Отражение лучей

Многогранники в виде оптических призм используют и в технической оптике. Здесь также приходится решать инженерные задачи, связанные как с проектированием оптических приборов, так и с учетом физических явлений преломления и отражения лучей при их падении на границу раздела двух сред. [c.104]

Свойства параболы широко используются при изготовлении зеркал прожекторов, отражателей, антенн и т. п. (используется свойство если источник света поместить в фокусе параболы, то отраженные лучи будут параллельны между собой). [c.25]

Теперь рассмотрим схему отражения рентгеновского луча от поверхности исследуемого образца. Пучок, падающий по нормали к поверхности, охватывает площадку 1,5—2 им в диаметре. На этой площадке, как показывает опыт, среди большого числа освещенных кристалликов находится обычно достаточное количество таким образом ориентированных кристаллов, что определенные их плоскости находятся в соотношении Брегга с параметрами падающего луча. При этом происходит отражение луча от кристаллов (рис. 592). Отраженные лучи образуют коническую поверхность с углом при вершине 360° — 49 Если на их пути поставить фотографическую пленку, то на ней зафиксируется круг радиуса Л (рис. 592). Очевидно, [c.529]

Рентгеновские методы исследования остаточных напряжений основаны на определении расстояния между кристаллографическими плоскостями, т. е. деформации кристаллографической решетки, с помощью измерения угла отражения луча. Остаточные напряжения этим методом можно определить с невысокой точностью и только в тонком поверхностном слое. Для рентгеновских методов исследования остаточных напряжений характерны большая трудоемкость и высокая стоимость проведения эксперимента. [c.424]

Как следует из (3.14), при ф + я1з = л/2, т. е. при tg (ф -f- г[0 = = оо, ° р = О, Е° Р = 0. Это означает, что если лучи, отраженный и преломленный, взаимно перпендикулярны, то в отраженной волне колебание электрического вектора происходит только в одном направлении — в направлении, перпендикулярном плоскости падения. Такой луч, как мы уже знаем, называется линейно- или плоскополяризованным. Угол падения естественного света, при котором отраженный луч плоскополяризован, называется углом Брюстера (более подробно об этом речь пойдет в гл. IX). [c.49]

I ч II кривая III при ф = 56°40 касается оси абсцисс, т. е. / тр = О, что соответствует полной поляризации отраженного луча (закон Брюстера). [c.52]

При отражении света от поверхностей прозрачных пластин вследствие малого коэффициента отражения мы не принимали во внимание лучи, отраженные два или большее число раз. Однако в случаях, когда интенсивности многократно отраженных лучей близки друг к другу, учет их вклада в общую интенсивность является обязательным. Реализация упомянутого случая — случая многолучевой интерференции — определяется значениями коэффициентов отражения и пропускания. [c.100]

Конкретно свет от источника S, расположенного в фокусе линзы Л, направляется на поверхность полупрозрачной пластинки СС. Отраженный от этой пластинки световой пучок через линзу л направляется на поверхность воздушного зазора. Отраженные лучи, налагаясь, дают на экране F, расположенном в фокальной плоскости линзы, интерференционную картину. Если исследуемая поверхность такая же гладкая, как и поверхность эталона, то в зависимости от относительного положения этих пластин будет наблюдаться интерференция полос равного наклона [c.104]

Закон отражения совпадает с законом отражения механических волн, т. е. угол отражения равен углу падения падающий луч, отраженный луч и перпендикуляр к поверхности в точке падения лежат в одной плос-р ости. На границе раздела двух сред происходит преломление электромагнитных воли. Закон преломления отношение синуса угла падения а к синусу угла преломления р является величиной постоянной для двух данных сред. Это отношение равно отношению скорости V электромагнитных волн в первой среде к скорости V2 во второй среде sin а VI [c.249]

Закон отражения. Как показывают наблюдения, при отражении света всегда выполняется закон отражения луч падающий, луч отраженный и перпендикуляр к границе раздела двух сред, восставленный в торосе падения луча, лежат в одной плоскости угол отражения у равен углу падения а (рис. 259). [c.264]

I и отраженный / лучи остаются параллельными при небольших перекосах призмы, т. е. при разных углах падения на грань С. Подвижный уголковый отражатель Т2 не связан жестко с остальными частями оптической системы, и движение его сопровождается малыми перекосами. Однако благодаря упомянутому выще свойству уголкового отражателя это не приводит к разъюстировке интерферометра. [c.234]

В приведенном доказательстве принципа Ферма было использовано предположение о том, что в исследуемой области через каждую точку проходит только один луч. Таким образом, выпали из рассмотрения такие практически важные случаи, как, например, поле лучей от точечного источника А в однородной среде, отраженных плоским зеркалом (рис. 6. 18), где через любую точку В проходят два луча. Оптическая длина прямого луча АВ является в этом случае абсолютно минимальной, тогда как оптическая длина отраженного луча СВ минимальна лишь по отношению к оптическим длинам кривых, лежащих в некоторой ограниченной окрестности луча (например, АС Е). [c.276]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

При съемке в цилиндрической камере конусы отраженных лучей пересекаются е цилиндром, в результате дифракционные линии располагаются симметричными дужками, как показано на рис. 1.50. С помощью рис. 1.52 установим связь между расстояниями 21 и брэгговскими углами отражения 20 [c.54]

Задний отрезок s — расстояние от вершины преломляющей или отражающей поверхности до точки пересечения преломленного или отраженного луча с оптической осью. [c.199]

Угол преломления (отражения) е — угол между преломленным (отраженным) лучом и нормалью к поверхности в точке преломления (отражения). [c.199]

Погрещности измерения температуры яркостными оптическими пирометрами обусловлены главным образом неточностью знания степени черноты объекта измерения ех] изменением коэффициента пропускания ослабляющего светофильтра при измерениях в помещениях, температура в которых заметно отличается от 293 К отражением лучей объекта измерения от посторонних источников света поглощением лучей в слое воздуха, содержащего пары воды и углекислоты поглощением и рассеянием лучей в слое запыленного и задымленного воздуха ослаблением излучения стеклами, расположенными между объектом измерения и пирометром неточной наводкой пирометра при небольших размерах объектов измерений. Сведения о возможностях расчетной оценки этих погрешностей и рекомендации по их уменьшению содержатся в [5, 7, 12]. [c.187]

Углом полной поляризации (углом Брюстера) ав называют угол падения, при котором отраженный луч полностью поляризован перпендикулярно плоскости падения. Величина пв определяется выражением [c.769]

Если данный поликристаллический порошок облучать монохроматическим рентгеновским излучением, то среди составляющих его монокристаллов всегда найдутся такие, ориентация которых относительно падающего пучка удовлетворяет условию Вульфа-Брэгга (6.4). Если в направлении падающего луча установить фотопластинку, то ввиду аксиальной симметрии отраженных лучей на пластинке они оставят след в виде кольца (рис. 29). Так как отражение одновременно происходит от разных систем поверхностей и имеются отражения различных порядков, т. е. при различных значениях т в формуле [c.51]

Отражение в зависимости от свойств поверхности может быть правильным или диффузным (рассеивание). В первом случае поверхность называется зеркальной отраженный и падающий лучи будут лежать в одной плоскости, нормальной к поверхности отражения. Во втором случае отраженные лучи распространяются по всем направлениям. Поверхность отражения в этом случае называется матовой. [c.253]

Рефлекс - высветление собственной тени благодаря отраженным лучам света. [c.104]

При выявлении дефектов, различным образом ориентированных в стыковом шве, выполненным дуговым способом, сварное соединение рекомендуется нрозвучивать с обеих сторон валика усиления шва. Преобразователь перемеш.ают вдоль шва с шагом продольного сканирования не более 2...3 мм с разворотом преобразователя вокруг вертикальной оси на угол 5... 10" (рис. 5.18). При первом проходе следует проверять Прямым лучом нижнюю половину шва (рис. 5.19, а) при втором — верхнюю половину однократно отраженным лучом (рис. 5.19,6). При толщине 5--=5... 20 мм используют преобразователь с углом призмы р==50°, при S==30,..50 мм -с углом р = 40°. [c.135]

Рефлекс — высветление собственной тени за счет освещения теневой стороны предмета отраженными лучами от окружающих освещенных предметов или поверхностей данного предмета. [c.172]

Законы преломления и отражения, определяя направления отраженного и преломленного лучей, не дают никаких сведений об интенсивностях и фазах. Задачу определения интенсивностей и фаз отраженного и преломленного лучей можно решить, исходя из взаимодействия электромагнитной волны со средой. Согласно электронной теории, под действием электрического поля падающей волны электроны среды приводятся в колебания в такт с возбуждающим полем — световой волной. Колеблющийся электрон при этом излучает электромагнитные волны с частотой, равной частоте возбуждающего поля. Излученные таким образом волны называются вторичными. Вторичные Bojnibi оказываются когерентными как с первичной волной, так и мемаду собой. В результате взаимной интерференции происходит гашение световых волн во всех направлениях, кроме двух — в направлениях преломленного и отраженного лучей. В принципе можно, решая задачу интерференции, определить направления распространения, интенсивности и фазы обоих лучей. Однако решение ее, хотя и привело бы к результатам, согласующимся с опытными данными, представляется довольно сложным. Эту же задачу можно решить более простым путем,- используя систему уравнений Максвелла. [c.45]

Подобные полосы в-первые наблюдались Г уком. Однако вследствие того, что онн были подробгю исследованы Ньютоном, их называют кольцами Ньютона. Схема, с помощью которой наблюдаются кольца Ньютона, представлена на рис. 5.1. Роль пластинки переменной толщины играет воздуи/пая прослойка между линзой и плоскопараллельной пластинкой. Границы этой пластинки определяются снизу верхней поверхностью плоскопараллельной пластинки, сверху—нижней поверхностью линзы. Параллельный пучок света, выделенный из точечного источника, расположешюго в фокусе линзы (линза и источник на рисунке не изображены), направляется на систему линза — плоскопараллельная пластинка. Некоторый луч 1 этого пучка после отражения от нижней поверхности воздушной прослойки выходит из точки D. В эту же точку падает другой луч 2, который частично отражается. Лучи / п 2 являются когерентными и при наложении интерферируют между собой. Так как подобная интерференционная картина наблюдается с помощью отраженных лучей, то ее называют интерференционной картиной в отраженном свете. Аналогичную картину можно наблю-дат з в прошедшем свете. [c.93]

Полное отражение. При наблюдении явления преломления света можно заметить, что наряду с преломлением происходит и отражение света от границы раздела двух сред при увели-ченп . угла падения интенсивность отраженного луча увеличивается. В случае перехода света из оптически более плот- [c.266]

Обычный отраженный луч QAP (рис. 46) удовлетворяет принципу Ферма в том смысле, что это есть путь наиболее быстрого пробега из точки Q в Р из всех путей, лежащих целиком в среде / и испытывающих однократное отражение. Но принципу Ферма удовлетворяет (при i С Сг) и другой путь луч падает на границу под углом полного внутреннего отражения 0o(sin9o = = j 2), затем распространяется по среде 2 вдоль границы раздела и, наконец, снова переходит в среду 1 под углом 0о (QB P на рис. 46) очевидно, что должно быть 0 > 0о. Легко видеть, что такой путь тоже обладает экстремальным свойством время пробега по нему меньше, чем по любому другому пути т Q в Р, частично проходящему во второй среде. [c.389]

В случае кристаллических порошков или поликристаллических тел структурное исследование можно выполнить по методу, предложенному в 1916 г. Дебаем и Шерером, а также Хеллом. Монохроматический пучок рентгеновских лучей направляется на столбик прессованного кристаллического порошка или палочку из поликрис-таллического материала (рис. 19.7) различные кристаллики препарата имеют всевозможные ориентации, так что падающий пучок образует с атомными плоскостями самые разнообразные углы. Лучи заданной длины волны к отразятся под разными углами от различных атомных плоскостей, соответствующих различным зна-ч, ниям 6 (см. (118.1)), создавая на фотопленке, окружающей препарат, соответствующую дифракционную картину. Рис. 19.8 воспроизводит полученную рентгенограмму в центре виден след прямого пучка вправо и влево расположены следы отраженных лучей, причем каждая пара симметричных следов соответствует отражению от кристаллографических плоскостей одного определенного направления. Зная длину волны % и измеряя углы скольжения 9, мы можем [c.411]

Контроль качества угловых швов тавровых соединений ведется на первом этапе со стороны стенки с целью выявления дефектов в корне шва. Контро п> производится пря-мьгм лучом. ПЭП перемещается вдоль шва на расстоянии L = 0,.5bjtga. Угол ввода луча обычно составляет а = 65°. Остальную часть сварного соединения прозвучивают однократно отраженным лучом (а - 50°]. ПЭП перемещают на расстоянии = 1,5bitga с отклонением (сканированием), равным катету Kj углового шва (рис. 6.33), [c.187]

Направляют лазерный луч на центр марки, а затем поднимают с помощью элевационного винта нивелира и наводят на зеркало 4, которое вращают вокруг горизошальной оси, добиваясь, чтобы отраженный луч попал на шкалу 2. По отклонению I световой точки лазерного луча от нулевого штриха шкалы судят об угле перекоса оси ходового колеса, которое вычисляют по формуле ( 89). [c.113]

Методом последовательных приближений оптическую ось лазерного прибора совмещают с вертикальной плоскостью створа АВ. Для этого ла <ерный луч наводят на зеркало 5, вращая которое в вертикальной и горизонтальной плоскостях, направляют отраженный от зеркала луч на осевую вертикальную лгшию экрана, установленного на противоположном колесе крана перпендикулярно оси АВ. Затем, вращая зеркало 5 в вертикальной плоскости, направляют отраженный от него луч на экран 2. Если отраженный луч не попадает на вертикальную ось координат, то с помощью микромет-ренного винта столика прибор перемещают в сторону световой точки на экране на величину отклонения, и действия повторяют до тех пор, пока точка О не будет находиться на линии АВ. [c.114]

Пусть монохроматическое рентгеновское излучение падает на кристалл в виде параллельного пучка (рис. 21) и взаи модействует со всеми атомами, находящимися в объеме, соответствующем глубине проникновения. Предположим, что в кристалле имеется семейство параллельных атомных плоскостей, расположенных по отношению к падающему лучу под углом 0. В результате взаимодействия рентгеновского луча с одной из этих плоскостей появится зеркально отраженный луч (под углом 0), интенсивность которого необычайно мала, так как рентгеновское излучение проникает в кристалл на значительную глубину. Поскольку эта плоскость [c.55]

Проникновение излучения в кристалл на значительную глубину приведет к появлению огромного количества лучей, отраженных от тысяч лараллельных плоскостей. Большая часть отраженных лучей ослабнет в результате интерференционного ослабления. Однако в отдельных случаях может быть интерференционное усиление излучения, но оно будет только в том случае, если разность хода лучей, отраженных от последовательных плоскостей, кратна целому числу длин волн. В случае зеркального отражения (см. рис. 21) эта разность равна 2d sin 0. Поэтому условие отражения Вульфа— Брэгга имеет вид [c.56]

Способ Лауэ. Монокристалл облучается рентгеновским излучением с непрерывным спектром. Каждая из систем параллельных поверхностей, проведенных через узлы монокристалла, отражает в соответствующем направлении определенную длину волны. Интенсивность отраженного луча будет заметной лишь в том случае, когда атомы в отражающих плоскостях расположены достаточно плотно. Поэтому практически будет наблюдаться отражение лишь от небольшого числа систем плоскостей. Если на пути лучей, отраженных от различных систем плоскостей, поставить фотопластинку, то на ней получается система пятен - лау-эграмма (рис. 28). Зная геометрию опыта, можно установить соотношение между лауэграммой, -Структурой кристалла и длинами волн. [c.51]

Если в катушке электромагнита тока нет, то подвижный магнит устанавливается в нулевое положение под влиянием противодействующего момента. Этот момент образуется натяжением бронзовых растяжек и постоянным магнитным полем I зазоре между пермаллоевыми наконечниками, направленным вдоль оси подвижного магнита. При протекании переменного тока по катушке электромагнита между его полюсами появляется магнитное поле, перпендикулярное оси подвижного магнита в пулевом положении. Переменное поле вызывает вибрацию подвижного магнита световая линия на шкале, получающаяся при отражении луча от зеркала, связанного с подвижным магнитом, размывается в полосу тон или иной плфины в зависимости от значения измеряемого переменного напряжения. [c.56]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...