Источники вторичные

Знание пространственно-энергетического распределения нейтронов в активной зоне и защите дает возможность определить интенсивность источников вторичного у-излучения, а затем и распределение этого излучения в защите. [c.8]

Исследуем довольно общий случай, когда распределение источников вторичного у-излучения по рассматриваемому слою защиты толщиной й описывается суммой двух экспонент [c.61]

Определение пространственно-энергетического распределения интенсивности источников вторичного у-излучения. [c.78]

Угол между перпендикуляром к границе раздела двух сред и лучом называется углом падения волны. Если угол падения волны отличен от нуля, то падающая волна достигает различных точек границы раздела двух сред в разные моменты времени. Когда участок падающей волны, отмеченный лучом А А (рис. 223), достигнет 1 раницы раздела двух сред, точка А согласно принципу Гюйгенса становится источником вторичных волн. За то время, пока границы раздела достигнет участок волнового фронта, отмеченный лучом В[В, вторичные волны от точки А распространятся на расстояние R = vAt, Положение фронта отраженной волны в тот момент времени, когда луч В[В достигнет границы раздела в точке В, отмечено на рисунке прямой BD. [c.225]

Кроме того, наличие фазового сдвига, равного я/2, указывает на сдвиг фазы между колебаниями в реальной световой волне и во вторичных волнах Френеля. Поэтому в соответствии с выводом, полученным в 38 с помощью рассмотрения векторной диаграммы, источникам вторичных волн следует приписывать фазу, увеличенную на /2Я по сравнению с фазой световых колебаний, т. е. ввести член /гя в аргумент косинуса в выражении (43.1). [c.190]

Падающая волна возбуждает в среде II (рис. 23.4) колебания электронов, которые становятся источником вторичных волн эти волны и дают отраженный свет. Направление колебаний совпадает с направлением электрического вектора световой волны ), т. е. для среды II оно перпендикулярно к ОС. Мы можем представить себе это колебание как сумму двух колебаний, одно из которых (а) лежит в плоскости АОС и другое (р) — к ней перпендикулярно. Другими словами, мы изображаем колебание электронов в молекуле как суперпозицию колебаний двух элементарных излучателей, оси которых направлены соответственно по а и р. [c.481]

Вернемся еще раз к вопросу об оптической однородности среды, нарушение которой, как мы видели, является физической причиной явления рассеяния света. Как сказано, в случае оптически однородной среды близкие между собой малые участки ее, равные по объему, становятся под действием световой волны источниками вторичных излучений одинаковой интенсивности. Это означает, что соответствующие участки приобретают под действием переменного поля световой волны равные между собой электрические моменты, изменением которых со временем и вызывается вторичное излучение. Условие оптической однородности означает, что показатель преломления для разных участков нашей среды имеет одинаковое значение. Отсюда следует, что при постоянстве показателя преломления во всем объеме среды нельзя ждать явлений рассеяния света. [c.577]

Падающая световая волна возбуждает в среде колебания электронов, которые становятся источниками вторичных волн. В случае изотропных молекул их направление колебаний совпадает с направлением электрического вектора световой волны. Это колебание можно представить как сумму двух колебаний, одно из которых а лежит в плоскости АОС, а другое р — к ней перпендикулярно (рис. 16.10). Другими словами, колебания электронов в молекуле изображаются как суперпозиция колебаний двух элементарных излучателей, оси которых направлены соответственно по аир. Излучение каждого из них может быть представлено диаграммой, изображенной на рис. 16.4, ориентированной в соответствии с направлениями аир. [c.18]

В случае однородной среды рядом расположенные малые объемы среды становятся при воздействии электромагнитной волны источниками вторичных волн одинаковой интенсивности. Это означает, что они приобретают под действием переменного поля электромагнитной волны равные между собой электрические моменты, изменением которых во времени и вызывается вторичное излучение. Но величина суммарного электрического момента определяет собой диэлектрическую проницаемость и показатель преломления среды. Таким образом, если показатель преломления для разных участков среды имеет одинаковое значение, такая среда является оптически однородной. Отсюда следует, что при постоянном [c.111]

Формула Брэгга - Вульфа. Кристалл представляет совокупность атомов или молекул, закономерно и упорядоченно расположенных в узлах пространственной кристаллической решетки. Поведение волн анализируется с помощью принципа Гюйгенса - Френеля, который позволил успешно построить теорию интерференции и дифракции электромагнитных волн в световом диапазоне. В соответствии с этим принципом каждая точка волнового фронта рассматривается как источник вторичных волн, которые интерферируют между собой с учетом возникающих при этом фазовых соотношений. Отражение волны от плоской поверхности сводится к тому, что каждая точка поверхности становится источником вторичных волн. Они интерферируют между собой и дают отраженную волну под углом отражения, равным углу падения. [c.48]

При падении волны на кристалл узлы его кристаллической решетки становятся источниками вторичных волн. Если узлы расположены в одной плоскости, то произойдет отражение волны от плоскости под углом отражения, равным углу падения. Интенсивность отраженной волны зависит от того, насколько плотно узлы кристаллической решетки покрывают [c.48]

Схемы источников вторичного питания [c.226]

Источники вторичных энергетических ресурсов [c.409]

Обнаружение источников вторичных волн за счет неоднородности диэлектрической проницаемости изделия положено в основу поляризационного метода контроля. [c.136]

Образующиеся в агрегатах-источниках вторичные энергоресурсы могут использоваться для удовлетворения потребностей в топливе и энергии либо непосредственно (без изменения вида энергоносителя), либо за счет выработки тепла, электроэнергии, холода или механической работы в утилизационных установках. [c.6]

На рис.28 представлена созданная с помощью специального комплекса планирования и управления автоматизированным проектированием Сириус функциональная модель фрагмента сквозного маршрута проектирования ПУ источника вторичного электропитания (ИВЭП), а на рис.29 раскрыта работа АЗЧ Обеспечение механических характеристик печатного узла из представленного выше фрагмента функциональной модели. [c.74]

Сервисный модуль содержит в своем составе развитую систему подсказок и файлов помощи. Кроме того, к сервису относится презентация подсистемы, представляющая собой демонстрацию применения подсистемы на примере исследования показателей надежности и качества источника вторичного электропитания. Модуль обз ения содержит программную документацию на подсистему и описание математических моделей и методов их решения. [c.87]

Ленты из аморфных кобальтовых сплавов применяют в сердечниках малогабаритных высокочастотных трансформаторов различного назначения, в частности, для источников вторичного питания. Их используют в магнитных усилителях, детекторах утечки тока, в датчиках тока и маг- [c.557]

На рис. 1.1, а представлена схема опыта. Проходящий через точечное отверстие S солнечный свет освещает расположенную на некотором расстоянии апертурную маску (или экран), в которой есть два близких отверстия В и С. На другом экране, удаленном от первого примерно на такое же расстояние, в области геометрической тени вокруг точки О наблюдаются темные и светлые полосы. Ни одно из точечных отверстий само по себе не вызывает появления полос, и их присутствие было объяснено интерференцией света, дифрагировавшего на двух точечных отверстиях. Напомним, что, согласно принципу Гюйгенса, развитому Френелем и Кирхгофом, каждая точка приходящего волнового фронта рассматривается как источник вторичных волн, огибающая которых формирует профиль приходящего волнового фронта, при прохождении света через апертурное отверстие в экране возникает дифракция. Вследствие этого волны, проходящие через апертуру, имеют огибающую волнового фронта, распространяющуюся в область, которая в соответствии с лучевой теорией геометрической оптики должна быть неосвещенной тенью. Это показано на рис. 1.2,а, который можно рассматривать как пример одной из апертур в опыте Юнга. В любой точке, например Р, освещенность является результатом интерференции между волнами, пришедшими туда от всех. точек апертуры с различными фазами, обусловленными различной длиной пройденного ими пути. Картина на экране представляет собой знакомую нам картину Френеля, описанную в обычных учебниках. В данный момент детали для нас не важны, поскольку, если точечные отверстия в опыте Юнга достаточно малы, дифрагировавший от каждого из них в отдельности свет должен давать на экране достаточно [c.10]

Системы и источники вторичного электропитания [c.77]

Наблюдаемую картину можно построить, основываясь на волновой теории света и принципе Гюйгенса. Каждую точку среды, которую достигла волна, можно рассматривать как источник вторичных сферических волн, распространяющихся со скоростью, свойственной среде. Огибающая поверхность, касающаяся сверх сферических вторичных волн в том положении, которого они достигнут к моменту t, и представляет собой волновой фронт в это время. К этому принципу французский физик Френель применил рассмотренные нами ранее законы интерференции. Согласно Френелю правило построения огибающей должно быть заменено расчетом взаимной интерференции вторичных волн. [c.34]

Простейшие схемы получения голограмм по методу Габора и восстановления по ним изображения представлены на рис. 32. Эти устройства позволили Габору получить первые плоские голограммы путем сильного диафрагмирования пучка света от ртутной лампы. Диаметр отверстия диафрагмы равен 1. .. 2 мкм, а время экспозиции - несколько часов. Были использованы коллимированный пучок света и точечный объект, который служил источником возмущения этого пучка света, т. е. источником вторичной волны (рис. 32, а). Таким образом, на фотопластинке складывались две волны, образуя интерференционную картину. Эти волны стали впоследствии называть опорной и объектной, а фотопластинку, на которой была запечатлена интерференционная картина, полученная в результате сложения этих волн, - голограммой, поскольку она несла в себе информацию не только о плоскостной форме объекта, но и о его объемности. Эта информация была заключена в фазе, которая запечатлевалась в виде плотности почернения фотоматериала. [c.45]

Различают первичную акустическую эмиссию от дефектов (рост трещин) и вторичную (трение берегов трещин). Источники вторичной эмиссии наблюдаются при любых нагрузках, первичной — только при нагрузках, превышающих рабочие. Сигналы акустической эмиссии могут также регистрироваться в процессе снижения давления. При повышении давления данные об акустико-эмиссионных сигналах появляются на мониторе измерительной системы в виде кумулятивных зависимостей общего счета ( квазиэнергии ) акустической эмиссии от давления. [c.180]

К источникам вторичных у-кваитов в материалах активной зоны и защиты относятся 1) захватное у-излучение, образующееся в результате реакции (п, у) 2) у-излучение, возникающее при неупругом рассеянии быстрых нейтронов 3) у-излучение, сопровождающее нейтронные реакции с образованием заряженных частиц 4) активационное у-излучение 5) тормозное у-из-лучение 6) у-кванты, возникающие при аннигиляции позитронов. [c.27]

Если неодаородности среды грубые, т. е. близкие между собой малые участки среды, равные по объему, являются источниками вторичных волн заметно различной интенсивности, то и рассеяние света проявляется очень отчетливо. При слабых нарушениях однородности свет, рассеянный в стороны, составляет лишь очень малую долю первичного пучка, и наблюдение его может потребовать специальных условий. Опыт показывает, что для явления рассеяния света существенно именно нарушение однородности среды а не сама способность среды давать вторичные волны. [c.577]

Принцип Гюйгенса позволяет определять расно.тожение фронта волны в п<>слсдуюпдне. моменты вромепн, если известно расположение фронта в некоторый начальный момент, а также направление и скорость распространения волн. Пусть в момент t фронт волны занимает положение АВ (рис. 171). Примем каждую точку его за источник вторичных волн. Если среда однородна н изотропна, то вторичные, волны будут сфернческимп. Построим нз каждой точки фронта волновые поверхности вторичных волн, имеющие радиус r=-- At. Огибающая Л В этих элементарных волн и будет новым фронтом волны в момент t + At. При этом обратные вторичные вол ны (рис. 171 пунктир) не принимаются во внимание. [c.216]

Принцип Гюйгенса позволяет также объяснить явления, наблюдаемые при прохождении воли мимо различных препятствий. Пусть на пути волн, испускаемых точечным источником 5, находится преграда АВ (рис. 175). Прямые и 5В, касаюгциеся краев преграды, определяют границу области за ней, называемой областью геометрической тени. Когда фронт волны достигает преграды, то крайние его точки становятся источником вторичных волн, распространяющихся в область геометрической тени. Их огибающая соответствует фронту в последующий момент. Таким образом, фронт волны зайдет в область геометрической тени. [c.218]

Осуществляя сканирование изделия относительно приемопередающего устройства, можно получить дефектограмму, отображающую распределение интенсивности источников вторичных волн зависящей от угла поворота в плоскости поляризации. Таким образом, с помощью поляризационного метода контроля может быть обнаружено существование неоднородностей диэлектрической проницаемости. [c.136]

Почти одновременно с Ньютоном, также в конце XVII в., Гюйгенс выступил с волновой теорией света, согласно которой свет трактовался как распространение упругих волн в особой среде — эфире, заполняющем все окружающее пространство. Эти представления позволили Гюйгенсу сформулировать важный принцип геометрической оптики, согласно которому каждая колеблющаяся точка волнового поля становится источником вторичных волн, и дать объяснение ряду оптических явлений.. [c.10]

При внеш. возбуждении или неупругих процессах рассеяния рентг. лучей атомы кристалла могут стать источниками вторичного излучения, )1екогерснтного с падаюш.им. При распространении этого излучения в кристалле наблюдаются специфич. дифракц. явления — т, н. л и н п и К о с с е л я (1). [c.674]

Распространённым методом Н.р. является просвечивание объекта коллимированным пучком нейтронов. При этом определяется степень ослабления нейтронного потока в результате поглощения или рассеяния ядрами. Это позволяет судить о внутр. строении и составе объекта. Для регистрации прошедших через образец нейтронов используются экраны-преобразователи (ыапр., фольги из Gd, Dy, In), к-рые служат источником вторичного излучения, регистрируемого детектором. Участкам образца, содержащим элементы, сильнее поглощающие нейтроны, соответствуют более светлые места на плёнке. [c.275]

Ряс. 3, Схема экспериментальной плазменной линзы для фокусирования ионного пучка 7 — магнитопровод а — катушка магнитного доля а — електроды-фиксаторы 4 — цилиндр — источник вторичных алектронов 5 — диафрагма 6 — ионный источник. [c.616]

Основными параметрами, характеризующими источник вторичного нестабилц-зированного электропитания, являются напряжение и частота питающей сети, выходное напряжение, максимально-допустимый ток нагрузки и переменная составляющая выходного напряжения. Сопоставляя требующиеся для питания прибора показатели этих величин с указанными в технических данных на источники питания, подбирают такой источник, который соответствует этим требованиям. [c.258]

Среда проектирования Печатный узел . Данная среда по иерархическому признаку является подсистемой, описываемого управляюш,его комплекса и ориентируется на автоматизированное проектирование составляюш,их узлов РЭС низших уровней иерархии, но при этом обладает собственным технологическим циклом проектирования, который позволяет в автономном режиме, используя принципы восходяш,его проектирования, выполнять взаимосвязанные проектные процедуры по разработке отдельных узлов, а в ряде слз аев, и РЭС в целом (например, одноканальные с простой функциональной и конструктивной иерархиями источник вторичного электропитания). [c.96]

Ленты из аморфных кобальтовых сплавов применяют в сердечниках малогабаритных высокочастотных трансформаторов различного назначения, в частности для источников вторичного питания и магнитных усилителей. Их используют в детекторах утечки тока, системах телекомм>т1ика-ций и в качестве датчиков (в том числе типа фер-розондовых), для магнитных экранов и темпера-турно-чувствительных датчиков, а также высокочувствительных модуляционных магнитных преобразователей. [c.863]

Рис. 6, Сведение задачи воспроизведения трехмерного поля к задаче воспроизведения поля на поверхности. В соответствии с принциоом Гюйгенса, для того чтобы воспроизвести во всем трехмерном пространстве поле света, рассеянного объектом О, достаточно воспроизвести значения этого поля в одном звене пространства — на некоторой повер .ностн а, каждая точка которой (точки Si, 2, з) явится источником вторичных волн (волны Ц>1, й>2. Юз---)- Складываясь, вторичные волны воспроизведут волновое поле объекта далее по ходу распространения света во всем трехмерном пространстве справа от поверхности а

Теперь, когда падающая волна достигает О, в этой точке начинается возмущение, и ее можно рассматривать как источник вторичных волн, распространяющихся в обеих срединах. Если мы начертим теперь в каждой среде соответствующую ей часть волновой поверхности с центром О, тогда за время =1 вторичные волны достигнут двух волновых поверхностей. Для простоты эти волновые поверхности показаны на фиг. 1.15 однополыми. [c.32]

Допустим, что PQ будет другой нормалью к падающей волне, которая выбирается так, чтобы падающая волна проходила от Р до Q за время t Тогда само Q в момент времени t становится источником вторичных волн. Последние к моменту времени t—l будут достигать двух волновых поверхностей, описанных из Q как из центра, подобных и подобнорасположенных с волновыми поверхностями, описанными из центра О, но уменьшенных по размерам в следующем отнои ении 1 l—t OB QB. [c.32]

Если плоская волна света падает на экран, в котором проделан ряд отверстий, то, если эти отверстия малы, свет перестает итти прямолинейно согласно законам геометрической оитйчи каждый элемент волны у отверстия действует как источник вторичной волны, которая у отверстия совпадает в фазе с первоначаль- [c.82]

Энергсаудит второго уровня (углубленный энергсаудит). На этой стадии обследования необходимо собрать следующие сведения о выпуске основной и дополнительной продукции предприятием, наличии энергетического паспорта, организационно-технических мероприятий по экономии энергоресурсов об энергопотреблении, тарифах и финансовых затратах на энергоресурсы (электроэнергию, тепловую энергию, топливо, воду, сжатый воздух, сжатый азот, холод) об учете потребления энергоресурсов источниках энергоснабжения и параметрах энергоносителей (газораспределительном пункте, трансформаторной подстанции, ТЭЦ, котельной, компрессорных и холодильных установках) о коммуникациях предприятия установленной мощности электроустановок по направлениям использования технологическом теплопотребляющем оборудовании о технологическом топливопотребляющем оборудовании об источниках вторичных энергоресурсов (ВЭР) системе сбора и возврата конденсата холодильном оборудовании компрессорном оборудовании (сжатый воздух, азот) о системах приточно-вытяжной вентиляции системах отопления зданий, сооружений предпри- [c.22]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...