Метод измерения рентгеновский

Наиболее точный метод измерения энергии связи электронов во внутренних оболочках атомов (погрешность 0,1 эВ) основан на рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии газообразных веществ. Кроме того, искомые энергии определяют методами фотопоглощения, рентгеновской эмиссии, оже-спектроскопии и т. д. 19]. [c.420]

Несмотря на необходимость тщательной стабилизации приемников излучения, а в рентгеновских толщиномерах также высокой стабилизации ускоряющего напряжения, этот метод измерения находит все более широкое распространение. [c.389]

Образцы топлива или смазочного материала, помещенные в ампулы из алюминия, нержавеющей или мягкой стали и запаянные в вакууме, на воздухе или в инертной атмосфере, облучали на источнике рентгеновских лучей, ускорителях частиц, -источниках и в различных ядерных реакторах в контролируемых и неконтролируемых температурных условиях. Экспозиции облучения определяли с различной степенью точности, хотя истинные дозы облучения в большинстве случаев не были измерены. В тех немногих случаях, когда были сделаны попытки исследовать влияние некоторых упомянутых выше параметров (например, мощности дозы или типа источника излучения) на изменение свойств и эксплуатационных характеристик облучаемых объектов, было показано, что влияние таких параметров может быть существенным. Поэтому следует сделать вывод, что для большинства исследованных веществ результаты по радиационному воздействию, полученные в экспериментах первого типа, могут. служить только как общее руководство при разработке новых материалов и более чувствительных методов измерения. [c.116]

Существует ряд методов измерения внутренних остаточных напряжений рентгеновский, тензометрический и др. [О, 43] качественно наличие растягивающих остаточных напряжений в поверхностном слое образца или детали может быть выявлено методом травления при существенной их величине травление приводит к растрескиванию поверхностного слоя (рис. 144). [c.179]

Преимущественное развитие усталостных трещин происходит в поверхностных слоях, что обусловлено более ранним по сравнению с остальным объемом металла повреждением поверхностных слоев из-за более раннего накопления в этих слоях критической плотности дислокаций [83]. Поскольку процесс усталости во всей массе протекает неоднородно, то для изучения изменения свойств в процессе циклического нагружения необходимы характеристики, которые позволяли бы судить о процессах, происходящих в локальных объемах металла. В связи с этим при изучении усталостного разрушения широкое применение нашли методы измерения твердости и микротвердости, рентгеновского анализа, оптической и электронной микроскопии. Результаты этих исследований представляют большой интерес для выявления сходства и различия кинетики накопления структурных повреждений и разрушения в условиях объемного циклического нагружения и при фрик-ционно-контактной усталости, поскольку аналогичные методы исследования широко применяются при трении. Методы интегральной оценки структурных изменений, такие, как измерение электросопротивления (проводимости), внутреннего трения, магнитных свойств, несмотря на то что требуют специальной подготовки образцов и соответственно испытательного оборудования, также могут быть полезны для исследования процессов трения. [c.33]

Сущность рентгеновского метода измерения основана на явлении интерференции рентгеновских лучей, проходящих через кристаллическую решетку исследуемого материала. [c.387]

Для изучения динамики протекания различных явлений на поверхности можно использовать высокоскоростную микрокиносъемку (рис. 11-10, а). Перемещение разрушающейся поверхности также фиксируется с помощью кинокамеры, устанавливаемой в плоскости торца модели. Наблюдение за процессами на поверхности, образованием обугленного слоя, поведением пограничного слоя сильно затруднено большой яркостью излучения поверхности и пристеночного газового слоя. Необходимо использовать специальную технику съемки, применять светофильтры, голографические и рентгеновские методы измерений и т. д. [c.327]

Исследование выполнено методами микроструктурного, рентгеновского анализов, измерением ЭДС. В сплавах системы Со—У существует девять интерметаллических соединений, из которых лишь одно С0 У2 плавится с открытым максимумом при 1370 °С. Все остальные образуются по перитектическим реакциям [c.102]

Диаграмма состояния Ег—Ni приведена на рис. 228 по данным работы [1]. Сплавы изготовляли плавкой в дуговой печи в атмосфере Ат, образцы отжигали в вакууме при 1000 °С от 24 ч до 26 суток, а также при 900 и 700 °С по три недели, после чего закаливали в воде. Исходными компонентами служили Ег чистотой 99,9 % (по массе) и Ni чистотой 99,96 % (по массе). Исследование выполняли методами микроструктурного, рентгеновского и термического анализов, измерением магнитных свойств. [c.426]

В работе [1] методами измерения равновесного давления при сорбции и десорбции водорода тулием чистотой 99,9 % в интервале температур 300—400 °С и рентгеновского анализа построена р—х диаграмма состояния системы Н—Тт. [c.865]

При исследовании использовали методы микроскопического, рентгеновского анализов, измерения температур плавления, твердости сплавов и микротвердости фаз. В работах [2, 3] проведен детальный рентгеноструктурный анализ образующихся в системе соединений. На рис. 516 представлена диаграмма состояния системы Re-Zr по данным работ [1-3]. [c.146]

Диаграмма состояния U-Zr является предметом многочисленных исследований. Исследования, проведенные ранее, обобщены в справочниках [X, Э, Ш]. Диаграмма состояния (рис. 666) основана на результатах работы [1], в которой исследование проводили методами металлографии, рентгеновского анализа, измерения твердости, плотности и электросопротивления. [c.418]

Методы контроля качества отливок Неразрушающие методы. Измерение твердости. Анализ макроструктуры. Люминесцентный и рентгеновский (просвечивающий) анализ. Контроль размеров детали после обработки резанием [c.381]

Метод измерения пропускания в жесткой рентгеновской области основан на большой проникающей способности коротковолнового рентгеновского излучения. Измерение пропускания дает возможность определения постоянной у по форму.ле [c.20]

Но применение метода измерения пропускания в мягкой рентгеновской области связано с рядом трудностей сложностью приготовления тонких слоев исследуемых материалов равномерной толщины, отличием свойств тонких пленок от свойств массивного материала, сложностью точного измерения толщины пленок. Все это значительно осложняет точное определение оптических констант методом пропускания при длинах воли, больших единиц нанометров. Отметим также, что метод измерения пропускания вообще неприемлем для монокристаллов и соединений, из которых не могут быть приготовлены тонкие пленки. [c.20]

Первый метод измерения оптических постоянных использует угловые зависимости коэффициентов отражения в области полного внешнего отражения. Параметры у и б подбираются так, чтобы экспериментальная кривая наилучшим образом описывалась формулой Френеля (1.7). Этот метод оказывается наиболее удобным при использовании упрощенной формулы Френеля (1.11), которая, как было показано на рис. 1.1, дает семейство кривых R х) при различных у х = 0/0с, у == у/б). Для мягкой рентгеновской области он использовался в ряде работ [15, 17, 46]. Считая, что погрешность экспериментальных данных не выходит за пределы 2 %, авторы работы [16] оценивают точность определения у/б таким методом 10 %. Заметим, что использование упрощенной формулы Френеля (1.11) ограничено, так как предполагает малое поглощение и малые углы падения. [c.21]

Первой из них является окисление поверхности, которое сказывается на результатах метода отражения. Как будет показано далее, глубина проникновения мягкого рентгеновского излучения очень мала и составляет для различных материалов единицы или десятки нанометров. Поэтому метод измерения отражения оказывается очень чувствительным к состоянию поверхностного слоя. Например, для А1 толщина окисной пленки на поверхности может достигать 10 нм, что и приводит к завышению значения коэффициента отражения. [c.25]

Максимальное значение параметра ршах = 2fe = 4яД. Однако большие значения р соответствуют далеким крыльям индикатрисы, где интенсивность рассеянного излучения крайне мала. Поэтому на практике значения р ах ограничены в рентгеновском диапазоне чувствительностью метода измерения, и на сегодняшний день ршах < [c.64]

Используя очень косое падение излучения, удалось получить ясно выраженную дифракцию рентгеновских лучей со сравнительно грубой решеткой (d ж 0,02 мм, Комптон и Дьюэн, 1925 г.). Впоследствии по этому методу были получены превосходные дифракционные спектры и с большой точностью были измерены длины волн рентгеновского излучения. Этот метод измерения является в настоящее время наиболее совершенным (ср. 118). [c.205]

Опыты Баркла. Баркла экспериментально изучал (1909) томсоновское рассеяние рентгеновских лучей. Его интересовало распределение интенсивности рассеянного излучения по различным направлениям. Теоретически оно было хорошо известно как распределение интенсивности излучения линейного осциллятора. Баркла нашел хорошее согласие результатов своих экспериментов с предсказаниями теории для достаточно мягкого рентгеновского излучения. Однако для жесткого рентгеновского излучения Баркла отметил качественное несогласие экспериментальных результатов с теорией. В то время не существовало методов измерения дли- [c.25]

В чистых металлах и ряде сплавов интенсивные деформации обеспечивают часто формирование ультрамелкозернистых структур с размером зерен 100-200нм, а иногда и более [3]. Однако сформировавшиеся зерна (фрагменты) имеют специфическую субструктуру, связанную с присутствием решеточных и зернограничных дислокаций и дисклинаций, наличием больших упругих искажений кристаллической решетки, вследствие чего области когерентного рассеяния, измеренные рентгеновскими методами обычно составляют значительно менее 100 нм [12, 3], что и определяет формирование наноструктурных состояний в ИПД материалах. [c.7]

Результаты рентгеновского анализа показали, что несмотря на дискретный характер контактирования в каждый момент времени можно получить обобш енную характеристику состояния поверхностного слоя, связанную с различной степенью его упрочнения лли нарушения сплошности. Существование такой интегральной характеристики делает возможным использование метода измерения электросопротивления для исследования закономерностей структурных изменений при трении, как с целью проверки, качественной и количественной, результатов рентгеновского анализа, так и для выявления роли второй фазы (Feg ) и всей деформированной зоны (80—90 мкм) в обш ем процессе разрушения. Последнее представляет интерес в свете работы [53], в которой устанавливается связь между накоплением повреждений в поверхностном слое и нижележаш их слоях по мере их выхода на поверхность. [c.55]

Для достижения необходимой чувствительности метода измерения электросопротивления и надежности полученных с его по-мош ью результатов была опробована целая серия образцов, раз-личаюш,ихся по ширине и длине дорожки трения, а также по соотношению глубины зоны пластической деформации и толщины образца. Условия трения были аналогичны тем, для которых проводился рентгеновский анализ. Наиболее удобными оказались образцы, по ширине равные ширине дорожки трения (3 мм), длина последней составляла 50 мм. [c.55]

Характер структурных изменений в более тонких поверхностных слоях исследовался методом измерения микротвердости. Метод измерения микротвердости является аффективным и наиболее распространенным способом оценки состояния поверхностных слоев материалов при трении. При сопоставлении его результатов с результатами других методов исследования, например рентгеновского анализа, следует иметь в виду, что между ними возможно и сходство [87, 88], и различие [24]. Сходство обусловлено тем, что микротвердость, как и ширина дифракционных линий, находится в линейной связи с величиной блоков и микронапряжений. Различие может быть результатом несоответствия толщины слоев, исследуемых обоими методами. Кроме того, при исследовании многофазных материалов возможно различие в ловедении той фазы, которая исследуется рентгенографически, и всего материала в целом, если микротвердость характеризует его среднеагрегатное состояние. [c.59]

Исправленный на, текстуру коэффициент теплопроводности, приведенный к нулевой пористости по формуле (1.3), сопоставлен с измеренным рентгеновским методом диаметром областей когерентного рассеяния (рис. 1.10). Полученная прямая пронорциональность свидетельствует о том, что в рассмотренных материалах средняя длина свободного пробега фононов определяется диаметром области когерентного рассеяния. Обработка приведенных в зарубежных работах данных дает в первом приближении аналогичную зависимость. [c.42]

Существует много методов измерения распределения концентраций фаз в поперечном сечении потока например, измерение электроемкости газо- или парожидкостной смеси, электрозондирование потока, зондирование потока пробоотборником [9], про-светка потока узким пучком гамма- или рентгеновских лучей [10]. Из перечисленных способов исследования наиболее перспективным является метод просвечивания двухфазной смеси гамма- или рентгеновскими лучами, так как он позволяет получить наиболее полную информацию об основных характеристиках двухфазного потока без нарушения его структуры и режима течения. [c.97]

СПЕКТРОСКОПИЯ (раздел физики, в котором изучают спектры оптические абсорбпионпая изучает спектры поглощения видимого, инфракрасного и ультрафиолетового света акустическая — совокупность методов измерения фазовой скорости и коэффициента поглощения звуковых волн различных частот, распространяемых в веществе вакуумная — спектроскопия коротковолнового ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения, в которой применяют вакуумные спектральные приборы лазерная изучает полученные с помощью лазерного излучения спектры испускания, поглощения и рассеяния света мессбауэровская — метод изучения электрических и магнитных полей, создаваемых на атомных ядрах их окружением микроволновая — радиоспектроскопия электромагнитных волн сантиметрового и миллиметрового диапазонов длин волн нелинейная — методы исследования строения вещества, основанные на нелинейных оптических явлениях оптико-акустическая — метод анализа вещества, основанный на изучении спектров поглощения света, возникающих [c.278]

При температуре 2585 °С наблюдается также равновесие п. + + Ж Ж,. Растворимость Мо в (Си), полученная методом электромагнитной индукции в работе [4], составляет 1,91 и 2,50 % (ат.) при темпе . -турах 1900 и 2100 °С соответственно. Растворимость Си в (Мо), определенная в работе f5] методами металлографического, рентгеновского анализов и измерения элекп го-сопротивления, равна -2,3 % (ат.) при температуре 950 °С. Однако авторы работы [2] отдают предпочтение расчетным плн-ным работы [3] по растворимости Мо в (Си) и Си в (Мо). [c.276]

Диаграмма состояния Er—Ga представлена на рис. 215 по данным работы [1]. Сплавы синтезировали из чистых компонентов в герметически закрытых тиглях. Исходными материалами служили Ег чисто той 99,9 % (по массе) и Ga чистотой 99,999 % (по массе). Исследование выполняли методами термического, рентгеновского анализов и измерением микротвердости. В системе образуются пять соединений, три из которых Ег Саз, ErGa и Er2Ga3 плавятся с открытым максимумом при температурах 1320, 1340 и 1300 °С соответственно, [c.410]

Диаграмма состояния Th—Ег была построена в работах 1, 2 . Сплавы системы Th—Ег исследовали методами микроструктурного. рентгеновского, термического анализов, измерением твердости. Исходными материалами служили компактный и порошкообразныli Th чистотой 99,5 % (по массе) и Ег чистотой 99,585 % (по массе) Сплавы были получены во всем интервале концентраций прямым сплавлением исходных металлов в дуговой печи в атмосфере хими чески чистого Аг. [c.448]

Диаграмма состояния Fe—Re (рис. 294) построена в работе 111 на основании обобщения данных работ [2,3]. В работе [2] исслелинали сплавы с содержанием Re до 40 % (ат.) методом термическою ц микроструктурного анализов при высоких температурах. В работ < (З] исследования проводили методами микроструктурного, рентгеновского и микрорентгеноспектрального анализов, измерения элек кк о-противления сплавов Fe-Re во всем интервале концентрапяй в литом, закаленном (800, 1000, 1500 °С) и гомогенизирон .mov, состояниях. [c.538]

Исследование взаимодействия Fe с Zr начато еще в 1928 г. Х , однако окончательно диаграмма состояния системы Fe—Zr не построена до сих пор. Различные исследователи [1—22] сообщают об образовании промежуточных фаз, число, стехиометрия и кристаллическая структура которых не всегда совпадают. Для исследования, как правило, были использованы материалы высокой чистоты — иодидный цирконий, электролитическое или армко железо спланм выплавляли в дуговой печи в атмосфере аргона, в индукционной печи во взвешенном состоянии в атмосфере гелия, в электроннолучевой печи в вакууме. Исследования проводили методами конического, рентгеновского фазового, дифференциального терм нм сякого анализов, а также измерением твердости, магнитного аналн.за, Мессбауэровской спектроскопии и др. [c.586]

Диаграмма состояния Gd—Ри изучена частично и представлсип рис. 379 по данным работы [I]. Исследование выполнено методам микроструктурного, рентгеновского, термического анализов, а также измерением электропроводности и магнитных свойств. Gd [c.716]

Сведения о кристаллической структуре соединений приведены в табл. 500. Кристаллическая структура соединения ТеТ12 неизвестна, хотя его существование подтверждено методами термического, рентгеновского анализов и измерения микротвердости [8. [c.377]

Рентгеноспектральный анализ бокситов также вполне может заменить химический анализ. Методы получения и измерения рентгеновских спектров элементов давно известны, однако только в последние годы был разработан рентгеноспектрометр, который гарантирует безупречную воспроизводимость условий опытов и высокую точность измерений. Для возбуждения рентгеновского характеристичного излучения использованы быстрые электроны или рентгеновское излучение, волны которых короче, чем характеристичное излучение данного элемента. У спектрографов, которые имеются в продаже, предпочтительно возбуждение при помощи коротковолнового рентгеновского излучения, потому что при таком устройстве проба размещается за пределами вакуумного пространства рентгеновской трубки. Исследуемый препарат помещается вблизи окна запаянной трубки, из которой лучи падают на него под определенным углом. Исходящее от пробы вторичное излучение через диафрагму падает на монокристалл, на атомных плоскостях которого оно отклоняется по Брэгговскому уравнению [c.21]

Рентгеновский метод измерения зональных напряжений выгодно отличается от механических методов прежде всего тем, что относится к числу неразрушающих. Метод основан на прецизионном измерении межплоскостных расстояний. Эти измерения могут быть проведены на самых малых участках поверхности детали. При исследовании деталей сложной формы, а также гро.моздких конструкций пре- [c.138]

Микротопография поверхности зеркал исследуется различными методами, отличающимися как по чувствительности, так и по пространственному разрешению. Большинство этих методов крайне сложно использовать для контроля внутренних отражающих поверхностей зеркал скользящего падения, поэтому исследования обычно выполняются на плоских образцах или небольших кусочках, вырезанных из пробных зеркал. Исключением является метод измерения рассеяния рентгеновского излучения, в котором измеряются интенсивность и угловоераспределениеизлучения, рассеянного произвольным участком зеркала при падении на него узкого скользящего пучка. В некоторых других случаях используют специально сконструированные щуповые или оптические приборы, в которых датчик может помещаться внутрь зеркала и сканировать его поверхность [33, 85]. [c.228]

Перейдем к рассмотрению наиболее важного вопроса, связанного с качеством рентгеновских зеркал — методам и аппаратуре для определения параметров шероховатости отражающих поверхностей. Как следует из анализа требований к качеству поверхности, для рентгеновских зеркал значение среднеквадратической шероховатости о, а следовательно, и чувствительность методов измерений должны лежать в интервале от нескольких нанометров до долей нанометра. Это существенно выше требований, обычно предъявляемых к оптическим элементам видимого диапазона (минимальное значение параметра в существующем стандарте составляет 25 нм) и приводит к необходимости использования аппаратуры, основанной на иных физических принципах (или к существенной модернизации этой аппаратуры). Среди наиболее часто используемых методов — контактные (щуповые) и бесконтактные (оптические), основанные на зависимости сигнала от высоты профиля локальных участков поверхности, а также методы рассеяния, дающие информацию о статистических свойствах поверхности. [c.230]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...