Решетки пространственная

На структурном факторе (амплитуде) чрезвычайно сильно сказываются кристаллографические особенности кристаллической структуры ее элементы симметрии, тип решетки, пространственная группа симметрии. Рассмотрим примеры. Если решетка объемно-центрированная, то каждому атому в точке с координатами Xj, У], Zj соответствует атом с координатами V2, У3+Ч2, 2j+V2- В выражении для структурной амплитуды ( После преобразования (1.31) по формуле Эйлера) возникнут две пары членов [c.45]

Благодаря наличию дефектов кристаллической решетки пространственная периодичность распределения потенциала будет нарушена вблизи каждого дефекта, вследствие чего изменяется состояние электронов. Как показывает более строгий расчет, при наличии дефектов может быть два типа решений уравнения Шредингера [c.342]

Кристаллическая решетка — пространственное периодическое расположение атомов (ионов, молекул) в кристаллическом веществе. [c.46]

Кристаллическая решетка — пространственное периодическое расположение атомов (ионов, молекул) в кристаллическом веществе. Точки кристаллической решетки, в которых расположены атомы или ионы, называются узлами кристаллической решетки. Направления, проходящие через два узла кристаллической решетки, называются кристаллографическими направлениями, а плоскости, проходящие через три узла, — кристаллографическими атомными плоскостями). [c.30]

Как преобразование Фурье от единичной щели, так и ряды Фурье для решетки пространственно определены через и в одном случае непрерывно, а в другом дискретно. Следовательно, оба представления могут быть описаны как существующие в пространстве Фурье или частотном пространстве, как показано в разд. 3.4.1 в связи с дифракционной решеткой. Это очень полезное обобщение интерпретации дифракции, и оно является верным для любой апертурной функции. [c.68]

Дифракция на решетке пространственно ограниченного волнового пакета рассмотрена в 1.5. [c.45]

По существу эта теория обобщает введенное Эвальдом понятие волны, согласованной с периодической неоднородной структурой. В теории Эвальда это понятие удалось применить только к простейшей объемной решетке — пространственной гармонике показателя преломления. Например, в случае, представленном на рис. 6, согласованными волнами фазовой решетки G являются две [c.706]

Приведенный расчет выполнен для диффузионного механизма записи решетки пространственного заряда. Однако он может быть модифицирован также на случай записи во внешнем электрическом поле соответствующей заменой выражений для / (3.172) и для закона сохранения фаз (3.174). При этом вид решения (3.177) не изменится, т.е. экспоненциальный рост интенсивности слабого пучка при таком взаимодействии оказьшается возможным также и для локального исходного механизма записи решетки. Это важно в связи с открывающейся возможностью увеличения коэффициента усиления при использовании внешних полей, превышающих диффузионное поле, ограничиваемое условием синхронизма (3.168). [c.123]

Расположение атомов в идеальном кристалле следует определенной кристаллической решетке (пространственной сетке линий, точки пересечения которых называются узлами), которая определяется следующим свойством [4] если О некоторый фиксированный узел решетки (начало координат), то вектор 00, связывающий узел О с произвольным узлом Оь определяется соотношением [c.416]

Решетка пространственная 31. 32. 33. Ртуть 24. 36, 243. 245, 247, 248, 269, 311. [c.351]

Тип решетки............. Пространствен- Пространствен- [c.139]

Фосфид никеля имеет тетрагональную решетку пространственного типа с параметрами а = 8,92 А и с = 4,39 А. В исходном состоянии структура никель-фосфорного покрытия состоит из твердого раствора фосфора в кубическом никеле и твердого [c.139]

Плотность ниобия 8,6 г см , его температура плавления составляет 2468° С. Металл кристаллизуется в решетке пространственно центрированного куба. Плотность тантала 16,6 г/сж температура плавления 2996° С. [c.113]

Исследуем устойчивость перекрестной решетки пространственной системы с несовмещенными узлами при аналогичных случаях распределения внутренних усилий. [c.107]

Сжатые элементы решетки пространственных решетчатых конструкций из одиночных равнополочных уголков или неравнополочных, прикрепляемых большей полкой [c.42]

Рис. 1.27в. Гексагональная структура с плотной упаковкой. Расположение атомов в этой структуре не отвечает пространственной решетке. Пространственной решеткой является простая гексагональная решетка, базис которой состоит из двух одинаковых атомов, связанных с каждой точкой решетки.

Второе ограничение следует из (2.3). Замена решетки однородной средой с заданной диэлектрической проницаемостью содержит предположение, что орбита связанного в дефекте электрона пересекает много элементарных ячеек кристаллической решетки. Пространственная протяженность волнового пакета, таким образом, велика по сравнению с постоянной решетки. Следовательно, его протяженность в к-пространстве мала по сравнению с размерами зоны Бриллюэна. Таким образом, в (2.4) дают вклад лишь векторы к из узкой области вокруг минимума зоны. Если рассматривать сначала случай простого, изотропного параболического минимума при к = О, то суммирование в (2.4) вдет только по малым значениям к. Поскольку периодичная с периодом решетки часть в в блоховской функции я( (к, г)=ц(к, г) ехр (ik-r) лишь медленно меняется с к, можно заменить а (к, г) через и (О, г). Получаем, таким образом, волновой пакет [c.71]

Вполне естественно встает вопрос о пространственном течении в межлопаточном канале и его влиянии на профилирование лопаток в решетке. Пространственность потока учтем, если будем не только рассматривать поперечное сечение канала, что делали выше, но дадим ему третий размер по высоте лопатки (радиальный размер в кольцевой решетке). [c.245]

В области существования (уМп), по данным работы [1], в зависимости от температуры и состава существуют три области — Yi> Yz различающиеся по кристаллической структуре. Фаза Yj имеет ЩК решетку с параметром а = 0,8992 нм [62 % (ат.) Мп] [8]. Фаза Y2 имеет гранецентрированную тетрагональную решетку (пространственная группа FA/mmm) с параметрами а = 0,3810нм, с = 0,3677 им [1], фаза Y3, по данным работы [1] — упорядоченную гранецентрированную тетрагональную решетку типа uAu I с параметрами а 0,27475 нм, с = 0,36756 нм. [c.617]

Создание в результате акта поглощения периодического в пространстве неравновесного распределения элементарных возбуждений, которые либо непосредственно участвуют в четырехволновом смешении (например, решетка свободных носителей в полупроводниках), либо в результате вторичных процессов модулируют показатель преломления среды (тепловые решетки в поглощающих жидкостях, решетки пространственного заряда в фоторефрактивных кристаллах). Спектральный диапазон этого, [c.42]

Рис. 7.14. Принцип действия порогового детектора распределения яркости в некогерентном изображении на основе лазера на динамической решетке. Пространственные распределения а — интенсивности стирающего пучка I tix, уУ, б - усиления в нелинейном элементе Г(х, у)1, в - интенсивности в пучке генерации у)1 (Smin минимально разрешимый элемент изображения)

Кристаллическая структура. При исследовании монокристаллов установлено, что PdGaj имеет о. ц. тетрагональную решетку (пространственная группа 4л) 6,448 А, с = 10,003 А [1, 2]. Структуру можно рассматривать как промежуточную между структурами uAlj с вакансиями и oGag [1]. [c.25]

Осаждением из газовой фазы получена тонкая пленка InSe [91. Соединение имело гексагональную решетку пространственной группы Z) а = 4,05 А, с = = 16,93 А, а не ромбоэдрическую, как предполагалось ранее (см. М. Хансен и К. Андерко, т. II [31). [c.126]

Решетка NbO. тетрагональная (32 формульные единицы на элементарную ячейку) а = 13,71 А, с = 5,985 А [15], связь этой элементарной ячейки со структурой рутила описана [15]. Предварительное изучение монокристаллов NbOj указывает на о. ц. тетрагональную решетку пространственной группы [16]. [c.229]

Сообш,ается [5] о существовании фазы с упорядоченной тригональной решеткой (пространственная группа РЗт/), которая приписывается TigO по [5, 6], этой структурой обладает сплав с составом, соответствующим TiaO, по [1]— [c.291]

Кристаллическая структура. Подтверждено существование б-фазы по [3], она имеет тетрагональную решетку а = 3,20 к, с — 5,12 А, по [4], — гексагональную (Рб1ттт) а= 4,991 к, с = 2,879 А [17]. Высокотемпературный Т10 имеет г. ц. к. решетку типа Na l с периодом 4,174 [9] 4,1766 0,0001 [18] или 4,181 0,005 А [8]. У Ti Og ромбоэдрическая решетка, пространственная группа R3 а= 5,42 к, а = 56,9° [19] а= 5,428 к, а = 56,65° [8] или а= = 5,431 0,001 А, а = 56,58 0,002° (гексагональные периоды а= 5,148 0,002 А, с= 13,636 0,002 А [II]. В работе [20] даются значения периода решетки TiaOg. [c.292]

Последние данные по TiOj брукит — ромбическая решетка, пространственная группа Рбса а = 9,25 0,03 А, 6 = 5,46 0,02 А, с= 5,16 0,01 А,[25] рутил—тетрагональная решетка а= 4,5937 А, с = 2,9581 А [11]. [c.292]

Рис. 10.38. Зависимость е поля направлений от отношения перрюда дифракционной решетки пространственного фильтра ё к ширине пространственного спектра Т контурного изображения

В эксперименте у фильтра, изображенного на рис. 10.34в, менялся период дифракционных решеток с каждым из этих фильтров вычислялось поле направлений от 10 тестовых изображений. На рис. 10.38 изображен график зависимости ошибки вычисления поля направлетш от отношения периода дифракционной решетки пространственного фильтра й к ширине пространственного спектра Т контурного изображения. Под шириной пространственного спектра, в данном случае, понимается минимальный диаметр круга, с центром на оптической оси системы, который полностью покрывает области в частотной плоскости, где интенсивность отлична от нуля. Так как в эксперименте использовалось изображение, квантованное по 256 уровням, то условие отличия интенсивности от нуля заменялось на условие превышения интенсивности 1/256 от максимальной интенсивности в спектре. [c.644]

ПаЗез имеет четыре модификации низкотемпературную а, кристаллизующуюся в виде мягких графитоподобных пластинок с гексагональной решеткой, пространственная группа ДЗт (Сзс) [126], периоды решетки а = 4,01, с = 19,20 А, с а = 4,76, 2 = 2, йрентг = = 5,91 г/см [109, 127] р — представляющую собой твердые хрупкие кристаллы [128] гексагональной (ромбоэдрической) структуры, пространственная группа 7 3т 0 а), параметры ромбоэдрической решетки а = 4,05, с = 29,41 А при 250 С и 2 = 3 [126] у — с кубической структурой и б — с моноклинной структурой [129, 130]. В справочнике Медведева [49] приводятся следующие температуры полиморфных превращений п Зез а tir = 197 2° С Р — уЬг = 650 10° С, V — иг = 750 10° С. [c.7]

Кристаллическая структура. ОеЗе [52,10% (пр массе) 5е] кристаллизуется в орторомбической решетке, пространственная группа ОЦ—Рстп, параметры а = 4,38, Ь = 3,82, с = 10,79 А, 2 = 4 [154]. По данным [155] орторомбическая модификация ОеЗе имеет параметры а = 4,403 0,005, Ь = 3,852 0,005, с = 10,82 0,01 А. Структура беЗе изоморфна 5п5 и 5п5е. [c.38]

Кристаллическая структура. Т15е имеет тетрагональную решетку, пространственная группа Штст (о] ) [143] с 16 атомами в элементарной ячейке и параметрами а = 8,03, с = = 7,01 А, с а = 0,873. ИгЗе имеет гексагональную решетку с параметрами а = 8,52, с = 12,68 А, сГа = 1,48 и 2 = 10 [144]. [c.157]

Кристаллическая структура. Рентгеновское исследование тетрафторида теллура было выполнено Эдвардсом и Хе-вайди [156]. По этим данным Тер4 имеет ромбическую решетку, пространственная группа / .2,2, 2 = 4. Параметры решетки а = 5,36, Ь = 6,22, с = 9,64 А. Плотность тетрафторида теллура, по данным [156], равна 4,21 г/см . [c.243]

Физические и механические свойства фаз латуней характеризуются следующими данными а-фаза представляет собой твердый раствор, имеющий решетку меди (гранецентрированный куб), и обладает невысокой твердостью и прочностью и достаточно большой пластичностью -фаза является твердым раствором с решеткой пространственно-центрированного куба эта фаза обладает высоким запасом пластичности. При охлаждении в пределах температур 450—470° -фаза переходит в другую аллотропическую модификацию -фазу. Эта фаза отличается высокой твердостью и хрупкостью. Хрупкость латуней при холодной деформации объясняется наличиел в структуре -фазы, резко понилоющей пластичность сплавов. [c.233]

Наиболее тонким методом исследования внутреннего строения металла является рентгеноструктурный метод, основанный на дифракции рентгеновских лучей рядами атомов в кристаллической решетке. Таким образом, рентгеновский анализ обнаруживает межатомные расстояния порядка 10 см. При помощи рентгеновского анализа можно установить форму кристаллической решетки металла (или сплава) и величину расстояния между атомами в решетке. Пространственное расположение атомов воспроизводится на рентгенограмме. Каждый металл дает па реитгено- [c.10]

КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА, пространственная кристаллическая решетка, пространственная решетка — присущее веществу в кристаллическом состоянии закономерное размещение материальных частиц (атомов, ионов, молекул) в пространстве, характеризуемое периодической повторяемостью п трех измерениях. К. р. состоит из множества сопряженных друг с другом элементарных ячеек. Примером К. р. могут служить объемноцентри-ровапная и гранецентрированпая кубические решетки. Элементарная ячейка первой состоит из девяти атомов, из которых восемь расположены в вершинах куба, а один — в его центре. Во втором случае элементарная ячейка содержит четырнадцать атомов, из которых восемь расположены в вершинах куба, а шесть — па его [c.70]

Г р у п п а VB. Атомы переходных металлов этой группы имеют два или один электрон на внешней оболочке и незастроевную предшествующую оболочку. Связь в их кристаллах металлическая, решетка пространственно центрированная кубическая. Параметр решетки, а также атомный и ионный диаметры возрастают от ванадия к ниобию, [c.266]

Заметим сразу, что так как фон тяжелых частиц (ионная решетка) пространственно однороден, а элекгростатические силы достаточно велики, чтобы обеспечить элекгрическую нейтральность каждого из участков системы (на уровне рассмотрения стационарных явлений колебания плотности типа плазменных уже затухли), то плотность электронного газа совпадает с плотностью ионов, п = щ = onsta и зависимость функции f от г входит только через температуру 9(т) и химический потенциал /i(r) = ц 0 т), п). [c.339]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...