Анализ спектральный эмиссионный

Спектральный эмиссионный анализ 0 4 мм 2-10-3 [c.149]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ ЭМИССИОННЫЙ АНАЛИЗ [c.585]

С СПЕКТРАЛЬНЫЙ ЭМИССИОННЫЙ АНАЛИЗ [гл. 12 [c.586]

Спектральный эмиссионный анализ получил широкое применение в самых различных областях науки, техники и сельского хозяйства. Благодаря своей исключительной быстроте и чувствительности при удовлетворительной точности он занял первое место во многих заводских контрольных лабораториях даже цехового значения, призванных осуществлять поточный контроль продукции. [c.588]

СПЕКТРАЛЬНЫЙ эмиссионный АНАЛИЗ [c.602]

Основными методами спектрального анализа являются эмиссионный, абсорбционный, комбинационный, люминесцентный, рентгеновский и радиоспектроскопический. Последние два вида анализа требуют весьма специфической аппаратуры, поэтому приборы для рентгеновского и радиоспектроскопического спектрального анализов мы рассматривать не будем. [c.344]

Спектральный анализ - это анализ качественного и количественного состава веществ по атомным, молекулярным или ионным спектрам испускания или поглощения. Если исследованию подвергается спектр испускания (излучения), анализ называют эмиссионным, если же исследуется спектр поглощения, - абсорбционным. Существуют другие, более сложные спектры, которые используются в научных исследованиях, например, спектры комбинационного рассеяния. [c.520]

Атомно-эмиссионный спектральный анализ. Атомно-эмиссионный спектральный анализ - это анализ элементного состава веществ по спектрам излучения (испускания). Для того чтобы получить атомный спектр, необходимо вещество нагреть до парообразного состояния. При этом происходит возбуждение атомов - переход электронов с одних уровней на другие, испускаются кванты электромагнитного излучения. Если свет, излучаемый возбужденными атомами вещества, направить в [c.520]

Данное пособие создано преподавателями кафедры оптики физического факультета МГУ и обобщает многолетний опыт работы специального оптического практикума и лаборатории по специальности. В нем описаны 19 задач в области эмиссионного спектрального анализа, атомной спектроскопии, колебательных спектров (комбинационного рассеяния, ИК-спектроскопии), люминесценции и электронных спектров поглощения, оптических методов диагностики плазмы и оптических квантовых генераторов. Все шесть глав содержат сведения, представляющие краткий обзор основных понятий и теоретических сведений по соответствующему разделу спектроскопии, необходимых студенту для выполнения задач практикума. Каждая задача в свою очередь состоит из теоретической части и описания нескольких упражнений, на выполнение которых требуется от 9 до 36 часов. Конкретная программа работы студента определяется преподавателем. Пособие завершается приложением, где приведены основные табличные данные, используемые при обработке полученных экспериментальных результатов. [c.4]

Глава 1. Эмиссионный спектральный анализ — канд. физ.-ма-тем. наук асе. А. И. Акимов-, [c.4]

ГЛАВА 1. эмиссионный СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ [c.5]

Спектральный анализ, основанный на использовании оптических спектров испускания атомов и ионов, называют эмиссионным спектральным анализом. Эмиссионные линейчатые спектры, излучаемые атомами и ионами, не зависят от вида химических соединений, из которых состоит исследуемое вещество. Поэтому эти спектры применяются для определения элементов, входящих в состав анализируемого образца, и их процентного содержания (атомный или элементный анализ). [c.5]

Применение того или иного источника возбуждения спектра (или, как его часто называют, источника света) определяется конкретными целями работы и возможностями источника образовывать интересующий нас спектр. Источники света в эмиссионном спектральном анализе, как правило, одновременно выполняют две функции переводят вещество пробы в парообразное состояние и возбуждают спектры излучения этих паров. Наибольшее распространение для аналитических целей получили следующие источники света. [c.6]

Для эмиссионного спектрального анализа применяются различные спектральные приборы. [c.8]

Наиболее распространенными приборами, применяющимися для эмиссионного спектрального анализа, являются спектрографы. [c.8]

Большинство задач эмиссионного анализа решается при использовании спектральных линий, расположенных в видимом, ближнем ультрафиолетовом (УФ) и инфракрасном (ИК) участках спектра. В соответствии с этим чаще всего применяются спектрографы, работающие в интервале длин волн 200—1000 нм. Они строятся как с применением дифракционных решеток, так и призменных систем. В последнем случае приборы подразделяются на две группы 1) для УФ-области спектра и 2) для видимой и ближней ИК-области. В приборах первого типа призмы и другие оптические детали обычно изготовляются из кварца, в приборах второго типа — из стекла. [c.8]

Испытания эффективности и качества протекторов ограничиваются в основном аналитическим контролем химического состава сплава, проверкой качества и наличия покрытия на держателе, определением достаточности сцепления между держателем (креплением) и протекторным материалом и контролем соблюдения заданной массы и размеров протектора. Испытания магниевых и цинковых протекторов регламентируются нормативными документами [6, 7, 22, 28]. Аналогичных нормативов но алюминиевым протекторам не имеется. Кроме того, указываются и минимальные значения стационарного потенциала [il6]. Нормативы по химическому составу обычно представляют собой минимальные требования, которые обычно превышаются у всех сплавов, имеющихся на рынке. К тому же регламентированные в этих документах способы мокрого химического анализа в техническом отношении за прошедшее время устарели. Протекторные сплавы в настоящее время более целесообразно исследовать методами эмиссионного спектрального анализа или атомной абсорбционной спектрометрии (по спектрам поглощения). [c.196]

Измеренные таким образом частотно-временные характеристики флуктуаций эмиссионного тока можно условно называть спектрами нестабильности, хотя, строго говоря, методика их измерения отличается от традиционной методики спектрального анализа низкочастотных флуктуаций [2911. [c.224]

Вальтер и Вернер Герлах, Спектральный эмиссионный анализ, пер. с нем., ОНТИ, Л. 1936. [c.124]

Нача.ло этому паиравлению было положено, как известно, работами Бунзена и Кирхгофа, обосновавших метод спектрального эмиссионного ана.тиза, который нозволяет по спектру испускания тел качественно судить о их химическом составе. В дальнехгшем он был приснособлен и для количественного анализа на содержание тех и.ии иных элементов в анализируемых телах. Этот метод получил вначале широкое применение в астрономических исследованиях небесных тел, а затем все более и более стал проникать в научные и заводские лаборатории. В настоящее время он занял важное место в ряду методов экспрессного анализа и контроля, способствующих управлению технологией многих производств. [c.221]

В спектральном эмиссионном анализе роль источника излучения является первостепенной. Электрические дуги и коиденси-рованные искры, которые здесь чаще всего используются, должны обеспечить, с одной стороны, перевод анализируемых материалов из твердого или жидкого состояния в парообразное состояние, [c.221]

Конструкции горелок для пламен выбирают соответственно 1 онкретной задаче, для которой используется пламя, как это имеет место, например, при использовании его в спектральном эмиссионном анализе (см. гл. 12, 5). [c.238]

В последнее время в качестве актнвизаторов дуги переменного тока начали использоваться электронно-ламповые генераторы высокой частоты, разработанные и испытанные в лаборатории Комиссии по спектроскопии АН СССР ). С помощью таких генераторов удается стабилизировать электрический режим дуги достаточно надежным образом. Флуктуации в интенсивности этих дуг обусловлены практически только флуктуациями в поступлении вещества в газоразрядный промежуток (см. гл. 12, 3 и 4). Электронно-ламповыми генератора.ди снабжаются в настоящее время фотоэлектрические стплометры (ФЭС-1) и другие спектральные устройства, предназначенные для спектрального эмиссионного анализа (см. на рис. 466 блок-схему генератора с электронным управлением ГЭУ-1). [c.250]

При спектральном эмиссионном анализе обычно используются атомные спектры испускания атомов и ионов, которые находятся в свободном парообразном состоянии. Они носят линейчатый характер структура спектров однозначно связана с энергетической структурой электронных уровней атомов и ионов химических элементов. Поэтому эмиссионный анализ пногда называют атомарным или элементарным химическим анализом. [c.585]

Можно выделить два основных варианта аттестации СО по данным монолабораторного эксперимента (о их детализации см. разд. 9.3.3). Первый — непосредственная аттестация на основе заранее апробированного прецизионного метода анализа или синтеза в условиях, обеспечивающих получение достаточно правильных результатов. Таковы, например, аттестация СО органических веществ по их чистоте (содержанию основного компонента) на основе использования криометрнческого метода анализа в условиях метрологического учреждения [163] или прецизионный синтез комплекта образцов (в виде смесей оксидов) для спектрального эмиссионного атомного анализа чистых металлов [153]. Известны и случаи, когда такую аттестацию (обычно СО не высщего ранга) осуществляет, путем анализа, одна лаборатория. Второй вариант аттестации — компаративный, на основе передачи информации от стандартного образца высщего ранга (проанализированного или составного) к аттестуемому (см. разд. 9.3.3). [c.162]

Материал и методика исследований. Применяли листовые образцы толщиной 3—15 мм и цилиндрические диаметром 20—30 мм из сталей 10, 20, 45, Х13 и Х18Н10Т. Насыщение хромом производили на глубину бсг с таким расчетом, чтобы отношение бсг к общей толщине 6 составляло от 0,16 до 0,8. Варьирование составом основы и отношением бс/бст позволило определить влияние структуры слоя на его сопротивление высокотемпературному окислению и дать рекомендации по ограничению рассасывания слоя в процессе работы. Стали хромировали в вакуумных печах МПВ-3 и ОКБ-749 при 1300— 1420 С в течение 12—20 час. Испытания на жаростойкость проводили при 900—1000° С в течение 25—300 час. Сопротивление окислению оценивали по привесу. Исследовали также кинетику окисления. Глубину слоя определяли металлографически (под микроскопом МИМ-8М), содержание хрома — спектральным эмиссионным анализом. [c.115]

Для решения этой задачи наибольшее распространение получили методы рентгено-флюоресцентного и радиометрического анализа, атомно-эмиссионного спектрального анализа с вращающимся угольным электродом и методы спектрометрии высокочастотного индукционного аргонового плазменного источника (ВИП, в английском написании I P, - спектрометрии). Последнее направление, ВИП-спектрометрия, обладает рядом преимуществ, поскольку является в настоящее время наиболее информативным методом исследования элементного состава различнь х сред и сочетает высокую производительность с воспроизводимостью, широким диапазоном определяемых концентраций, при минималь- [c.243]

При оценке технического состояния двигателей, машин и механизмов по количеству микропримесей металлов в смазочных маслах нашли распространение оптические методы спектрального анализа атомно-эмиссионный, атомно-абсорбционный, рентгеноспектральный и др. Достоинством спектральных методов является экспрессное определение концентрации металлов одновременно большого количества круга элементов. Методы нашли применение в авиации, судовом, железнодорожном и автомобильном транспорте. Дальнейшее развитие средств контроля примесей металлов в работающих маслах идет по пути улучшения метрологических характеристик снижения пределов обнаружения и погрешностей измеренных сигналов, устранение межэлементных влияний и упрощение способов пробоподготовки, расширение числа анализируемых элементов. [c.322]

Неизменность экспериментальных условий из-за большого числа влияющих на интенсивность линий факторов обеспечить очень трудно. Поэтому в основе современных методов эмиссионного анализа помимо использования эталонов лежит прием, сводящий к мннийуму действие неизбежных вариаций условий возбуждения и связанных с ними вариаций интенсивностей спектральных линий. Этот прием заключается в измерении не абсолютных интенсивностей линий данного элемента или пропорциональных им величин, а относительных интенсивностей линий анализируемого элемента и элемента сравнения как функции концентрации. Так как при малых концентрациях примесей количество атомов основного элемента в разряде остается практически неизменным, элементом сравнения или внутренним стандартом обычно служит основной элемент пробы. Иногда элементом сравнения служит вводимый в анализируемые образцы и эталоны в одних и тех же количествах дополнительный элемент. Интенсивность линии внутреннего стандарта является, таким образом, той мерой интенсивности, сравнением с которой устанавливается интенсивность линии определяемого элемента. [c.42]

Перед широко известными и давно применяемыми методами анализов, такими, как масс-спектроекопичеекий, эмиссионный спектральный, лазерный, ЭОС, РСМА, ионный метод обладает рядом преимуществ [c.157]

Дуговые л а б. II с т о ч н и к и и сери й-ные лампы высокого и сверхвысокого давлений позволяют вводить значит, уд. мощность (Уи>100 Л/см ) и дают излучение высокой яркости с широко варьируемым спектром. Свободно горящая дуга, используемая в эмиссионном спектральном анализе, имеет неустойчивый канал, в к-рый поступают испускающие линейчатый спектр пары материала электродов или спец. вставки в нём. В лаб. источниках, применяемых в спектроскопии плазмы, дуга стабилизируется устраняющей загрязнения вытяжкой газа через электроды или охлаждаемыми водой медными игайбами (при наблюдении канала длиной неск, см и S3 0,2—1 см вдоль оси). Такая стабилизированная- каскадная дуга используется и как эталонный источник (в континууме Аг при р = 0,1—1 МПа, Гд до 1,2-40 К в вакуумных УФ-ляниях Н Тц до 2,2-10 К). Мощная дуга с вихревой стабилизацией канала 0 0,2—1 см и длиной неск. см, обычно в Аг при до 7 МПа и Р до 150 кВт, даёт сплошное излучение с Тв 6000 К и применяется для имитации солнечного излучения, в фотохимии и установках радпац. нагрева. [c.223]

В др. способе элементного анализа исследуемое вещество также вводится в пламя или в проточную плазму газового разряда, к-рые находятся между двумя электродами. Пламя или плазма облучаются излучением перестраиваемого лазера, и протекающий через плазму ток измеряется как функция длины волны излучения. Как только излучение попадает в резонанс с переходами атомов, находящихся в плазме, то изменяются условия ионизации атомов и, следовательно, разрядный ток. Этот эффект наз. оптогальваническим чувствительность методов, использующих этот эффект, на неск. порядков выше, чем в эмиссионном спектральном анализе. [c.355]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...