Отражение от плоской поверхности

Из-за многократности отражений эти условия [особенно (4.47)] существенно более жесткие, чем при одном отражении от плоской поверхности. Так, при А, л 5 нм, 0 QJ2 л 0,1, г() л/2 и [c.143]

В общем случае применение более узких диафрагм приводит к возрастанию экспозиции рентгеносъемок. Полная интенсивность отражения от плоской поверхности образца с учетом объема облучаемого вещества [93] [c.83]

Мы рассматривали до сих пор только систему волн, возникающую при вхождении падающего пучка через плоскую поверхность в полубесконечное периодическое поле кристалла. В дальнейшем мы рассмотрим специальные случаи, которые могут оказаться важными для реальных условий эксперимента. В случае относительно простой двухволновой модели существуют две ситуации, для которых можно быстро получить результат. Это случай Лауэ — прохождение (без рассеяния назад) через совершенную плоскопараллельную кристаллическую пластинку, бесконечно большую в двух измерениях, случай Брэгга — отражение от плоской поверхности полубесконечного кристалла. В разумных приближениях результаты для этих двух идеализированных случаев можно использовать для обсуждения широкого круга экспериментальных ситуаций. [c.184]

Интересно, что значение поверхностного импеданса при предельно аномальном скин-эффекте фактически оказывается вообще малочувствительным к характеру отражения электронов. Так, при диффузном отражении (когда все направления отраженного электрона равновероятны вне зависимости от угла падения) значение импеданса отличается от (86,23) лишь множителем 9/8. Граничное условие при диффузном отражении от плоской поверхности формулируется как on(o >0, Vy, v ) = 0 при х=0. При этом, однако, метод Фурье оказывается непригодным и решение задачи должно производиться так называемым методом Винера — Хопфа ). [c.446]

Но из уравнения (30.7) мы можем вывести, что доля мощности, теряемая волной, падающей под углом О, при отражении от плоской поверхности с удельным акустическим импедансом т. е. с безразмерной акустической проводимостью = 7 будет равна [c.423]

Рис. 33. Отражение от плоской поверхности

ОТРАЖЕНИЕ ОТ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ [c.76]

Во-вторых, вследствие того, что волны в рассматриваемом случае отражаются не от плоской, а от выпуклой полупроводящей по верхности, процесс отражения сопровождается некоторым рассеянием энергии (отраженные лучи расходятся в большей степени, чем при отражении от плоской поверхности), что приводит к ослаблению поля отраженной волны. [c.81]

Две встречные волны могут возникать различными способами. Наиболее простой и часто встречающийся случай — это отражение при нормальном палении электромагнитной волны от плоской поверхности идеального проводника (см. 2.5) или диэлектрика с большим показателем преломления. [c.76]

Очевидно, что при наблюдении колец Ньютона в отраженном свете центральное пятно будет темным, так как в этом случае геометрическая разность хода равна нулю и лишь теряется полуволна при отражении от плоской стеклянной поверхности. При истолковании колец Ньютона Юнг поставил красивый опыт. Между линзой, изготовленной из легкого стекла (крон), и плоской пластикой из тяжелого стекла (флинт) было введено масло, показатель преломления которого удовлетворял неравенству кр "фл В этом случае нет потери полуволны (вернее, [c.215]

Принцип действия оптической схемы заключается в следующем. Плоская световая волна, получаемая от лазера 7 посредством оптического блока 6, после прохождения через исследуемую турбулентную среду попадает на клиновидную стеклянную пластину 5. На последней осуществляется выделение двух требуемых лучей. В качестве первого можно рассматривать, например, луч, проходящий путь В — Е — В, т. е. луч, отраженный от передней поверхности пластины. Тогда в качестве второго следует взять луч. [c.225]

Формула Брэгга - Вульфа. Кристалл представляет совокупность атомов или молекул, закономерно и упорядоченно расположенных в узлах пространственной кристаллической решетки. Поведение волн анализируется с помощью принципа Гюйгенса - Френеля, который позволил успешно построить теорию интерференции и дифракции электромагнитных волн в световом диапазоне. В соответствии с этим принципом каждая точка волнового фронта рассматривается как источник вторичных волн, которые интерферируют между собой с учетом возникающих при этом фазовых соотношений. Отражение волны от плоской поверхности сводится к тому, что каждая точка поверхности становится источником вторичных волн. Они интерферируют между собой и дают отраженную волну под углом отражения, равным углу падения. [c.48]

Измерение координат точек дефекта. Особенно интенсивными источниками дифракционных волн являются особые точки, лежащие на границе свет— тень, где поверхность дефекта имеет большую кривизну. Особыми точками являются, в частности, края плоскостного дефекта (см. рис. 57, е). Если поверхность дефекта гладкая, то зеркально отраженная волна не будет принята преобразователем 1, но краевые точки дадут сигналы Ti ч Т4. Преобразователь перемещают по контактной поверхности до получения максимального эхо-сигнала от краевых точек, а затем измеряют их координаты и таким образом оценивают размер и ориентацию дефекта. Сигналы Ti и Tфазу начального колебания (в отличие от сигналов Т—Т и T—R—Т2 на рис. 57, а). Интерференция сигналов Tj и является причиной больших осцилляций в спектре отражения от плоского дефекта (см. рис. 56 в и г). [c.249]

Для уяснения физической сущности волн в пластинах рассмотрим процесс образования нормальных волн в жидком слое. Пусть на слой толщиной /г (рис. 1.3) падает извне под углом р плоская продольная волна. Линия AD показывает фронт падающей волны. В результате преломления на границе в слое возникает волна с фронтом СВ, распространяющаяся под углом а. и многократно отражающаяся в слое. При определенном угле падения фазы волны, отраженной от нижней поверхности, и прямой волны, идущей от верхней поверхности, совпадают, что и является условием возникновения нормальных волн. [c.15]

Чтобы выяснить изменение напряженного состояния в материале при отражении от свободной поверхности плоской упругопластической волны нагрузки, амплитуда которой сравнима с пределом упругости по Гюгонио, проанализируем волновую картину в материале при соударении двух дисков [269]. Для упрощения анализа ограничимся рассмотрением соударения пластины определенной толщины, движущейся со скоростью va, с неподвижным образцом удвоенной толщины из того же материала. Не ограничивая общности рассмотрения, принимаем а) скорость распространения напряжений при упругом поведении материала (скорость распространения упругих возмущений) равна скорости распространения продольной упругой волны ао независимо от интенсивности волны как при нагрузке, так и при разгрузке б) пластическая деформация одного знака не меняет предел текучести материала при перемене знака деформации, т. е. эффектом Баушингера можно пренебречь в) скорость распространения возмущений, связанных с пластической деформацией, изменяется в соответствии с изменением величины деформации по одному и тому же закону при нагрузке и разгрузке, т. е. эффектами, обусловленными вязкой составляющей сопротивления при распространении упруго-пластических волн, пренебрегаем. Последнее допущение требует пояснения. Как показано выше, при распространении упруго-пластической волны вблизи поверхности нагружения конфигурация фронта волны меняется в связи с проявлением зависимости сопротивления сдвигу от скорости пластического сдвига. При удалении от контактной поверхности конфигурация волны за упругим предвестником приобретает стабильность и может быть определена на основе деформационной теории распространения волн. Анало- [c.216]

Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина — ряд полос равной ширины. [c.155]

При рассмотрении интерференции в плоских пластинах до сих пор были приняты во внимание только два луча либо луч, отраженный от первой поверхности, и луч, отраженный от второй поверхности, либо луч, прошедший через пластинку без отражения, и луч, отраженный от второй поверхности, затем от первой и прошедший через пластинку. В действительности в пластинке лучи могут отражаться дважды, трижды, четырежды и т. д. — много раз, особенно, если пластинка достаточно велика и падение луча близко к нормальному. В обычной стеклянной пластинке уже после второго отражения поток энергии настолько слаб, что практически влиянием многократных отражений пренебрегают. Иная картина получается, если поверхности, ограничивающие плоскопараллельную пластинку, обладают высоким коэффициентом отражения. Тогда влияние многократных отражений делается заметным как в проходящем через пластинку свете, так и в отраженном. Причем следует подчеркнуть, что расстояние между полосами и разность хода между соседней парой лучей остаются прежними и только сильно меняется распределение энергии (интенсивность) в интерференционной картине. Если для двухлучевой интерференции это распределение соответствовало обычному закону при суперпозиции дву < волн, т. е. [c.29]

Как и при однократном отражении от плоской границы раздела, МР-пучок, поворачиваемый вогнутым зеркалом, будет рассеиваться на микрошероховатостях, имеющихся на любой реальной поверхности. Так как при повороте пучок испытывает большое число отражений, то вопрос о влиянии шероховатостей на коэффициент отражения приобретает еще большее значение. Рассмотрим его более подробно. [c.141]

Упомянув о светорассеянии, нельзя не отметить, что необходимо не только разумно выбрать конфигурацию резонатора, но и принять все возможные меры, чтобы исключить образование сходящихся волн с заметной начальной интенсивностью. В случае телескопического резонатора чисто сходящаяся волна образуется, как нетрудно видеть, при частичном отражении основной волны от плоских поверхностей раздела, перпендикулярных оси резонатора поэтому имеющиеся в лазере поверхности раздела (например торцевые поверхности стержня) должны быть заметно наклонены. [c.210]

Оптический метод исследования напряжений применяется для решения задач о деформациях в пределах упругости. Однако имеются возможности расширения метода на упруго-пластические деформации, и такая работа сейчас ведется. Основная возможность состоит в том, что зависимости (8.13) между главными показателями преломления и главными удлинениями сохраняют силу и в некотором диапазоне пластических деформаций. Кроме того, имеются косвенные пути, один из которых — метод наклеенных пластинок. На исследуемую модель из металла в виде плоской пластинки с одной отшлифованной поверхностью наклеивается тонкая пластинка из оптически активного материала, предел упругих деформаций которого выше предельной упругой деформации испытуемого материала. Оптическая картина наблюдается в отраженном от зеркальной поверхности образца свете, дважды прошедшем слой оптически активного материала. При этом пластическим деформациям в металле до некоторого предела будут соответствовать упругие деформации в оптически активном слое. Этот метод также находится в стадии разработки. [c.360]

Для иллюстрации применения приведенных выше соотношений рассмотрим отражение быстрых или медленных волн от плоской поверхност 1 раздела S в упругопластической среде, первоначально находившейся в состоянии покоя с начальными напряжениями, направленными параллельно 5. Поверхность раздела может быть либо жесткой, либо свободной от напряжений. Для расчета амплитуд волн, отраженных от S, необходимо вначале в качестве промежуточного шага определить зависимость скоростей распространения быстрых и медленных волн и соответствующих скачков нормального градиента скорости от угла падения. Соотношения, необходимые для расчета этих зависимостей в случае начальных напряжений, параллельных поверхности раздела, представлены в приложении А, а некоторые результаты вычислений показаны на рис. 3. В расчетах задавалось значение отношений скоростей упругих волн, равное ( i/ 2)2 = 4 (что соответствует коэффициенту Пуассона Vs), а значения параметра пластичности Р варьировались от нуля (упругое состояние) до единицы (полностью пластическое состояние). На рис. 3 приведены [c.174]

Принцип действия интерферометра представлен на фиг. 15. Две пластины I и II, плоские поверхности которых Аш А параллельны и расположены на расстоянии d одна от другой. Эти поверхности покрыты полупрозрачной зеркальной пленкой металла. Пучок света 00, падающий на интерферометр, испытывает многократное отражение от зеркальных поверхностей и образует по выходе систему параллельных лучей 1, 2, 3 ж т. д., которые вследствие их когерентности интерферируют и создают кольца равного наклона. Порядок [c.49]

Период этой линии а и отклонение ее от прямой малы по сравнению с длиной волны. При отражении от такой поверхности поле на расстояниях, больших по сравнению с а, будет асимптотически таким же, как при отражении от некоторой плоской поверхности. Все мелкие (с масштабом а) возмущения будут существовать лишь на расстояниях порядка а — аналогично тому, что поле вблизи эллиптического цилиндра только на расстояниях, малых или сравнимых с аэф, отличается от поля вблизи кругового цилиндра. Вдали от гофры мелкомасштабные возмущения затухнут, сгладятся, и в этой области характеристикой гофры является положение упомянутой эквивалентной плоскости, которое мы и будем искать. [c.205]

Кроме такого способа осуществления когерентных колебаний можно получить интерферирующие лучи путем деления падающего на интерферометр параллельного пучка по амплитуде (рис. 1.3). В этом случае, как видно из рисунка, имеет место частичное отражение падающего луча 8А (отраженный луч Л5 ) и частичное прохождение этого луча во вторую среду, что и означает деление первичного луча по амплитуде. Луч АА, отраженный от второй поверхности пластины и вышедший вновь в первую среду (08") когерентен с первым лучом А8, отраженным от первой поверхности (ВО — фронт плоской волны). Такой вид интерференции принято называть интерференцией Ньютона. Интерференция может наблюдаться в фокальной плоскости объектива, если его расположить на пути распространения когерентных лучей. [c.20]

Качество 3. тем выше, чем ближе форма его поверхности к математически правильной (сфсрич., ци-лнндрич., параболопдальной и т, д.). Широко применяют также плоские 3., к-рые служат для изменения направления световых лучей в соответствии с законом отражения от плоской поверхности. Положение изоб-ражеиия, даваемого 3., может быть получено из общих законов геометрической оптики. Если отражающая поверхность обладает осью симметрии, то положение предмета и его изображения связаны с радиусом кривизны г у вершины О рис. 1) соотношением [c.83]

Выражение в квадратных скобках представляет собой геометрический фактор абсорбции его значение не зависит от коэффициента л линейной абсорбции. Как следует из соотношения (24), интегральная интенсивность отражения от плоской поверхности при постоянных Р, N, Р, 9 и л опре 1еляется величиной угла сс, под которым установлен шлиф при рентгеносъемках. С уменьшением а величина / возрастает, так как геометрический фактор абсорбции стремится к своему наибольшему значению — единице. Следовательно рентгеносъемки при малом размере диафрагм и уменьшении угла а не должны приводить к существенному возрастанию экспозиции. В практике съемки экспозиция обычно составляет 2—4 ч (аппарат УРС-1,0, трубка БСВ-2, камера типа РКД). [c.83]

Постоянные виз сильно зависят от ю н приближаются к своим статическим значениям только при очень малых частотах. Чтобы пайти точные значения, следует провести измерения при каждой частоте. С этой целью были выполнены измерения поглощения в очень тонком слое и измерения интенсивности и поляризации волны, отраженной от плоской поверхности. Такие измерения дали надежные значения пм п для многих веп1еств и ряда длин волн. Как и предполагалось, измерения в далекой инфракрасной области, начатые Хагеном и Рубенсом, показали постепенный переход е и а к их статическим значениям. В этом предельном случае глубина проникновения у связана с толщиной скин-слоя (разд. 14.41). [c.312]

Еще с древних времен известны некоторые основные законы геометрической оптики — прямолинейное распространение света в однородной среде, распространение через границу двух прозрачных сред с отличающимися показателями преломления (закон преломления света) и отражение от плоской зеркальной поверхности (закон отражения света). А как быть, если распространение света происходит в среде с псирерывно меняющимся показателем преломления Существует ли какая-нибудь общая закономерность, описывающая распространение света во всех вышеперечисленных случаях Ответ на подобный вопрос был дан французским математиком Ферма в середине XVII в. [c.167]

Плоская ударная волна отражается от плоской поверхности абсолютно твердого тела. Определить давление газа позади отраженной волны. Н. Huftoniot, 1885). [c.525]

Если скорости движения сред по обе стороны от плоской поверхности раздела параллельны ей, то такой случай наз. тангенциальным разрывом скорости движения сред и для него 0. В этом случае (как следует из приведённых выше ф-л) отражение волн происходит как на покоящейся границе раздела частоты всех волн одинаковы, а угол падения равен углу отражения. Однако при таком отражении может происходить поворот плоскости поляризации отражённой и преломлённой волн. Угол поворота пропорц. комноыентам скорости движения сред, перпендикулярным плоскости падения. При релятивистских скоростях движения сред для нек-рых углов падения коэф. отражения становится больше единицы, т. е. происходит усиление отражённой волны за счёт энергии движения сред. Указанные выше особенности распространения волн в движущихся средах и отражения на границах раздела движущихся сред позволяют использовать их для диагностики этих сред или для преобразования частот с одноврем. усилением сигналов. [c.424]

Дальнейгаее развитие метода последовательных приближений по кратности эассеяния для плоской геометрии с интегрированием но характеристикам и квадратурами на единичной сфере и создание комплекса программ АН (атмосфера плоская) [57-59] позволяет осуществлять численный расчет поляризационных характеристик излучения в неоднородных плоскостратифицированных слоях. Нри этом матрицы рассеяния частицами и матрицы отражения от подстилающей поверхности могут быть произвольными и состояния поляризации источников излучения (внеганего параллельного потока или диффузного источника на границе и внутри слоя) — любыми [60-62. [c.776]

Возможность регистрации интерферограмм с ненулевым контрастом при зондировании кристаллов с шероховатой тыльной поверхностью в ряде работ априорно отрицалась. Мнение основывалось, вероятно, на том, что параметры шероховатости (высоты, углы наклона, расстояния между пиками) предполагались случайно распределенными, как в случае шероховатости поликристаллических или аморфных материалов. В таком случае коэффициент зеркального отражения от поверхности с высотой микрорельефа, сравнимой с длиной волны, пренебрежимо мал. Однако вследствие высокой упорядоченности элементов микрорельефа регистрируется достаточно высокий коэффициент (0,054-0,15) зеркального отражения от шероховатой поверхности монокристаллического кремния. Полная компенсация интерференционных максимумов и минимумов не происходит даже в том случае, когда в сечении лазерного пучка содержится несколько сот плоских микрограней приблизительно квадратной формы, находяш ихся от базовой плоскости на разных расстояниях (от О до 14-2 мкм). [c.151]

Картину электронной дифракции — электронограмму — получают как на просвет от образца толщиной порядка нескольких десятков нанометров, так и на отражение от плоского образца, поставленного так, что электронный луч практически скользит по его поверхности, образуя с ней угол в несколько минут. Благодаря чрезвычайно сильному рассеянию электронов при почти полном отсутствии поглощения, а также использованию при получении электронограмм почти всей мощности электронного пучка интенсивность дифракционных максимумов электроно-граммы очень высокая. Электронограмму можно получить за доли секунды. Однако в связи с особенностями рассеяния электронов на электронограммах не удается получить интерференционные максимумы с высокими индексами кристаллографических плоскостей, что весьма обедняет информацию. Так как углы дифракции 6 малы, погрешность в определении межплоскостных расстояний по элекТронограммам велика несмотря на острый профиль интерференционных линий она составляет обычно несколько десятков процентов. [c.65]

Чтобы включить в рассмотрение отражающие поверхности (плоские и сферические), вводят следующее правило когда луч распространяется в отрицательном направлении оси z, показатель преломления среды, через которую он проходит, считается отрицательным ( —п). Тогда закон отражения 02 = —0 формально можно рассматривать как частный случай закона преломления при /12 = —П . Матрица преобразования параметров луча при отражении от сферической поверхности имеет точно такой же вид (7.16), как и матрица преломления, если в выражении для оптической силы Р заменить п на — п, P= — 2nJR. Для выпуклого зеркала R>0 и оптическая сила отрицательна (Р<0), для вогнутого — положительна (Р>0). [c.339]

Серьезным ограничением на запасенную энергию возбуждения в лазере, как уже отмечалось, могут стать паразитные моды, возникающие при наличии внутри активного элемента замкнутых траекторий лучей, на которых усиление превосходит потери. В наибольшей степени этому подвержены усилители с активными элементами в виде плоских дисков (круглых или прямоугольных) или так называемых активных зеркал [10, 691, имеющих большие полированные рабочие тюверхности. Условия возникновения паразитных мод в дисковых усилителях рассмотрены, например, в [70, 71]. Для лучей, распространяющихся зигзагообразно по замкнутому пути внутри усиливающего диска диаметром о и испытывающих ряд полных внутренних отражений от рабочих поверхностей и отражений от боковой поверхности с коэс ициентом отражения условие возникновения незатухающих паразитных мод имеет вид [c.88]

Смотреть страницы где упоминается термин Отражение от плоской поверхности : [c.262] [c.289] [c.289] [c.291] [c.487] [c.146] [c.240] [c.137] [c.122] [c.504] [c.674] [c.126] [c.28] [c.8]

Смотреть главы в:

Динамическая теория звука -> Отражение от плоской поверхности

Теория оптических систем -> Отражение от плоской поверхности

ПОИСК

Импеданс поверхности. Неопёртая пластина. Опёртая пластина Пористый материал. Электроакустические аналоги для тонких звукопоглощающих материалов. Формулы для толстых слоёв материала Отражение плоской волны от поглощающей стены Передача звука по каналам

Лучи — Отражение на плоских поверхностях 318 — Преломление

Отражение

Отражение воли от плоских поверхностей

Отражение звука лучей на плоских поверхностях

Отражение и преломление на плоских поверхностях оптических деталей

Отражение и преломление плоских волн па поверхности раздела

Отражение лучей от несферических плоской поверхностью

Отражение лучей плоской поверхностью

Отражение от плоской поверхности 32, законы

Отражение от поверхности

Отражение плоской волны от абсолютно свободной поверхности

Отражение плоской волны от свободной поверхности н от абсолютно жесткой стенкн

Поверхности плоские

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...