Отражение лучей плоской поверхностью

Логические операции — Схемы для выполнения 592, 593 Логические устройства 593 Лупы — Технические характеристики 346 Лучи — Отражение на плоских поверхностях 318 — Преломление 318 [c.717]

Во-вторых, вследствие того, что волны в рассматриваемом случае отражаются не от плоской, а от выпуклой полупроводящей по верхности, процесс отражения сопровождается некоторым рассеянием энергии (отраженные лучи расходятся в большей степени, чем при отражении от плоской поверхности), что приводит к ослаблению поля отраженной волны. [c.81]

В хороших приборах поверхность пластинок делают плоской с точностью до 1/200 длины волны. Внутренние поверхности пластинок (между которыми заключается слой воздуха) серебрят или покрывают каким-либо другим металлом с целью обеспечить достаточно высокий коэффициент отражения лучей. Интерференционная картина получается в виде колец равного наклона (рис. 7.5), ибо на эталон направляют расходящийся пучок света от широкого источника (на рис. 7.4 представлен ход одного из лучей этого пучка). Порядок интерференции определяется расстоянием между пластинками (от 1 до 100 мм, в специальных эталонах — значительно больше, до 1 м). В соответствии с этим наблюдаемые порядки интерференции очень высоки. При = 5 мм /и 20 000. [c.139]

Принцип действия оптической схемы заключается в следующем. Плоская световая волна, получаемая от лазера 7 посредством оптического блока 6, после прохождения через исследуемую турбулентную среду попадает на клиновидную стеклянную пластину 5. На последней осуществляется выделение двух требуемых лучей. В качестве первого можно рассматривать, например, луч, проходящий путь В — Е — В, т. е. луч, отраженный от передней поверхности пластины. Тогда в качестве второго следует взять луч. [c.225]

Микроскопический метод исследования с помощью светового потока. Направляя луч монохроматического света через специальную линзу микроскопа на отражающую плоскую поверхность металла под углом 45°, с помощью другой линзы можно наблюдать отраженное изображение. При неровной поверхности световые лучи отклоняются на величину, пропорциональную высоте неровностей поверхности. Таким образом, если с небольшой площади поверхности полностью удалить металлическое покрытие и направить на этот участок луч света, то отклонение луча даст абсолютную величину толщины покрытия. В случае прозрачных покрытий, т. е. неметаллических (таких, как чистые оксидные покрытия, образуемые анодным окислением алюминия), получают отражение от поверхности как покрытия, так и основного металла, без снятия покрытия. Данный метод не приводит к нарушению покрытия. [c.140]

Преломление и отражение луча на плоских поверхностях. Плоские зеркала применяются для изменения направления светового луча или пучка лу чей. Плоское зер- [c.229]

Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина — ряд полос равной ширины. [c.155]

Из некоторых очень твердых сплавов приготовить опилки бывает невозможно, в этом случае период решетки определяется с помощью камеры обратного отражения, принцип работы которой показан на рис. 136. В этой конструкции пучок рентгеновских лучей падает перпендикулярно к плоской поверхности образца, и лучи, отраженные под большими углами, фиксируются иа плоской пленке. Обычно предусматривается устройство для движения или вращения образца в плоскости, совпадающей с его поверхностью, чтобы пучок рентгеновских лучей попадал на достаточную площадь [136]. Тогда да- [c.254]

При рассмотрении интерференции в плоских пластинах до сих пор были приняты во внимание только два луча либо луч, отраженный от первой поверхности, и луч, отраженный от второй поверхности, либо луч, прошедший через пластинку без отражения, и луч, отраженный от второй поверхности, затем от первой и прошедший через пластинку. В действительности в пластинке лучи могут отражаться дважды, трижды, четырежды и т. д. — много раз, особенно, если пластинка достаточно велика и падение луча близко к нормальному. В обычной стеклянной пластинке уже после второго отражения поток энергии настолько слаб, что практически влиянием многократных отражений пренебрегают. Иная картина получается, если поверхности, ограничивающие плоскопараллельную пластинку, обладают высоким коэффициентом отражения. Тогда влияние многократных отражений делается заметным как в проходящем через пластинку свете, так и в отраженном. Причем следует подчеркнуть, что расстояние между полосами и разность хода между соседней парой лучей остаются прежними и только сильно меняется распределение энергии (интенсивность) в интерференционной картине. Если для двухлучевой интерференции это распределение соответствовало обычному закону при суперпозиции дву < волн, т. е. [c.29]

Сущность этого метода становится очевидной при рассмотрении отражения излучения между двумя плоскими поверхностями А и Аг (фиг. 3.17). Примем для простоты, что поверхность Ai отражает диффузно, а поверхность Лг —зеркально, причем обе они излучают диффузно. Рассмотрим диффузное излучение элементарной площадки dAi.na поверхности Ai, падающее вновь на Ai после зеркального отражения от Л2 (фиг. 3.17). Прослеживая ход лучей, обнаруживаем, что излучение, испускаемое dAi, достигает Ai после одного зеркального отражения от, Лг, как если бы оно исходило от диффузного источника йАщ), являющегося мнимым изображением dA относительно поверхности Ла. Этот факт составляет основу метода мнимого изображения. [c.162]

При контроле стыковых сварных соединений ультразвук вводят в металл с помощью наклонных преобразователей (искателей) (табл. 5.14). Различают прозвучивание прямым, однократно и многократно отраженным лучом (рис. 5.17). Тип преобразователя и гго параметры (угол наклона, размеры излучателя, частота, способ прозвучивания и перемещения преобразователя) определяются типом и размерами сварного соединения, а также характеристиками дефектов, подлежащих выявлению. Угол ввода должен быть таким, чтобы свести к минимуму расстояние от преобразователя до сварного шва. В то же время угол падения луча на плоскость дефекта (для обнаружения трещин, непроваров) должен быть близок к нормальному. Многократно отраженный луч используют при контроле сварных соединений трубных систем котлов с толщиной стенки 3—5 мм. При диаметре труб более 200 мм применяют преобразователи с плоской поверхностью. При этом радиус кривизны [c.181]

Если в фокальной плоскости объектива расположена плоская поверхность объекта 2 так, чтобы лазерный свет, отраженный или прошедший через нее, проходил через объектив 1 и далее через фотопленку 3, освещенную опорным пучком 4, то регистрируется Фурье-голограмма (рис. 73). При этом лучи света, выходящие из точки 5 поверхности объекта в разных направлениях, на выходе объектива образуют параллельный пучок, т. е. проходя г через фотослой пленки 3 в одном направлении. [c.130]

Плоские пластины из прозрачного диэлектрика часто применяют как френелевские отражатели для отделения части пучка. Обычно в видимой и ближней инфракрасной областях спектра пользуются стеклом и плавленым кварцем, а в инфракрасной области — германием. Для проведения точных измерений пластинки должны быть гладкими, чрезвычайно плоскими и иметь пренебрежимо малый клин, чтобы не искажать кривизну волнового фронта. Так как френелевское отражение происходит на диэлектрической поверхности, разделительная пластинка должна быть ориентирована так, чтобы отраженный свет не попадал в резонатор лазера. Кроме того, если желательно получить отраженный луч хорошего качества, то, как показано ниже, должны быть известны угол между направлением распространения пучка и пластинкой и поляризация. [c.21]

Принцип действия интерферометра представлен на фиг. 15. Две пластины I и II, плоские поверхности которых Аш А параллельны и расположены на расстоянии d одна от другой. Эти поверхности покрыты полупрозрачной зеркальной пленкой металла. Пучок света 00, падающий на интерферометр, испытывает многократное отражение от зеркальных поверхностей и образует по выходе систему параллельных лучей 1, 2, 3 ж т. д., которые вследствие их когерентности интерферируют и создают кольца равного наклона. Порядок [c.49]

Геометрическая оптика, отвлекаясь от волновой природы света, описывает его распространение с помощью лучей. При этом оказывается, что поведение лучей при Я. 0 определяется теми же законами, что и для плоских волн законы преломления и отражения, установленные для плоской волны, падающей на плоскую границу раздела, справедливы в приближении геометрической оптики при более общих условиях. Например, при падении луча на поверхность линзы направление, интенсивность и состояние поляризации отраженного и преломленного лучей можно найти из соответствующих формул для плоских волн. [c.329]

Отражение световой волны, происходящее на границе двух различных сред (при соотношении щ Ф пг), неразрывно связано с явлением преломления луча во вторую среду. Если показатели преломления обеих сред одинаковы, то отражения не происходит даже в том случае, когда среды различаются по другим свойствам. Законы отражения принимают простой вид для случая оптически гладкой плоской поверхности раздела. При выполнении этого условия каждый луч падающего пучка света отражается так, что угол падения, образуемый лучом с нормалью к поверхности в точке его падения, равен углу отражения причем оба луча (падающий и отраженный) лежат в одной плоскости с нормалью к поверхности. Эта плоскость называется плоскостью падения. [c.56]

Кроме такого способа осуществления когерентных колебаний можно получить интерферирующие лучи путем деления падающего на интерферометр параллельного пучка по амплитуде (рис. 1.3). В этом случае, как видно из рисунка, имеет место частичное отражение падающего луча 8А (отраженный луч Л5 ) и частичное прохождение этого луча во вторую среду, что и означает деление первичного луча по амплитуде. Луч АА, отраженный от второй поверхности пластины и вышедший вновь в первую среду (08") когерентен с первым лучом А8, отраженным от первой поверхности (ВО — фронт плоской волны). Такой вид интерференции принято называть интерференцией Ньютона. Интерференция может наблюдаться в фокальной плоскости объектива, если его расположить на пути распространения когерентных лучей. [c.20]

Если на сферу радиусом а падает плоская волна, то поле отраженного луча /(в) [см. выражение (2.12.42)] пропорционально величине где и Р2 — радиусы кривизны волнового фронта, отраженного от поверхности сферы. Учитывая затем соотношение (2.11.26), мы находим, что / в) ос а/2. Таким образом, сфера, у которой радиус больше длины волны, рассеивает свет изотропно. [c.469]

Интерференционная картина возникает при наложении плоской стеклянной пластины 1 на зеркальную поверхность 2 под углом а, близким к нулю (рис. 89,а). Луч света / делится на нижней грани пластины на два луча. Отраженный луч II выходит из пластины, а преломленный луч III проходит воздушный зазор, отражается от поверхности и снова проходит стеклянную пластину. После выхода из пластины лучи II и III интерферируют. Интерференционную картину можно наблюдать визуально или через окуляр. [c.124]

При выводе законов Снеллиуса и Френеля мы использовали понятие о зеркальном отражении и преломлении луча от поверхности раздела сред. Эти законы справедливы и для пучков лучей, отражающихся от абсолютно плоской поверхности. В этом случае (рис. 3) справедливы соотношения [c.55]

Рис. 3. Отражение пучка лучей от абсолютно плоской поверхности

Отражение излучения от реальных материалов носит, как правило, сложный характер. Лишь для очень чистых плоских поверхностей может быть рассмотрен зеркальный характер отражения. При этом, как уже отмечено в главе 3, для пучков света справедливы законы Снеллиуса или Френеля, полученные для одного луча. В обозначениях, принятых выше, зеркальный коэ( ициент отражения может быть выражен в виде [99] [c.246]

В статье auses finales мы видели, что принцип минимальности времени терпит фиаско в вопросе об отражении в вогнутых зеркалах. Кажется, что так же дело обстоит с минимальностью действия, так как тогда путь светового луча есть максимум, а действие — также максимум. Правда, что здесь можно было бы подогнать этот принцип, постоянно относя отражение к плоским поверхностям но, быть может, противникам конечных причин этот ответ придется не по вкусу лучше сказать, как мне кажется, что здесь действие есть некоторый максимум, а в других случаях — некоторый минимум. Будет не меньшей заслугой впервые применить этот принцип к преломлению, и дело будет обстоять, как и с принципом сохранения живых сил, который прилагается к удару упругих тел, но не имеет места в твердых телах. [c.112]

Качество 3. тем выше, чем ближе форма его поверхности к математически правильной (сфсрич., ци-лнндрич., параболопдальной и т, д.). Широко применяют также плоские 3., к-рые служат для изменения направления световых лучей в соответствии с законом отражения от плоской поверхности. Положение изоб-ражеиия, даваемого 3., может быть получено из общих законов геометрической оптики. Если отражающая поверхность обладает осью симметрии, то положение предмета и его изображения связаны с радиусом кривизны г у вершины О рис. 1) соотношением [c.83]

Рассмотрим два параллельных серых тела бесконечной протяженности с плоскими поверхностями площадью А каждая. Считая расстояние между поверхностями относителы о незначительным (по сравнению с их линейными размерами — длиной и шириной), можно положить, что все лучи, посылаемые одним телом, полностью попадают на другое. Примем, что коэффициенты пропускания этих тел Tj = т.2 = 0 и между поверхностями находится теплопрозрачная (диатермическая) среда. Обозначим через j, Pi и и УИ. , а.,, р. и Т-2 соответственно излучательиости, коэффициенты поглощения отражения и температуры поверхностей первого и второго тел. [c.390]

На гипотенузную сторону призмы 10 (см. рис. 107) наклеена плоскопараллельная пластинка, покрытая отражающим слоем по плоскости А В п частично — на длину D по плоскости, прилегающей к призме. Отражающие поверхности покрытий в обоих случаях направлены в сторону вершины прямого угла призмы. Пучок 1, идущий от одного из клиньев подвижной пары, пройдя толщу призмы и непокрытый участок поверхности пластины DE, отразится от покрытой повер.хности АВ и пойдет по стрелке в направлении диаф рагмы. Покрытый участок D отрежет ту часть пучка 1, отраженные лучи которого будут находиться правее точки D. То же самое произойдет и с пучком II. Отразится от плоскости СЕ только та часть пучка, которая упадет на участок D. Часть пучка, расположенная ниже точки D, пройдет непокрытую часть плоско сти СЕ и будет после отражения задержана покрытым участком D. Таким образом, линия раздела изображений штрихов представляет собой изображение линии, проекция которой изображена на рис. 112 точкой D. [c.131]

ЗЕРКАЛЬНОЕ ОТРАЖЕНИЕ —направленное (или ре-гу.иярное) отражение светового луча от гладкой плоской поверхности, при к-ром выполняются осн. законы отражения света. 3. о. происходит, если высота h ми-кpoпopoвiю тeй отражающей поверхности намного меньше длины световой волны Я,. Практически весь свет (>99%) отражается зеркально, если А,<0,01 Я. Поверхность, отражающая свет диффузно в видимой области спектра, в более длинноволновой ИК-области отражает зеркально. Спектральный состав, интенсивность и фаза эл.-магн. волны зеркально отражённого света зависят от условий освещения (угол падения, апертура пучка и др.), оптич. свойств вещества и состояния отражающей поверхности. [c.85]

Если сплав слишком тверд и из него нельзя приготовить опилки, рентгеновские отражения под малыми угл>ами для определения фаз могут быть получены с плоской поверхности образца в камере для шлифа. В этом устройстве пучок рентгеновских лучей падает под небольшим углом на плоскую поверхность образца, помепценного в центре камеры. Отражения фиксируются на цилиндрической пленке, ак и в методе Дебая-Шерера. Чтобы обеспечить отражения от достаточного числа кристаллов, образец должен совершать колебательные движения при современной технике съемки могут успешно исследоваться образцы с достаточно большим размером зерна. Соответствуюпцая конструкция камеры и держатели образца позволяет зафиксировать на одной стороне пленки отражения в интервале углов примерно 5—87 , а на другой 55—87°. Таким образом, камера может применяться для измерений периода решетки при использовании с обеих сторон отражений под большими углами или для определения фаз за последние годы применение этого метода исследования значительно возросло. [c.255]

Метод Тваймана вызывает два возражения а) он требует образцов, изготовленных весьма тщательно, с боковыми поверхностями оптически плоскими и параллельными Ь) при применении этого метода возникают ошибки, оставленные без внимания в вышеизложенном рассуждении, но которые необходимо учесть если желают достигнуть высокой точности. Главная из этих ошибок является следствием того, что после изгиба поверхности стержня уже не параллельны. В соответствии с этим отраженный луч не проходит обратно по своему первоначальному направлению и пересекает разные уровни в стержне на своем пути туда и обратно. Это вводит весьма существенную поправку, [c.209]

Принципиальная схема многолучевого интерферометра для исследования неровностей поверхности приведена на рис. 132 [281. Основной частью интерференционной схемы являются пластина 4, Покрытая с нижней стороны полупрозрачным отражающим слоем, и испытуемая поверхность 5. Коэффициенты отражения пластины и испытуемой поверхности обычно подбирают близкими по значению. Между зеркальной пластиной и образцом возникает интерференция многократно отраженных лучей. Интерференционная картина, локализованная на поверхности пластины, рассматривается через микроскоп 1, 2, 3 с увеличением 100><. С помощью принципиальной схемы, изображенной на рис. 132, можно наблюдать интерференцию как в клинообразной, так и плоскоггараллельиой пластине в первом случае эго будут полосы равной толщины. Наряду с полосами равной толщины используются полосы равного наклона, которые позволяют исследовать не только форму плоской поверхности, но и контролировать плоскопараллельность, определяя при этом не только угол клина, но и знак изменения толщины. [c.221]

Использование отраженного света <). Влияние отражающей поверхности деформированной пластинки на изменения направлений двух смежны. лучей света может быть использовано для вычисления кривизн d wjdx , d wjdy и d wjdxdy, а следовательно, также и для определения значений изгибающих и крутящих моментов пластинки. Тому же назначению может служить и искажение прямоугольной оптической сетки, проектируемой иа первоначально плоскую поверхность пластинки. К особо ценным результатам приводит этот путь для пластинок на упругом основании, механические свойства которых никогда не удается выразить чисто аналитическими средствами. [c.403]

Картину электронной дифракции — электронограмму — получают как на просвет от образца толщиной порядка нескольких десятков нанометров, так и на отражение от плоского образца, поставленного так, что электронный луч практически скользит по его поверхности, образуя с ней угол в несколько минут. Благодаря чрезвычайно сильному рассеянию электронов при почти полном отсутствии поглощения, а также использованию при получении электронограмм почти всей мощности электронного пучка интенсивность дифракционных максимумов электроно-граммы очень высокая. Электронограмму можно получить за доли секунды. Однако в связи с особенностями рассеяния электронов на электронограммах не удается получить интерференционные максимумы с высокими индексами кристаллографических плоскостей, что весьма обедняет информацию. Так как углы дифракции 6 малы, погрешность в определении межплоскостных расстояний по элекТронограммам велика несмотря на острый профиль интерференционных линий она составляет обычно несколько десятков процентов. [c.65]

В случае падения луча (или плоской волны) на прямой двугранный угол (рис. 21) происходит двукратное отражение луча от граней угла, приводящее к параллельному его смещению. При падении на двугранный угол сферической волны от источника О отражение происходит как от плоскости MN, отраженные лучи как бы излучаются мнимым источником О, но только нижние лучи становятся рсрхнилн , и наоборот. Если двугранный угол образуется поверхностями твердого тела, то прп каждом отражении может происходить трансформация волн, как показано на рис. 14 и 15. Вследствие этого амплитуда однотипной волны, отраженной в сторону источника излучения, может существенно уменьшиться при определенных углах падения (рис. 22). Если волна падает под большим углом к одной из граней, то в результате интерференции падающей и отраженной волн отраженная волна ослабляется. Это явление не учтено на рис. 22, трансформированные волны не показаны. [c.175]

Другим примером подобных устройств может служить рефрактометр, изображенный на рис. 519. Здесь Р — стеклянный полуцилиндр, плоское сечение которого находится в контакте с контролируемым раствором. На границу стекло—раствор надает расходящийся пучок света. Частично он испытывает полное внутреннее отражение. Луч 1 является предельным. Отраженный свет попадает на фотоэлемент Ф, который соединен со специальным электронным устройством ЭП, собранным по мостовой схеме.-Мостовая схема отрегулирована так, что ее равновесие сохраняется нри некоторой величине светового потока, попадающего на фотоэлемент. С изменением показателя преломления раствора предельный угол полного внутреннего отражения меняется. При этом величина светового потока, попадающего на фотоэлемент, также будет меняться. Разбалансированная схема ЭП приводит в движение мотор, который поворачивает фотоэлемент относительно центра цилиндрической поверхности до восстановления равновесия моста. Таким образом, в данном случае мы имеем следящее устройство, которое способно не только сообщить о достижении заданной концентрации раствора, но и показывать ее значение величиной угла поворота трубы с фотоэлементом в любой момент времени. [c.698]

Чтобы включить в рассмотрение отражающие поверхности (плоские и сферические), вводят следующее правило когда луч распространяется в отрицательном направлении оси z, показатель преломления среды, через которую он проходит, считается отрицательным ( —п). Тогда закон отражения 02 = —0 формально можно рассматривать как частный случай закона преломления при /12 = —П . Матрица преобразования параметров луча при отражении от сферической поверхности имеет точно такой же вид (7.16), как и матрица преломления, если в выражении для оптической силы Р заменить п на — п, P= — 2nJR. Для выпуклого зеркала R>0 и оптическая сила отрицательна (Р<0), для вогнутого — положительна (Р>0). [c.339]

Структура поля. Чтобы разобраться в полях, возникающих при дифракции на теле, следует выделить отдельные области, в которых структура поля примерно известна. Рассмотрим дифракцию поля точечного источника или плоской волны на непрозрачном теле произвольной формы (рис. 22.1). Прежде всего, попытаемся представить себе геометрооптическую структуру поля. За телом возникает тень, повторяющая его контуры в тень лучи не проникают. В точку наблюдения Гь которая находится в освещенной части пространства, лучи могут приходить либо непосредственно от источника, либо отразившись от поверхности тела. Разумеется, луч приходит в г только в том случае, если выполнено условие применимости геометрической оптики размер первой зоны Френеля на поверхности тела много меньще характерного масштаба тела. При этом отраженные лучи могут образовать каустические поверхности. Лучи могут пересекаться на одной линии или в одной точке — о полях вблизи фокуса см. п. 23.5. Геометрическая оптика не может [c.238]

Серьезным ограничением на запасенную энергию возбуждения в лазере, как уже отмечалось, могут стать паразитные моды, возникающие при наличии внутри активного элемента замкнутых траекторий лучей, на которых усиление превосходит потери. В наибольшей степени этому подвержены усилители с активными элементами в виде плоских дисков (круглых или прямоугольных) или так называемых активных зеркал [10, 691, имеющих большие полированные рабочие тюверхности. Условия возникновения паразитных мод в дисковых усилителях рассмотрены, например, в [70, 71]. Для лучей, распространяющихся зигзагообразно по замкнутому пути внутри усиливающего диска диаметром о и испытывающих ряд полных внутренних отражений от рабочих поверхностей и отражений от боковой поверхности с коэс ициентом отражения условие возникновения незатухающих паразитных мод имеет вид [c.88]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...