Интегральная интенсивность

Рис. 15.1. Зависимость интегральной интенсивности тормозного излучения от атомного номера материала мишени Z.

Интегральная интенсивность обеих компонент Мандельштама — Бриллюэна определяется первым слагаемым в фигурных скобках (160.2). [c.595]

Интегральная интенсивность света, рассеянного вследствие изобарических флуктуаций плотности, определяется вторым слагаемым в фигурных скобках в (160.2). [c.595]

Ранее неоднократно отмечалось, что свет, излучаемый атомами, не является строго монохроматическим и состоит из спектральных составляющих, которые расположены в некотором интервале частот, имеющем определенную конечную ширину (см. 158). Все изложенное в настоящем параграфе относилось к так называемой интегральной интенсивности спектральной линии, т. е. к сумме всех ее монохроматических составляющих. Если применяется спектральный аппарат достаточно высокой разрешающей силы, то можно измерить и спектральную плотность излучения внутри линии, или, как говорят, контур спектральной линии. [c.737]

С учетом всех выше рассмотренных факторов формулы интегральной интенсивности дифракционных максимумов для малых или мозаичных кристаллов имеют вид [c.47]

Для определения интегральной интенсивности линии комбинационного рассеяния /оо необходимо ее контур F v) проинтегрировать по всем возможным частотам [c.124]

Интегральная интенсивность линий не зависит от аппаратурных искажений спектрометра и формы контура возбуждающей линии. Отношение площадей, заключенных внутри наблюдаемых контуров линий, будет равно отношению истинных интегральных интенсивностей линий. Поэтому интегральные интенсивности линий,, непосредственно связанные с энергетическими характеристиками излучающего (рассеивающего) вещества, играют важную роль при проведении научных исследований. Кроме того, интегральные интенсивности линий можно использовать и для аналитических целей. [c.125]

Рис. 48. Выбор ширины входной и выходной щелей спектрометра при измерении интегральной интенсивности спектральной линии

Таким образом, если все линии имеют одинаковую форму, то отношение их истинных интегральных интенсивностей равно отношению произведений из наблюдаемых интенсивностей в максимуме /о и ширин б. [c.125]

Интегральную интенсивность линии можно измерить и другим способом. Входную щель спектрометра следует установить достаточно узкой, чтобы контур линии в фокальной плоскости спектрометра не искажался, а выходную щель взять в несколько раз (в три-четыре) больше ширины линии (рис. 48). В момент, когда середина линии достигает середины выходной щели, через нее будет проходить максимальный поток света, соответствующий всему контуру линии, за исключением дальних участков крыльев (заштрихованная площадь на рис. 48). Поэтому максимальное отклонение пера самопишущего потенциометра в данном случае будет выражать интегральную интенсивность линии. Потерями света, заключенными в дальних участках крыльев линии, можно пренебречь. Это тем более оправдано, что интенсивности разных линий берутся по отношению к интенсивности какой-либо одной [c.125]

Этот способ можно видоизменить. Входную щель спектрометра сделать широкой, а выходную узкой. Максимальное отклонение пера записывающего потенциометра в данном случае также будет определять интегральную интенсивность исследуемой линии. [c.126]

Метод с использованием интенсивностей линий индивидуальных веществ. Для многих углеводородов известны интенсивности линий комбинированного рассеяния света, измеренные в стандартных условиях для одинаковых объемов вещества и выраженные в единой шкале, в которой линия с частотой 802 см циклогексана имеет интенсивность в максимуме /о = 250, а интегральную интенсивность /ао=500 условным единицам. Для некоторых веществ эти данные приведены в приложении 4. Измерив интенсивности линий каких-либо веществ в смеси и сравнив полученные данные [c.139]

Кривая 36 связывает отношение усредненной интегральной интенсивности полосы 388,3 нм (отношение площади [c.247]

Постройте график зависимости температуры дуги от потенциала ионизации примеси. Каждая точка графика должна содержать информацию о погрешности. Погрешность определите усреднением температур, полученных по различным спектрам, снятым в одинаковых условиях. Усреднение результатов, полученных по интегральным интенсивностям полос, затруднено трудоемкостью каждого определения температуры. Однако измерение температу- [c.250]

Интегральная интенсивность излучения определяется через спектральную интенсивность 1 , формулой (v — частота) [c.23]

Интегральная интенсивность излучения 23 [c.311]

Спектральная и интегральная интенсивности излучения определяются соотношениями [c.313]

Следовательно, если излучение подчиняется закону Ламберта, то интегральная интенсивность излучения (яркость) абсолютно черного тела не зависит от направления, т. е. является величиной постоянной. Тогда уравнение (21.20) можно переписать [c.316]

Первое из них — требование о замкнутости каверны — равносильно тому, чтобы интегральная интенсивность источников и стоков была равна нулю, т. е. [c.161]

До сих пор мы считали излучение строго монохроматичным, однако в действительности спектральные линии имеют конечную ширину. Поэтому под интенсивностью линии следует рассматривать интегральную интенсивность, распространенную на всю ширину линии. Ограничимся случаем допплеровского контура линии причем будем считать, что как линия испускания, так и линия поглощения имеют одинаковый контур. Тогда по формуле (12) 70 коэффициент поглощения можно представить в виде [c.415]

На основании формулы (4) для интегральной интенсивности линии V можем написать [c.416]

Однако суш.ественно отметить, что допплеровский и естественный контуры спектральных линий значительно различаются по своей форме. На рис. 263 сопоставлены допплеровский и естественный контуры линий при одинаковых ширинах (Дvд=Дvн) и одинаковых интегральных интенсивностях [c.483]

Коэффициент С определяется из условия, что интегральная интенсивность [c.485]

Здесь Ф , Wk w. k — интегральная интенсивность, полуширина (ширина на половине максимальной интенсивности) и положение центра тяжести к-го рентгеновского пика соответственно. Параметр Tj соответствует относительной доле лоренцевой и гауссовой компонент в форме профиля рентгеновского пика. Если т] — 1, форма профиля описывается только функцией Лоренца (длинные хвосты) если г = 0, — то только функцией Гаусса (короткие хвосты). [c.34]

Проведенные исследования [98] показали, что в процессе ИПД кручением в образцах Си формируется слабая аксиальная текстура. Таким образом, результаты РСА показывают, что при ИПД кручением чистой Си происходят существенные изменения вида рентгенограмм, получившие отражение в увеличении доли лорен-цевой компоненты в форме профилей рентгеновских пиков, их уширении и смещении, а также увеличении интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей. Это [c.39]

Рис. 1.25. Зависимость интегральной интенсивности фона на рентгенограммах Си, подвергнутой ИПД кручением, от числа оборотов

В работах [81, 135] измерили отношение интегральных интенсивностей указанных выше рентгеновских пиков (hkl) при темпе- [c.77]

Рис. 2.12. Зависимость логарифма отношения интегральных интенсивностей рентгеновских пиков (hkl) при температурах 85 К и 295 К от вектора рассеяния (sin Й/А) для наноструктурного Ni

Погрешность в вычислении интегральной интенсивности фона в основном зависит от правильности выбора базисных линий. Поскольку рентгеновские пики на рентгенограммах наноструктурной Си преимущественно описываются функцией Лоренца, т. е. имеют длинные хвосты, то оказалось очень трудно достаточно точно определить место, где кончается рентгеновский пик и начинается фон 79-82]. Для уменьшения погрешности базисные линии выбирали таким образом, чтобы их концы совпадали с концами широких интервалов углов дифракции, в которых производилась съемка рентгеновских пиков [79-82]. Как показано в работах [80, 81], ИПД Си приводит к росту интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 6 3 %. [c.79]

В терминах электронной теории можно следующим образом охарактеризовать механизм процесса. Электрическое поле падающей волны раскачивает заряженные частицы (электроны), и возникает рассеянное излучение, которое в грубом приближении можно описать полученными ранее соотношениями для гармонического осциллятора, излучающего под действием вынуждающей силы (см. 1.5). В частности, сразу понятно, почему наиболее интенсивно рассеивается коротковолновое излучение. Известно, что интегральная интенсивность излучения диполя пропорциональна четвертой степени частоты (ш lA ). Следовательно, голубой свет рассеивается значительно сильнее красного (Хкр/ гол = 1,6). Индикатриса рассеяния похожа на распределение потока электромагнитной энергии в пространстве (см. 1.5), полученное на основе очевидного положения об отсутствии излучения в направлении движения осциллирующего электрона. [c.353]

I — намагниченность, интегральная интенсивность дифракционных максимумов, поток диффундирующего вещества, первый ионизационный потенциал k — волновое число к —волновой вектор fefl — постоянная Больцмана km — магнитная восприимчивость [c.377]

Искажения контура линии за счет инерционности фотоэлектрической установки, так же как и любые аппаратурные искажения, не влияют на величину ее интегральной интенсивности. Во всех случаях ширина и интенсивность в максимуме линии изменяются таким образом, что их произведение, пропорциональное интегральной интенсивности линии, остается постоянным [c.121]

При фотографической регистрации спектра для получения почернений линий, соответствующих их интегральным интенсивностям, ширина щели спектрографа должна быть также в несколько раз больше ширины линий. Роль выходной узкой щели спектрометра в данном случае играет щель микрофотометра при фотомет-рировании фотопластинки. [c.126]

Кривые 1а дают связь между отношениями интегральных интенсивностей второй и первой колебательных полос и температурой. Интегральные интенсивности полос подсчитываются графически как площади, ограниченные линиями БИПУБ и АКУЛА (рис. 92). В зависимости от величины спектральной ширины щели спектрографа, использованной при съемках спектров, необходимо выбирать разные кривые 1а. На рис. 90 приведены кривые 1а для спектральных ширин щели, равных 4, 8, 12 и 16 см . [c.246]

Если использовать несколько измененное отношение интегральных интенсивностей (отношение площадей БИЗЯГЕКБ и АКЕГЛА), которое очень слабо зависит от спектральной ширины щели, при всех ширинах, меньших 16 см , можно пользоваться одной кривой 16. [c.247]

Частоты (волновые числа) м, интенсивности в максимуме /о, интегральные интенсивности /м, ширины у степени деполяризаций р линий комбинационного] рассеяния (у и у в см 1) [c.314]

Для определения параметра Дебая-Уоллера В и атомных смещений (/U ) из равновесных положений в кристаллической решетке исходят из результатов исследований изменения интегральных интенсивностей пиков на рентгенограммах или нейтроно-граммах, полученных при различных температурах. При этом используются два основных метода [88, 137]. [c.75]

В первом методе величину параметра Дебая-Уоллера В (Т) получают из наклона прямой, аппроксимирующей экспериментальные данные зависимости ln(i/)j./mf ) от квадрата вектора рассеяния при некоторой температуре Т. Здесь фр. — скорректированная интегральная интенсивность к-то максимума, обладающего фактором повторяемости т . Величина измеряемая в этом методе [88] для пиков с разными (hkl), будет меняться в зависимости от степени текстурованности материала. В связи с этим первый метод можно применять для исследования образцов, не обладающих кристаллографической текстурой. [c.75]

Интенсивность фона, наблюдаемого на рентгенограммах, является не только результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей на образце, но также связана с инструментальными факторами (например, с рассеянием дифрагировавшего излучения атмосферным воздухом) [141]. Если инструментальные факторы одинаковы для исследуемых образцов, то появляется возможность сравнительного анализа роли самих образцов в формировании диффузного фона рассеяния на рентгенограммах. Интенсивность дифрагировавших рентгеновских лучей, зафиксированная на рентгенограмме, складывается из интенсивности рентгеновских пиков и интенсивности фона [130]. Для отделения интенсивности, связанной с фоном, в районе рентгеновских пиков, представленных псевдофункциями Фойгта, проводят базисные линии. Левая и правая точки каждой базисной линии соответствуют интенсивности фона слева и справа от рентгеновского пика. Для получения интегральной интенсивности фона площади под базисными линиями суммируют с площадями под линией фона вне рентгеновских пиков. [c.79]

Средний размер зерна в образце, мвм Под- спектр Относительная интегральная интенсивность (площадь) подспектра Эффективное магнитное поле, кЭ Изомерное сдвиг относительно эталонного Q-Fe, мм/с Ширина внешних пиков спектра на 1/2 высоты, мм/с [c.85]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...