъективных систематических ошибок. Порог чувствительности фотоэлектрических методов определяется только шумами фотоприемника и электронного устройства. Эти методы обладают малой инерционностью, позволяющей значительно сократить время измерения и исключить медленное смещение полос из-за температурных воздействий. Фотоэлектрические методы можно автоматизировать. [c.227]

Различное поведение пограничного слоя в турбинной и насосной решетках подтверждается снимками течения в каналах между лопатками. На рис. 25.8 изображены такие снимки, полученные по методу интерференционных полос. Смещение полос, заметное в отдельных местах снимков, показывает изменение плотности по сравнению с плотностью в невозмущенном течении. Внешний край пограничного слоя легко узнать по очень резкому перегибу интерференционных полос, возникающему вследствие разности плотностей в пограничном слое и вне его (в свою очередь эта разность обусловлена большой разностью температур в пограничном слое и вне его, возникающей вследствие трения). [c.687]

Решеточные структуры изготовляют путем избирательного травления либо путем травления ионным пучком через маски фоторезиста на подложках с различной ориентацией. Применяют методы интерференционной, электронно-лучевой литографии. Из техники травления [c.118]

По сравнению с методами травления, метод интерференционных пленок имеет большое преимущество он позволяет выявлять все структурные компоненты одновременно в их первоначальном виде, не искажая их исходных размеров. [c.46]

Метод интерференционного контраста состоит в том, что каждый луч, входящий в М., раздваивается один проходит сквозь наблюдаемую ч-цу, а второй — мимо неё. В окулярной части М- оба луча вновь соединяются и интерферируют между собой. Результат интерференции определяется разностью хода лучей б, к-рая выражается ф-лой б=Л А,= (по—п )й, где о, — показатели преломления соответственно ч-цы и окружающей среды, (I — толщина ч-цы, N — порядок интерференции. Принципиальная схема одного из способов осуществления интерференц. контраста показана на рис. 4. [c.420]

Метод Юнга. Свет, исходящий от протяженного источника S, направлен па экран с двумя симметрично расположенными относительно S отверстиями (рис. 4.9). На экране Эз наблюдаются полосы. Юнг доказал, что интерференционные полосы наблюдаются только при достаточно малых размерах источника б". Усовершенствовав схему опыта, он получил весьма четкую интерференционную картину. По этой причине первое наблюдение явления интерференции приписывается именно Юнгу. Сущность его метода заключается [c.81]

Глубину рисок или ступенек, поверхности которых у верхнего и нижнего краев имеют достаточную отражательную способн<х ть, измеряют приборами МИИ-4 и МИИ-5 интерференционно-индикаторным методом. Интерференционные полосы наводят на резкость последовательно на дно риски и ее край. Глубина риски определяется величиной фокусировочного перемещения микрообъектива. Этим методом можно измерять риски глубиной 20— 100 мкм при ширине до 0,25 мкм [c.68]

Для металлографической оценки распределения феррита в ау-стенитных хромоникелевых сталях с содержанием, % С 0 06 Сг 17,8 и Ni 10,3, Пепперхофф и Бюлер [154] применяли метод интерференционных слоев. Метод позволяет обнаружить образование б-феррита в приграничных областях и связанное с этим обеднение хромом границ зерен аустенитных хромоникелевых сталей после термообработки. Образование ферритных областей подтверждается также методом магнитного порошка. [c.139]

Метод интерференционных измерений углов путем определения угла поворота интерференционных полос применяют преимущественно при измерениях отклонений от О или 180°. На рис. 230 изображена интерференциоиная картина, полученная от плоскости пластины, к которой притерт клин, имеющий пирамидальность. При отсутствии пирамидальности интерференционные полосы НЗ поверхности клина имели бы такое же направление, какое имеют полосы на поверхности пластины. [c.311]

Прибор ПО Физо-Пульфриху — абсолютный метод Интерференционный динамический дилатометр — относительный метод [c.7]

Развитие когерентной оптики и голографии, в частности, голографии сфокусированных изображений, естественным образом привело к возникновению нового направления исследований и приложений, получившего название "оптика спеклов . Основу оптики спеклов составляет спекл-ин-терферометрия - совокупность методов интерференционных измерений, базирующихся на двухэкспозиционной регистрации спекл<труктур (картин лазерной пятнистости) в плоскости изображения оптической системы. [c.11]

Такие спеклограммы получают при подавлении (блокировке) определенного интервала низких пространственных частот диффузно рассеян-HQi объектно ВОЛНЫ, захватываемо anepTypoii фиксирующе системы ). Схема на рис. 41 в определенно степени сходна со xeMoii [131] введения пространственно несуще в спекл-интерферометрии - методе интерференционных измеренш , основанном на регистрации двукратно экспонированных спеклограмм. [c.77]

Применение описанных в предвдущем параграфе распространенных типов источников света будет наиболее эффективно, если использовать различные методы оптического фильтрования, обеспечивающие сужение спектральных линий при сравнительно малых потерях интенсивности. В настоящее время известно несколько групп методов и направлений в развитии техники сужения спектральных линий. К первой группе относятся методы интерференционной монохроматизации, ко второй — методы резонансных линий и к третьей — методы генерации стимулированного излучения. [c.66]

Методами интерференционной и оптической микроскопии при косом освещении параллельным пучком лучей детально исследовано поведение отдельных следов скольжения в крупных зернах медных образцов,, т. е. микротопография поверхности в следующих один за другим полуциклах знакопеременного деформирования с постоянной амплитудой. Экспериментально отчетливо выявлено возвратно-поступательное перемещение в следах скольжения. На рис. 13 в качестве примера показано одно и то же поле образца, полученное на интерферометре (а) и микроскопе при косом освещении (б), после растяжения (I) и последующего сжатия (II). Смещение интерференционных полос на ступеньках, которые возникли на поверхности образца в результате скольжения в одном направлении, соответствует темной линии при косом освещении. При сжатии образца изменилось как направление смещения интерференционных полос, так и освещенность следов скольжения. Наблюдаемые изменения свидетельствуют о последовательном образовании на поверхности образцов впадин и выступов. По изменению смещения интерференционных полос проведена количественная оценка смещения одной части кристаллита относительно другой в следах скольжения. Изменение величины смещения по следам скольжения особенно сильно проявляется при первых знакопеременных циклах деформирования, а потом затухает. [c.20]

Относительный (компараторный) метод интерференционного изме- рения плоских концевых мер, допускающий сличение в длинах световых волн [c.80]

Относительный технический метод интерференционного измерения (или технический интерференционный метод) основан на том же принципе, как и указанный выше относительный, компараторный метод, применяется для измерения концевых мер 3-го и 4-го разрядов. [c.81]

Иптенференционные методы, где показатель преломления влияет на величину разности хода между интерферирующими пучкалш. Так же как и первая группа методов, интерференционные методы применимы для прозрачных и слабо поглощающих сред. [c.460]

Ламинарный температурный пограничный слой на нагретом теле при естественной конвекции очень просто сделать видимым посредством шлирного метода, указанного Э. Шмидтом [ ]. Для этой цели параллельно поверхности, отдающей тепло, направляется параллельный пучок света. Этот пучок, проходя в нагретом пограничном слое, дает на экране позади тела теневое изображение, позволяющее судить о толщине температурного пограничного слоя и о местном коэффициенте теплопередачи. Такое теневое изображение возникает следующим образом. Вследствие градиента плотности в направлении, перпендикулярном к нагретой поверхности, лучи света отклоняются наружу, и притом сильнее всего там, где градиент плотности имеет наибольшее значение, т. е. непосредственно около тела. Если экран достаточно удален от тела, то изображение всего пространства, занятого нагретым слоем, получается на экране в виде темного ядра, заключающего в себе и изображение нагретого тела. Лучи света, отклоненные из температурного поля наружу, дают на экране светлую зону, окружающую темное ядро. Внешняя граница светлой зоны очерчивается теми лучами, которые прошли около самой поверхности нагретого тела. Их отклонение пропорционально градиенту плотности у поверхности и, следовательно, местному коэффициенту теплопередачи. На рис. 12.26 изображен такой шлирный снимок температурного пограничного слоя на вертикально поставленной нагретой плоской пластине. Контур пластины внутри темного ядра обозначен белыми штрихами. Очертания границ темного ядра и светлой зоны показывают, что толщина температурного пограничного слоя пропорциональна х 1 , а местный коэффициент теплопередачи пропорционален На рис. 12.27 изображен снимок того же пограничного слоя, полученный Э. Зёнгеном и Э. Эккертом [Щ методом интерференционных полос. [c.303]

Рис. 25.8. Снимки обтекания лопаток, соединенных в-решетки. Получены по методу интерференционных полоа Э. Эккерта, а) Данные для турбинной решетки (понижение давления) Э1 = 48° t/l = 0,524 Re = 1,59-10. б) Данные для насосной решетки (повышение давления) Pl = 20° t/l = 0,614 Re = 1,97 10 . Стрелк указывают направление притекания жидкости.

Более точен третий метод интерференционный, позволяющий улавливать износ поверхности резца, равный долям микрометра. Он использован А. А. Соловьевым в лабораторных условиях. Интерференция, представляет собой сложение двух световых когерентных волн. В когерентном луче частота и фаза волн одинаковы. При одновременном освещении объекта (древесины) двумя когерентными лучами отличающимися по фазе, возникает третья световая волна, которая может наблюдаться в пн-терференцпонном микроскопе в виде чередоваиня светлых и темных полос. [c.100]

Интерференционное устройство МИО-1 выпускается как при-надлел ность к отечественным металлмикроскопам и предназначено для исследования шлифов методом интерференционного контраста и для измерения высоты неровностей на поверхности. [c.31]

Обычно методами интерференционной спектроскопии исследуется структура тонких спектральных линий. Достоинством интерференционных спектроскопов является их высокая разрешающая способность при большой светосиле, простоте устройства, дешевизне и удобстве в обращении. Разреишющая способность определяет наименьшее расстояние между близкими спектральными линиями, которые изображаются в виде раздельных спектральных линий. [c.247]

Экспериментальное подтверждение наличия хаотической модуляции описанного здесь типа и количественное измерение, подтверждающее приведенные здесь оценки, дают косвенные методы — интерференционные ( 7) и спектральные (гл. XI), Непосредственное наблюдение хаотических пульсаций интенсивности, вызванных эффектом Допплера, соударениями или высвечиванием, до сих пор не было осуш ествлено. Это связано с тем, что все суш ествуюш ие методы измерения интенсивности [c.443]

Как показывают исследования кислородных струй методом интерференционных полос, основанном на фотографировании освещенной кислородной струи, относительная ци-линдричность струи, вытекающей из сопла цилиндрической или ступенчато-цилиндрической формы (фиг. 135, б), бывает только при сравнительно низких давлениях кислорода (на редукторе), не превышающих 5—6 ати. При дальнейшем повышении давления режущая струя заметно расширяется книзу и приобретает конусообразную форму. Особенно сильное расширение струи на- [c.319]

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ (метод интерференционного контраста), осиоваца на интерференции световых пучков, прошедших через прозрачную или слабопоглощающую ч-цу в-ва и миновавших её. Световая волна, прошедшая через ч-цу, за- [c.222]

При ВЫСОКИХ частотах [57] поправка, связанная с пограничным слоем, становится малой, однако возникает неуверенность, связанная с возможностью возникновения мод высокого порядка. Наличие моды высокого порядка, по-видимому, можно обнаружить по круговой диаграмме для импеданса или по резонансным пикам для случая, когда излучатель представляет собой кристалл кварца. Несмотря на детальное изучение проблемы [12, 13], пока нет возможности однозначно ответить на вопрос какая из возможных мод высокого порядка возбуждена в высокочастотном интерферометре и каков связанный с ней вклад По всей видимости, наличие такой моды зависит от двух факторов во-первых, от частоты обрезания и, во-вторых, от того, колеблется ли излучатель так, что воз буждает данную моду. Если излучатель совершает идеальные поршневые колебания, то возникает только одна, так называемая нулевая мода, или плоская волна независимо от того, на какой частоте это происходит. Для высоких частот не удается получить нужной информации о характере колебаний излучателя, поскольку амплитуда слишком мала, чтобы ее можно было заметить интерференционным методом. В этом случае о присутствии моды можно лишь догадываться, изучая особенности поведения излучателя и резонансные пики. [c.110]

Пятый и последний метод шумовой термометрии может применяться только при низких температурах. Его принцип основан на включении в цепь с очень низкой индуктивностью и сопротивлением контакта Джозефсона для получения так называемого резистивного СКИПа (сверхпроводящего квантового интерференционного прибора). Существуют и другие способы применения контакта Джозефсона в щумовой термометрии, например использование магнетометра [34]. Однако резистивный СКИП в отличие от других подобных приборов позволяет [c.119]

Требования к интерференционному фильтру, который определяет ширину полосы фотоэлектрического пирометра, достаточно жестки. В частности, коэффициент пропускания при длине волны далеко за пределами основного пика должен быть меньше примерно в Ю раз, чем в максимуме. Если это не выполняется, то вычисление температуры по уравнению (7.69) существенно зависит от пропускания за пределами пика, и это ведет, вероятно, к погрещ-ностям. Если используется один из приближенных методов решения уравнения (7.69), становится очень трудно учесть пропускание за пределами пика и ошибка, несомненно, возрастет. На рис. 7.35 показаны кривые пропускания трех типичных фильтров, исследованных в работе [25]. Фильтры I VI 2 можно считать пригодными для фотоэлектрического пирометра высокого разрешения, а фильтр 3 нельзя из-за того, что его пропускание за пределами пика слишком высоко. Быстрое спадание чувствительности фотокатода 5-20 с длиной волны за пределами 700 нм удобно для компенсации длинноволнового пропускания фильтров, которое в противном случае было бы непреодолимым ввиду экспоненциалыгого возрастания спектральной яркости черного тела в этой области. [c.378]

Зависимость видимости интерференционной картины от разности хода, а последней от длины когерентности позволяет экспериментально определить длину и время когерентности. Сущность этого метода заключается в определении пределыюй разности хода Ad при которой интерференция еще наблюдается. [c.79]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...