Плоскопараллельные пластинки

Рассмотрим самый простой случай, когда конус сходящихся лучей падает на плоскопараллельную пластинку из одноосного кристалла, вырезанную перпендикулярно оптической оси (рис. 9.25). [c.243]

Плоскопараллельный пласт толщины h (среда 1) лежит на упругом полупространстве (среда 2). Определить зависимость частоты от волнового вектора для поперечных волн в пласте с направлением колебаний, параллельным границам пласта. [c.137]

Интерференция в плоскопараллельных пластинках. [c.128]

Конфигурация интерференционных полос в фокальной плоскости линзы определяется в этом случае набором углов в световых пучках, падающих на плоскопараллельную пластинку. Если на пластинку падает световой конус с осью, нормальной к пластинке, равномерно заполненный светом (таким будет световой пучок от протяженного источника света), то в фокальной плоскости линзы интерференционные полосы будут иметь форму колец. Каждое кольцо будет соответствовать определенному значению угла преломления г и, следовательно, определенному углу падения световых [c.128]

Рассмотрим теперь прибор, существенная часть которого состоит из двух идентичных плоскопараллельных пластинок толщины h с показателем преломления п (рис. 7.1). [c.131]

Однако в случае плоскопараллельной пластинки следует принять во внимание многократное отражение света от ее поверхности, ибо и все вторичные когерентные пучки окажутся параллельными друг другу и будут интерферировать, давая полосы равного наклона, локализованные в бесконечности. [c.136]

Метод контроля плоскопараллельных пластинок был описан в 27. [c.148]

Пусть среда / отделена от вакуума тонкой плоскопараллельной пластинкой среды 2 (рис. 12.7) п- , и Л/2, — абсолютные и относительный показатели преломления соответствующих сред. Из рис, 12.7 ясно, что [c.278]

При п = 1,5 (воздух — стекло) имеем приблизительно А = — 8%, т. е. проходящий свет частично (на 8%) поляризован. Если свет проходит внутрь плоскопараллельной пластинки, то на второй поверхности вновь происходит преломление под углом Брюстера и степень поляризации прошедшего через пластинку света увеличивается еще приблизительно на 8%. Если сложить последовательно несколько пластинок (стопа Столетова), то поляризация проходящего света будет быстро возрастать при увеличении числа пластинок в стопе и ее можно вычислить при помощи формул Френеля (см. упражнение 189). [c.480]

Рассмотрим простейший случай, когда конус сходящихся световых пучков от протяженного источника света падает на плоскопараллельную пластинку одноосного кристалла, вырезанную перпендикулярно к оптической оси, причем ось конуса совпадает с оптической осью кристалла. Тогда при постоянном ф разность фаз б будет также постоянной, так как вследствие симметрии ориентации световых пучков относительно оси кристалла разность щ зависит только от значения ф. Таким образом, разность фаз для обыкновенной и необыкновенной волн будет определяться, как указано выше, значением угла ф при фиксированном к. [c.518]

Зависимость показателя преломления от освещенности обусловливает своеобразные и эффектные явления в условиях, типичных для двухлучевых интерференционных опытов. Пусть в толстой плоскопараллельной пластинке (рис. 41.3) лазерный пучок разделяется на два пучка, которые сводятся затем бипризмой Френеля в нелинейной среде /, например, в кювете с сероуглеродом. В области пересечения пучков можно наблюдать интерференционные полосы, однако непосредственно они нас не будут сейчас интересовать. Будем следить за освещенностью экрана ЕЕ, установленного на таком расстоянии, что на нем пучки уже не перекрываются. Если интенсивность пучков невелика, то на экране ЕЕ видны два пятна, показанные на правой части рис. 41.3 в виде заштрихованных кружков. При достаточно больших значениях интенсивности, на экране появляются два новых пятна, смещенные в направлении, [c.824]

Предположим, что в рабочую зону поместили плоскопараллельную пластинку перпендикулярно оптической оси интерферометра. Такая пластинка внесет фазовое искажение в объектный пучок, которое можно выразить соотношением Лф=(2л/л)иф где к—длина волны [c.107]

Если плоскопараллельную пластинку вращать между поляризаторами вокруг оси оптической системы (независимо от того, скрещены поляризаторы или нет), то [c.59]

Д. С. Рождественским был разработан простой, весьма удобный и точный метод измерения по аномальной дисперсии величины названный им методом крюков". Метод заключается в том, что в одну из ветвей интерферометра вводится трубка с изучаемыми парами, а в другую — плоскопараллельная пластинка. Тогда возникают характерные изгибы интерференционных полос ( крюки") по обе стороны от линии поглощения (снимок IX). Из теории, развитой Д. С. Рождественским, следует, что значение fn Ni определяется через расстояние Д между соседними крюками. В наиболее благоприятных случаях метод позволяет определять значения с ошибкой, не превышающей %. Для тех линий, у которых нижним является нормальный уровень, концентрация атомов (в формуле (1а) есть концентрация на нижнем уровне), как сказано, практически совпадает с полным числом атомов N в единице объема. ) Для таких линий может быть найдено абсолютное значение Как и при методе поглощения, значения получаются при этом менее точными, чем значения так как в большинстве случаев упругость насыщающих паров металлов известна недостаточно хорошо. [c.401]

Оптическая схема трубы прибора изображена на рис. 1. Перед объективом помещается оптический микрометр с двумя плоскопараллельными пластинками (на схеме не показан). [c.375]

Микрометр состоит из корпуса 3, двух плоскопараллельных пластинок 1 и Двух микрометрических винтов 2. Пластинки имеют возможность с помощью микрометрических винтов наклоняться в двух взаимно-перпендикулярных направлениях. Цена деления микрометрического винта 1,5—2 мкм. Корпус микрометра может быть закреплен на штыре магнитной стойки 4 на любом расстоянии от ее основания. При использовании микрометра стойка устанавливается перед визирной трубой так, чтобы пластинки микрометра находились напротив объектива визирной трубы. В микрометре используются узлы от серийно выпускаемых инструментальной промышленностью измерительных приборов микрометрические винты от нутромеров НМ и магнитная стойка СТ-13. [c.381]

На некотором расстоянии от сетки 3 помещена плоскопараллельная пластинка /, могущая поворачиваться маховичком 4 в пределах 5° вокруг оси, перпендикулярной оси микроскопа. При повороте пластинки видно смещение градусных штрихов. [c.159]

Для возможности устранения во время сборки параллакса между сеткой и шкалой последняя нанесена на цилиндрическом стекле с радиусом цилиндра равным расстоянию от оси вращения пластинки до сетки 3. При нулевом отсчете по шкале оптического микрометра плоскопараллельная пластинка установлена по шкале в нулевом положении, а изображение нулевого штриха градусной шкалы совмещено с осью нулевого биссектора. [c.159]

Начиная с v 10 Гц Д. и. проводят в свободном пространстве измеряют коэф. пропускания Т эл.-магн. волн плоскопараллельной пластинкой вещества (рис. 4) или коэф. отражения R от бесконечного слоя, а также соответствующие им фазовые сдвиги волны в образце Ф И "ф. По Френеля формулам рассчитывают п и к [c.701]

Кривые равного наклона (интерференция от плоскопараллельной пластинки). Поверхность плоскопараллельной пластинки из прозрачного материала освещается точечным источником монохроматического света (рис. 4.16). В произвольную точку А, расположенную по ту же сторону пластинки, что и источник S, приходят два луча одн11, отраженный от верхней, другой — от нижней поверхностей. Оба луча исходят из одного и того же источника и, являясь [c.85]

В заключение еще раз отметим, что при пользовании точечными источниками (метод деления фронта) интерференционная картина не локализована, она наблюдается всюду в местах перекрывания интерферирующих лучей. В отличие от этого при пользоваинп протяженными источниками (метод деления амплитуды), как это мы делали при интерференции в тонких пластинках, интерференционная картина является локализованной. Место локализации интерференционной картины будет там, где разность хода между интерфе-рн1)ующимн лучами минимально будет зависеть от угла падения на пластинку. С помощью несложных вычислени11 можно показать, что это условие для пластинки переменной толщины удовлетворяется на ее поверхности, а для плоскопараллельной пластинки — в бесконечности, что находится в полном согласии с соответствующими экспериментами. [c.90]

Подобные полосы в-первые наблюдались Г уком. Однако вследствие того, что онн были подробгю исследованы Ньютоном, их называют кольцами Ньютона. Схема, с помощью которой наблюдаются кольца Ньютона, представлена на рис. 5.1. Роль пластинки переменной толщины играет воздуи/пая прослойка между линзой и плоскопараллельной пластинкой. Границы этой пластинки определяются снизу верхней поверхностью плоскопараллельной пластинки, сверху—нижней поверхностью линзы. Параллельный пучок света, выделенный из точечного источника, расположешюго в фокусе линзы (линза и источник на рисунке не изображены), направляется на систему линза — плоскопараллельная пластинка. Некоторый луч 1 этого пучка после отражения от нижней поверхности воздушной прослойки выходит из точки D. В эту же точку падает другой луч 2, который частично отражается. Лучи / п 2 являются когерентными и при наложении интерферируют между собой. Так как подобная интерференционная картина наблюдается с помощью отраженных лучей, то ее называют интерференционной картиной в отраженном свете. Аналогичную картину можно наблю-дат з в прошедшем свете. [c.93]

Центральг1ую часть тонкой линзы можно принять за плоскопараллельную пластинку. Следовательно, лучи, проходян.1,ие через центр линзы, практически не преломляются. [c.180]

Все эти выводы особенно легко получить, рассматривая точечный источник и определяя расстояние 5 52 между изображениями источника в верхней и нижней поверхностях пластинки. Если пластинка не строго плоскопараллельна, и имеет в разных местах не вполне одинаковую толщину, то при отражении от разных мест пластинки мы получим несколько различные расстояния 5т52. Следовательно, интерференционные полосы, образовавшиеся благодаря отражению от разных мест пластинки, будут иметь несколько различную ширину и, следовательно, вся картина станет менее контрастной, чем при строго плоскопараллельной пластинке. [c.130]

Прибор, основанный на описанном принципе, носит название интерферометра Жамена и осуществляется в виде двух хороших плоскопараллельных пластинок толстого весьма однородного стекла, [c.132]

Принимая интенсивность падающего пучка за 1, вывести формулу распределения интенсивности в проходящем (/ рох) и отрангенном (/отр) свете при многократной интерференции на плоскопараллельной пластинке, полагая, что коэффициент поглощения А = О, так что 7 + / = 1. [c.871]

Компенсатор Бабине—Солейля устроен в виде плоскопараллельной пластинки и двух клиньев, вырезанных из кварца параллельно оси. Таким образом, клинья образуют в совокупности плоскопараллельнуЮ пластинку переменной толщины, причем в постоянной и переменных пластинках оптические оси направлены перпендикулярно друг к другу (рис. 38). [c.893]

Этим недостатком не обладает компенсатор Солейля (рис. 18.3,6). Он состоит из двух кварцевых клиньев с параллельными оптическими осями и из одной кварцевой плоскопараллельной пластинки с осью, перпендикулярной к осям клиньев. Верхний клин может перемещаться параллельно самому себе. При таком перемещении клина суммарная толщина клиньев на всем протяжении их соприкосновения меняется и может быть равной или отличной от толщины нижней пластинки. В первом случае компенсатор не внесет никакой разности фаз между обоими лучами, во втором — внесет разность фаз, которой можно придать любое требуемое значение. [c.55]

При ф1=2тя, где т — целое число, оба колебания максимально усилят друг друга и поле при рассмотре-И 1И сквозь скрещенные поляризаторы окажется просветленным. При ф1=(2ш + 1)я/2 колебания полностью погасят друг друга и поле останется темным. При освещении системы белым светом условия максимального уси-.тения или ослабления колебаний будут осуществляться не одновременно для лучей разных длин волн и поэтому при заданной толщине плоскопараллельной пластинки, расположенной между скрещенными поляризаторами, поле будет равномерно окращенным. Тон окраски зависит от толщины пластинки и разности показателей преломления По—Пе. [c.59]

Схема микроскопа (рис. 28) состоит из объектива 1 (МИМ-13С0), плоскопараллельной пластинки 2, систем отражательных зеркал 3 и 4, монохроматического фильтра 5 и окуляра 6. Система зеркал 3 имеет возможность перемещаться по специальным направляющим, удлиняя или укорачивая длину тубуса микроскопа. Изменение длины тубуса дает возможность плавно менять увеличение микроскопа в довольно широких пределах. [c.86]

Рамка с плоскопараллельной пластинкой, устновлеиная под углом 45 к осветителю, служит для направ.ле-ния светового потока от осветителя в объектив. Положение рамки регулируют поворотом головок ее полуосей. [c.257]

Оптические компенсационные схемы можно осуществить и без введения фазовых пластинок. Особенно просто это удается в схемах ЛДИС с интерферометром в приемной части. Примером могут служить оптическая схема с опорным пучком, показанная на рис. 169, в, и инверсная дифференциальная схема, представленная на рис. 169, ж. В первой из них противофазность доплеровских составляющих создается за счет сдвига фазы на я в сигнальном рассеянном пучке на передней грани рекомбинационной плоскопараллельной пластинки интерферометра. Во второй схеме поворот фазы одного из интерферирующих рассеянных пучков получается при делении на задней грани призмы Дове в интерферометре. В обоих случаях получение фазового сдвига эквивалентно введению фазовой полуволновой пластинки в один из интегрирующих пучков. К достоинствам этих оптических компенсационных схем следует отнести слабое влияние эффекта деполяризации рассеянных пучков на компенсацию. Полного устранения влияния деполяризации можно достигнуть, поместив поляроид на входе интерферометра. [c.294]

Среди оптических схем ЛДИС, позволяющих измерить одну компоненту скорости, следует выделить несколько отличающихся чрезвычайной простотой и легкостью в юстировке. Эти схемы стилизованно показаны на рис. 165 [245]. В схемах с интерферометром на входе (см. рис. 165, б, г) плоскопараллельная стеклянная пластинка используется в качестве расщепителя входного луча на два параллельных пучка. Пластинка без отражающих покрытий на рабочих гранях служит расщепителем в схемах с опорным пучком. Пластинка с покрытиями, выравнивающими интенсивность расщепленных пучков, используется в дифференциальной схеме. Те же пластинки могут в качестве рекомбинационных применяться в оптических схемах ЛДИС с интерферометром на выходе (см. рис. 165, в, д). Схемы с плоскопараллельной пластинкой могут успешно использоваться в практических измерениях. Они содержат минимум оптических деталей, просты и надежны в работе и, кроме того, имеют малую чувствительность к вибрациям, так как интерферирующие пучки проходят через одни и те же оптические элементы, а расстояние между расщепленными пучками практически не зависит от малых колебаний угла поворота пластинки ( 3°) при угле падения 50°. [c.294]

Допускаемая клиновидиость плоскопараллельных пластинок принята в следующих пределах [c.707]

С целью обеспечения возможности применения визирных труб различных приборов (теодолитов и др.) для измерения непрямоли-нейности и несоосности визирным способом в НИИТМАШ разработано несколько моделей оптических микрометров. На рис. 6 представлен оптический микрометр с двумя стеклянными плоскопараллельными пластинками. [c.381]

На гипотенузную сторону призмы 10 (см. рис. 107) наклеена плоскопараллельная пластинка, покрытая отражающим слоем по плоскости А В п частично — на длину D по плоскости, прилегающей к призме. Отражающие поверхности покрытий в обоих случаях направлены в сторону вершины прямого угла призмы. Пучок 1, идущий от одного из клиньев подвижной пары, пройдя толщу призмы и непокрытый участок поверхности пластины DE, отразится от покрытой повер.хности АВ и пойдет по стрелке в направлении диаф рагмы. Покрытый участок D отрежет ту часть пучка 1, отраженные лучи которого будут находиться правее точки D. То же самое произойдет и с пучком II. Отразится от плоскости СЕ только та часть пучка, которая упадет на участок D. Часть пучка, расположенная ниже точки D, пройдет непокрытую часть плоско сти СЕ и будет после отражения задержана покрытым участком D. Таким образом, линия раздела изображений штрихов представляет собой изображение линии, проекция которой изображена на рис. 112 точкой D. [c.131]

Перед калибровкой яризму устанавливают на столик поворотного устройства, выверяют и юстируют положения столика и осей автоколлиматоров по тем же правилам, по ка1ким это делают у гониометров (см. стр. 132). При этом роль плоскопараллельной пластинки выполняет сама призма. [c.261]

При ц = 1 и Rg=BaS и все остальные оптические аберрации равны 0. Следовательно, всегда можно найти в пространстве объекта точку О, изображение к-рой в монохроматич. свете может быть получено без искажений в сопряжённой точке С пространства изображений. Сфсрич. аберрация осевой голограммы, вызванная тем, что [i= =l или НдфЯо> может быть компенсирована с помощью плоскопараллельной пластинки или подбором геометрии освещающего и интерферирующих пучков [7, 8]. [c.505]

Сравнительно большое расстояние между лучами и, 2 позволяет установить на их путп две кюветы и Л з одинаковой длины I с исследуемы.мн вещества.чи, показатели преломления к-рых п nj. Возникающая разность хода Д = (mj—Hi)/=6n/ приводит к смещению ахроматич. полосы в поле зрения зрительной трубы. Измерение Д в И. Ж. производят с помощью компенсатора Жамепа, к-рый создаёт дополнит, разность хода, обратную той, к рая вызвана различием iij и п - Компенсатор состоит из двух одинаковых плоскопараллельных пластинок Р] и (рис.), установлрт1Е1ЫХ в ходе лучей и 52 и укреплённых ыа оси ОО под углом [c.172]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...