Отражение от поверхности

Поскольку в оптических приборах свету всегда приходится проходить через систему линз и призм, то нужно считаться с ослаблением интенсивности прошедшего света за счет отражения от поверхностей. В случае нормального падения света, как следует из формулы (3.16), коэффициент отражения (отношение интенсивности отраженного света к интенсивности падающего) определяется следующим образом [c.52]

Поляризация света при отражении и преломлении на границе раздела диэлектрик — металл. Так как для металлов п является комплексной величиной, то, согласно формулам Френеля, амплитуды как преломленной, так и отраженной волны окажутся комплексными. Это означает, что между компонентами отраженной (а также и преломленной) волны и падающей возникает разность фаз. Эта разность фаз для s- и р-компонент не является одинаковой, поэтому между S- и р-компонентами отраженной (а также преломленной) волны возникает определенная разность фаз, приведшая к эллиптической поляризации отраженной от поверхности металла волны. Как известно из раздела механики курса общей физики , сложение двух взаимно перпендикулярных колебаний с отличной от нуля разностью фаз между ними в общем случае приводит к так называемой эллиптической поляризации , В эллиптически поляризован- [c.63]

Появление п в (5.8) обусловлено изменением фазы при отражении от поверхности с показателем преломления п > 1 (см. 1 гл. П1) изменение знака х на противоположный отвечает изменению направления распространения отраженной волны. Результирующую волну найдем, складывая (5.7) и (5.8) [c.96]

Наконец, остановимся коротко на обратном предельном случае, когда длина волны рассеиваемого звука мала по сравнению с размерами тела. В этом случае все рассеяние, за исключением лишь рассеяния на очень малые углы, сводится к простому отражению от поверхности тела. Соответствующая часть полного [c.419]

Простое вычисление с помощью разложения в ряд показывает, что оба написанных выражения отличаются друг от друга только в членах третьего порядка (при вычислении следует иметь в виду, то изменение энтропии в разрыве есть величина третьего порядка малости, а в простой волне энтропия вообще постоянна). Отсюда следует, что с точностью до членов второго порядка звуковая волна с каждой стороны от образовавшегося в ней разрыва остается простой, причем на самом разрыве будет выполнено надлежащее граничное условие. В следующих же приближениях это уже не будет и.меть места, что связано с появлением отраженных от поверхности разрыва волн. [c.536]

Попытаться определить поляризацию лучей Солнца, отраженных от поверхности воды. В какое время дня поляризация будет максимальной [c.891]

Выше была рассмотрена особенность отраженной от поверхности когерентной световой волны, проявляющаяся в возникновении спекл-структуры. Как было показано, она характеризуется микроструктурой поверхности, т. е. ее шероховатостью. [c.111]

Участки профиля, прилегающие к его передней кромке и находящиеся до точки пересечения двух скачков или скачка и пучка характеристик набегающего потока, расположены вне зоны возмущений от соседних профилей, и поэтому давление здесь такое же, как и на изолированном профиле. Распределение давления на остальной части профиля определяется взаимодействием косых скачков и волн Маха и их последовательным отражением от поверхности двух соседних профилей. Применение известного графоаналитического способа ) позволяет в общем случае больших возмущений построить распределение давлений по профилю и найти путем интегрирования величину и направление равнодействующей силы. [c.76]

При проведении абсорбционного анализа с использованием закона Бугера — Ламберта — Бера необходимо измерить зависимость интенсивностей входящего и выходящего из раствора световых потоков от длины волны монохроматического излучения. Основная трудность при таких измерениях состоит в том, что ослабление интенсивности света при прохождении через кювету связано не только с поглощением его растворенным веществом, но и с изменением его первоначального направления при отражениях от поверхностей стенок кюветы, а также в результате рассеяния поглощающей средой. [c.189]

Разница значений, полученных при расчете по формулам (13.35) и (13.28), объясняется тем, что в первом случае не учитывается действие отраженных от поверхности молекул. Если сравнить значения коэффициентов сопротивления в случае зеркального отражения молекул, рассчитанные по зависимостям (13.28) и (13.32), в котором положим / = 1, то одинаковые результаты получим, если во второй зависимости [c.724]

В общем случае коэффициент отражения от зеркальной поверхности диэлектрика описывается формулами Френеля. При анализе отражения от поверхности металлов необходимо учитывать комплексный характер этого коэффициента, обусловленный большой поглощательной способностью металлов. [c.50]

Таким образом, задачу определения различных видов дефектов можно свести к определению соответствующих изменений плотности распределения пучка рассеянного излучения путем так называемой пространственной фильтрации. Рассеянное излучение пропускается через фильтр с различной по сечению пропускающей способностью. Он задерживает или ослабляет большую часть лучистого потока, отраженного от нормальной поверхности, а лучи, отраженные от поверхности дефектов, пропускает на приемник излучения. Фильтр может также использоваться для определения вида дефектов, так как позволяет подавлять лучи, отраженные от дефектов, дающих одну плотность распределения рассеянного излучения, и усиливать лучи, идущие от дефектов, дающих другую плотность распределения. Можно также подавлять лучи от дефектов, поглощающих излучение, и усиливать лучи от дефектов, рассеивающих излучение, или наоборот. [c.90]

Применение когерентного излучения позволяет эффективно использовать возможности оптических элементов как преобразователей спектра поступающего двухмерного сигнала и создавать принципиально новые методы контроля материалов и изделий. Исследуемая поверхность объекта освещается расходящимся лазерным пучком, структура которого формируется диффузной поверхностью. Пучок, отраженный от поверхности, фиксируется на фотопленке, установлен- [c.95]

Если преобразователь делается с акустической задержкой, то значение последней должно быть не меньше времени задержки сигналов, чтобы исключить помехи отражения от поверхности объекта контроля. [c.269]

При вводе УЗК со стороны металла выявляемость дефектов улучшается с увеличением коэффициента отражения от поверхности ввода УЗК и уменьшением коэффициента отражения от внутренней границы металла. Значение можно увеличить применением преобразователя с полуволновым пьезоэлементом без демпфера, входной импеданс которого на резонансной частоте Zbx О- Радикальным способом повышения / является использование бесконтактных (например, ЭМА) преобразователей. Значение / ин уменьшается с увеличением отношения характеристических импедансов пластика 2пл и металла Zn,. Наиболее четко выявляются дефекты типа нарушения адгезии клея к металлу, когда Ь [c.305]

С увеличением угла а струи закалочной жидкости падают ближе к индуктору, в связи с чем сокращается время перехода закаливаемой поверхности из зоны нагрева в зону охлаждения. При некотором угле а начинается интенсивный отсос тепла из зоны нагрева, снижающий к. п. д. устройства. При угле падения больше 45° наблюдается попадание в зону нагрева струй, отраженных от поверхности детали, вследствие чего появляются мягкие пятна на [c.124]

При зеркальном отражении энергия отражения от поверхности тела по всем направлениям равна нулю, кроме одного, соответствующего зеркальному углу, равному углу падения (рис. 17-14). [c.412]

Особенности и специфика ультразвукового метода контроля рассмотрены выше. Следует подчеркнуть, что наиболее широкое распространение на практике получил эхо-метод. Он связан с анализом отраженного от поверхности несплошности ультразвукового сигнала, вводимого в металл. [c.70]

В общем случае эхо-сигнал U от цилиндрического отражателя формируется из эхо-сигнала i/об. отраженного от поверхности отверстия обратно к преобразователю, и сигналов Uq, возникающих за счет волны скольжения, обогнувшей отверстие. Если сдвиг Ai(, во времени между сигналами С/ов и Ug ие превышает длительности т зондирующего импульса, то сигналы интерферируют между собой, ослабляя или усиливая максимальную амплитуду (Уо суммарного эхо-сигнала. Сдвиг обусловливается [c.225]

При эталонировании чувствительности не учитывается возможное влияние флуктуаций коэффициента прозрачности контактирующего слоя на реальную чувствительность контроля сварных соединений. Установлено, что чувствительность практически не зависит от толщины слоя контактирующей среды между наклонным преобразователем и поверхностью проката. Однако контактирование поверхности металла с жидкостью может привести к снижению чувствительности контроля при прозвучивании соединения отраженным лучом. Действительно, при каждом отражении от поверхности металла интенсивность УЗ-волны, а следовательно, и амплитуда эхо-сигнала от выявляемого дефекта сни- [c.228]

Влияние свободной поверхности. При распространении волн вдоль поверхности изделия прямо прошедший сигнал интерферирует с ложным сигналом, отраженным от поверхности. Это возникает при контроле всеми методами отражения и прохождения. Рассмотрим способы отстройки от этого явления на примере эхо-метода с применением продольных волн. [c.284]

При контроле со стороны вставки из сплава В К амплитуды сигналов, отраженных от дефекта на границе и от дна при изменении размера дефекта, лежащего на границе раздела сред, изменяются монотонно (кривые 1, 2 на рис. 6.50). Контроль со стороны стального основания характеризуется немонотонностью изменения амплитуды сигнала (кривая 3 на рис. 6.50), так как она складывается из амплитуды сигнала, отраженного от границы раздела сред (акустически жесткая граница) и из амплитуды сигнала, отраженного от поверхности дефекта, лежащего на этой границе (акустически мягкая граница). Отражение этих сигналов проис- [c.355]

Отражение от поверхности УЗ-в о л н, падающих из жидкой или газообразной среды. Если изменение профиля поверхности носит нерегулярный характер, то наблюдается рассеянное отражение. При регулярном характере неровностей профиля, шаг которых соизмерим с длиной волны, происходит дифракция УЗ-волн. В обоих случаях снижается амплитуда сигнала, соответствующего геометрическому отражению лучей, что удобно использовать для измерения параметров шероховатости поверхности. [c.410]

Пучок лучей, испускаемых осветителем, пройдя апертурную диафрагму А. осветителя и отразившись от полупрозрачной пластины 5, проходит апертурную диафрагму Л о объектива и, пройдя объектив 4, падает на полупрозрачный слой пластины 2, где разделяется на две части отраженная пластиной 2 часть пучка падает на круглое зеркальце пластины 3, а вторая часть, пройдя пластину 2, направляется на измеряемую поверхность 1. После отражения от поверхности 1 второй пучок складывается с первым, отразившимся от круглого зеркальца пластины 3, и попадает в объектив 4. Пройдя объектив 4 и пластину 5, объединенный пучок [c.95]

Интегрируя (12.1) с учетом отражения от поверхности, получаем [c.319]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

Если наблюдение ведется в монохроматическом свете, то интерференционная картина п[1едстаБЛяет собой чередование светлых и темных полос. При наблюдении в белом свете илеика оказывается окрашенной в разные цвета. Подобная окрашенность пленок, обусловленная интерференцией отраженных от поверхностей лучей, носит название цветов тонких пленок. Следует заметить, что при наблюдении в белом свете отклонение от параллельности поверхности пластинки должно быть незначительным. Заметное отклонение от параллельности приводит к значительному сближению полос [c.89]

Положим, что на поверхность стекла падает монохроматический свет длиной скажем красный. Отраженный от поверхности ртутного зеркала свет образует с падающим стоячие световые волны. В пучностях электрического вектора происходит максимальное разложение бромистого серебра (почернение) так, что в толще эмульсии образуются эквидистантные полупрозрачные слои серебра, расположенные друг от друга на расстояипн Хх/2. Если на обрабо- [c.98]

Опыты Вавилова 348, 349 Освещенность 14 Отражение 4, 47, 60 —, аакон 47, 48, 168, 169 —, коэффициент 52, 53, 65, 102 Отражение от поверхности металла 60, 61, 63 [c.428]

К происхождению неустойчивости ударных волн в области (90,17) можно подойти также и с несколько иной точки зрения, рассмотрев отражение от поверхности разрыва звука, падающего на нее со стороны сжатого газа. Поскольку ударная волна движется относительно газа впереди нее со сверхзвуковой скоростью, то в этот газ звук не проникает, В газе же позади волны будем иметь, наряду с падающей звуковой волной, еще и отраженную звуковую и энтропийно-вихревую волны (а на самой поверхности разрыва возникает рябь). Задача об определении коэффициента отражения по своей постановке близка к задаче об исследовании устойчивости. Разница состоит в том, что наряду с подлежащими определению амплитудами исходящих от разрыва (отраженных) волн в граничных условиях фигурирует еще и заданная амплитуда приходящей (падающей) звуковой волны. Вместо системы однородных алгебраических уравнений мы будем иметь теперь систему неоднородных уравнений, в которых роль неоднородности играют члены с амплитудой падающей волны. Peuienne этой системы дается выражениями, в знаменателях которых стоит определитель однородных уравнений,— как раз тот, приравнивание которого нулю дает дисперсионное уравнение спонтанных возмущений (90,10). Тот факт, что в области (90,17) это уравнение имеет веш,ественные корни для os 0, означает, что существуют определенные значения угла отражения (и тем самым угла падения), при которых коэффициент отражения становится бесконечным. Это — другая фор- [c.476]

Можно учесть возможность частичного диффузного рассеяния, нредноло-жив, что доля р общего числа электронов претерпевает зеркальное отражение от поверхности, а остальная часть, т. е. (1 —ja), отражается диффузно. Такой путь является, конечно, интерполяционным приемом и может не соответствовать физической реальности. [c.205]

В методах отражения используют как один, так и два преобразователя и применяют импульсное излучение. Эхо-ме-тод основан на регистрации эхосигналов от дефектов. На экране электронно-лучевой трубки наблюдают обычно посланный (зондирующий) импульс I, импульс III, отраженный от поверхности (дна) изделия (донный импульс) и эхосигнал от дефекта II, Время прихода импульсов II и III пропорци- [c.172]

Правее точки g граница струи искри1вляется (вследствие уменьшения давления в пучке характеристик). Заметим, что любая характеристика, выходящая из данной точки на кромке сонла, является отрезком прямой только до пересечения с первой характеристикой, выходящей из диаметрально противоположной точки. Участки характеристик, лежащие правее (ниже по потоку) этого пересечения, должны быть криволинейными, так как они проходят в области ускоряющегося течения газа. Отраженные от поверхности струи характеристики образуют сходя- [c.410]

Спектральный коэффициент отражения выделяет количество лучистого потока энергии, отраженного от элемента поверхности. Наконец, введем еще индикатрису отражения pv (М, 2, 2, т, v) так, чтобы произведение v,+n (М> х x os( 2, n) Sv (М, Q ) pv (М, 2, 2 )х xd 2 представляло собой количество лучистой энергии, заключенной в единичном интервале частот в единичном телесном угле около направления 2 и проходящей в единичное время через единичную площадку, расположенную перпендикулярно направлению 2, d 2, в результате отражения от поверхности фотонов, первоначально двигающихся в телесном угле 2, d 2. Очевидно, индикатриса отражения обладает следующим свойством замыкаемости [c.163]

Угол Брюстера, при котором свет, линейно поляризованный в плоскости падения, имеет минимальное отражение от поверхности диэлектрика, равен а = ar tg (1/и) п — показатель преломления диэлектрика). При падении луча света из среды более плотной (с большим показателем преломления) на границу раздела с менее плотной средой при углах Р > ar sin (1/п), возникает явление полного внутреннего отражения (ПВО). [c.50]

Ложные сигналы рассматриваемого типа возникают в результате отражения и дифракции от выпуклости сварного 1.шва ML (риг. 5.43, б) [58]. При углах ввода 35. .. 55° ложные сигналы обусловлены зеркальным отражением от поверхности ъ некоторой точке /- i или При больших углах ввода зеркального отражения не наблюдается, однако остаются более слабые сигналы, возникаю-HtHe в результате дифракции на ребрах М и L. Дифракция порождает также поверхностные и головные волны, распространяющиеся вдоль дуги AIL, причем при меньших углах ввода образуются поверхностные, а при больших — головные волны. Эти волны многократно проходят вдоль дуги ML, частично трансформируясь каждый раз в объемные волны. В результате после дифракционного эхо-сигнала наблюдают ряд ослабевающих импульсов 15]. [c.282]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...