Разность хода лучей

Рассмотрим произвольную точку А на экране Э (рис. 4.4), расположенную от центра экрана (точки пересечения с экраном перпендикуляра, опущенного из середины линии =- = I) на расстоянии О2А = у. Интенсивность в точке А определяется разностью хода лучей — d . Найдем М. Из треугольников S A A и S A A соответственно имеем [c.74]

Как следует из выражения (6.16), вследствие добавочной сравнительно с точкой М разности хода лучей возникает разность фаз между полоской точки М и полоской, находящейся на расстоянии х [c.138]

Пусть параллельный пучок света падает на дифракционную решетку под углом 0. Как известно, при разности хода лучей, иду- [c.148]

С этой целью найдем разность фаз между интерферирующими лучами в произвольной точке N фотопластинки. Эта разность фаз будет определяться разностью хода лучей, идущих от источника S по пути SMN и SN, т. е. [c.211]

Проведем второй опыт. Ничего не изменяя во взаимном расположении деталей, интерферометр поворачиваем на 90° вокруг вертикальной оси таким образом, чтобы теперь плечо рЬ было расположено по вектору скорости Земли, а плечо ра — перпендикулярно этому вектору. Разность хода лучей из-за неодинаковости плеч рЬ и ра при этом не изменяется, а разность хода, вызываемая сложением скоростей, должна изменить свой знак на противоположный поэтому наблюдаемая картина интерференции при повороте прибора должна была бы измениться. [c.282]

Указание. При расчете обратить внимание на то, что система Керра не пропускает света всякий раз, когда разность хода лучей в конденсаторе достигает целого числа длин волн. [c.900]

Полученное соотношение означает (это хорошо видно из рис. 4.7), что если излучение с длиной волны X и волновым вектором к падает под углом на семейство параллельных плоскостей с межплоскостным расстоянием а и нормалью к нему g, то разность хода лучей между волнами, рассеянными различными плоскостями, будет равна целому числу длин волн. Из теории дифракции излучения известно, что в этом случае за счет сложения амплитуд синфазных волн возникает сильная отраженная волна. Это и препятствует распространению волн, импульс которых отвечает границе зоны Бриллюэна. Формулу (4.57) называют [c.77]

Бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляют с помощью интерферометра [39]. Луч лазера 1 (рис. 1.39) расщепляется полупрозрачным зеркалом 2 на два луча они отражаются от неподвижного зеркала 3 и изделия 4, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи принимаются фотоумножителем 5. Разность хода лучей в плечах интерферометра равна нечетному числу четвертей световых волн. Длина волны выбирается довольно большой (6,328-10 м от гелий-неонового лазера). Косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей при колебаниях поверхности изделия аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3-10" м. [c.68]

Направленность создается в результате суперпозиции волн, приходящих в произвольную точку В от различных элементов излучателя. В равноудаленных (на расстояние г) от центра излучателя точках в зависимости от направления соответствующего луча сферические волны от элементарных источников А складываются в разных фазовых соотношениях и суммарный эффект различен. Таким образом, направленность зависит от разности хода лучей до точки В от центра и от произвольного элементарного источника Л Дг = —г. [c.79]

Количество полос на спектре от синей до красной части зависит от разности хода лучей, которая вносится разностью толщин Д/ пластинок интерференционного объектива. При Д/ = 5,5 мкм на спектре получается пять интерференционных полос. [c.102]

Последнее выражение называется законом Вертгейма. Сущность его заключается в том, что разность хода лучей прямо пропорциональна разности главных напряжений или, что то же самое, пропорциональна величине наибольших касательных напряжений. [c.68]

Примечания 1. Двойное лучепреломление обычно выражается по разности хода лучей в ммк, возникающей на единице длины (1 см) их пути или по разности их показателей преломления, причем разность показателей преломления, равная 10 , примерно соответствует разности хода 10 ммк/см. 2. Приводимые в таблице данные для листового стекла относятся к его средней плоскости — середине зоны растяжения. [c.459]

Двойным лучепреломлением обладает лишь закалённое или плохо отожжённое стекло. Двойное лучепреломление измеряется разностью хода лучей и в мк, отнесённой к толщине стекла в 1 см (оптический путь), и характеризует наличие внутренних напряжений, определяющих степень отжига или закалки стекла. [c.384]

По ходу лучей в модели 1. Полярископы с прямым ходом лучей. 2. Полярископы с двойным ходом лучей В типе 2 удваивается наблюдаемая разность хода - луч проходит модель дважды применяется для одностороннего монтажа (исследование замкнутых оболочек и оптически активного слоя на непрозрачной модели) [c.523]

Разность хода лучей в интерференционных микроскопах создается за счет лучей, отраженных от измеряемой поверхности и от плоского металлического зеркала. Если зеркалу придается небольшой наклон по отношению к измеряемой поверхности, то в окуляре наблюдается интерференционная картина — ряд полос равной ширины. [c.155]

Если т] выразить через разность хода лучей Г, [c.21]

Г — разность хода лучей в данной точке модели при прохождении через нее поляризованного света [c.24]

Рассмотрим второй случай погасания луча, когда разность хода лучей Г равна целому числу волн X. [c.26]

Метод компенсации — самый точный, но весьма трудоемкий метод определения разности главных напряжений. Измерения оптической разности хода лучей, прошедших через напряженную модель, проводятся на поляризационной установке в отдельных точках модели при помощи специальных оптических приборов, называемых компенсаторами. [c.35]

Принцип измерения разности хода лучей методом компенсации состоит в том, что к разности хода лучей, создаваемой моделью, добавляется компенсатором разность хода, равная по величине искомой, но обратная по знаку. В этом случае результирующая разность хода лучей равна нулю, и при скрещенных поляроидах наблюдается затемнение в измеряемой точке модели. [c.35]

Поворот кристаллической пластинки осуществляется вращением барабана, на котором нанесена такала. Из отсчетов по барабану компенсатора и по тарировочной кривой или таблице определяется разность хода лучей в исследуемой точке, а затем по формуле (44) находится величина разности главных напряжений. [c.36]

Направление оси компенсатора совмещают с направлением одного из главных напряжений в модели. Для этого скрещенные поляризатор и анализатор вместе с компенсатором поворачивают на 45°, так как после выполнения п. 3 ось компенсатора находятся под углом в 45° к направлению главных напряжений в исследуемой точке модели. В таком положении установки можно компенсировать разность хода лучей, прошедших через модель. Компенсация будет достигнута, если ось вращения кристаллической пластинки компенсатора совпадает с направлением алгебраически наименьшего главного нормального напряжения в исследуемой точке (положение вычитания). Если при повороте барабана компенсатора будет наблюдаться повышение интерференционной окраски цветов, то компенсации не произойдет (положение сложения). В этом случае необходимо отдельно повернуть компенсатор на 90° вокруг оси установки. После этого компенсация будет достигнута. [c.37]

Г — полученная разность хода лучей в исследуемой точке [c.38]

Интересно рассмотреть случай, когда источник находится в бесконечности, т. е. отраженные от поверхности лучи идут параллельно и наблюдение производится глазом, адаптированным на бесконечность или же в фокальной плоскости объектива телескопа. В этом случае оба интерферирующих луча, идущих от 5 к А, происходят от одного падающего луча SM (рис. 4,17). В зависимости от разности хода лучей в точке А будут наблюдаться максимум и минимум. Так как интерференционная картина определяется оптической разностью хода между интерферирующими лучами, то необходимо найти эту разность. Вследствие того что оптические длины (произведение геометрической длины пути луча на показатель преломления среды, в которой распространяется луч) всех прощедших [c.85]

Ширина интерференционной полосы зависит от угла ф. Действительно, при переходе к соседнему максимуму разность хода лучей мсиястся на поэтому, обозначив соответствующее изменение угла падения через Ai, получим [c.110]

Применение метода Гюйгенса—Френеля в данном случае весьма просто. Будем считать, что воображаемая поверхность а совпадает с плоскостью непрозрачного экрана и целиком закрывает исследуемое отверстие. В наиболее простом случае — нормальное падение исходной волны на поверхность экрана — дополнительная разность хода лучей от различных участков щели определяется углом дифракции (р. Упрощается и вычисление множителя А (ц/), значение которого влияет на интенсивность в центре дифракционной картины и не сказывается на распределении интенсивности. В эксперименте же, как правило, исследуется лишь относительная интенсивность (интенсивность в центре дифрак-ционнной картины условно принимается равной единице), так как относительные измерения несравненно проще и надежнее абсолютных измерений распределения освещенности, требующих предварительной градуировки приемников света, учета возможного поглощения и т. д. [c.282]

Явление интерференции волн широко нсиользуется в измерительной технике. Как известно, между длиной волны, разностью хода лучей и пространственным расположением максимумов и минимумов амплитуд существует некоторая зависимость. Поэтому, зная разность хода лучен, можно по расположению максимумов п минимумов амплитуд установить длину волны. Наоборот, зная длину волны, по раеположению максимумов и мшшмумон нетрудно определить разность хода лучей, т. е. измерить расстояния. [c.214]

Проникновение излучения в кристалл на значительную глубину приведет к появлению огромного количества лучей, отраженных от тысяч лараллельных плоскостей. Большая часть отраженных лучей ослабнет в результате интерференционного ослабления. Однако в отдельных случаях может быть интерференционное усиление излучения, но оно будет только в том случае, если разность хода лучей, отраженных от последовательных плоскостей, кратна целому числу длин волн. В случае зеркального отражения (см. рис. 21) эта разность равна 2d sin 0. Поэтому условие отражения Вульфа— Брэгга имеет вид [c.56]

В практических схемах интерферометров основным способом получения двух пространственно разделенных когерентных пучков света является способ амплитудного деления волны от одного источника света при помощи плоскопараллельных стеклянных пластин. В практике газодинамических исследований наибольщее распространение получила схема интерферометра Цендера — Маха. В качестве источника света в этом интерферометре используются лампы накаливания или газоразрядные лампы. Ввиду ограниченной когерентности таких источников света возникают трудности при юстировке и наладке интерферометров. К качеству смотровых окон в таких приборах предъявляются особо жесткие требования. Кроме того, они имеют сложную конструкцию и малую разность хода лучей. [c.223]

Компенсатор Солейля также состоит из кварцевых клиньев, однако наличие в нем дополнительной кварцевой пластинки позволяет получить одинаковую разность хода лучей по всей длине клина при его перемещении. При работе с компенсатором Солейля анализатор устанавливают на затемнение всего поля и после введения объекта смещением клиньев компенсируют возникшее посветление поля зрения и измеряют, таким образом, разность фаз. [c.110]

При измерении полей деформаций с помощью метода оптически активных (фотоупругнх) покрытий приборы, используемые для измерения разности хода лучей в покрытии (т. е. для измерения разности главных деформаций и для определения направлений главных осей), называют полярископами одностороннего действия. На рис. 29, а показан полярископ удваивающего типа с полупрозрачным зер- [c.389]

В портативном полярископе, поз Боляющем измерять разность хода лучей при прямом и наклонном просвечиваниях фотоупругих слоев, пре дусматривается синхронное вращение поляризатора и анализатора с точ ностью 0,5° в пределах 0—170 , Лимб синхронного вращения поляроидов имеет цену 1°, нулевому отсчету лимба соответствует скрещенное положение поляризатора и анализатора. Пластинки в четверть волны могут быть выведены из оптической схемы поворотом на 45° по отношению к плоскостям поляризации поляроидов. Разность хода лучей в точках покрытия измеряют компенсатором Берека, который может поворачиваться на 270°. [c.390]

Выражения (17) и (18) показывают, что если представить суммарное влияние на спектральные составляющие неравномерности шага и разности хода лучей, по которым распространяются импульсы, в децибельном исчислении,, то эффекты обоих факторов складываются [c.105]

Второй пучок света отклоняется дирональной плоскостью призмы II и направляется через клин 8 и объектив 9 на контролируемую поверхность детали, помещенную в фокусе этого объектива. Отразившись от контролируемой поверхности, пучок света вновь проходит через призму 11 и далее через объектив 10 на зеркало 15, где интерферируется с первым пучком. Полученную интерференционную картину наблюдают через окуляр 14. Компенсационный клин 8 служит для уравнения разности хода лучей в стекле призмы. [c.118]

При вычислении С в брюстерах входящие в формулу (44) величины берутся в следующих единицах напряжения 0 — в барах (1 бар - 1,02 кПсм = 10 дин1см ), толщина модели d — в миллиметрах, разность хода лучей Г — в ангстремах (1 А = 10 ммк). Когда С выражается в единицах 10 см 1кГ, напряжения а берутся в кПсм , d — в см, Г — в ммк. [c.21]

Для определения разности главных напряжений необходимо замерить сдвиг фаз двух колебаний т) или разность хода лучей Г. Для этого применяются приборы, называемые полярископами. Простейшим типом полярископа является плоский полярископ, который состоит из источника света, двух поляроидов И экрана. Первый из поляриодов называется поляризатором, второй — анализатором. Поляризатор превращает свет, идущий от источника, в плоско-поляризованный, необходимый для измерения оптического эффекта. [c.21]

Для падающего на модель света, поляризованного по РУгу, все направления в модели равноправны. Поэтому интенсивность света, прошедшего через модель и вторую пластинку Я/4, не зависит от направления главных напряжений. РТными словами, в круговом полярископе нет условий для совпадения плоскости поляризации с направлением одного из главных напряжений, т. е. нет условий для образования изоклин. Следовательно, на интенсивность света не будет влиять угол G в уравнении (51), и она будет пропорциональна только члену 81п лГ/Я, где Г — разность хода лучей. Поэтому круговой полярископ будет давать только картину полос без изоклин при монохроматическом свете — чередование черных и белых полос, а при белом свете — цветную картину полос. [c.29]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...