Спектральный Метод спектров сравнения

Применение лазеров в спектральном анализе существенно расширило возможности данного метода его чувствительность повысилась на три-четыре порядка по сравнению с использованием обычных источников света. Спектральные методы анализа, основанные на взаимодействии лазерного излучения с исследуемыми газообразными, жидкими или твердыми веществами с последующей обработкой спектров флуоресценции, позволяют производить количественные измерения. [c.178]

Эти области применения метода рассматриваются вмес.те, так как все они в сущности представляют определение концентраций нескольких компонентов в смеси. При непосредственном определении чистоты методика остается той же самой, что и при доказательстве идентичности, если в распоряжении экспериментатора имеется заведомо чистое соединение для получения спектра сравнения. Наличие загрязнений будет приводить к уменьшению резкости отдельных полос, общему размазыванию спектра и появлению лишних полос. Для того чтобы отчетливо увидеть эти лишние полосы загрязнений, могут потребоваться высокие концентрации вещества. Приближенная кривая поглощения примесей получается вычитанием поглощения чистого соединения, (в пучке сравнения) из поглощения загрязненного образца (в основном пучке прибора). Такой прием дифференциального анализа позволяет идентифицировать примеси. При последовательных очистках спектральное исследование может показывать уменьшение интенсивности полос, характерны для примеси, а их полное исчезновение является приемлемым критерием чистоты. Этот подход составляет также основу производственного контроля в промышленных и лабораторных масштабах. Здесь загрязнения будут состоять из непрореагировавшего исходного материала и нежелательных побочных продуктов реакции грубая оценка их концентрации может быть получена сравнением интенсивностей. В промышленных процессах можно требовать скорее каких-то оптимальных выходов, чем максимальных, но в любом случае за ними можно следить по изменению интенсивности характеристической полосы поглощения требуемого продукта. Кривая зависимости интенсивности этой полосы от времени показывает, когда концентрация продукта реакции перестает возрастать (максимальный выход) реакция может быть остановлена также при [c.20]

К достоинствам подобных систем относятся повышенное по сравнению с обычными микроскопами разрешение, возможность регулирования яркости, контраста и масштаба изображения электронным способом, большой динамический диапазон (до 60 дБ и более). Для контроля материалов, прозрачных только в инфракрасном диапазоне спектра (кремний, германий, арсенид галлия), применяют лазеры, излучающие на соответствующих длинах волн, в сочетании с фотоприемниками, обладающими нужной спектральной чувствительностью. Возможно исследование объектов в поляризованных лучах, контролирование в них напряжений методом фотоупругости, а также исследование магнито- и электрооптиче-ских свойств материалов при использовании соответствующих источников электромагнитных полей. [c.96]

Исследование методом последовательного исключения источников заключается в измерении уровня и спектрального состава вибрации двигателя с исключенным источником и последующим сравнением с ранее замеренным уровнем и спектральным составом вибрации. По различию спектра вибрации определяется влияние исключенного источника на вибрацию двигателя. [c.191]

Простейшим массовым методом определения параметров 3. а. по спектральным линиям является метод кривых роста, позволяющий без знания профилей линий, по одним эквивалентным ширинам находить все осн. характеристики 3. а., включая хим. состав. Для звёзд с детально изученными спектрами используют метод синтетич. спектра — метод сравнения с наблюдениями теоретически рассчитанных спектров с учётом наиб, важных (обычно многих тысяч) спектральных линий. Это позволяет уточнить все осн. параметры 3. а. Более тонкие характеристики, такие, как вращение звезды, вертикальные движения, наличие пятен и т. д., определяют исследуя профили спектральных линий и их переменность. [c.62]

При расчете течения и тепловых потоков в канале МГД-генератора радиационным переносом тепла обычно пренебрегают. При этом опираются на то, что радиационный поток на стенки канала, оцененный стандартным методом, оказывается малым по сравнению с конвективным (менее 10 % для канала установки У-25), Переход к каналам генераторов большой мощности связан с заметным увеличением линейных размеров и давления, что в свою очередь приводит к значительному росту радиационных потоков. Кроме того, имеются косвенные экспериментальные данные, свидетельствующие том, что наличие присадки калия в продуктах сгорания, несмотря на ее малую концентрацию 1 %), также заметно увеличивает потоки излучения. Существенно, что энергия излучения переносится в широком спектральном диапазоне, который включает в себя как инфракрасную область спектра, так и видимую, в которой сосредоточено излучение атомов калия. Уже это обстоятельство показывает, что при расчете теплообмена в МГД-канале нельзя пользоваться стандартной методикой, основанной на приближении серого газа или интегральной степени черноты. К тому же для температур, характерных для МГД-каналов (2300-3000 К), данные о степени черноты продуктов сгорания не имеют прямого экспериментального подтверждения. [c.221]

Основные методы, применяемые при обработке вибрационных сигналов, можно условно разделить на две группы. К первой группе относятся так называемые метрические методы, основанные на измерении тех или иных параметров вибрации и сравнении их с эталонными или предельными значениями характерными для исправного или предельно допустимого состояния. В зависимости от спектрального состава, распределения уровней вибрации во всем диапазоне частот и во времени, а также от нормирования допустимого уровня измеряют амплитудные, средние или среднеквадратические значения. Основным преимуществом измерения среднеквадратических значений является независимость этих значений от сдвигов фаз между отдельными составляющими спектров измеряемой вибрации. [c.49]

Следует отметить, что определение длин волн по линиям сравнения, лежащим в другом порядке спектра, может привести к ошибкам, связанным с тем, что, как уже отмечалось, спектры разных порядков могут фокусироваться на несколько отстоящих друг от друга поверхностях. Если, кроме того, инструментальный контур, даваемый решеткой, асимметричен, то это может привести к кажущемуся смещению спектральных линий в спектрах разных порядков. Связанные с этими эффектами ошибки в измерении длин волн вряд ли могут превышать 0,1—0,01 А. Однако при прецизионных измерениях с погрешностями такой величины мириться нельзя. Чтобы их избежать, этот метод следует применять в сочетании с первым методом, т. е. использовать стандарты длин волн. Для этого на одну пластинку снимается неизвестный спектр элемента Л, спектр элемента В, длины волн линий которого в вакуумной области рассчитаны, и спектр элемента С, длины волн линий которого известны в видимой области и спектр первого порядка которого накладывается на линии в спектрах второго, третьего и т.д. порядков элементов Л и В. Тогда можно найти длины волн линий элемента В по линиям элемента С и сравнить их с расчетными, после чего построить кривую поправок. Это позволит для любой линии элемента Л найти поправку к измеренным длина)м волн или убедиться в том, что она пренебрежимо мала. [c.231]

В более поздних работах, когда удалось создать относительно свободную от примесей горячую плазму, роль излучения примесей в энергетическом балансе плазмы существенно уменьшилась. Показано, например, что в плазме 0-пинча при Л е= = (1—5)-10 см и Ге—150—350 эв при суммарной концентрации всех примесей, меньшей 0,5%, потери энергии на излучение малы по сравнению с тепловыми потерями [34]. Надежность этих измерений возросла в связи с совершенствованием метода энергетической калибровки спектральных установок в вакуумной области спектра. [c.352]

Монохромное фотометрирование. Сравнение интенсивностей двух длин волн может быть выполнено визуально или с помощью объективных измерений. Рассмотрим объективные методы измерения относительных интенсивностей, предполагая, что характеристическая кривая фотоэмульсии известна. Измерения можно проводить по одной кривой почернений, построенной для данной области спектра. Тогда, если плотности почернений измеряемых линий находятся на прямолинейном участке характеристической кривой, то можно написать для каждой линии следующие выражения. Для первой спектральной линии из [c.487]

Спектральный анализ обладает рядом преимуществ по сравнению с химическим. Испытания металлов и сплавов методом химического анализа требуют много времени. Спектральный анализ значительно дешевле и дает возможность определять состав металлов и сплавов с большой точностью в течение нескольких минут. Он разделяется так же, как и химический, на качественный и количественный. Испытания методом спектрального анализа проводятся с помощью особого прибора, который называется стилоскопом. Спектральный анализ основан на изучении спектра электрической дуги, одним из электродов которой является испытуемый металл или сплав. [c.25]

Известно, что нормальные волны обладают дисперсией. Это одна из основных особенностей нормальных волн по сравнению с продольными и поперечными УЗК. Фазовые скорости, представленные на рис. 2, связаны с распространением непрерывных колебаний синусоидальной формы, т. е. с монохроматическими ультразвуковыми волнами. При контроле эхо-методом приходится и.меть дело с импульсами синусоидальных колебаний. В промышленных дефектоскопах импульс, формируемый генератором, представляет собой высокочастотный импульс с крутым передним фронтом и спадающей по экспоненциальному закону амплитудой. Этот зондирующий сигнал содержит группу спектральных составляющих. Ширина полосы спектра при данной частоте заполнения зависит от длительности и формы импульса чем короче импульс, тем она больше. Скорость распространения волн этой группы, т. е. импульса, называется групповой скоростью, определяющей скорость переноса энергии. [c.158]

Если погрешность метода исследования неоднородности мало зависит от особенностей компонента, например, при атомном эмиссионном спектральном анализе по оптическим или рентгеновским спектрам, то значение о может быть оценено по данным измерений заведомо однородно распределенных компонентов. Так, при исследовании СО сталей можно использовать данные, относящиеся к никелю,— элементу, вводимому в шихту и образующему с основой сплава (железом) систему с неограниченной растворимостью и не образующему соединений в виде структурно обособленных фаз с прочими компонентами сплава. Другой прием — измерять отношение интенсивностей двух спектральных линий элемента — основы сплава, т. е. заведомо однородно распределенного, потенциалы возбуждения (ионизации) которых примерно такие же, как и для линий контролируемого элемента, например хрома, п элемента сравнения (основы сплава), образующих аналитическую пару [1]. [c.135]

Спектроскоп миллиметрового диапазона позволит производить изотопический анализ с высоким разрешением большого числа молекул. Частоты вращательного спектра молекул в этом диапазоне обратно пропорциональны моментам инерции молекул, поэтому резонансные частоты меняются по тем же законам, что и изотопические массы молекул. Существенным преимуществом радиоспектроскопического метода определения изотопических масс по сравнению с масс-спектральным является более высокая точность, обусловленная отсутствием фона от других ядер или радикалов с одинаковой массой. Практически удается измерить отношение ядерных масс в пределах 0,1 - 0,005 с точностью 1 %. [c.442]

Оптические измерения имеют большое значение для определения температуры высоко нагретых тел и вообще для исследования высокотемпературных процессов. Обычная методика состоит в измерении тем или иным способом яркости поверхности светящегося тела (фотографическим путем, с помощью фотоэлементов, электронно-оптических умножителей). Затем по яркости находят эффективную температуру излучения, которая, по определению, совпадает с температурой абсолютно черного излучателя, посылающего с поверхности точно такой же световой поток, как и исследуемый объект (см. 8 гл. II). Особенно распространены фотографические методы определения яркости и эффективной температуры, основанные на сравнении степеней почернения, которые производят на фотопленке свет, исходящий от тела, и свет от эталонного источника с известными температурой и спектром, скажем, от Солнца. Для большей точности фотографируют обычно в узком спектральном участке, так как изучаемый объект и эталонный источник, обладая разными температурами, посылают различные спектры излучения, а кроме того, от длины волны света зависит чувствительность фотоматериалов, что создает трудности при пересчете степени почернения на температуру. [c.464]

В методе конкурирующих пучков [7] сочетаются преимущества внутрирезонаторных методов, а именно высокое разрешение узкополосного и высокая чувствительность широкополосного. Исследуемое вещество в этом методе размещается в дисперсионном (основном) резонаторе лазера, генерирующего узкую спектральную линию, которая может плавно перестраиваться по спектру. Высокая чувствительность генерации к малым потерям обеспечивается дополнительным неселективным резонатором. Основной и дополнительный резонаторы имеют общую активную среду. Линии поглощения регистрируются фотоэлектрическим способом при сравнении интенсивности излучения, выходящего из основного и дополнительного резонаторов при наличии и отсутствии исследуемого вещества в дисперсионном резонаторе лазера. [c.196]

Измерения спектров поглощения атмосферного воздуха выполнены на ВР-спектрометрах с пороговой чувствительностью до 10 см во многих спектральных участках, где работают лазерные системы для исследования атмосферы. Анализ этих результатов приведен в [21] и иллюстрируется табл. 7.1. В итоге, при исследованиях атмосферного воздуха, зарегистрированы сотни новых линий поглощения атмосферы, что в ряде случаев позволило существенно скорректировать существующие атласы спектров поглощения атмосферы. В табл. 7.2 приведены результаты сравнения экспериментальных данных по параметрам линий поглощения Н2О в области 1,06 мкм, полученных в ИОА СО АН СССР методами ВР-спектроскопии, с данными атласа спектральных линий 34, 36 [c.162]

Известна также методика [20], согласно которой /о определяется на основе измерений пространственной корреляционной функции флуктуаций логарифма амплитуды плоской оптической волны на трассе 10 м. Методическим недостатком здесь является значительная продолжительность времени измерения одной кривой для пространственной корреляционной функции, в течение которого величина /о, как правило, изменяется за счет временного хода режима турбулентности. Следующим шагом было применение метода спектральных измерений флуктуаций интенсивности [21] для определения /о. Поскольку флуктуации показателя преломления атмосферы в основном определяются флуктуациями температуры,, спектры этих величин считаются подобными [49], отличающимися лишь численными коэффициентами. Сравнение полученных результатов из оптических измерений [21] со спектрами температурных пульсаций показало, что совпадение хорошее только в высокочастотной части. [c.217]

Метод сравнения почернений с помощью микрофотометра. Малоопытному фотометристу может вначале показаться, что отыскание спектральных участков равной плотности почернений, как этого требует вышеописанны метод спектров сравнения, визуальным способом проводится недостаточно надежно. Кроме того, добиться юстировкой прибора в контрольном снимке равенства почернений с абсолютной точностью невозмо кпо. Равные, казалось бы, на глаз плотности почернений при измерении микрофотометром оказываются несколько отличающимися друг от друга. Объясняется это тем, что точность определения оптических плотностей на фотоэлектрическом лнгкрофотометре выше в 10 раз, если не больше, чем визуальным методом. [c.396]

При измерении интенсивностей в спектрах следует всегда учитывать характер спектра и особенности спектрального прибора. Если по методу спектров сравнения с эталонной вольфрамовой лампой исследуется распреде.ление относительной интепсивности по спектру, который имеет характер непрерывного или диффузно-полосатого, то после сравнения интенсивностей в отдельных участках спектра следует полученные отношения исправить только на распределение энергии (интенсивности) в эталонной ламие. [c.437]

Из всего сказанного в предыдущих параграфах должно быть ясно, как следует проводить измерения распределения энергии по спектру в тех случаях, когда в качестве приемников излучения используются какие-либо селективные электрические приемники фотоэлементы, фотоумножители или фотосонротивления. Чтобы можно было учесть их спектральную чувствительность, следует пользоваться методом спектров сравнения, а для исключения из [c.448]

При измерении по методу спектров сравнения в случае одио-лучевой схемы спектрофотометра, напрпмер типа СФ-4 (рис. 311) или СФД-1 (рис. 312), где измерения проводятся по точкам, необходимо сравнить интенсивность излучения исследуемого источника с интенсивностью эталонного источника. После проведенных такилг образом измерений, прп которых спектральная чувствительность приемника учтена двойны1М рядол сравнительных измерений, необходимо провести только поправки на дисперсию (см. 1 этой главы), если спектры отличаются но структуре (непрерывный спектр эталонной лампы и линейчатый спектр исследуемого излучения). [c.449]

Визуальный метод обращения. Температуру в наружном конусе пламени можно определить методом обращения спектральных линий. В отличие от методов, описанных в задачах 14 и 15, испо.тьзуемых только в случае оптически тонкой ЛТР-плазмы, этот метод применим при заметной оптической толщине плазмы. Метод обращения состоит в измерении поглощения и испускания в спектральной линии и в сравнении их с испусканием при той же длине волны источника света с известным распределением энергии по спектру. За плазмой размещают независимый источник со сплошным спектром излучения, просвечивающий ее. Далее измеряют интенсивность излучения этого источника при отсутствии плазмы и интенсивность в том случае, когда его излучение частично поглощается в плазме. Обычно это сводится к измерению (или уравниванию) интенсивностей просвечиваемой линии и сплошного спектра около нее. Интенсивность /спл в сплошном [c.253]

Излучение канала разряда. Спектроскопические методы исследования искрового канала дают наибольшую информацию о термодинамических процессах, протекающих в фазе его расширения. Для измерений спектральной плотности излучения из зоны канала использовалась фотоэлектрическая запись сигнала. Источником сравнения в измерениях служил эталонный источник сплошного спектра с яркостной температурой Т 39000К. [c.44]

Традиц. методом изучения 3. остаётся анализ их положения на Герцшпрупга — Ресселла диаграмме (рис.) (на основании данных об эффективной температуре Уд излучения 3. и её полной светимости L). Светимость L и теип-рэ позволяют найти радиус излучающей поверхности — фотосферы 3. с помощью ф-лы 4ло7 / 2=/,, где o=s5,75-10 г-с -К-- (см. Стефана — Больцмана закон излучения). Темп-ра 3. может быть оценена песк. способами, напр, сравнением распределения знергии в спектре излучения 3. с Планка законом излучения или по относит, интенсивностям спектральных линий разл. элементов, чувствительных к темп-ре. Светимости 3. оцениваются по интегральному (на всех длинах волы) патоку излучения при известном расстоянии до них. Лучшим методом определения расстояния до звёзд остаётся измерение их параллакса (см. Расстояний шкала). [c.68]

Флуоресцентный МСА основав на сравнении спектров свечения раствора исследуемого вещества со свечением эталонных растворов близкой концентрации. Метод обладает высокой чувствительностью, но уступает методам поглощат. спектроскопии по универсальности и избирательности. При использовании техники замороженных растворов (метод Шпольского см. Шполь-ского аффект.) информативность спектров флуоресценции резко возрастает, т. к. в этих условиях спектры обладают ярко выраженной индивидуальностью и резко различны даже для изомеров и молекул близкого строения. Напр., метод Шпольского даёт возможность проведения качеств, и количеств, анализа сложных смесей ароматич. углеводородов. Благодаря исключительно малой ширине спектральных линий в спектрах Шпольского удаётся достигнуть пороговой чувствительности обнаружения нек-рых ароматич. веществ г/см ). [c.620]

Подход к формированию широкополосной нагрузки, имитирующей эксплуатационную вибрацию, в виде суммы зависимых случайных процессов [9] основан на разложении корреляционной функции моделирующего процесса в ряд по ортонормированной или биортонормированной системам функций. Эти системы строятся на основе специально выбираемых базисов. При этом учитывается реальная форма спектральных плотностей суммируемых зависимых процессов. По сравнению с традиционными методами повышается точность формирования энергетического спектра и уменьшается (примерно в 10 раз) число выделяющих фильтров. Полученные результаты являются методологической основой для построения цифровых и гибридных звеньев в системах формирования широкополосных случайных вибраций. [c.365]

Рассмотренные выше свойства нелинейных преобразователей делают их интересными с точки зрения ИК-спектроскопии в двух отношениях. Во-первых, частотная дисперсия синхронизма приводит к тому, что разные спектральные компоненты инфракрасного излучения преобразуются по-разному (с разной эффективностью, в разных направлениях) и, следовательно, сам преобразователь работает как юпектральный прибор. Во-вторых, спектр преобразованного излучения сохраняет определенную информацию об ИК-сг№ктре и поэтому анализ спектра в видимой области обычными методами позволяет решать задачи ИК-спект-роскопии. Поскольку спектральные приборы видимой области обладают рядом преимуществ по сравнению с соответствующими приборами ИК-диапазона (более высокое разрешение и добротность, возможность многоканальной регистрации, более простое устройство), то такой вариант использования нелинейно-оптических преобразователей в ИК-спектроскопии также представляет значительный интерес. [c.121]

Лазер, как генератор светового излучения, должен содержать среду, усиливающую свет, и резонатор, осуществляющий положительную обратную связь между генерируемым светом и усиливающей средой. Роль усиливающей среды в нашем случае играет кристалл алюмоиттриевого граната с неодимом (АИГ-Nd). Этот кристалл по сравнению с другими лазерными активными средами (например, рубин, стекло с неодимом и т. д.) обладает удачным сочетанием физических и спектральных свойств, позволяющих ему успешно работать практически во всех известных режимах генерации (импульсных и непрерывных). Так, например, в непрерывном режиме лазеры на гранате с неодимом позволяют достигать мощности излучения до 1 кВт [13, 14]. В импульсном режиме достигаются мощности излучения до 100—1000 МВт [15, 16]. Основное излучение лазеров на гранате с неодимом находится в ближнем инфракрасном диапазоне спектра. С помощью хорошо разработанных методов нелинейной оптики это излучение эффек-1ИВН0 преобразуется в излучение видимого и ближнего ультрафиолетового диапазонов спектра [17, 18]. Эта возможность существенно расширяет области применения АИГ-лазеров. [c.5]

Нами рассмотрена теорема выборки в координатном и частотном пространствах и использовано понятие произведения пространства на ширину полосы для определения связи общего числа точек выборки с шириной спектра функции. Приведены примеры из оптики, иллюстрируюш,ие использование теоремы выборки в ряде применений. Представлено статистическое описание случайных сигналов, предполагаюш,ее выполнение условий стационарности и эргодичности, подчеркнуто значение усреднений по ансамблю и Координатам. Мы определили корреляционные функции, их фурье-образы, а также функции спектральной плотности. Нами проведено обш,ее сравнение операций корреляции и свертки как для симметричных, так и для несимметричных функций. Мы проиллюстрировали на примерах применение различных статистических методов к линейным оптическим системам при случайных входных сигналах и дали интерпретацию соответствуюш,их результатов. В этих примерах рассмотрены модель идеальной линейной фотопленки, винеровская фильтрация, обратная и согласованная фильтрации. В заключение мы показали, что использование метода, основанного на усреднении по ансамблю, улучшает отношение сигнал/шум в спекл-фотографии. [c.95]

Важную информацию об электронной структуре кластеров дают оптические измерения [49—51, 755, 758, 765, 766). При этом агрегации атомов выращивают матричным методом внутри твердых инертных веществ. Наиболее исследованы оптические спектры поглощения кластеров серебра. Спектральные характеристики кластеров Ag п < 6) идентифицировали путем сравнения данных, полученных в газовой фазе и в разных матрицах. Результаты приведены на рис. 117 [51]. Однако многие полосы поглощения остались нерасшифрованными из-за их слабости или перекрывания с другими полосами. Авторы работы [51] сделали вывод, что приписать оставшиеся полосы поглощения кластерам Ag СП 6, по-видимому, невозможно, пока не будут выполнены независимые измерения лшсс. [c.263]

Вместо рассмотренной в предыдущем разделе синхронизации мод при модуляции внутренних потерь или оптической длины резонатора синхронизация мод может осуществляться путем модуляции усиления. Для этого в резонатор лазера вводится накачка в виде непрерывной последовательности импульсов, генерируемых другим лазером с синхронизацией мод (см. рис. 5.8). Если длина резонатора лазера достаточно близка к длине резонатора лазера накачки или кратна ей, то при определенных условиях усиление оказывается модулированным с периодом, равным времени полного прохода резонатора. Как и при модуляции потерь, короткий импульс в этом случае формируется за промежуток времени, соответствующий максимальному усилению. Длительность этого импульса при оптимальных условиях может быть на два-три порядка короче длительности импульса накачки. Наибольший практический интерес представляет применение метода синхронной накачки в лазерах на красителях, так как в лазерах этого типа используется преимущественно оптическая накачка, а их линии усиления весьма широки (величина А(0з2/2л лежит в пределах от 10 до 10 Гц). Лазеры на красителях допускают в определенном диапазоне плавную перестройку частоты в области максимума спектра излучения. Это достигается введением в резонатор частотно-селек-тивного оптического фильтра, в качестве которого могут быть использованы, например, эталон Фабри—Перо, фильтр Лио или призма. Ширина спектра пропускания этих фильтров, однако, не должна быть слишком мала, так как ее сужение может вызвать существенное увеличение длительности импульсов. По указанным причинам значение лазеров на красителях с синхронной накачкой в технике генерации пикосекундных и субпи-косекундных импульсов в последние годы все больше возрастает. По сравнению с лазерами на красителях с пассивной синхронизацией мод, которым посвящена следующая глава, синхронно накачиваемые лазеры имеют следующее преимущество для перестройки частоты их излучения может быть использована полная спектральная ширина лазерного перехода, тогда как при пассивной синхронизации полоса перестройки дополнительно ограничивается спектром линии поглощения насыщающегося поглотителя. [c.150]

ПС. Типовые лазеры на стекле с неодимом излучают импульсы длительностью от 2 до 20 пс при энергии максимального импульса от 1 до 10 мДж и полуширине цуга импульсов от 50 до 200 НС. Сравнение экспериментальных результатов для лазеров на стекле с неодимом с теоретическими результатами расчета длительности импульса, полученными в разд. 7.2, показывает хорошее совпадение лишь в начале цуга импульсов. Длительность импульсов в максимуме цуга существенно превосходит рассчитанную теоретически, а форма импульсов сложна. Интенсивные исследования временной и спектральной структур выходного излучения лазера на стекле с неодимом с синхронизацией мод [7.14—7.18, 7.25—7.30] позволили по существу дать следующее объяснение сложности этой структуры. В начале цуга длительность импульсов составляет от 2 до 5 пс, а полуширина их спектра соответствует обратной величине длительности [7.16, 7.18] (AvbTb 0,5). Измерения методом двухфотонной люминесценции показывают, что отношение пьедестала к пику составляет 1 3, что соответствует случаю хорошей синхронизации мод (см. гл. 3). По этой причине селекция импульсов (см. п. 7.3.3) осуществляется таким образом, чтобы для дальнейшего усиления и применения в последующем эксперименте выбирался импульс из передней части цуга. Спектральная ширина импульсов, соответствующих дальнейшему развитию цуга, сильно нарастает, и четко обнаруживается образование подструктур как в спектре импульсов, так и во временной зависимости интенсивности. Причиной расширения спектра является неоднородное по спектру снятие усиления и автомодуляция фазы излучения, возникающая в результате нелинейного взаимодействия интенсивного излучения со стеклянной матрицей (см. п. 7,2.4). При относительно высоких интенсивностях излучения лазера проявляется изменение показателя преломления стеклянного стержня, зависящее от интенсивности 1ь импульса [c.260]

Контуры линий измерялись фотоэлектрическим методом на спектрографе ИСП-51 с приставкой ФЭП-1. Спектр комбинационного рассеяния возбуждался в стандартном эллиптическом осветителе светом ртутной линии 4358 А от лампы ПРК-2 при силе тока 3 а. Для выделения из ртутного спектра возбуждающей линии использовался жидкостный фильтр из насыщенного водного раствора NaN02. Спектральная ширина щелей равнялась 5 см"" . Правильность работы установки контролировалась по спектру толуола [ ]. Измерение площадей, ограниченных наблюдаемыми контурами линий исследуемой и сравнения (линия 802 см циклогексана), производилось на одинаковом числе ширин — 66. Поправка на усечение поэтому была принята равной единице [ ]. Спектральная чувствительность фотоумножителя определялась по спектру флуоресценции сернокислого хинина [ ]. Каждая линия регистрировалась не менее 10 раз. Средняя ошибка измерения интенсивности составляла около 10%. Результаты измерений сведены в таблице. Используя вычисленное в работе значение абсолютной интенсивности линии 802 см циклогексана (56 - -13 )= 21.88 10 см /г, получаем экспериментальные абсолютные интенсивности комбинационных линий тетрахлорэтилена (см. таблицу). [c.297]

Сравнение двух излучений одинакового спектрального состава в вакуумной области спектра в принципе ничем не отличается от такого же сравнения в близкой ультрафиолетовой области. При фотоэлектрической регистрации может быть использован любой детектор, чувствительный к вакуумной области спектра. При фотографической регистрации марки почернения так же, как и в видимой области, можно наносить, изменяя ширину щели при регистрации сплошного спектра. Но не все обычные методы калибровки пластинок и нанесения на них марок почернения оказываются пригодными так, например, методы построения характеристических кривых с использованием ступенчатых ослабителей не годятся (трудно подобрать материалы для изготовления ослабителя, прозрачного в этой области). Кроме того, большинство приборов, применяемых для вакуумного ультрафиолета, астигматичны, что затрудняет применение ослабителей. [c.240]

Использование порога почернепия фотопластинок в практике изучения поглощения тел имеет место в тех случаях, когда можно довольствоваться только качественньтдш данными о спектральной области поглощения и структуре спектра. В тех же случаях, когда необходимо измерить спектр показателей поглощения, т. е. когда необходимы количественные данные, используют метод сравнения почериений фотопластинок. [c.388]

Резонансный процесс ионизации оказался весьма важным для таких приложений, кж метод резонансной многофотониой спектроскопии [6.6 Хорошее спектральное разрешение, которое можно осуществить, используя одночастотное лазерное излучение и метод пересекающихся пучков (атомарного пучка и пучка лазерного излучения), а также высокая эффективность, обусловленная регистрацией ионов, делает этот метод вполне конкурентно способным по сравнению с традиционным методом наблюдения излучения при релаксации возбужденных состояний [6.6]. Ряд важных результатов этот метод дал при исследовании атомов (см. п. 6.3), но наиболее широко он применяется при исследовании спектров молекул. Спектроскопический аспект процесса многофотонной резонансной ионизации сводится не только к измерению энергий возбужденных атомных состояний. Он включает в себя также и исследование возмущения этих состояний в поле излучения (динамический эффект Штарка, гл. II), получение экспериментальных данных о многофотонных матричных элементах, наблюдение различных экзотических переходов (квадрупольных, запрещенных, двухэлектронных и т.д.). [c.142]

При исследовании ИК-спектра любой матрично-изолированной частицы (кроме атомов и гомоядерных двухатомных молекул) наблюдается по кршней мере одна полоса поглощения. Трудности обычно возникают на стадии отнесения спектральных полос к конкретным частицам, поскольку ИК-спектры в газовой фазе получены лишь для немногих активных частиц и прямое сравнение частот невозможно. В некоторых случаях частоты колебаний, необходимые для такого сравнения и отнесения полос в спектрах матрицы, могут быть получены путем анализа электронных спектров в газовой фазе той же частицы. Но это может быть осуществлено только для некоторых двух- и трехатомных частиц, которые уже идентифицированы по электронным спектрам. Во всех остальных случаях отнесение полос к колебаниям неизвестных частиц осуществляют эмпирически, используя методы, опи-сьшаемые ниже. [c.97]

Эмиссионный С. а. — совокупность методов определения элементарного состава вещества по его спектру испускания. Качественный С. а. состоит в обнаружении и отождествлении в спектре анализируемого вещества спектральных линий, принадлежащих искомому злементу. Обычно для этого ноль- зуются наиболее чувствительными линиями, т. е линиями, наблюдаемыми в спектре при минимальной концентрации определяемого элемента. Во избежание ошибок при качеств, анализе необходимо устанавливать наличие элемента в образце по неск. линиям для этих целей существуют многочисленные таблицы и атласы спектральных линий элементов. Количест-венный С. а. основан на связи между интенсивность ) спектральной линии и концентрацией. Метод заключается в сравнении интенсивностей т. н. аналитич. пары линий — спектральной линии определяемого элемента п липни основного элемента пробы (или линии спецпально вводимого элемента — внутреннего стандарта ). [c.16]

По излучению в видимой области спектра температура измерялась методом обращения спектральных линий. Способ регистрации момента обращения — визуальный. В качестве спектрального прибора использовался спектрограф ИСП-51. Локальная окраска пламени производилась сухой солью Na l (как правило, наблюдалось обращение дублета натрия другие элементы — калий, литий — применялись редко). Источником сравнения служила ленточная вольфрамовая лампа СИ-10-300, яркостная температура которой измер ялась прецизионным пирометром ОП-48. При определении температуры учитывалось наличие линзы между источником сравнения и пламенем и то обстоятельство, что эффективная длина волны пирометра отличается от длины волны, на которой ведутся измерения. [c.188]

При анализе явления Зеемана в спектрах некубических кристаллов удобно различать два случая Яо С и Яо 1 С , где С — главная ось порядка п. При //о С для изолированных спектральных линий наблюдаются простые симметричные картины расщепления (линейный эффект Зеемана). Зная параметры кристаллического поля (из данных ЭПР или из оптических данных), моншо рассчитать, действуя обычными методами теории возмущений, величины расщепления уровней, связанных с исследуемыми оптическими переходами и имеющими вырождение не выше двухкратного. На основании сравнения g -факторов наблюдаемого и вычисленного может быть сделано заключение о том, с каким уровнем изолированного иона связан данный штарковский подуровень. Однако, такой анализ, в ряде случаев весьма сложен по той причине, что в слабых кристаллических полях (например, сравнительно слабые поля этилсуль-фатов редких земель) редко встречаются изолированные уровни, расщепление которых в сравнительно сильных магнитных полях было бы свободно от взаимодействия с соседними уровнями. [c.100]

II работе Хаутгаста, ее выводы были подтверждены. В режиме ППМ но сравнению с ОМ ширина фильтра сужалась и появлялись тормозные зоны с обеих сторон от зоны положительных коэффициентов передачи. Ширина СФ испытуемых, оцененная методами маскировки тона двумя тонами, шумом со спектральным провалом или шумом с гребенчатым спектром, оказалась примерно одинаковой (Glasberg et al., 1984). [c.99]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...