Источник излучения

Улучшение характеристик противоточной системы с помощью принципа механического торможения изучалось автором совместно с сотрудниками не только при каскадно расположенных вставках, рассмотренных выше. Представляется, что наиболее эффективным осуществлением этого принципа является применение винтовых сетчатых вставок (одно- или многозаходных). Экспериментальное изучение таких вставок проводилось методами меченых частиц, р-просвечивания и отсечек [Л. 21, 84]. В первом случае экспериментальная установка состояла из стенда торможенной газовзвеси и электронного блока для регистрации заряженных частиц. Стенд торможенной газовзвеси включал в себя прозрачную цилиндрическую камеру из органического стекла высотой 0,8 и диаметром 0,34 м, в которую вставлялись сменные винтовые сетчатые вставки. Источником излучения являлась частица алюмосиликата di = = 4,35 мм, меченная Со активностью 0,5 мг-экв. Для проверки методики вначале были проведены опыты по определению времени свободного падения одиночной меченой частицы, которое сопоставлялось с теоретически рассчитанной величиной. Время находилось по (2-45) при у = 0, Vo.a=VT,a=0. Многократное определение времени, в течение которого меченая частица проходила контрольный участок камеры, совпадало с расчетным с погрешностью 4%, что лежит в пределах точности эксперимента и служит частной проверкой [c.95]

При просвечивании сварных соединений гамма-лучами источником излучения служат радиоактивные изотопы кобальт-60, тулий-170, иридий-192 и др. Ампулу с радиоактивным изотопом 5 помещают [c.244]

В электрофотографических ПчУ скрытое электрическое изображение получается на фотополупроводниковом барабанном или ленточном промежуточном носителе. Для экспозиции изображения используют либо источники света, либо лазерные источники излучения. Перенос изображения на обычную бумагу производится порошковым проявителем. Типичный диапазон скоростей печати составляет 5000... 25 ООО строк/мин, качество изображения высокое. Вследствие высокой стоимости электрофотографические ПчУ целесообразно применять в системах с очень большим объемом выводимой информации. [c.48]

Проблема детектора теплового излучения неотделима от вопроса об излучательных свойствах источника излучения. Спектральные характеристики излучения черного тела, как будет показано, описываются законом Планка. Проинтегрированный по всем длинам волн закон Планка приводит к закону Стефана — Больцмана, который описывает температурную зависимость полного излучения, испущенного черным телом. Если бы не было необходимости учитывать излучательные свойства материалов, оптический термометр был бы очень простым. К сожалению, реальные материалы не ведут себя как черное тело, и в законы Планка и Стефана — Больцмана приходится вводить поправочные факторы, называемые коэффициентами излучения. Коэффициент излучения зависит от температуры и от длины волны и является функцией электронной структуры материала, а также макроскопической формы его поверхности. [c.311]

Для определения размеров дефектов производятся следующие операции. Сначала просвечивают источником излучения перпендикулярно поверхности сваренной детали (рис. 5.8, а). Устанавливают на детали положение дефекта, наносят реперные метки. Производят вторичное просвечивание под углом (рис. 5.8, б). Полученные снимки накладывают друг на друга, совмещая метки, и измеряют расстояние между обоими изображениями дефекта. Глубину его залегания определяют по формуле [c.118]

При просвечивании сварных соединений гамма-излучением источником излучения служат радиоактивные изотопы кобальт-60, тулий-170, иридий-192 и др. Ампулу с радиоактивным изотопом помещают в свинцовый контейнер. Техника просвечивания сварных соединений гамма-излучением подобна технике рентгеновского просвечивания. Этим способом выявляют аналогичные внутренние дефекты по потемнению участков пленки, помещенной в кассету. Гамма-излучение отличается от рентгеновского большей жесткостью и меньшей длиной волны, поэтому оно может проникать в металл глубже, чем рентгеновское излучение. Оно позволяет просвечивать металл толщиной до 300 мм. Благодаря портативности аппаратуры [c.150]

Пока не существует прямых методов замера отношения плотности je/ji электронного и ионного токов. Замер температуры электродов по их излучению затруднен тем, что источником излучения может быть не поверхность электрода, а светящийся [c.70]

Для определения размеров дефектов производятся следующие операции. Сначала просвечивают источником излучения перпендикулярно поверхности сваренной детали. Устанавливают на детали положение дефекта, наносят реперные метки. Производят вторичное просвечивание под углом. Полученные снимки накладывают друг на друга, совмещая мет- [c.191]

Метод, основанный на измерении спектральных коэффициентов отражения покрытия при освещении его вспомогательным источником излучения. Расчет е(Х, Т) производится на основании закона Кирхгофа для непрозрачных тел [c.163]

Классификацию различных нелинейных оптических явлений можно дать с единой точки зрения, анализируя отдельные члены выражения (18.1), несмотря даже на то, что в нем отсутствуют члены высших порядков. Поскольку каждый последующий член примерна в раз меньше (Е — напряженность внутриатомного поля) предыдущего, то вероятность обнаружения подобных нелинейных эффектов, обусловленных соответствующими членами разложения высших порядков, мала. Этим была связана невозможность обнаружения многих нелинейных эффектов до появления мощных источников излучения — лазеров. [c.391]

Световой пучок, исходящий из рубинового источника излучения, направлен на кристалл кварца, для которого обладает заметной величиной. Кристалл кварца расположен между обкладками электрического конденсатора. Для регистрации возможного импульса электрического тока в схему присоединен осциллограф. Как показали соответствующие опыты, импульс лазера возбуждает соответствующий импульс электрического тока в цепи конденсатора, что свидетельствует о детектировании светового импульса лазера. Оптическое детектирование света впервые экспериментально было обнаружено в 1962 г. [c.392]

Другое слагаемое, как видно, обусловлено возникновением переменной поляризации с частотой 2ы и с амплитудой, прямо пропорциональной произведению интенсивности падающего света на нелинейную восприимчивость Приведенный в колебание с такой частотой электрон станет источником излучения электромагнитной волны с частотой, в два раза превышающей частоты падающего света [c.392]

Пусть линейно-поляризованная плоская световая волна распространяется в системе К (х, у, г, t), связанной с источником излучения, в направлении k (fe — волновой вектор световой волны). Уравнение волны в этой системе запишется в виде [c.422]

В настоящей главе проводится анализ защиты активной зоны реактора. Она начинается с описания реакторов различных типов. Активная зона реактора характеризуется как источник излучения нейтронов, первичных и вторичных у-квантов. Основное внимание уделяется анализу излучения активной зоны при работе реактора . [c.7]

АКТИВНАЯ ЗОНА РЕАКТОРА КАК ИСТОЧНИК ИЗЛУЧЕНИЯ [c.10]

Первым этапом анализа радиационной защиты реактора является расчет интенсивности источников излучения в активной зоне реактора. Взаимодействие делящихся ядер, содержащихся в активной зоне, с нейтронами приводит к их делению, при котором образуется следующее поколение нейтронов, вновь вызывающих деление, и т. д. Так происходит цепная реакция. [c.10]

При характеристике активной зоны как источника излучения следует рассматривать не только энергетические спектры излучения, но и пространственное распределение интенсивности излучения в ней как объемном (протяженном) источнике. [c.35]

Таким образом, нами рассмотрено распределение потоков нейтронов в гомогенной модели реактора, позволяющее характеризовать как источник излучения активную зону в целом, и распределение в элементарной ячейке, позволяющее характеризовать тонкую структуру распределений интенсивности источников по активной зоне. [c.45]

Метод задания эквивалентных источников используют для расчета компонент излучения, входящего в канал через его стенки границы неоднородности при этом рассматриваются как эффективные источники излучения. Наибольший выигрыш этот метод дает при определении составляющих рассеянного излуче- [c.140]

Рассмотрим круглый цилиндрический канал (рис. 12.5), на входе которого перпендикулярно его оси расположен плоский источник излучения с равномерной мощностью источников и угловым распределением, задаваемым в виде (12.5). [c.144]

В тех случаях, когда нельзя пренебрегать многократно отраженным в канале излучением, его можно учесть дальнейшим интегрированием. Например, компонента двукратно отраженного излучения может быть определена, если источником излучения считать однократно отраженное излучение. [c.149]

Канал с несколькими изгибами можно рассчитать путем последовательного обсчета каждого изгиба по описанной методике. При этом каждый предыдущий изгиб становится источником излучения для последующего. Однако с увеличением количества изгибов возрастает трудоемкость расчетов. [c.162]

Исследование распределения твердого компонента по высоте и сечению камеры противоточной торможенной газовзвеси проведено с помощью р-просве 1ивания. В качестве источника излучения был применен стандартный бета-излучатель (препарат Sr ° + Y ° с максимальной энергией 2,18 Мэе). Толщина защитного свинцового контейнера 30 мм. Для увеличения чувствительности блока был применен газоразрядный счетчик с боль-96 [c.96]

На рис. 5.9 представлена структурная схема вычислительного томографа. Полол<ение источника излучения — коллиматора, формирующего излучение, и детекторов соглусопано между собой и относительно координат исследуемого сече- ния. Указанные блоки сканируют по [c.122]

Простейший гамма-апги.рат включает радиационную головку с радиоактивным изотопом, припод источника излучения, амнуло- [c.124]

Световой луч. В установках для сварки и пайки световым лучом можно использовать такие источники излучения, как солнце, угольная дуга, дуговые газоразрядные лампы и лампы накаливания. Для технологических целей наиболее перспективные и удобные излучатели — дуговые ксеноновые лампы сверхвысокого давления. Дуговая ксеноновая лампа представляет собой шаровой баллон из оптит [c.17]

Радиационные методы контроля являются надежными и широкораспространенными методами контроля, основанными на способности рентгеновского и гамма-излучения проникать через металл. Выявление дефектов при радиационном просвечивании основано на различном поглощении рентгеновского или гамма-излучения участками металла с дефектами и без них. Сварные соединения просвечивают специальными аппаратами. С одной стороны шва на некотором расстоянии от него помещают источники излучения, С противоположной стороны плотно поджимают кассету е чувствительной пленкой (рис. 79). При просвечивании лучи проходят [c.149]

Здесь k — коэффициент пропорциональности, зависящий от выбранного источника излучения и свойств вещества Ai —сила тока, протекающего через ирие лник излучения [c.160]

В томе II рассматриваются вопросы радиационной защиты применительно к конкретным источникам излучения и основным ядернотехническим установкам. Освещаются, в частности, такие вопросы, как защита активной зоны реактора и теплоносителя, тепловой расчет защиты, защита от у-излучения при переработке делящихся материалов, радиационная безопасность в производствах урана и радия, защита ускорителей и радиационная защита при космических полетах. [c.5]

После определения толщины защиты одним из изложенных выше методов необходимо произвести поверочный расчет мощности дозы за защитой с учетом ранее не принимаемых во внимание источников излучений. При этом большие вычислительные операции целесообразно сократить за счет максимального использования табулированных численг ых результатов интегрирования, Аналитические решения для плотности потока за защитой от источников различной геометрической формы даны в гл. VI. Основные из них приводятся ниже. [c.104]

Проиллюстрируем подход к расчету компоненты излучения натекания методом лучевого анализа на примере круглого цилиндрического канала для точки детектиро.вания Я на его оси (см. рис. 12.5), на входе которого расположен бесконечный плоский изотропный источник излучения, в предположении экспоненциального закона ослабления излучения в защите. [c.146]

Использование формулы (12.27) предполагает, что рассеянное излучение выходит из той же площадки отражателя с13рас, на которую падает излучение источника. В тех случаях, когда это предположение несправедливо, более точно рассеянную компоненту можно учесть, используя данные по распределению источников излучения по поверхности рассеивающего пятна [см., например, формулу (7.87)]. [c.149]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...