Разность хода

Если рассмотреть две параллельные плоскости АА и ВВ (рис. 591) в некоторой кристаллической решетке, то нетрудно установить условие Брегга. Рентгеновский луч, падающий на плоскости и отражающийся от них, будет усиливаться в том случае, когда разность хода волн I и 2 будет составлять целое число волн X. Тогда [c.529]

Формула (4.14) выражает зависимость результирующей интенсивности в каждой точке экрана от разности хода слагаемых волн. Как следует из (4.14), при — целому числу длин волн, результирующая интенсивность достигает максимального значения [c.72]

Рассмотрим произвольную точку А на экране Э (рис. 4.4), расположенную от центра экрана (точки пересечения с экраном перпендикуляра, опущенного из середины линии =- = I) на расстоянии О2А = у. Интенсивность в точке А определяется разностью хода лучей — d . Найдем М. Из треугольников S A A и S A A соответственно имеем [c.74]

Если в предыдущих случаях вследствие равенства разности хода интерферирующих лучей нулю в центре экрана наблюдается [c.84]

Следовательно, с учетом потери полуволны для оптической разности хода получим [c.86]

Локализация интерференционной картины в бесконечности. Как видно из рис. 4.17, при данной определенной плоскости наблюдения угол падения определяется только положением точки А в фокальной плоскости объектива. Это означает, что разность хода Ad [c.86]

Если источник расположен довольно далеко от поверхности пластинки и угол между поверхностями ВС и DE достаточно мал, то разность хода между интерферирующими лучами Г и 2 приблизительно будет равна [c.89]

Разность хода, соответствующая толщине /, равна 21. Тогда [c.90]

Вычисление разности хода для интерферирующих лучей. Высоту в точке D (рис. 5.1), откуда выходят лучи Г и 2, обозначим через h, т. е. DE = h. Пусть коэффициенты преломления пластинки, линзы и прослойки между ними соответственно будут iii, щ и п . Разность хода для лучей 1 и 2 будет [c.94]

При наблюдении интерференции в прошедшем свете потери полу-длины волны не происходит и разность хода между интерферирующими лучами будет равна [c.95]

Так как п и коэффициент преломления воздуха п удовлетворяют условиям По> п> п,,, то потеря полу-длины волны происходит на обеих поверхностях (воздух — пленка и пленка— стекло). В этом случае разность Рис. 5.14 (f)a3 между лучами / и 2 будет равна я, если оптическая толщина пленки будет равной Я/4, т. е. nd = i/4. В самом деле, оптическая разность хода между лучами равна i/4 + > /4 = К/ 2, что соответствует изменению фазы на я. [c.107]

Вычисление разности хода между интерферирующими лучами. Если углы преломления в первой и второй пластинах соответственно обозначить через и г , разность хода между интерферирующими лучами 2 п 3 будет [c.109]

Как следует из (5.28), разность хода между интерферирующими лучами зависит от толщины пластин, угла между ними и угла падения луча на пластинку. [c.110]

Порядок интерференции. Так как разность хода между двумя соседними интерферирующими лучами составляет Ad = 21 os г, то взаимное усиление произойдет при [c.115]

Графический метод. Выражая амплитуды каждой полоски векторами равной,длины, найдем результирующую амплитуду, пользуясь графическим методом сложения амплитуд. Результаты при разных углах дифракции ф представлены на рис. 6.18. Как видно из рис. 6.18, а, при ф = О, т. е. в точке Вц, амплитуда ) будет максимальной. В направлении, при котором крайние полоски отличаются по фазе на я (т. е. разность хода NF между крайними лучами равна к/2), результирующая амплитуда равна = 2 /я. [c.137]

Вследствие когерентности волн щ = onst. Следовательно распределение интенсивности в разных точках экрана будет зависеть от разности хода волн. [c.72]

Разность фаз, вызванная разностью хода г -= (di — d ). При 2 — < 1 == имеем Аф = т-2к, т. е. в точках встречи волн, где разность хода равна целому числу длин волн, возникающие колебания происходят в одинаковых фазах и наблюдаются максимумы результирующей нитенсивностн. При [c.72]

Разным точкам экрана соотоетствуют разные значения разности хода слагаемых волн. Поэтому на экране регулярно чередуются точки максимальной и минимальной (равной в данном случае нулю) интенсивности. Такая устойчивая во времени картина чередования максимумов и лншимумов освещенности названа картиной интерференции. [c.73]

Ограничение, налагаемое на интерференцию разностью хода, свпзагю с длиной когерентности. Если оптическая разность хода между способными интерферировать лучами такого же порядка или больше длины когерентности, т. е. Ad 1, ., то интерференционная картина не наблюдается. Для получения различимой интерференционной картины необходимо, чтобы разность хода Ad была мала по сравнению с длиной когерентности, т. е. Ad Значительная [c.79]

Зависимость видимости интерференционной картины от разности хода, а последней от длины когерентности позволяет экспериментально определить длину и время когерентности. Сущность этого метода заключается в определении пределыюй разности хода Ad при которой интерференция еще наблюдается. [c.79]

Найденная предельная разность хода даст нам длину когерентности, откуда можно также определить время когерентиостн. [c.79]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

При достаточном удалении источника от поверхности пластинки углы падения лучей на пластинку можно считать равными. В этом случае разность хода между иитерферирующими лучами будет определяться толщнно пластинки h в точке Р. Отсюда следует, что всем точкам поверхносги пласт1п1кн одинаковой толщины соответствует одна и та же интерференционная картина. Следовательно, максимумы (или минимумы) одинаковой интенсивности соответствуют точкам поверхности, в которых толщина пластинки имеет одно и то же значение, откуда и происходит название полосы или же линии равной толщины . [c.89]

В заключение еще раз отметим, что при пользовании точечными источниками (метод деления фронта) интерференционная картина не локализована, она наблюдается всюду в местах перекрывания интерферирующих лучей. В отличие от этого при пользоваинп протяженными источниками (метод деления амплитуды), как это мы делали при интерференции в тонких пластинках, интерференционная картина является локализованной. Место локализации интерференционной картины будет там, где разность хода между интерфе-рн1)ующимн лучами минимально будет зависеть от угла падения на пластинку. С помощью несложных вычислени11 можно показать, что это условие для пластинки переменной толщины удовлетворяется на ее поверхности, а для плоскопараллельной пластинки — в бесконечности, что находится в полном согласии с соответствующими экспериментами. [c.90]

Случай 2. Источник является протяженным (рис. 4.20). Рассмотрим луч, исходящий от некоторой точки протяженного источника. Если за центр протяженного источника принять точку S, то для разности хода между лучами, исходящими из точки имеем М = 21 os /, где i — угол, под которым виден отрезок SS от центра лиизы. Тогда результирующая интенсивность при сложении лучей, исходящих от зеркал 3i и З2 (луч, исходящий из точки Si, разбивается на два в зеркалах 3 и З2), будет [c.91]

Следовательно, результирующая интенсивность, создаваемая лучами, соответствующими определенной толщине /, является функцией i. В результате этого, если при данной для некоторой точки протяженного источника наблюдается минимум, для других точек источника это будет не так, другими словами, различия в разности хода, а следовательно, и в разности фаз для разных точек протяженного источника приведут к ухудшению видимости интерференционной картины. Значительные изменения разностей хода (и разностей фаз) для разных точек источника могут привести к существенным изменениям интенсивности света. В этом случае контрастность полос практически становится равной нулю. Если же изменения разностей хода (разностей фаз) так малы, что это приведет к незначительным изменениям интенсивностей, то будет наблюдаться четкая интерференционная картина, следовательно, в данном случае лучи, исходящие от разных точек источника, будут когерентны. Такая когерентЕюсть (когерентность лучей, исходящих от пространственно разделенных участков протяженного источника) называется пространственной. [c.91]

Высокоотражающие интерференционные покрытия (интерференционные зеркала). Наряду с необходимостью уменьшать коэффициент отражения на практике часто приходится решать противоположную задачу — получать высокоотражающие поверхности. При решении также и этой задачи па помош,ь приходит явление интерференции. Легко убедиться, что если в системе, изображенной на рис. 5.14, показатель преломления диэлектрического слоя взять больше показателя преломления стекла п > п ), то произойдет увеличение коэффициента отражения. Вследспзие того, что потеря полуволны будет происходить теперь только на пиеш-ней поверхности пленки, оптическая разность хода между отраженными когерентными волнами I и 2 будет равна Л/4 + Х/4 + к/2 = = X, что соответствует разности фаз, равной 2я. Таким образом, [c.108]

Интерферометры, где используются два пространственно разделенных луча, между которыми создается определенная разность хода, называются двухлучевыми. Существует меюго разновидностей двухлучевых интерферометров. Рассмотрим два интерферометры Жамеиа и Майкельсона. [c.109]

Ширина интерференционной полосы зависит от угла ф. Действительно, при переходе к соседнему максимуму разность хода лучей мсиястся на поэтому, обозначив соответствующее изменение угла падения через Ai, получим [c.110]

Интерференционный рефрактометр. С помонхью интерферометра типа Жамена можно определять незначительные изменения показателя преломления прозрачных тел (газов, жидкостей и твердых тел) в зависимости от изменения виенишх факторов (температуры, давления, посторонних примесей и т. д.). Для этого на пути интерферирующих лучей (рис. 5.17) располагаются кюветы длиной I. Одна кювета заполнена газом с известным (п ), а другая — с неизвестным (Пд) показателями преломления. Вследствие идеитичностн кювет возникающая между интерферирующими лучами дополнительная разность хода будет равна [c.111]

Изменение раз1юсти хода приведет к соответствующему сдвигу интерференционных полос. Сдвиг полос можно характеризовать отношением возникшей дополнительной разности хода к длине волны [c.111]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...