Метод рентгеновский

В настоящее время после установления методов рентгеновской спектроскопии понятие жесткости рентгеновского излучения может быть заменено более определенным понятием длины волны. В соответствии с этим характеристическое излучение данного вещества мы определяем как излучение, имеющее определенную длину волны. . [c.413]

Метод рентгеновского гониометра. Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. Этого недостатка лишен метод рентгеновского гониометра. В этом методе используют монохроматическое излучение, кристалл вращают вокруг выбранной оси, кассета с цилиндрической пленкой движется возвратно-поступательно вдоль оси вращающегося кристалла, поэтому отражения разделяются по их третьей координате. Снимают не всю дифракционную картину, а с помощью определенного приспособления вырезают одну какую-нибудь слоевую линию, чаще всего нулевую (рис. 1,48). При таком методе съемки каждый интерференционный рефлекс попадает в определенное место на пленке и наложения рефлексов не происходит. С помощью такой развертки, используя сферы отражения, определяют индексы интерференции и по ним устанавливают законы погасания (см. выше). Затем по таблицам определяют федоровскую пространственную группу симметрии, т. е. полный набор элементов симметрии, присущий данной пространственной решетке, знание которого в дальнейшем облегчает расчеты проекций электронной плотности. Далее определяют интенсивности каждого рефлекса, по ним — значения структурных амплитуд и строят проекции электронной плотности. [c.52]

Параметр решетки - чрезвычайно важная характеристика. Современные методы рентгеновского исследования позволяют измерить параметр с точностью до 4-го или даже 5-го знака после запятой, т.е. до одной десятитысячной - одной стотысячной доли Ангстрема. [c.17]

Физические основы метода. Рентгеновское и гамма-излучения относят к ионизирующим излучениям, которые при прохождении через вещество ионизируют его молекулы и атомы. Ионизирующее излучение имеет электромагнитную природу. Длина волн рентгеновских лучей составляет 6 ... 10 ) мм, гамма- излучения 10 мм. [c.147]

Приведенные результаты показывают, что в области многоцикловой усталости методы рентгеновского анализа не раскрывают так четко и однозначно механизм разрушения металлов и сплавов, как это имеет место при малоцикловой усталости. Характер зависимости ширины дифракционных линий от числа циклов нагружения определяется большим количеством факторов, что препятствует выявлению между этими двумя параметрами однозначной связи. [c.37]

Уменьшение толщины образцов до 0,4 мм дает возможность надежно определить среднее увеличение AR/R в процессе трения для нагрузок 14 и 12 кгс. И в этом случае большему контактному давлению соответствует большее среднее значение AR/R, что может быть связано как со степенью развития пластической деформации в материале, так и с толщиной зоны, подвергающейся пластическому деформированию (рис. 30, б). Следует отметить, что во всех случаях фиксируется периодическое изменение электро сопротивления, соответствующее периодическому характеру накопления пластической деформации, зафиксированному методом рентгеновского анализа. С уменьшением толпщны образцов амплитуда обратимой составляющей электросопротивления увеличивается, так как увеличивается вклад зоны разрушения в общий характер его изменения (рис. 30, в). Зависимость амплитуды обратимой составляющей электросопротивления от толщины образца приводит к тому, что при больших значениях последней выявляются не все максимумы пластической деформации. Так, [c.56]

С этих позиций большое значение имеют приведенные выше результаты исследования характера структурных изменений в процессе трения скольжения методами рентгеновского анализа и измерения электросопротивления. Несмотря на то, что в первом случае исследовался слой толщиной 12 мкм, а во втором образцы толщиной 200—800 мкм, число циклов до разрушения по результатам обоих методов хорошо согласуется. [c.58]

Для контроля толщины покрытия (металлического, цинкового на стальной основе, лака на белой жести, фотоэмульсии и пластмассовых пленок на различных основах) применяется метод рентгеновского излучения [65]. Точность измерения при этом достигает 10%. [c.36]

Рис. 10.124. Принципиальная схема прибора для бесконтактного автоматического контроля толщины прокатываемого металла методом рентгеновского излучения. Лучи рентгеновской трубки 7 направляются через движущуюся контролируемую по толщине ленту 2, через образцовую пластинку 3 и эталонный клин 4,

Фотографический метод рентгеновского или -контроля позволяет определить геометрические размеры дефектов и их располол<ение в контролируемом изделии. При регистрации излучения на пленку получают рентгенограмму, являющуюся документом, по которому качество изделия может оценивать не только контролер, но и потребитель и арбитр. Однако этот метод является наиболее трудоемким и дорогим среди методов дефектоскопии с помощью проникающих излучений. [c.612]

Фиг. 50. Сравнительная чувствительность методов рентгеновского и гамма-просвечивания в зависимости от толщины стенки.

Конкретное расположение дефектов в реальной К. с. исследуется также методами рентгеновской и нейтронной топографии, электронной микроскопии (рис. 4) [c.505]

Экспериментальные методы рентгеновского структурного анализа [c.369]

Параметр решетки — чрезвычайно важная характеристика Современные методы рентгеновского исследования позволяю измерить параметр с точностью до четвертого или даже пято го знака после запятой, т. е. одной десятитысячной — одно1 стотысячной доли ангстрема. [c.24]

Электронные уровни энергии — это уровни, связанные с движением электронов относительно ядер. Нужно различать уровни энергии электронов внутренних оболочек с энергиями связи от десятков до десятков тысяч электрон-вольт, переходы между которыми дают рентгеновские спектры и изучаются методами рентгеновской спектроскопии, и уровни энергии внещних электронов в атомах и молекулах с энергиями связи порядка немногих электрон-вольт. Переходы между уровнями энергии внешних (валентных) электронов дают оптические спектры в видимой и ультрафиолетовой областях, которые и являются основным источником сведений об этих уровнях. [c.227]

Методом рентгеновского и микрорентгеноспектральногоисследования снеков, полученных из суспензий оксида лантана со стеклообразующими растворами, показано, что форми- [c.237]

Разработаны также физические методы (рентгеновские и ультразвуковые) определения величины остаточной деформации прямых труб и гибов паропроводов. Ультразвуковой метод может быть использован для измерения деформации отдельных [c.225]

В последние годы благодаря развитию экспериментальной техники, в первую очередь электронной микроскопии высокого разрешения и высокоразрешающих методов рентгеновской и электронной дифракции, стали возможными экспериментальные исследования структуры границ на атомном уровне. С помощью этих методов, а также ионной микроскопии получены убедительные доказательства справедливости кристаллогеометрических теорий для описания структуры границ. Эти выводы относятся как к межзе-ренным, так и к межфазным границам. [c.90]

Для повышения коррозионной стойкости нашли практическое применение различные методы механической обработки. Так, в работе [133] сообщается о снижении остаточных растягивающих напряжений и повышении коррозионной стойкости образцов из аустенитной стали, изготовленных точением и шлифованием, после обкатки роликом. Аналогичные результаты получены при исследовании [ 32 ] трех серий образцов прессовок алюминиевого сплава с нулевыми, сжимающими и растягивающими остаточными напряжениями коррозионная стойкость образцов всех трех серий после дробеструйной обработки повысилась. Методом рентгеновской дифрактоскопии установлено наличие поверхностного слоя, в котором дробеструйной обработкой уничтожаются все виды остаточных напряжений, созданных ранее. [c.186]

Подтверждением указанной природы снижения микротвердости явились данные рентгеноструктурного анализа микроискажений кристаллической решетки поверхности, полученные методом рентгеновской дифракции на установке ДРОН-1. Относительная микродеформация решетки в исходном состоянии составила [c.255]

Выявленное методом рентгеновского анализа и измерения электросопротивления существование интегральной характеристики поверхностного слоя в каждый момент времени обусловило необходимость выбора нагрузки на пирамиду, при которой отпечаток характеризует среднеагрегатное состояние исследуемого сплава. В противном случае разброс значений, связанный с раздельным измерением микротвердости феррита и перлита, делает невозможным анализ закономерностей структурных изменений методом микротвердости. Известно, что твердость феррита по Бри-неллю в зависимости от величины зерна колеблется в пределах 65—130 кгс/мм в то время как твердость перлита (также в зависимости от величины зерна) составляет 160—250 кгс/мм при средней твердости стали 45 160—180 кгс/мм [ИЗ]. Опробование нагрузок на пирамиду от 10 до 200 го показало, что минимальной нагрузкой, характеризующей среднеагрегатную твердость стали-45, является Р = 50 гс, при этом глубина отпечатка составляет 3—4 мкм. Результаты измерения микротвердости представлены на рис. 32. Условия трения аналогичны тем, при которых проводились исследования методом рентгеновского анализа и измерения электросопротивления. Из приведенных результатов следует, что изменение микротвердости аналогично изменению ширины дифракционной линии (220)a-Fe и электросопротивления. С увеличением нагрузки число циклов до разрушения уменьшается, а среднее максимальное значение микротвердости, пропорциональное величине действующей деформации, увеличивается (рис. 33). Количественная оценка числа циклов до разрушения по результатам измерения микротвердости совпадает со значениями, полученными двумя предыдущими методами (рис. 34). [c.59]

Представляло интерес связать особенности рельефа поверхности разрушения с размером пластической зоны вокруг трещины усталости. Плоская поверхность разрушения (рис. 1, н, б) с кристаллографическими индексами (111 оказалась удобной для изучения характера пластической зоны методом рентгеновского двойного кристаллоспектрометра использовали рефлекс (111). Видно (рис. 2), что на поверхности разрушения дифракционная линия 111 размытая, полуширина ее может достигать значения больше 10° (для больших Од). После удаления металла (методом электроиолировки) всего на глубину 10—15 мкм кривая двойного отражения сужается до 12... и затем полуширина кривой стабилизируется. Для всех значений Па глубина пластически деформированного слоя составляет приблизительно 15 мкм Оа влияет на уширение рентгеновской линии непосредственно с поверхности (см. рис. 2), характер которой согласуется со строением усталостного излома. [c.150]

Изменение предела прочности углеродных материалов в зависимости от температуры их обработки, т. е. по мере повышения стецени упорядочения их кристаллической структуры так же как и модуля упругости, немонотонно. В интервале температуры 2100—2300° С наблюдается экстремум. БылО показано [60, с. 152], что для материалов, обработанных при темлературе >2300° С, усилие разрушения при сжатии а прямо пропорционально определенному . методами рентгеновской дифракции диаметру кристаллитов La в степени —1/2. Иными словами, разрушение графита объяснялось, в соответствии с теорией Гриффитса — Орована, спонтанным распространением трещин но кристаллиту. Справедливо соотношение [c.56]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает [c.498]

Исследования тонкой структуры областей когерентного рассеяния (ОКР) и микродеформаций кристаллических фаз, входящих в состав ситалла, методами рентгеновской дифрак-тометрии показывают, что микродеформации ситалла имеют тенденцию роста о увеличением температуры термообработки до 400 °С, а затем происходит их уменьшение. С увеличением температуры термообработки наблюдается рост размеров фазы ТЮг, причем наибольшая величина блоков соответствует температуре 400 °С, а микродеформаций — 200 °С (табл. 25). [c.420]

Кроме карбида Рез аС, в быстрорежущей стали, вероятно, присутствует в незначительном количестве цементит РезС. Однако существующими методами рентгеновского и химического (карбидного) анализа он не обнаруживается. [c.455]

Фотографический метод рентгеновского или v-контроля показан на рис. 5.46. При наличии в контролируемом изделии неоднородностей интенсивность рентгерювских или у-лу-чей, прошедших через изделие, будет неодинакова. Прошедшие через изделие рентгеновские лучи регистрируются на рентгеновскую пленку. После проявления пленки получается видимое изображение скрытых неоднородностей в контролируемом изделии. Участки снимка с большим потемне- [c.526]

Параметры структуры некоторых типов углеродных волокон на основе пека, полученные методом рентгеновской дифракции, приведены в табл. 1.2. [18] Из анализа данных таблицы следует, что углеродные волокна, полученные из изотропного пека, имеют меньшие значения Lg, и большие оо2> чем углеродные волокна, полученные из мезофазных пеков. В процессе графитации изотропных волокон на основе пека увеличиваются размеры кристаллитов и уменьшается межслоевое расстояние с/002- [c.23]

В структурных исследованиях вещества используют, как правило, рентг. излучение или тепловые нейтроны с длиной волны 1 —10A (10" —1 нм). С их помощью изучают неоднородности коллоидных размеров 10—Ю А). В отличив от др. дифракц. методов [рентгеновского структурного анализа, нейтронографии, электронографии), с помощью М. р. исследуют структуру разупорядоченных объектов. Иногда М.р.— единств, метод получения прямой структурной информация о системах с хаотическим расположением неоднородностей коллоидных размеров наличие М. р. уже является доказательством присутствия в среде таких неоднородностей. Неоднородности же, имеющие размеры порядка межатомных расстояний, на малоугловой части дифракц. картины не сказываются. [c.41]

Первые эксперим. исследования спектров М. и. и ах сателлитов были выполнены в 1920—40-х гг., интенсивные исследования начаты в 60—70-х гг. внеатмосферным изучением короны Солнца методами рентгеновской спектроскопии. Точность измерения Я в спектрах лаб. и астрофиз. источников сравнима с точностью георетич. расчётов, ДЯ/Я составляет 10" —10" для диапазона Я = 1—10A. На рис. 1—3 приведены рентг. спектры для разл. источников М. и. Экспериментально, как правило, измеряются разности между длинами волн линий данной и резонансной, к-рая обычно согласуется с расчётной. Появились первые эксперим. измерения (1986) абс. длин волны переходов в (Н] и Не] ионах. Эти результаты являются наиб, точными и подтверждают надёжность теоретич. расчётов. В табл. 2 приведены значения длин волн Я для резонансных переходов 2 Р) — Н5а [Не] ионах, полученные в вакуумной искре и теоретически рассчитанные. [c.161]

Брэгговская оптика кристаллов. При взаимодействии рентг. излучения с кристаллом, когда выполняются условия Брэгга — Вульфа, возникает брэгговское отражение (см. Дифракция рентгеновских лучей). Это явление легло в основу рентгеноспектральных методов (см. Рентгеновская спектральная аппаратура), а также методов рентгеновской топографии. Диапазон спектра, в к-ром может использоваться тот или иной кристалл, определяется постоянной решётки 2d и диапазоном изменения (обычно от 3—5° до 60—70°) угла Брэгга б (угла между плоскостью кристалла и направлением падающего пучка). Кристаллы СО структурой, близкой к идеальной, имеют наиб, высокую разрешающую силу — энергия рентг. кванта, [c.347]

Интенсивность рснтг. излучения, прошедшего через поглотитель с поверхностной плотностью т (в г/см ), определяется ф-лой I = / ехр( тт), где — интенсивность взл енвя до поглощения, т — массовый иоэф. поглощения (в см /г). В пределах между двумя соседними краями поглощения т растёт яХ. Зависимость т( ) во всём интервале Л, представляет спектр поглощения. С коротковолновой стороны от каждого края поглощения величина т претерпевает флуктуации, к-рые несут информацию о структуре вещества и изучаются методами рентгеновской спектроскопии. [c.363]

В одноосных малоугловых Р. г. основой является щелевой коллиматор, обеспечивающий мин. расходимость первичного пучка. Особенность Р. г. для исследования поверхностных слоёв монокристаллов методом рентгеновских стоячих волн — наличие встроенного пропорц. счётчика электронов, анализирующего электроны, выходящие из образца при дифракции рентг. лучей. [c.364]

Для оценки С. веществ в широком диапааове р используют уравнения состояния, выражающие связь между р, К и Т. Определяют С. непосредственно по изменению К под давлением (см. Пьезометр), из аку-стич. измерений скорости распространения упругих волн в веществе. Эксперименты в ударной волне позволяют установить зависимость между р и р при максимальных экспериментально полученных давлениях. С. находят также из измерений параметров кристаллич. решётки под давлением, производимых методами рентгеновского структурного анализа. С. можно определить измеряя линейную деформацию твёрдого тела под гидростатич. давлением (по т. н. линейной С.). Для изотропного тела коэф. линейной С. [c.492]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...