Спектр отражения

Все оптические коэффициенты являются функциями длины волны падающего излучения. Зависимость коэффициента поглощения от длины волны падающего света а(Х) или от энергии n(Av) называют спектром поглощения вещества. Зависимость R k) или R hv) называют спектром отражения. [c.306]

Зависимость коэффициента отражения от частоты К(й)) или длины волны К (Я) называется спектром отражения. [c.156]

Измерение координат точек дефекта. Особенно интенсивными источниками дифракционных волн являются особые точки, лежащие на границе свет— тень, где поверхность дефекта имеет большую кривизну. Особыми точками являются, в частности, края плоскостного дефекта (см. рис. 57, е). Если поверхность дефекта гладкая, то зеркально отраженная волна не будет принята преобразователем 1, но краевые точки дадут сигналы Ti ч Т4. Преобразователь перемещают по контактной поверхности до получения максимального эхо-сигнала от краевых точек, а затем измеряют их координаты и таким образом оценивают размер и ориентацию дефекта. Сигналы Ti и Tфазу начального колебания (в отличие от сигналов Т—Т и T—R—Т2 на рис. 57, а). Интерференция сигналов Tj и является причиной больших осцилляций в спектре отражения от плоского дефекта (см. рис. 56 в и г). [c.249]

В последние годы разработаны способы определения конфигурации, а также размеров дефектов, основанные на измерении амплитудно-временных параметров волн, дифрагированных и трансформированных на дефекте, а также на результатах анализа спектра отраженных от него сигналов. [c.245]

При ручном распознавании, как было показано выше, оператор по тем или иным особенностям спектров отражения (изрезан-ность, периодичность и др.) относит дефект к одному из трех классов. [c.278]

Рис. 1. Вверху дисперсионные кривые показателя преломления воздуха, алмаза и среды пз в окрестности полосы поглощения Хз, Внизу спектры отражения границы сред П1 и Из А — алмаз — ионный кристалл, ф > 60 в — воздух — ионный кристалл, ф = 0°.
На рис. 9.11 показаны спектры излучения Солнца и абсолютно черного тела в сравнении со спектром отражения селективного покрытия черный хром . [c.490]

Если в небольшом интервале видимых излучений отражательная способность веществ не может изменяться сильно, то в области инфракрасных излучений дело обстоит иначе. Здесь часто наблюдаются значительные изменения, что особенно важно для изучения спектров отражения. [c.79]

Изучение спектров отражения инфракрасных лучей твердыми телами полезно не только потому, что помогает использованию этих лучей, но еще и потому, что может дать полезные сведения о природе и химическом составе самих отражающих тел. [c.84]

Анализ с помощью инфракрасных лучей осуществляется, главным образом, по спектрам поглощения, но для изучения тел, сильно поглощающих даже в небольшой толщине, следует обратиться к спектрам отражения. Этим способом можно исследовать также и те вещества, которые физически мало приспособлены для измерения пропускания ввиду наличия трещин, пузырьков воздуха, неправильных линий раскалывания и т. п. Наконец, этот способ применяют и для исследований в длинноволновой области, где все вещества становятся весьма непрозрачными. [c.84]

Анализ с помощью спектров отражения может быть более глубоким, если применять поляризованное излучение. Возможно также разложение сложных спектральных полос на отдельные максимумы, соответствующие направлениям колебаний различных молекул [Л. 1, стр. 129 и сл.]. [c.84]

На примере сульфатов хорошо видны аналитические возможности, предоставляемые спектрами отражения (рис. 53—55). [c.86]

В растворах наблюдаются перемещения максимумов коэффициента отражения, которые позволили осуществить научные исследования, касающиеся химической теории растворителей. Точно также изучение спектров отражения серной кислоты и смесей серной кислоты с водой позволили Ангстрему предложить интересные гипотезы о структуре этих смесей. Органические жидкости, как правило, плохо отражают инфракрасные излучения. [c.126]

Исследование спектров пропускания относительно непрозрачных карбонатов дает несколько менее показательные сведения касательно группировки СО2, нежели те сведения, которые можно получить при изучении спектров отражения. Тем не менее, на участке избирательного отражения от 7 до 14 мкм находят всегда отчетливые полосы поглощения. [c.127]

Отметим, что при снятии спектра поглощения и оптимальной толщине образца (А///)шах = Ay/V. т. е. чувствительность несколько выше. Таковы общие закономерности, которые необходимо учитывать при постановке экспериментов, связанных с использованием спектров отражения для анализа тонкой структуры спектров поглощения. [c.24]

Рис. 1.13. Ближняя тонкая структура 11 щ-спектров отражения 51
Еще одна интересная возможность использования метода отражения рентгеновского излучения связана о чувствительностью тонкой структуры спектров отражения к структурным нарушениям в кристалле (например, к наличию радиационных дефектов). Как было показано в работе [34], тонкая структура в области 100—104 эВ в спектре 81 связана о наличием в монокристалле дальнего порядка. [c.39]

В п. 1.4 мы говорили о возможности влияния структурных неоднородностей на рассеяние рентгеновского излучения при отражении (подробнее см. работы [5, 281). Совмещая возможности регистрации индикатрисы рассеяния и спектров отражения, можно надеяться на детальное исследование структурных дефектов в приповерхностном слое и решение связанных о ним прикладных задач. [c.40]

РИС. 6.8. Спектр отражения брэгговского отражателя, имеющего 15 периодов при различных углах падения излучения, а — ТЕ-волны 6 — ТМ-волны. Показатели [c.192]

В стороне от основного пика при А/3 = О спектр отражения также состоит из ряда побочных максимумов по обе стороны от основного пика. Эти побочные пики имеют место приблизительно при 5L = i(p -ь 1/2)1г (р = 1, 2, 3,. ..), что соответствует А/3 = = 2[к к + (р + l/2) (ir/L) ] . В соответствии с (6.6.10) максимальный коэффициент отражения для этих побочных пиков запишется в виде [c.215]

Рнс. 6.7. Графики спектров отраженных сигналов в различные последовательные моменты времени. По оси ординат отложен логарифм квадрата амплитуды спектра [c.236]

В точке К отраженная волна встречается с волновой поверхностью Фив результате интерференции образуются стоячие волны. Они имеют пучности в тех местах, где фазы волн от источника и от объекта совпадают, а узлы - где фазы противоположны. Теперь, если зафиксировать волновой фронт этой стоячей волны, то можно предположить, что в нем содержится не только спектр отраженного предметом излучения, но и все компоненты волнового поля - амплитуда и фаза. Сведения об этих параметрах заключены в причудливых изгибах и изменениях интенсивности поверхностей пучностей стоячей волны. [c.57]

Рис. 3. Спектры отражения ДОСП с Н О Ц—6) и Н 0-ЬПг"Оз —3 ) при различных дозах у-облучения.
В далёких УФ- и ИК-областях, в к-рых диэлектрики характеризуются сильным поглощением (х > 1), козф. О. с. достигает значений Л > 0,9. В этих спектральных областях происходит резкое изменение дисперсии показателя преломления напр., для ионных кристаллов значения п изменяются от 0,1 до 10. Вследствие аномальной дисперсии (к-рая всегда есть в области сильного изменения х) появляются две характерные точки пересечения кривых дисперсий граничащих сред, для к-рых ЯJ — я,, а показатель поглощения для одной из этих точек X < 0,1, а для другой х > 1. В результате и в спектре отражения наблюдается минимум в области малого поглощения (х < 0,1) напр., для кварцевого стекла вблизи оси. полосы поглощения А, = 9 мкм величина Д — 0,00006 для х > 1 Л — 0,75. На рис. 1 (вверху) изображены дисперсионные кривые я(Х) для двух первых оптически прозрачных сред — воздуха ( (В = 1) и алмаза (nJg ) и для второй среды в окрестности её полосы поглощения к). Для воздуха и второй среды при равенстве Ящ— г (точки 1 в. 2) наблюдается минимум в спектре отражения (рис. 1, внизу), когда Хг < 0,1 на длине волны 1. Для алмаза и второй среды при равенстве Пу, (точки 3 в 4) минимум в [c.510]

Спектры отражения в УФ-, видимой и ИК-областях типичного представителя металлов (Аи) и диэлектриков (а-кварц) представлены на рис. 3. Хорошо виден об-Щий резонансный характер О. с. в УФ-области у 512 а-кварца и золота, тогда как в ИК-области обнаружива- [c.512]

Вопрос о связи физико-химических свойств веществ и цветовых характеристик, определенных по спектрам отражения шш поглощения (цветовые координаты, светлота, тон) актуален как с фундаментальной научной, так и с прикладной точки зрения. Прогнозирование свойств по цветовым характеристикам и определение цветовых характеристик по свойствам позволило бы сократить время любого эксперимента. Цель работы - исследование корреляционной связи между совокупностью свойств нефтехимических систем и их цветовыми характеристиками. Изучены 17 легких и высокомолекулярных систем (углеводороде топлива, крекинг -остатки, и Т.Д.). Цветовые характеристики указанных веществ определялись для их разбавленных толуольных растворов по спектрам поглощения в [c.77]

Твердые вещества и жидкости, как правило, обладают значительным поглощением. Большая часть веществ уже в слое толщиною всего в несколько микронов является очень непрозрачной для излучений, что объясняет невозможность нахождения среди этих материалов таких тел, которые обладали бы достаточной прозрачностью для изготовления из них призм или фильтров. Но эта непрозрачность позволяет получать спектры поглощения, используя тонкие слои, т. е. весьма малые количества вещества спектры поглощения содержат максимумы и минимумы, характеризующие некоторые колебания молекул, что и позволяет использовать их для анализа. Спектры поглощения в этом отношении представляют, в общем, больщий интерес, нежели спектры отражения, потому что их легче получать и потому что участки непрозрачности более заметны и более отчетливы, чем участки избирательного отражения. В некоторых случаях те и другие спектры могут дополнять друг друга. [c.127]

Филатова Е. О. Тонкая структура спектров отражения и оптические постоянные кремния и его соединений в области ультрамягкого рентгеновского излучения Автореф. дисс.. .. канд. физ.-мат. наук. — Л. ЛГУ, 1984. — 173 с. [c.45]

Таким образом, для двухкомпонентных зеркал нельзя одновременно получить высокое разрешение и подавить второй порядок в спектре отражения. Однако МИС с переменной плогностью вполне могут удовлетворять этим двум требованиям. Для этого следует принять параметр Р равным 0,5 и тем самым избавиться от второго порядка, а требуемое разрешение получить путем уменьшения разности плотностей пленок. [c.104]

РИС. 6.9. а — микрофотография под сканирующим электронным микроскопом (с увеличением И ОООх) тридцати пар слоев GaAs (темные полосы) и Al jGag As (светлые полосы), выращенных на подложке из GaAs 6— микрофотография (с увеличением 55 ОООх), показывающая, что среда имеет период Л = 0,185 мкм в — измеренный спектр отражения света, падающего из воздушной среды [3]. [c.194]

Таким образом, линнмановская фотография выбирает из сплошного спектра излучения источника и отражает отдельные монохроматические составляющие, воспроизводя в результате весь спектр зарегистрированного на ней излучения. Те монохроматические составляющие, которые не были зарегистрированы на фотографии, проходят через нее беспрепятственно (вид спектров отраженного и прошедшего через. фотографию излучения приведен на графиках end). [c.42]

Хотя расчеты энергетических зон были проведены Канем и Лайендекером для SrTiOs, в работе [6] предлагается распространить эти результаты, по крайней мере каче-, ственно, на широкий класс кислородно-октаэдрических сегнето-электриков. Основанием для этого послужили эксперименты Куртца [14], который, анализируя УФ спектры отражения, показал, что общая особенность зонной картины, приведенной на рис. 8.5, относится ко всем кислородно-октаэдрическим сегнетоэлектрикам. [c.343]

Последующие испытания локатора проводились по ИСЗ типа GEOS-in, оборудованному уголковым отражателем для длины волны 10,6 мкм диаметром 3,8 см [75, 94]. На рис. 6.7 представлены спектры отраженных сигналов, зарегистрированные в последовательные моменты времени. В течение времени регистрации дальность до цели была 1006 км, а доплеровский сдвиг составлял 64 МГц. Зондирование цели производилось импульсами излучения длительностью 4 мс. Измерения соответствовали элементу траектории вблизи точки наименьшего удаления ИСЗ. В связи с этим скорость изменения доплеровского сдвига частоты была значительной— 10 МГц/с, т. е. за время длительности импульса частота отраженного излучения изменялась на 40 кГц. Что учитывалось при обработке. [c.236]

Сильное расширение пика поглощения или испускания ИК-света у малых ионных частиц по сравнению с массивным кристаллом, природа которого пока неясна, полностью устраняется при группировании, например, кубических частиц MgO в сферические агрегации [999]. Исследование температурной зависимости спектров отражения и испускания частиц NiO показало, что с ростом температуры от 300 до 1273 К резонансные пики смещаются к низкойчастоте и расширяются [998]. Смещение пика при сот- объясняли ангармоничностью фононных колебаний. У малых частиц эта ангармоничность была больше, чем в массивном кристалле. [c.309]

Смотреть страницы где упоминается термин Спектр отражения : [c.308] [c.279] [c.491] [c.179] [c.510] [c.66] [c.67] [c.79] [c.116] [c.128] [c.411] [c.34] [c.39] [c.191] [c.661] [c.308] [c.44]

Лазерная термометрия твердых тел (2001) -- [ c.44 , c.45 , c.47 , c.117 ]

ПОИСК

Дисперсия и отражение ионных кристаллов в инфракрасной области спектра

Отражение

Приложение В. Дифракция рентгеновских лучей на кристаллах. Эквивалентность условий Лауэ и концепции отражения Брэгга Приложение Г. Электромагнитный спектр

Сравнение с экспериментальными спектрами поглощения и отражения

Экситонные эффекты в спектрах отражения и пропускания

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...